「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR IONIZING SAMPLE, ION SOURCE AND MASS ANALYZING DEVICE例文帳に追加

試料イオン化方法、イオン源および質量分析装置 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料寸法測定方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE FOR METAL SAMPLE SURFACE例文帳に追加

金属試料表面の欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEVICE FOR SUPPLYING SAMPLE FOR PSEUDO-MOVING BED CHROMATOGRAPHY例文帳に追加

擬似移動床式クロマトグラフィー用試料供給装置 - 特許庁

SAMPLE HOLD CIRCUIT, DRIVER, ELECTROOPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

サンプルホールド回路、ドライバ、電気光学装置、及び電子機器 - 特許庁

LIQUID SAMPLE DISPENSATION METHOD, HEATING DEVICE, AND AUTOMATIC DISPENSATION METHOD AND AUTOMATIC DISPENSING DEVICE OF LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液体試料分注方法、加温装置、並びに液体試料の自動分注方法および自動分注装置 - 特許庁

AUTOMATIC SAMPLE-AND-HOLD DEVICE, AND PULSE MODULATED HIGH FREQUENCY SIGNAL GENERATING DEVICE例文帳に追加

自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ELECTROOPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

サンプルホールド回路、集積回路装置、電気光学装置及び電子機器 - 特許庁

SAMPLE HOLD CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ELECTRO-OPTIC DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

サンプルホールド回路、集積回路装置、電気光学装置及び電子機器 - 特許庁

PHOTOTHERMAL CONVERSION MEASURING DEVICE, AND SAMPLE STORAGE VESSEL USED FOR DEVICE例文帳に追加

光熱変換測定装置及び同装置に用いられる試料収容器 - 特許庁

SAMPLE-HOLD CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ELECTRO-OPTIC DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

サンプルホールド回路、集積回路装置、電気光学装置及び電子機器 - 特許庁

XY COORDINATE CORRECTION DEVICE AND METHOD IN SAMPLE PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

試料パターン検査装置におけるＸＹ座標補正装置及び方法 - 特許庁

SAMPLE POSITION ADJUSTING DEVICE, RADIATION DIFFRACTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法 - 特許庁

SAMPLE IMAGE DISPLAY METHOD IN ELECTRON BEAM DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置における試料像表示方法および電子線装置 - 特許庁

SERVER DEVICE FOR SAMPLE PRINTING, INFORMATION PROCESSING DEVICE, AND IMAGE CREATING SYSTEM例文帳に追加

サンプル印刷用のサーバ装置、情報処理装置、及び画像形成システム - 特許庁

SAMPLE STAGE CONTROL METHOD IN ELECTRON BEAM DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置における試料ステージ制御方法および電子線装置 - 特許庁

FIELD APPLICATION SAMPLE HOLDING DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

磁場印加試料保持装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 - 特許庁

The measuring device also has sample holder transfer means to transfer a sample holder, to which a sample is attached, from the first measurement section to the second measurement section.例文帳に追加

試料を取り付けたサンプルホルダの、第１の測定部から第２の測定部への移動は、サンプルホルダ移動手段により行う。 - 特許庁

To provide a small-sized analysis sample holding apparatus and sample analysis device suitable for analyzing a predetermined sample in a colorimetric manner.例文帳に追加

所定の試料を比色分析するのに適した、小型の分析試料保持装置及び試料分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample fixing device which fixes properly a sample on a sample stand with a simple mechanism, and also to provide a hardness testing machine.例文帳に追加

簡易な機構で試料を試料台に好適に固定する試料固定装置及び硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

SAMPLE MANAGEMENT METHOD, SAMPLE MANAGEMENT SYSTEM, TERMINAL DEVICE, SAMPLE CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE SAME例文帳に追加

サンプル管理方法、サンプル管理装置、端末装置、サンプル管理プログラムおよびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

The X-ray diffraction device comprises an X-ray diffraction device 1, a sample-mounting section 5 for supporting the sample S, and a fixation section 30 that can be moved and fixed to the sample-mounting section.例文帳に追加

Ｘ線回折装置１、試料Ｓを支持する試料取付け部５と、試料取付け部に対して移動及び固定可能な固定部３０を有する。 - 特許庁

The sample injecting device includes the following mode: a needle is set at a low descending speed when sample is injected into an injection port in a total-volume injection manner by the sample injecting device.例文帳に追加

全量注入方式の試料導入装置で試料を注入ポートに注入するニードルの降下速度を低く設定するモードを備える。 - 特許庁

SAMPLE INTRODUCTION DEVICE FOR HORIZONTAL PLANE TYPE GEL ELECTROPHORESTIC DEVICE, HORIZONTAL PLANE TYPE GEL ELECTROPHORESTIC SYSTEM, ITS SAMPLE INTRODUCTION METHOD AND ITS SAMPLE COLLECTION METHOD例文帳に追加

水平面型ゲル電気泳動装置用試料導入装置、水平面型ゲル電気泳動システム、その試料導入方法およびその試料採取方法 - 特許庁

The sample-cooling device includes a nozzle 26 for blowing a cooling gas to the sample S, and a gas suction device 28 for suctioning, via an opening 34, a gas passing through the sample S.例文帳に追加

試料Ｓに冷却ガスを吹付けるノズル２６と、試料Ｓを通過したガスを開口３４を通して吸引するガス吸引装置２８とを有する。 - 特許庁

To readily automate an automatic gas sample injection device, by simplifying the operation of drawing and inserting/moving of a syringe with a comparatively small device, regarding the automatic gas sample injection device for introducing the gas sample into the testing device, in combination with the syringe with an extension needle and the sample chamber integrated gas injection port.例文帳に追加

本発明は、延長針付注射器と試料室一体型ガス注入口とを組み合わせて用いて、気体試料を試験装置へ導入するための自動気体試料注入装置に関するものである。 - 特許庁

AUTOMATIC VENDING MACHINE, SAMPLE SUPPLY MANAGEMENT DEVICE, AND SAMPLE SUPPLY METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

自動販売機、試供品提供管理装置、試供品提供方法および試供品提供システム - 特許庁

This separation quantity suction sampling device is equipped with a suction tube, a sample tube and a sample container.例文帳に追加

分離量吸引サンプリング装置は、吸引管、試料管及び試料容器を備えている。 - 特許庁

METHOD OF SELECTING SAMPLE SHOT, METHOD OF MANUFACTURING DEVICE, METHOD OF DISPLAYING SAMPLE SHOT, AND EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

サンプルショットの選択方法、デバイス製造方法、サンプルショットの表示方法、および露光装置 - 特許庁

METHOD FOR MAKING KNITTED FABRIC SAMPLE, METHOD FOR DESIGNING KNIT, DEVICE FOR MEASURING YARN DIAMETER, AND APPARATUS FOR MAKING KNITTED FABRIC SAMPLE例文帳に追加

編地見本の作成方法、ニットデザイン方法、糸径測定装置、及び編地見本の作成装置 - 特許庁

A voltage is impressed to the semiconductor device sample 10 to be scanned on the sample by a laser beam.例文帳に追加

半導体デバイス試料１０に電圧を印加し、試料１０上をレーザービームで走査する。 - 特許庁

To provide a sample holding device capable of suppressing the vibration of a sample caused by a vacuum pump.例文帳に追加

真空ポンプによる試料の振動を抑えることができる試料保持装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a thin film sample creating device with a sample holder having a longer life.例文帳に追加

試料ホルダの寿命が長くなる薄膜試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a sample rupture device capable of imparting a maximum shearing force to a sample.例文帳に追加

試料に最大のせん断力を与えることができる試料破断装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a biopsy device and method capable of providing a tissue sample such as a mammary tissue biopsy sample.例文帳に追加

乳房組織生検標本などの組織標本を得る生検装置と方法を提供する。 - 特許庁

PROBE FOR LASER EMISSION SPECTROMETRY DEVICE FOR HOT SAMPLE, AND METHOD FOR LASER EMISSION SPECTROMETRY FOR HOT SAMPLE例文帳に追加

高温試料のレーザ発光分析装置用プローブおよび高温試料のレーザ発光分析方法 - 特許庁

This device comprises the housing vessel for housing a subject sample and a sampler for arranging the sample vessel.例文帳に追加

被検試料を収納する収納容器と、試料容器を配置するサンプラを有している。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR LOADING PLATE-LIKE SAMPLE SUCH AS SEMICONDUCTOR WAFER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

半導体ウェハ等の板状の試料を装填する試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To provide a chromosome sample developing device which automatically generates a chromosome sample.例文帳に追加

染色体標本を自動的に作成する染色体標本展開装置を提供すること。 - 特許庁

The sampling device 1 samples a liquid sample 8 in a comparatively small-diameter sample container 7.例文帳に追加

サンプリング装置１は、比較的小径のサンプル容器７内の液体サンプル８をサンプリングする。 - 特許庁

MASK PATTERN, EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR EVALUATION SAMPLE例文帳に追加

マスクパターン、半導体装置の評価サンプル作成方法および半導体評価サンプルの評価方法 - 特許庁

To provide a sample observation device which analyzes a sample in a short period of time even if sample images are recorded over a long time, and restrains damage of the sample.例文帳に追加

長時間にわたって試料像の記録を行っても短時間で試料解析ができ、かつ試料の損傷を抑えることができる試料観察装置を提供する。 - 特許庁

The discharge device 1 is provided with a sample container holding means 21 for holding the sample container 19, and a sample container introducing means 15 for introducing the sample container 19 into the thermal analyzer 2.例文帳に追加

試料容器１９を保持する試料容器保持手段２１と、試料容器１９を熱分析装置２に導入する試料容器導入手段１５とを備える。 - 特許庁

To prevent scattering of a sample liquid to surroundings caused by atomizing, in a sample liquid fractional device equipped with a measuring vessel for filling the sample liquid in a sample liquid gathering vessel.例文帳に追加

標本液採取容器に標本液を充填する計量容器を備えた標本液分取装置において、霧化による標本液の周囲への飛散を防止する。 - 特許庁

A differential device 24 calculates a difference between an additional value of adding sample data, which are obtained by sampling an eye pattern with a Sample CLK, by four and a value obtained by delaying the additional value by one Sample CLK.例文帳に追加

差分器２４は、アイパタンをSample CLKでサンプリングして得られるサンプル・データを４個ずつ加算した加算値と該加算値を１Sample CLK分遅延した値との差分を求める。 - 特許庁