「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

NEEDLE UNIT FOR SAMPLE INJECTION, AND SAMPLE SUCTION/CLEANING DEVICE OF SYRINGE USING THE SAME例文帳に追加

サンプルインジェクション用ニードルユニットおよびそれを用いたシリンジのサンプル吸引、洗浄装置 - 特許庁

To provide a dispensing device capable of discriminating the suction state of a liquid sample regardless of a dispensation amount, when dispensing the liquid sample.例文帳に追加

分注量に応ずることなく液体試料の吸引状態を判別する。 - 特許庁

SAMPLE CORRECTING APPARATUS, SAMPLE CORRECTION METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE METHOD例文帳に追加

試料修正装置及び試料修正方法並びに該方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

PRINTING METHOD AND DEVICE ON CASSETTE FOR HISTOLOGICAL SAMPLE OR TEST SAMPLE SUPPORT例文帳に追加

組織学的標本のためのカセット又は被検試料支持体のプリント方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR FORMING FILM FROM LIQUID SAMPLE, ITS DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE例文帳に追加

液体サンプルからフィルムを形成する方法及びその装置並びにサンプルの分析方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE, CONVERGED ION BEAM DEVICE AND A SAMPLE SUPPORT STAND例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製方法、集束イオンビーム装置および試料支持台 - 特許庁

SAMPLE SUPPLY METHOD IN SUPERCRITICAL FLUID CHROMATOGRAPHY AND SAMPLE SUPPLY DEVICE例文帳に追加

超臨界流体クロマトグラフィーにおける試料供給方法及び試料供給装置 - 特許庁

BEAM MEMBER, AND SAMPLE PROCESSING DEVICE AND SAMPLE EXTRACTION METHOD USING BEAM MEMBER例文帳に追加

はり部材およびはり部材を用いた試料加工装置ならびに試料摘出方法 - 特許庁

A sample holder of the side-entry system sample stage of the charged particle beam device has a sample pedestal mounted for a sample for dimensional proofreading.例文帳に追加

本発明の荷電粒子線装置のサイドエントリー方式の試料ステージの試料ホルダーには、寸法校正用試料用の試料台が装着される。 - 特許庁

FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER, FINE SAMPLE MOUNTING FIXTURE, X-RAY DIFFRACTION DEVICE, METHOD FOR FORMING FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER AND FINE SAMPLE MOUNTING METHOD例文帳に追加

微小試料挿入容器、微小試料装着治具、Ｘ線回折装置、微小試料挿入容器の形成方法、および微小試料装着方法 - 特許庁

To enable a film-shaped sample to adhere to and to be fixed on a sample stand of a sample fixing device for placing a sample thereon in a hardness tester.例文帳に追加

硬さ試験機において試料が載置される試料固定装置の試料台に、フィルム状の試料が密着し、固定されることを可能にする。 - 特許庁

The sample placement mechanism 20 is a sample placement mechanism of the assay device which ionizes a sample under vacuum and detects the resulting generated ions for analyzing the sample.例文帳に追加

本発明の試料載置機構２０は、真空下で試料をイオン化し、発生したイオンを検出して当該試料を分析する装置の試料載置機構である。 - 特許庁

To provide a sample evaluation device and a sample evaluation method capable of evaluating a crystalline sample without tilting the crystalline sample.例文帳に追加

結晶性試料を傾斜させずに該結晶性試料を評価することが可能な試料評価装置及び試料評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a holding device for an analytical sample and an analytical method for the sample in an analytical device for the sample which can speedily and certainly distinguish a sample position from detected data by scanning the sample without depending on the mechanical accuracy of the device.例文帳に追加

装置の機械精度に依存することなく、試料の走査により、その検出データから迅速に且つ確実に試料の位置を判別できる試料分析装置における試料保持装置および試料分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation device capable of molding a sample vessel and a sample in a shape suitable to an intended analyzer under the condition where the sample is placed within the sample vessel.例文帳に追加

試料容器内に試料を載置したままの状態で、試料容器および試料を目的の分析装置に適した形状に成形可能な試料作製装置を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE IMAGE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料像表示方法 - 特許庁

SAMPLE IMAGE ROTATING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像回転方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

LIQUID DISCHARGE DEVICE AND APPARATUS FOR MANUFACTURING SAMPLE CARRIER例文帳に追加

液体吐出装置及び試料担体の製造装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

半導体試料の欠陥評価方法及び装置 - 特許庁

SAMPLE ANALYZING DEVICE AND SYRINGE PUMP UNIT FOR THE SAME例文帳に追加

試料分析装置とそれに用いるシリンジポンプユニット - 特許庁

SAMPLE DETECTION DEVICE AND SPECIMEN ANALYZER INCLUDING IT例文帳に追加

サンプル検出装置とそれを含む検体分析装置 - 特許庁

FLOW CELL, DETECTION DEVICE, AND LIQUID SAMPLE-MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

フローセル、検出装置及び液体試料測定装置 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND DEVICE OF HEMATOLOGICAL SAMPLE例文帳に追加

血液学的試料の測定方法及び測定装置 - 特許庁

CHARGED CORPUSCULAR BEAM DEVICE AND SAMPLE IMAGE OBSERVING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料像観察方法 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION DEVICE AND METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線を用いた試料観察装置および方法 - 特許庁

VACUUM PROCESSING DEVICE AND VACUUM PROCESSING METHOD OF SAMPLE例文帳に追加

真空処理装置及び試料の真空処理方法 - 特許庁

SHORT SAMPLE OR DETECTION METHOD OF AUTOMATIC DISPENSING DEVICE例文帳に追加

自動分注装置のショートサンプル、つまり検知方式 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料像観察方法 - 特許庁

DEVICE FOR PROCESSING AT LEAST ONE SAMPLE SLIDE例文帳に追加

少なくとも１つの標本スライドを処理する装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY POLISHING SURFACE OF SAMPLE PIECE例文帳に追加

試料片の表面自動研磨方法とその装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID AMPLIFICATION IN SAMPLE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

試料の核酸増幅検出方法及び装置 - 特許庁

WASHING METHOD OF SAMPLE TUBE AND WASHING DEVICE THEREOF例文帳に追加

試料管の洗浄方法及びその洗浄装置 - 特許庁

SAMPLE IMAGE FORMING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

DEVICE FOR COOLING SAMPLE DURING ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

イオンビーム処理の間サンプルを冷却するための装置 - 特許庁

PROCESSING METHOD, OBSERVATION METHOD, AND DEVICE OF FINE SAMPLE例文帳に追加

微細試料の加工方法，観察方法，及び装置 - 特許庁

IONIZATION METHOD AND DEVICE OF SAMPLE GAS UNDER ATMOSPHERIC PRESSURE例文帳に追加

試料ガスの大気圧下イオン化方法および装置 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁

REAGENT AND SAMPLE HANDLING DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING SYSTEM例文帳に追加

自動試験システム用の試薬およびサンプル処理装置 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE DEVICE AND METHOD OF OBSERVING SAMPLE例文帳に追加

複合型顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR COMPRESSING SAMPLE FOR RICE TASTE ANALYZER例文帳に追加

米飯食味計のサンプル圧縮方法及び装置 - 特許庁

PRETREATING METHOD FOR METAL ANALYTICAL SAMPLE, AND ITS DEVICE例文帳に追加

金属分析試料の予備処理方法および装置 - 特許庁

SAMPLE IMAGE FORMATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

LIQUID SAMPLE HIGH-PRESSURE DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETER DEVICE例文帳に追加

液体試料用高圧示差走査熱量測定装置 - 特許庁

IDENTIFICATION SAMPLE TRACE DISPLAY DEVICE, IDENTIFICATION SAMPLE TRACE DISPLAY METHOD USING THE DEVICE, AND IDENTIFICATION SAMPLE TRACE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

鑑識採取痕跡の表示装置、およびこれを用いた鑑識採取痕跡の表示方法ならびに鑑識採取痕跡の写真撮影方法 - 特許庁

SAMPLE CARRIER FOR USE IN CHARGED PARTICLE DEVICE, METHOD OF USING SAMPLE CARRIER, AND DEVICE EQUIPPED TO USE ABOVE SAMPLE CARRIER例文帳に追加

荷電粒子装置内での試料キャリアの使用、当該試料キャリアの使用方法、及び当該試料キャリアを用いるように備えられた装置 - 特許庁