「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To enhance uniformity in the thickness of a produced sample in a thin sample producing device by slicing a sample block with a cutter blade.例文帳に追加

カッタブレードを用いて標本ブロックをスライスして薄片状の試料を作製する薄片試料作製装置において、作製される薄片試料の厚さの均一性を高める。 - 特許庁

To provide an easy-to-handle and simply-structured merchandise sample display device of a vending machine which is suitable for displaying a solid merchandise sample or a sheet-like merchandise sample.例文帳に追加

立体商品見本またはシート状商品見本を展示するに好適な、取り扱いが容易で簡易な構造の自動販売機の商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample observation device and a sample observation method in which a sample can be suitably observed by using an operation structure including a structure in an optical axis direction.例文帳に追加

光軸方向の構造を含む操作構造を用い、試料の観測を好適に行うことが可能な試料観測装置及び観測方法を提供する。 - 特許庁

When the sample print button is depressed and operated, the sample printing is performed in the image forming device 3 by the printing function having the little use frequency, and a sample sheet is outputted.例文帳に追加

サンプル印刷ボタンが押下操作されると、使用頻度が少ない印刷機能により画像形成装置３においてサンプル印刷が行われ、サンプルシートが出力される。 - 特許庁

To obtain a sample alignment device for a grain image reader, with which grains as a sample can be placed simply and quickly on a sample base, in an aligned state.例文帳に追加

簡単かつ迅速に、試料となる穀粒を試料台上に整列した状態で載置させることができる穀粒画像読取装置用試料整列器を得る。 - 特許庁

The heat-receiving part 36A and the heat-receiving part 36B are separated so as to cancel the restriction on the sample stage and the probe device, thereby moving the sample stage and the probe device within a sample chamber 30.例文帳に追加

受熱部３６Ａと受熱部３６Ｂを分離して試料ステージ及びプローブ装置の拘束を解くことにより、試料ステージ及びプローブ装置の試料室３０内における移動を可能とする。 - 特許庁

To provide a chucking device controlling a flatness of surface of a sample to a desired flatness even when a foreign matter is interposed between the rear face of the sample and the surface of the chuck device for holding the sample.例文帳に追加

試料裏面とこれを保持するチャック装置の表面に異物が介在した場合でも、試料表面の平坦度を所望の平坦度にコントロールすることが可能なチャック装置を提供する。 - 特許庁

After an electrode catalyst sample S is placed on a sample placement board 110, a hydrogen gas of 80 degrees C is distributed in a sample storage device 100 via a hydrogen gas supply device 200 for 15 minutes.例文帳に追加

電極触媒試料Ｓを試料載置台１１０に載置して水素ガス供給装置２００を介して８０℃の水素ガスを１５分間にわたって試料収容装置１００内に流通させる。 - 特許庁

This device 1 for treating the sample 15 has an observation device 2 for observing the sample, a sample holder 3 for receiving the sample to be treated, and a tool holder 6 suitable for attaching a tool 5 for a different treating step.例文帳に追加

試料（１５）を処理するための装置（１）であって、試料を観察するための観察装置（２）と、処理すべき該試料を受入れるための試料ホルダ（３）と、異なる処理ステップのための工具（５）を取付けるのに適した工具ホルダ（６）とを有する。 - 特許庁

To provide an energizing mechanism for opening and closing a gate valve between a sample exchange chamber (auxiliary exhaust chamber) for mounting and removing a sample and a sample chamber in a device such as a testing device, a machining device or a plotting device using a charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いた検査装置、加工装置あるいは描画装置等の装置において、試料を装・脱着するための試料交換室（予備排気室）と試料室との間のゲート弁等の開閉のための増力機構を提供する。 - 特許庁

SOLID-STATE NMR DEVICE, SAMPLE HOLDER FOR SOLID-STATE NMR DEVICE, AND SOLID-STATE NMR MEASURING METHOD例文帳に追加

固体ＮＭＲ装置、固体ＮＭＲ装置用試料保持体、および固体ＮＭＲ測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING OBSERVATION OR PROCESSING POSITION, AND METHOD AND DEVICE FOR PROCESSING SAMPLE例文帳に追加

観察または加工位置特定方法および装置ならびに試料加工方法および装置 - 特許庁

When this organic sample observation device is used as the vertical fluorescence image pickup device, a dichroic mirror 9 is set in a posture (A).例文帳に追加

落射蛍光撮像装置として使用する場合、ダイクロイックミラー９を（Ａ）の姿勢とする。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING FAINT LIGHT SAMPLE, AND ANALYTICAL DEVICE AND SOFTWARE FOR MAKING THE DEVICE FUNCTION例文帳に追加

微弱光サンプルの解析方法、解析装置及び該解析装置を機能させるためのソフトウェア - 特許庁

SAMPLE HEATING DEVICE, CHROMATOGRAPHIC ANALYSIS PRETREATMENT METHOD USING DEVICE, AND CHROMATOGRAPHIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

試料加熱装置並びにこれを用いたクロマトグラフ分析前処理方法およびクロマトグラフ分析方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR VISUALIZING FINE SAMPLE, AND DEVICE AND METHOD FOR VISUALIZING DISTURBANCE OF FINE LATTICE例文帳に追加

微細な試料を可視化する装置と方法、微細な格子の乱れを可視化する装置と方法 - 特許庁

COATING THICKNESS MEASURING METHOD AND DEVICE, AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

膜厚測定方法及び試料作製方法、並びに、膜厚測定装置及び試料作製装置 - 特許庁

To prevent malfunction of sample-hold of correct data caused by a switching noise accompanying open-operation of a switch of an other sample- hold circuit during sample-hold of data in any one sample-hold circuit when the device is provided with a plurality of sample-hold circuits incorporating a switch and sample-hold of data is performed in order using the plurality of sample-hold circuits.例文帳に追加

スイッチを内蔵するサンプルホールド回路を複数備える場合に、データのサンプルホールドを前記複数のサンプルホールド回路を用いて順番に行う場合に、何れか１個のサンプルホールド回路でのデータのサンプルホールド回路中は、他のサンプルホールド回路のスイッチの開動作に伴うスイッチング雑音が正しいデータのサンプルホールドを誤らせることを防止する。 - 特許庁

The detection device includes: a sample inlet section 1 for taking in and heating a sample; an ionization section 2 for ionizing the sample from the sample inlet section 1; a mass analyzing section 3; and a computer 6 for analyzing data.例文帳に追加

探知装置は、試料を取り込み加熱する試料導入部１と、試料導入部１からの試料をイオン化するイオン化部２と、質量分析部３と、データを解析する計算機６とにより構成される。 - 特許庁

To provide a sample degrading device suitable for analyzing and evaluating an impurity on a surface in an arbitrary specific region, of a sample and that in the sample, and to provide an impurity analyzing method of the sample using the same.例文帳に追加

試料の任意の特定領域における表面および試料中の不純物を分析・評価するのに好適な試料分解処理装置及びこれを用いた試料の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁

The sample diluting part 32 is not provided with a device for forcibly mixing a sample solution and diluting water, and they are uniformly mixed in the sample diluting part 32 by the velocity of inflow of the diluting water and the sample solution.例文帳に追加

この試料希釈部３２は、試料溶液と希釈水を強制的に混合させる装置がなく、希釈水と試料溶液との流入の流速により試料希釈部３２内にて均一に混合される。 - 特許庁

The sample introduction device includes a replaceable sample solution introduction nozzle 23 branched from a sample introduction tube 26, and reduces a memory effect by simultaneously introducing a sample solution and a washing solution.例文帳に追加

本発明の試料導入装置は、試料導入管２６から分岐した付けかえ式の試料溶液導入用ノズル２３を備え、試料溶液と洗浄液を同時に導入するため、メモリー効果を低減する。 - 特許庁

To prevent fly of a sample inside a sample vessel that adheres to a lid of the sample vessel or its proximity when the lid is opened and closed, and to reduce the cross contamination to another sample and contamination inside the device.例文帳に追加

試料容器の蓋を開閉するときの蓋やその近傍に付着した試料容器内の試料が装置内へ飛散することを防止し、他の試料へのクロス・コンタミネーションや装置内の汚染を低減する。 - 特許庁

To provide the sample shielding mechanism of a sample cross section making device capable of making accurate sample cross sections, even regarding a sample which is weak against heat.例文帳に追加

本発明は試料断面作製装置の試料遮蔽機構に関し、熱に弱い試料でも正確な試料断面を作製することができる試料断面作製装置の試料遮蔽機構を提供することを目的としている。 - 特許庁

This detection device is constituted of a sample introduction part 1 to take in and heat a sample, an ionization part 2 to ionize the sample from the sample introduction part 1, a mass spectrometric part 3, and a computer 6 to analyze data.例文帳に追加

探知装置は、試料を取り込み加熱する試料導入部１と、試料導入部１からの試料をイオン化するイオン化部２と、質量分析部３と、データを解析する計算機６とにより構成される。 - 特許庁

To provide a sample input device (1) having a single inlet (2), through which a medical sample, or preferably a sample of bodily fluids or quality control medium, is automatically loaded from various sample containers (3, 4).例文帳に追加

本発明は、医療サンプル、好ましくは体液または品質管理媒質のサンプルを多様なサンプル容器（３、４）から自動的に入力するために単一の差込位置（２）があるサンプル投入器具（１）に関する。 - 特許庁

To certainly prevent the occurrence of a carry-over in a sample sucking needle for supplying a sample to a predetermined receiving part after once holding the sample inside, and a sample injection device.例文帳に追加

本発明は試料を内部に一旦保持した後に当該試料を所定被供給部に供給する試料吸入用ニードル及び試料注入装置に関し、キャリーオーバーの発生を確実に防止することを課題とする。 - 特許庁

This skin effect observation device is provided with a magnetic field measuring coil inserted into the conductor sample to measure a magnetic field in the inside of the conductor sample, and an electric field measuring electrode contacting with the conductor sample to measure an electric field on the surface of the conductor sample.例文帳に追加

導体試料に挿入してこの導体試料内部の磁場を測定する磁場測定コイルと、この導体試料に接触して導体試料表面の電場を測定する電場測定電極とを設ける。 - 特許庁

The device 10 comprises the commodity sample 11, a commodity sample base 12 mounted with the commodity sample 11 on the upper surface, and a selection button 13 mounted on the front surface of the commodity sample base 12.例文帳に追加

商品見本照明装置１０は、商品見本１１と、商品見本１１が上面に取り付けられた商品見本台１２と、商品見本台１２の前面に取り付けられた選択ボタン１３とを備える。 - 特許庁

METHOD FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS OF SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, AND OPTICAL AXIS ADJUSTING SAMPLE例文帳に追加

基板検査装置の光軸調整方法および光軸調整用サンプル - 特許庁

To one of electrodes of a sample switching device 1 in an open circuit state, a direct current voltage equivalent to the rated voltage peak value of the sample switching device is applied.例文帳に追加

開路状態の供試開閉装置１の電極の片側に供試開閉装置定格電圧波高値相当の直流電圧を印加する。 - 特許庁

This device can be applied for a device measuring distortion inside a sample or measuring other properties or attributes of the sample for example such as temperature.例文帳に追加

本装置は、試料内の歪みを測定するための或いは例えば温度のような試料の他の特性又は属性を測定するための機器とすることができる。 - 特許庁

SYSTEM MAPPE, AND DEVICE FOR STORING AND TRANSPORTING AUTOMATIC SLIDE SAMPLE MAPPE例文帳に追加

システムマッペ及びそれを用いる自動スライド標本マッペ収納移送装置 - 特許庁

AUTOMATIC SMEAR FORMING DEVICE AND AUTOMATIC SAMPLE ANALYZING SYSTEM EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

自動塗抹標本作製装置とそれを備えた自動試料分析システム - 特許庁

Then the video information editing device receives the plurality of sample images.例文帳に追加

そして、映像情報編集装置はこの複数のサンプル画像を受信する。 - 特許庁

To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER ROTATING MECHANISM AND VACUUM THIN-FILM DEPOSITION DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

サンプルホルダー回転機構及びこの機構を備える真空薄膜成膜装置 - 特許庁

VOLATILITY MEASURING DEVICE FOR LIQUID SAMPLE AND VOLATILITY MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

液体試料の揮発度測定装置とそれを用いた揮発度測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING QUANTITY OF IMPURITY IN ANALYZED GAS SAMPLE例文帳に追加

被分析ガス試料中の不純物量を測定する方法および装置 - 特許庁

FILM-LIKE SAMPLE FIXING METHOD, GAS CELL, AND GAS PERMEABILITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

フィルム状試料固定方法およびガスセル並びにガス透過度測定装置 - 特許庁

METALLIC COATING SURFACE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND EVALUATION REFERENCE SAMPLE例文帳に追加

メタリック塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本 - 特許庁

To provide a device for focusing a microscope objective on a sample.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズをサンプルに合焦させるための装置を提供する。 - 特許庁

FIB DEVICE FOR TEM SAMPLE PROCESSING EQUIPPED WITH FUNCTION FOR AUTOMATICALLY RECOGNIZING BENDING例文帳に追加

曲がり自動認識機能を備えたＴＥＭ試料加工用ＦＩＢ装置 - 特許庁

Then, the density of the sample for setup is automatically measured by using the device.例文帳に追加

また、該装置を用いてセットアップ用サンプル２１の濃度を自動で測定する。 - 特許庁

The magnetic measurement device capable of exciting the sample and also measuring the physical properties of the sample is provided with a device for controlling the temperature distribution.例文帳に追加

試料を励磁することができ、かつ前記試料の物性を測定する磁気的測定装置において、前記試料の温度分布を制御する装置を備える。 - 特許庁