「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

FOCUSING ION BEAM PROCESSING MONITORING DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD, AND SAMPLE MONITORING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置および試料加工方法、試料観察方法 - 特許庁

ATOM PROBE DEVICE AND SAMPLE PRE-PROCESSING METHOD THEREOF例文帳に追加

アトムプローブ装置及びその試料予備加工方法 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS DEVICE OF NONUNIFORM COMPOSITE TISSUE SAMPLE例文帳に追加

不均一複合組織試料の定量分析装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR FORMING OBSERVATION SAMPLE例文帳に追加

観察用試料の作製方法及び作製装置 - 特許庁

SAMPLE BASE AND SUBSTRATE EVALUATION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

試料台およびこれを用いた基板評価装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、および試料作成方法 - 特許庁

ICP ANALYSIS SAMPLE INLET DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＩＣＰ分析用試料導入装置及び方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING DEVICE FOR MALDI-TOFMS例文帳に追加

ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦＭＳ用試料調製装置 - 特許庁

SAMPLE INJECTION DEVICE, AND LIQUID CHROMATOGRAPHY APPARATUS例文帳に追加

試料注入装置及び液体クロマトグラフィー装置 - 特許庁

AUTOMATIC GRIP CHUCK DEVICE WITH RUPTURED SAMPLE REMOVAL FUNCTION例文帳に追加

破断サンプル除去機能付き自動把持チャック装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HEMOLYSIS OF BLOOD SAMPLE例文帳に追加

血液サンプルの溶血の測定方法および装置 - 特許庁

ADJUSTMENT APPARATUS FOR SURFACE HEIGHT OF SAMPLE AND AUTOMATIC FOCUSING DEVICE例文帳に追加

試料面高さ調整装置とオートフォーカス装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE TEST AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

サンプルテスト方法、サンプルテスト装置及び記憶媒体 - 特許庁

MEASURING DEVICE FOR SAMPLE ANALYSIS, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

試料分析用測定装置および測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING POSITION OF SAMPLE LIQUID CURRENT例文帳に追加

試料液流の位置制御方法および装置 - 特許庁

DISPENSING DEVICE AND DISPENSE METHOD FOR LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液体試料の分注装置および分注方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND SAMPLE MANIPULATING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

プローブユニットおよびそれを用いた試料操作装置 - 特許庁

METHOD FOR MOUNTING SAMPLE STEEL SHEET AND MOUNTING DEVICE例文帳に追加

サンプル鋼板の取付け方法、及び取付け装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダ - 特許庁

VACUUM DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE CELL例文帳に追加

電子顕微鏡試料室の真空度表示装置 - 特許庁

PITCH SHIFT REPRODUCING DEVICE USING COMPRESSED WAVEFORM SAMPLE例文帳に追加

圧縮波形サンプルを用いたピッチシフト再生装置 - 特許庁

OBSERVING METHOD FOR SAMPLE CUT FACE AND ITS DEVICE例文帳に追加

試料切断面の観察方法及びその装置 - 特許庁

CORE CUTTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING CORE SAMPLE PIECE例文帳に追加

コア切断装置およびコア試料片の製作法 - 特許庁

SAMPLE COLLECTING DEVICE FOR ANALYZING CHLORINATED ORGANIC COMPOUND例文帳に追加

塩素化有機化合物の分析用試料採取器 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR SAMPLE TEMPERATURE AND VACUUM PROCESS DEVICE例文帳に追加

試料温度制御方法及び真空処理装置 - 特許庁

AGITATION DEVICE FOR TRACE SAMPLE, CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF TRACE SAMPLE USING IT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

微量試料用撹拌装置、及びそれを用いた微量試料の特性測定方法、並びにその装置。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE SURFACE, AND MEASURING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE OF SAMPLE SURFACE例文帳に追加

試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置 - 特許庁

SAMPLE CELL, OPERATION METHOD OF SAMPLE CELL, SOLUTION CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND URINE INSPECTION DEVICE USING THESE例文帳に追加

サンプルセル、サンプルセルの操作方法、ならびにこれらを用いた溶液濃度計測装置および尿検査装置。 - 特許庁

MOLTEN METAL SAMPLE COLLECTION DEVICE, ITS METHOD, AND GAS SUPPLYING DEVICE FOR SAMPLE COLLECTION PROBE例文帳に追加

溶融金属試料の採取装置及び採取方法並びに試料採取プローブへのガス供給装置 - 特許庁

A sample classification device 22 classifies samples acquired by an sample acquisition device 21 based on predetermined conditions.例文帳に追加

サンプル取得部２１で取得されたサンプルを、サンプル分類部２２は、所定の条件に基づき分類する。 - 特許庁

CURRENT SAMPLE/HOLD CIRCUIT, CURRENT SAMPLE/HOLD METHOD, REVERSE DEMULTIPLEXING DEVICE USING SAME, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電流サンプル／ホールド回路，電流サンプル／ホールド方法，これを利用した逆多重化装置，および，ディスプレイ装置 - 特許庁

SELLING METHOD FOR RECORDING DEVICE, AND PROVIDING DEVICE FOR OUTPUT SAMPLE OF RECORDING DEVICE例文帳に追加

記録装置の販売方法、及び記録装置の出力サンプルの提供方法 - 特許庁

To provide a sample enabling the clearer observation or analysis, a sample preparing method, and a sample preparing device.例文帳に追加

より明瞭な観察又は分析を可能にする試料、試料作製方法及び試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

Then, the sample pattern can be protected from theft by preventing the illegal copy or unauthorized use of the sample pattern by the sample pattern protecting means of this device.例文帳に追加

この装置のサンプルパターン保護手段はサンプルパターンの違法コピーや無断使用を防止して盗用から守る。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置 - 特許庁

OPTICAL SAMPLE MEASURING DEVICE, OPTICAL CELL, AND WATER QUALITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

光学式試料測定装置、光学セル、及び、水質測定装置 - 特許庁

INFORMATION ACQUIRING DEVICE AND DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING SAMPLE例文帳に追加

情報取得装置、試料評価装置および試料評価方法 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION METHOD, IMAGE PROCESSING DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE PUNCHING DEVICE, AND PLASTIC DISCRIMINATION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

試料打ち抜き装置、プラスチック識別方法およびプラスチック識別装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND MEASURING METHOD OF SAMPLE USING THIS DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折装置及び該装置を用いた試料の測定方法 - 特許庁

To provide a sample preparing device minimizing the contamination of a pipette by a sample.例文帳に追加

ピペットの検体による汚染を最小限に抑制する試料調製装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE DRIFT CORRECTING DEVICE, IMAGE FORMING OPTICAL SYSTEM EQUIPPED WITH IT, AND SAMPLE DRIFT CORRECTING METHOD例文帳に追加

試料ドリフト補正装置、これを備えた結像光学システム、及び試料ドリフト補正方法 - 特許庁

A sample injection device 1 include a pressure wave generation mechanism 30 and a sample portion 50.例文帳に追加

試料噴射装置１は、圧力波発生機構３０と、試料部５０と、を備える。 - 特許庁

The sample support device 48 is arranged in the sample chamber R0 through the opening part 27.例文帳に追加

試料支持装置４８は開口部２７を通して試料室Ｒ０内に配置される。 - 特許庁

DEVICE FOR REFRIGERATING CELL CONTAINING LIQUID SAMPLE, ESPECIALLY PETROLEUM PRODUCT SAMPLE TO BE ANALYZED例文帳に追加

液体試料、特に分析すべき石油製品の試料を含むセルの冷凍用装置 - 特許庁