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sample deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4634件
A sample stage device 1 comprises the sample stage surface 31 where a sample is placed and a heating means for heating the sample stage surface 31.例文帳に追加
そのため、従来の顕微鏡用加温装置とは異なり、試料載置面に温度勾配が形成され、しかもその温度勾配を意図的に制御できる試料載置装置が求められている。 - 特許庁
The pressure fixing device 20 presses the tip of the vibration proof arm 10 to press the sample fixing holder 5 held on the sample stage 6 or a sample 4 to integrate the sample 4 and the lens barrel 3.例文帳に追加
押圧固定装置20は防振アーム10の先端を試料ステージ6上に保持された試料固定ホルダ5又は試料4に押圧して鏡筒3と試料4とを一体化させる。 - 特許庁
This sample producing device for the electron microscope 1 retains a liquid containing the sample at a temperature in which the sample is not frozen and the liquid is not brought into a supercooled state by a sample retaining part 5.例文帳に追加
電子顕微鏡用試料作製装置1は、試料保持部5によって試料を含む液体を、試料が凍結せずかつ液体が過冷却状態となる温度に保持する。 - 特許庁
The biopsy device 10 comprises a sample catching means 42 for catching and releasing the living sample, a sheath 36 into which the sample catching means 42 can be inserted, and the container 52 for storing the living sample.例文帳に追加
生体サンプルを採取放出可能な採取手段42と、採取手段42を挿通可能な外筒36と、生体サンプルを保存する容器52と、を有する生検装置10。 - 特許庁
To provide a device for extracting test sample, having a simple extraction work of the test sample, a high extraction rate of the test sample, and a small dispersion of measured values of the test sample.例文帳に追加
被検試料の抽出作業が簡単で、被検試料の抽出率が高く、しかも被検試料の測定値のバラツキが少ない被検試料抽出装置を提供する。 - 特許庁
Before a sample in a sample container 101 is dispensed to a reaction container 106 through a dispensing probe 105, a liquid level of the sample in the sample container is detected by a liquid level-detecting device 151.例文帳に追加
サンプル容器101中のサンプルを分注プローブ105を通じて反応容器106に分注するのに先立って、サンプル容器中のサンプルの液面は液面検出装置151によって検出される。 - 特許庁
To provide a flow cytometer and a sample solution feeding device wherein a sample solution introducing pipe is prevented from being contaminated when introducing one type of sample solution into a flow chamber while changing the sample solution to various types.例文帳に追加
フローサイトメータおよびサンプル液供給装置において、サンプル液を種々取り替えながらサンプル液をフローチャンバに導入するとき、サンプル液導入管の汚染を防止する。 - 特許庁
To obtain a sample-heating or a sample-cooling device, provided with a mechanism for removing the positional variation on the surface of the sample due to heat expansion or heat shrinkage of the heating or cooling member or the sample.例文帳に追加
加熱又は冷却部材や試料の熱膨張・熱収縮による試料表面の位置の変動を除去するための機構を持つ試料加熱又は冷却装置を得ること。 - 特許庁
The hardness test device 10 comprises the sample stocker 2 for stocking a sample S before test, and a hardness testing machine 1 for testing the hardness of the sample S conveyed from the sample stocker 2.例文帳に追加
硬さ試験装置10は、試験前の試料Sをストックしておく試料ストッカ2と、試料ストッカ2から搬送された試料Sの硬さ試験を行う硬さ試験機1と、を備える。 - 特許庁
MICROSCOPE DEVICE, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE ILLUMINATION METHOD IN MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
顕微鏡装置、外観検査装置、半導体外観検査装置及び顕微鏡装置における試料照明方法 - 特許庁
To provide a simple measuring method of the shape of a sample for rapidly changing the temperature of the sample to a desired temperature with favorable temperature distribution and rapidly and accurately determining the sample of the sample, a holding device and a shape determination device.例文帳に追加
試料を目的温度へと迅速且つ温度分布良く到達し、試料の形状を迅速且つ正確に測定できる簡便な測定方法、保持装置及び形状測定装置を提供すること。 - 特許庁
Thus, the sample holder for a charged particle beam device and the reserve exhaust chamber for a charged particle beam device capable of properly and surely conveying the sample and the sample holder to the sample chamber are provided.例文帳に追加
本発明によれば、試料と試料ホルダを正しくそして確実に試料室内に搬送することができる荷電粒子ビーム装置用試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置の予備排気室を提供することができる。 - 特許庁
BUFFER CIRCUIT FOR RECORDER, REPRODUCING DEVICE, RECORDING/REPRODUCING DEVICE FOR PLURAL CHANNELS SAMPLE DATA例文帳に追加
複数チャンネルサンプルデータ用記録装置、再生装置、記録再生装置のバッファ回路 - 特許庁
SAMPLE WAFER FOR CALIBRATION OF IMAGE INSPECTION DEVICE, AND CALIBRATION METHOD OF IMAGE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像検査装置の校正用サンプルウエーハ及び画像検査装置の校正方法 - 特許庁
IMAGE ACQUISITION METHOD BY MULTIPLE SCAN, IMAGE ACQUISITION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR EXTRACTING BUILDING, AND METHOD AND DEVICE FOR VECTORIZING SAMPLE DATA例文帳に追加
建物抽出方法及び装置並びにサンプルデータのベクトル化方法及び装置 - 特許庁
A sample analysis device 1 includes: an agitation part 251 for agitating a sample in a sample container 101; a suction part 21 for sucking the sample from the sample container 101; and processing parts 22 and 23 for applying predetermined processing to the sample sucked by the suction part 21.例文帳に追加
試料分析装置1は、試料容器101内の試料を撹拌する撹拌部251と、試料容器101から試料を吸引する吸引部21と、吸引部21によって吸引された試料に所定の処理を施す処理部22,23と、を備える。 - 特許庁
To provide a positioning device that does not rub off a sample not to scatter a dust even the sample is flattened and sucked with the circumference surface of the sample pressed and with the sample held to the predetermined position in order to keep the plate-like sample sucked to the predetermined position of the sample support.例文帳に追加
板状の試料を試料台の所定の位置に吸着させるために、試料の外周面を押さえて試料を所定の位置に保持したまま、試料を平坦化や吸着しても、試料を擦らずに発塵しない位置決め装置を提供する。 - 特許庁
STANDARD SAMPLE TO BE USED FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING STANDARD SAMPLE TO BE USED FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線装置に用いられる標準試料,荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法 - 特許庁
To automatically execute the whole processes, starting from setting a sample on a device to inspection finish of the sample having a simple device structure, in a sample inspection device for gene inspection or the like.例文帳に追加
遺伝子検査などのためのサンプル検査装置において、簡単な装置構造でもって、サンプルが装置にセットされてからサンプルの検査が終了までの全工程を自動的に実行できるようにする。 - 特許庁
The specimen processing system (blood image autoanalyzer system 100) comprises a blood smear sample preparing device 101 for processing specimens, a sample conveying device 102, and a sample imaging device 103.例文帳に追加
この検体処理システム(血液像自動分析システム100)は、検体を処理するための血液塗抹標本作製装置101、標本搬送装置102および標本画像撮像装置103を備える。 - 特許庁
To provide a sample holder for a charged particle beam device and a reserve exhaust chamber for a charged particle beam device capable of properly and surely conveying a sample and a sample holder into a sample chamber, regarding the sample holder for a charged particle beam device and the reserve exhaust chamber for a charged particle beam device.例文帳に追加
本発明は荷電粒子ビーム装置用試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置の予備排気室に関し、試料と試料ホルダを正しくそして確実に試料室内に搬送することができる荷電粒子ビーム装置用試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置の予備排気室を提供することを目的としている。 - 特許庁
To provide an observation device capable of adjusting the illumination state of a sample in accordance with the shape of the sample and accurately performing the inspection and the measurement of the sample.例文帳に追加
試料の形状に応じて試料の照明状態を調整し、試料の検査・測定を精度良く行なうことができる観察装置を提供する。 - 特許庁
To provide an electrical characteristics measuring device, capable of controlling a temperature of a sample liquid and measuring electrical characteristics of the sample liquid, while visually recognizing the sample liquid under high pressure.例文帳に追加
高圧下において試料液体を視認しつつ、その温度を制御し、かつその電気特性を測定しうる電気特性測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample holder which can be formed in quantities, and a sample observation and inspection method and a sample observation and inspection device using the holder.例文帳に追加
大量に保持体を形成できる試料保持体、同保持体を用いた試料観察・検査方法、及び、試料観察・検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample injector for a moisture measuring device capable of simply extruding a sample which is a viscous substance, and having the barrel inner surface to which the sample hardly adheres.例文帳に追加
簡単に粘性体である試料を押し出すことができ、バレル内面に試料が付着しにくい水分測定器用の試料インジェクタを提供すること。 - 特許庁
To provide a mask for an ion milling sample manufacturing apparatus, capable of manufacturing a sample having a desired cross section of high positional accuracy, and to provide a sample manufacturing device.例文帳に追加
位置精度の高い所望の断面を有する試料を作製できるイオンミーリング試料作製装置用マスクおよび試料作製装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample processing device which can highly accurately process a sample also in a stopper-closed state, and to provide a sample processing method.例文帳に追加
閉栓状態においても高精度にて検体の処理を行うことができる検体処理装置及び検体処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
The device which handles the liquid sample includes: a flow path; a sample receiving zone; and a transportation or culture zone, and can receive the liquid sample.例文帳に追加
この液体サンプルを取り扱う装置は、流動路とサンプル受け取りゾーンと輸送又は培養ゾーンとを備えており、液体サンプルを受け取ることができる。 - 特許庁
To provide a weatherproofness test device resistible to exposure to rainfall, capable of protecting a sample from strong wind such as a typhoon when a sample base is installed indoors, and capable of setting a stable water spray mode because of an upward posture of the sample.例文帳に追加
降雨による暴露を可能とし、また、試料台を室内に設置した場合には、台風などの強風から試料を守ることができる。 - 特許庁
To provide a product sample display device for laying out a product sample at an arbitrary position through a simple operation, and effectively illuminating the product sample.例文帳に追加
簡単な作業で商品見本を任意の位置にレイアウトでき、さらに商品見本を効果的に照明できる商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical disk recording device capable of dynamically re-setting sample positions by learning the sample positions to sample laser power levels according to recording speed and write strategy.例文帳に追加
記録速度やライトストラテジに応じて、レーザーパワーレベルをサンプルする位置を学習して、動的に再設定できる光ディスク記録装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample rack supply device supplying sample racks easily in a short time, even if the number of sample racks to be supplied varies.例文帳に追加
供給すべきサンプルラックの数が変化しても該サンプルラックを容易かつ短時間に供給することができるサンプルラック供給装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an analyzing device capable of directly sampling a sample liquid, which is obtained using a puncture implement or a sample injection implement, in both cases using the puncture element and the sample injection element.例文帳に追加
穿刺具または試料注入具を用いて得られる試料液のどちらの場合にも直接に採取できる分析用デバイスを提供する。 - 特許庁
To provide a minute sample transporting device usable repeatedly without deforming the tip of a minute sample transporting tool even when the minute sample is separated.例文帳に追加
微小試料を分離しても微小試料移送具先端の変形が無く、何度も繰り返し使用できる微小試料移送装置を提供する。 - 特許庁
In the ion milling device for fixing the sample having a plane to a sample holder unit in a vacuum chamber and irradiating the sample with an ion beam to make the sample undergo milling processing, the sample holder unit has a fixing structure capable of fixing the sample along the inclination on the back side of the sample with respect to the plane of the sample coming into contact with the mask which shields the ion beam.例文帳に追加
本発明は、平面を有する試料を真空チャンバ内で試料ホルダユニットに固定してイオンビーム照射しミリング加工するイオンミリング装置において、前記試料ホルダユニットは、前記試料を前記イオンビームから遮蔽するマスクに接する前記平面に対してその裏面側の傾斜に沿って固定できる固定構造を有することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a sample container moving method in a sample preparation part of a particle size distribution measuring device capable of moving the sample container from the liquid sample collection position to the position of a mixing part in a short time without spilling the liquid sample.例文帳に追加
液体試料をこぼすことなく短時間で試料容器を液体試料採取位置から混合部の位置まで移動できる粒径分布測定装置の試料調整部における試料容器移動方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a device and method for vacuum processing, capable of uniforming temperature of a sample within a surface of the sample.例文帳に追加
試料温度を面内で均一にすることのできる真空処理装置および真空処理方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid sample dispensing device can dispense accurately a required amount of liquid sample into each reaction container.例文帳に追加
必要量の液体試料を反応容器に精度良く分注する液体試料分注装置を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid sample dispensing device capable of dispensing accurately a necessary amount of the liquid sample into a reaction container.例文帳に追加
必要量の液体試料を反応容器に精度良く分注する液体試料分注装置を提供する。 - 特許庁
To provide a compact sample preparation device, in which a sample stage does not interfere with observation holder.例文帳に追加
試料ステージと観察用試料ホルダーが干渉することのない、コンパクトな試料作製装置を提供する。 - 特許庁
STANDARD SAMPLE FOR MEASUREMENT OF FILM THICKNESS AND METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF CARBON FILM THICKNESS BY USING THAT SAMPLE例文帳に追加
膜厚測定用標準試料ならびにそれを使用したカーボン膜厚の測定方法及び測定装置 - 特許庁
TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加
試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁
Therefore, an analysis READY signal is sent to an analyst or an automatic sample injection device to urge the injection of the sample.例文帳に追加
その後、分析READYの信号を分析者或いは自動試料注入装置に送り、試料注入を促す。 - 特許庁
To provide a sample inspection device in which a sample is inspected by using a scanning electron microscope which irradiates electron beams.例文帳に追加
電子ビームを照射する走査電子顕微鏡を用いて試料を検査する試料検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample processing device capable of making a suitable sample for observation by a transmission electron microscope.例文帳に追加
透過電子顕微鏡の観察に適した試料を作製することができる試料加工装置を提供する。 - 特許庁
SAMPLING DEVICE FOR LIQUID SAMPLE AND SUCTION NOZZLE THEREOF, AND LIQUID SAMPLE STIRRING METHOD AND SAMPLING METHOD例文帳に追加
液体試料のサンプリング装置及びその吸引ノズル並びに液体試料の撹拌方法及びサンプリング方法 - 特許庁
SYRINGE WITH EXTENSION NEEDLE, AND AUTOMATIC GAS SAMPLE INJECTION DEVICE USING SAMPLE CHAMBER INTEGRATED GAS INLET PORT例文帳に追加
延長針付注射器及び試料室一体型ガス注入口を用いる自動気体試料注入装置 - 特許庁
SAMPLE TUBE HOLDER IN AUTOMATIC HUMOR ANALYZER, SAMPLE TUBE FRACTURE DETECTOR, GRIPPER APPARATUS, AND OBJECT RAISING AND LOWERING DEVICE例文帳に追加
自動体液分析装置における試料管ホルダ、試料管破断検出器、グリッパ装置および物体昇降装置 - 特許庁
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