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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "program testing"に関連した英語例文

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"program testing"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 20件



例文

PROGRAM TESTING APPARATUS, PROGRAM TESTING METHOD FOR PROGRAM TESTING APPARATUS, AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験装置、プログラム試験装置のプログラム試験方法およびプログラム試験プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラム - 特許庁

COMMUNICATION PROGRAM TESTING METHOD AND COMMUNICATION PROGRAM TESTING SYSTEM例文帳に追加

通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システム - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁

例文

PROGRAM TESTING OPERATION SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

プログラム試験作業支援システム - 特許庁


例文

PROGRAM TESTING AUTOMATIC EXECUTION DEVICE, PROGRAM TESTING AUTOMATIC EXECUTION METHOD, AND PROGRAM TESTING AUTOMATIC EXECUTION PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験自動実行装置及びプログラム試験自動実行方法及びプログラム試験自動実行プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

プログラム試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

TEST-USE PROGRAM, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用プログラム、検査システム並びに検査方法 - 特許庁

例文

IMAGE FORMING DEVICE AND CUSTOMIZATION PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置およびカスタマイズプログラム試験方法 - 特許庁

例文

To efficiently perform program testing by using symbolic execution.例文帳に追加

シンボリック実行を用いてより効率的にプログラムのテストを行う。 - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a program testing apparatus to test a program under programmable conditions.例文帳に追加

プログラマブルな条件でプログラム試験が行えるプログラム試験装置を提供する - 特許庁

To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.例文帳に追加

プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁

Processing of comparing a game machine control program testing code 121a calculated based on a normal game machine control program 121c with a control program testing code calculated again based on the control program 121c stored in the storage means 121 in the case of testing is carried out periodically or repeatedly or carried out based on a command signal.例文帳に追加

正規の遊技機制御プログラム121cを基に算出した遊技機制御プログラム検証コード121aと検証時に記憶手段121が記憶している遊技機制御プログラム121cを基に改めて算出した制御プログラム検証コードとを比較する処理を、定期的或いは繰返し実行するようにし、又は、指令信号に基づいて実行するようにした。 - 特許庁

The generation of delay constraint, the insertion of a scan path, and the extraction of the flip flop as the object of hazard check is performed by using the information of the classified flip flops and the delay constraint program, testing problem and hazard check problem are improved.例文帳に追加

分類されたフリップフロップの情報を用いて、遅延制約の生成し、スキャンパスの挿入、ハザードチェック対象のフリップフロップの抽出を行うことで、遅延制約問題、テスト時の問題、ハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁

To improve efficiency of program testing work by automatically judging whether results of a test of a program are correct or not without troubling human hands (eyes) in a testing operation of an interactive program involving input operations.例文帳に追加

入力操作を伴うような対話型プログラムのテスト作業において、プログラムのテスト結果が正しいか否かの判定を人の手(目)を煩わせることなく自動的に行うこことにより、プログラムテストの作業効率の向上を目的とする。 - 特許庁

A self-test circuit built-in semiconductor memory 20 comprises a semiconductor substrate, a memory cell array 30 formed on the semiconductor substrate, testing circuits 50, 54 provided on the semiconductor substrate, storing a program, testing a memory cell array conforming to the stored program, and outputting a test result, and a controller 52 provided on the semiconductor substrate and rewriting the contents of programs stored in the test circuits 50, 54.例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置20は、半導体基板と、半導体基板上に形成されたメモリセルアレイ30と、半導体基板上に設けられ、プログラムを記憶して記憶されたプログラムにしたがってメモリセルアレイのテストを行ない、テスト結果を出力するためのテスト回路50,54と、半導体基板上に設けられ、テスト回路50,54に記憶されるプログラムの内容を書き換えるためのコントローラ52とを含む。 - 特許庁

例文

To automatically create a cache test program and a cache state setting program according to cache configuration modeling arrangement and the description of a cache test sheet on the basis of a cache configuration to automatically create a program easily and certainly testing a cache function without a description mistake, in a test program creation system creating the program testing the cache function, a test program creation program, and a record medium.例文帳に追加

本発明は、キャッシュ機能の試験を行うプログラムを生成する試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体に関し、キャッシュ構成をもとにキャッシュ試験シートの記述およびキャッシュ構成モデリング配列に従い、キャッシュ状態設定プログラムおよびキャッシュ試験プログラムを自動生成し、簡易かつ確実かつ記述ミスなしにキャッシュ機能の試験を行うプログラムを自動生成することを目的とする。 - 特許庁




  
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