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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample deviceに関連した英語例文

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sample deviceの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 4634



例文

METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING GAS SAMPLE例文帳に追加

気体試料採集方法及び装置 - 特許庁

WAFER EARTH MECHANISM AND SAMPLE MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

ウエハアース機構及び試料作製装置 - 特許庁

SAMPLE INJECTION METHOD AND MICRO DEVICE例文帳に追加

試料注入方法及びマイクロデバイス - 特許庁

SAMPLE SLICE STRETCHING DEVICE OF CRYOSTAT例文帳に追加

クライオスタットの試料切片展延装置 - 特許庁

例文

DEVICE AND METHOD FOR REFINING SAMPLE例文帳に追加

試料を精製する装置および方法 - 特許庁


例文

SAMPLE-AGITATING DEVICE AND SPECIMEN ANALYZER例文帳に追加

試料攪拌装置、及び検体分析装置 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION DEVICE USING MICROWAVES例文帳に追加

マイクロ波を用いた試料調製装置 - 特許庁

SAMPLE FIXING DEVICE AND HARDNESS TESTING MACHINE例文帳に追加

試料固定装置及び硬さ試験機 - 特許庁

HOLDING DEVICE FOR LASER ICP ANALYSIS SAMPLE例文帳に追加

レーザICP分析試料の保持装置 - 特許庁

例文

SAMPLE PREPARATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試料作製のための装置及び方法 - 特許庁

例文

EVACUATION METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE HOLDER例文帳に追加

試料ホルダの排気方法及び装置 - 特許庁

BIOPSY DEVICE WITH SAMPLE STORAGE例文帳に追加

サンプル貯蔵手段を伴う生検装置 - 特許庁

OPTICAL DEVICE AND SAMPLE MEASURING METHOD例文帳に追加

光学装置及び試料測定方法 - 特許庁

SAMPLE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

試料計測装置及び計測方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR EXTRACTING TEST SAMPLE例文帳に追加

試験サンプルの取出装置及び方法 - 特許庁

SAMPLE COLLECTING DEVICE USING FINE TUBE例文帳に追加

微細管を用いた試料採取装置 - 特許庁

LIQUID PASSING DEVICE FOR LIQUID SAMPLE MEASUREMENT例文帳に追加

液体試料測定用の通液装置 - 特許庁

TOP ENTRY TYPE SAMPLE STAGE TILTING DEVICE例文帳に追加

トップエントリ式試料ステージ傾斜装置 - 特許庁

FIXING METHOD AND DEVICE OF SAMPLE STAGE例文帳に追加

サンプルステージの固定方法および装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用試料ホールダ - 特許庁

TREATMENT TANK UNIT AND SAMPLE TREATMENT DEVICE例文帳に追加

処理槽ユニットおよびサンプル処理装置 - 特許庁

SAMPLE PLATE, AND MULTICAPILLARY ELECTROPHORETIC DEVICE例文帳に追加

サンプルプレートとマルチキャピラリー電気泳動装置 - 特許庁

SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

ION BEAM DEVICE AND SAMPLE WORKING METHOD例文帳に追加

イオンビーム装置及び試料加工方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

サンプルホールド回路および半導体装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, AND ION BEAM PROCESSING DEVICE例文帳に追加

試料ホルダおよびイオンビーム加工装置 - 特許庁

SAMPLE COOLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料冷却装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料ホルダ及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用の試料ホルダ - 特許庁

PROBE DEVICE AND SAMPLE INSPECTION DEVICE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加

プローブ装置及びそれを備えた試料検査装置 - 特許庁

REFRIGERANT INJECTION METHOD, SAMPLE COLLECTION METHOD AND SAMPLE COLLECTION DEVICE例文帳に追加

冷媒注入方法、試料採取方法及び試料採取装置 - 特許庁

DEVICE FOR SAMPLE PRE-TREATMENT, REACTION TUB SHEET, AND SAMPLE ANALYZING METHOD例文帳に追加

試料前処理用デバイス,反応槽シート及び試料分析方法 - 特許庁

SAMPLE DOCUMENT MANAGEMENT DEVICE, SAMPLE DOCUMENT MANAGEMENT SYSTEM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

雛形文書管理装置、雛形文書管理システム及び記録媒体 - 特許庁

APPARATUS FOR SUPPORTING SAMPLE INSPECTION DEVICE, METHOD FOR INSPECTING SAMPLE AND PROGRAM例文帳に追加

試料検査装置の支援装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁

SAMPLE CARTRIDGE FOR MEASURING ELECTRIC PROPERTY OF LIQUID SAMPLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

液体試料の電気特性測定のためのサンプルカートリッジと装置 - 特許庁

CROSS SECTION EVALUATION DEVICE OF SAMPLE AND CROSS SECTION EVALUATION METHOD OF SAMPLE例文帳に追加

試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法 - 特許庁

GATE VALVE, SAMPLE TREATMENT DEVICE EQUIPPED THEREWITH AND SAMPLE TREATMENT METHOD例文帳に追加

ゲートバルブ,それを備える試料処理装置及び試料処理方法 - 特許庁

SAMPLE ANALYZER AND DATA PROCESSING DEVICE例文帳に追加

試料分析装置およびデータ処理装置 - 特許庁

AUTOMATIC PAPER SAMPLE CUTTING/MEASURING DEVICE例文帳に追加

用紙サンプルの自動切出し・計量装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE FOR PHYSICAL PROPERTY OF SAMPLE例文帳に追加

試料の物理的性質の測定装置 - 特許庁

NOZZLE DEVICE AND LIQUID SAMPLE ANALYZER例文帳に追加

ノズル装置及び液体試料分析装置 - 特許庁

LIQUID SAMPLE COMPONENT MEASURING DEVICE例文帳に追加

液体試料中の成分の測定装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE FOR ANALYSIS OF BIOLOGICAL SAMPLE LIQUID例文帳に追加

生体サンプル液分析用の検査装置 - 特許庁

GAS REACTOR AND SAMPLE EVALUATION DEVICE例文帳に追加

ガス反応装置及び供試材評価装置 - 特許庁

QCM DEVICE AND SAMPLE MEASURING METHOD例文帳に追加

QCM装置及び試料測定方法 - 特許庁

LIQUID SAMPLE TREATMENT DEVICE FOR CHEMICAL ANALYSIS例文帳に追加

化学分析用液体試料処理装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR EXECUTING SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

サンプル分析実施用装置及び方法 - 特許庁

SAMPLE CONTAINER FOR THERMAL SHOCK TESTING DEVICE例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置の試料容器 - 特許庁

INTERFEROMETER DEVICE FOR MEASURING LARGE-SIZED SAMPLE例文帳に追加

大型サンプル測定用干渉計装置 - 特許庁

例文

REFERENCE SAMPLE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム装置用標準試料 - 特許庁




  
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