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sample deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4634件
MERCHANDISE SAMPLE DISPLAY DEVICE FOR AUTOMATIC VENDING MACHINE例文帳に追加
自動販売機の商品サンプル展示装置 - 特許庁
GOODS SAMPLE EXHIBITING DEVICE OF VENDING MACHINE例文帳に追加
自動販売機の商品サンプル展示装置 - 特許庁
PHOTODETECTION DEVICE AND IMPLEMENT FOR SAMPLE HOLDER例文帳に追加
光検出装置、及び試料ホルダ用治具 - 特許庁
TRAP DEVICE OF SAMPLE USED FOR GAS CHROMATOGRAPH例文帳に追加
ガスクロマトグラフに用いる試料のトラップ装置 - 特許庁
SAMPLE/HOLD CIRCUIT, AND A/D CONVERSION DEVICE例文帳に追加
サンプルホールド回路及びA/D変換装置 - 特許庁
AUTOMATIC SAMPLE INCLINATION DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の自動試料傾斜装置 - 特許庁
PHOTOGRAPHING DEVICE WITH GUIDANCE BY SAMPLE PHOTOGRAPH例文帳に追加
サンプル写真によるガイダンス付き撮影装置 - 特許庁
SAMPLE OBSERVATION DEVICE, AND FOCUSING ION BEAM APPARATUS例文帳に追加
試料観察装置,集束イオンビーム装置 - 特許庁
CURRENT DATA SAMPLE CORRECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
電流データ・サンプル補正方法及び装置 - 特許庁
COVER GLASS TRANSFER DEVICE OF SAMPLE SEALING MACHINE例文帳に追加
標本封入機のカバーグラス移載装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ABNORMALITY OF SAMPLE例文帳に追加
試料の異常測定方法、および装置 - 特許庁
ELECTRIC-SUPPLY DEVICE, ELECTRIC-SUPPLY APPARATUS, SAMPLE DETECTION DEVICE AND SAMPLE DETECTION APPARATUS例文帳に追加
電気供給デバイス、電気供給装置、試料検出デバイスおよび試料検出装置 - 特許庁
PROBE FOR INTRODUCING SAMPLE INTO ANALYSIS DEVICE, AND SAMPLE DIRECT INTRODUCTION DEVICE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加
分析装置への試料導入ブローブとそれを備えた試料直接導入装置 - 特許庁
CHIP FOR SAMPLE LIQUID SUCTION DEVICE, SAMPLE LIQUID SUCTION DEVICE AND BIO-COMPONENT MEASURING SYSTEM例文帳に追加
試料液吸引装置用チップ、試料液吸引装置及び生体成分測定システム - 特許庁
SAMPLE SUPPLY DEVICE, AND TOTAL ORGANIC CARBON METER USING THE SAMPLE SUPPLY DEVICE例文帳に追加
試料供給装置及びその試料供給装置を用いた全有機体炭素計 - 特許庁
SAMPLE SUPPORT DEVICE, SUPPORT TOOL FOR SAMPLE AND PICKING BASE FIXING JIGS, PICKING BASE FIXING JIG, SAMPLE FIXING JIG, SAMPLE PICKING METHOD, AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
試料支持装置、試料及び採取台固定治具の支持具、採取台固定治具、試料固定治具、試料採取方法、並びに試料分析方法 - 特許庁
SHIELD COVER, FINE DRIVING DEVICE, NANOTWEEZER DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加
シールドカバー、微細駆動装置、ナノピンセット装置および試料観察装置 - 特許庁
To provide a sample detecting device capable of easily and optically detecting a sample with high accuracy without requiring an optical autofocusing operation, and to provide a sample analyzing device including the sample detecting device.例文帳に追加
光学的オートフォーカス動作を必要とせず、容易に精度よくサンプルを光学的に検出可能なサンプル検出装置と、それを含む検体分析装置を提供する。 - 特許庁
MINUTE SAMPLE PROCESSING OBSERVATION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁
FILTRATION AND SEPARATION DEVICE FOR BODY FLUID SAMPLE AND METHOD例文帳に追加
体液試料濾過分離装置及び方法 - 特許庁
SAMPLE SCANNING MECHANISM FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置の試料走査機構 - 特許庁
CALIBRATION SAMPLE, PATTERN INSPECTION DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
校正サンプル、パターン検査装置および方法 - 特許庁
EXHAUST GAS SAMPLE COLLECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
排ガス試料採取方法及び採取装置 - 特許庁
SAMPLE EXCITATION MECHANISM OF MAGNETIC CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE例文帳に追加
磁気特性測定装置の試料加振機構 - 特許庁
SAMPLE RETAINER AND ELECTRON BEAM RENDERING DEVICE例文帳に追加
試料保持装置、および電子線描画装置 - 特許庁
PYROLYTIC SAMPLE INLET DEVICE FOR GAS CHROMATOGRAPH例文帳に追加
ガスクロマトグラフ用熱分解試料導入装置 - 特許庁
SAMPLE FOR CALIBRATION OF FIBER ORIENTATION MEASURING DEVICE例文帳に追加
繊維配向測定装置の較正用試料 - 特許庁
OXYGEN ANALYSIS METHOD IN SAMPLE AND DEVICE例文帳に追加
試料中の酸素分析方法および装置 - 特許庁
SAMPLING DEVICE FOR GRAIN SIZE DISTRIBUTION MEASUREMENT SAMPLE例文帳に追加
粒度分布測定用試料のサンプリング装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR COLLECTING SAMPLE例文帳に追加
試料採取装置および試料採取方法 - 特許庁
NMR ANALYZER AND SAMPLE MANAGEMENT DEVICE例文帳に追加
NMR分析装置および試料管理装置 - 特許庁
SAMPLE SURFACE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
試料表面検査装置及び検査方法 - 特許庁
SAMPLE EVALUATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
試料評価装置および試料評価方法 - 特許庁
SAMPLE EXTRACTION DEVICE FOR ANALYSIS OF DIOXINS例文帳に追加
ダイオキシン類の分析用試料抽出装置 - 特許庁
ATMOSPHERIC PRESSURE IONIZATION METHOD AND SAMPLE-HOLDING DEVICE例文帳に追加
大気圧イオン化法および試料保持装置 - 特許庁
SAMPLE REPLACING MACHINE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加
試料交換機及びX線回折装置 - 特許庁
ION BEAM PROCESSING DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD例文帳に追加
イオンビーム加工装置及び試料加工方法 - 特許庁
ELECTROLYTIC CONDENSATION DEVICE FOR TRITIUM IN WATER SAMPLE例文帳に追加
水試料中トリチウムの電解濃縮素子 - 特許庁
MINUTE SAMPLE PROCESSING OBSERVATION METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁
INJECTION METHOD AND INJECTION DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加
試料の注入方法及び注入装置 - 特許庁
COHERENT BEAM DEVICE FOR SAMPLE OBSERVING MEASUREMENT例文帳に追加
試料観察計測用可干渉ビーム装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR OPERATING MICROSCOPIC SAMPLE例文帳に追加
微視的サンプルを操作する方法及び装置 - 特許庁
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