「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CALIBRATING BOARD, SAMPLE HOLDING METHOD, CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION METHOD例文帳に追加

試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置，回路パタ—ン検査装置，荷電粒子線応用装置，校正用基板，試料の保持方法，回路パタ—ン検査方法、および、荷電粒子線応用方法 - 特許庁

To provide a sample preparation method for sampling only a sample piece including a desired, specific region from a semiconductor wafer and a device chip for mounting on the sample stage of an analyzer/measuring device without going through the sample preparation process of manual work requiring experience, skill, and time, and to provide a sample preparation apparatus.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample manufacturing method for analyzing of a micro region, observing or measuring by separating or preparing for separation of a minute sample containing a desired specific region from a sample of an electronic components or the like such as a semiconductor wafer or a device without inclining a sample stage, as well as a sample manufacturing device thereof.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

In addition, this A/D conversion device is composed by using the sample/hold circuit 1A.例文帳に追加

さらに、サンプルホールド回路１Ａを用いてＡ／Ｄ変換装置を構成する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF KNOWING ELECTROSTATIC CHARGE CONDITION IN SURFACE OF SAMPLE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、及び試料の表面の帯電状態を知る方法 - 特許庁

In parallel, a serial/parallel conversion device 7 converts the bit steam Bs into a sample signal SMP.例文帳に追加

それと並行して、シリアル／パラレル変換器7によりサンプル信号SMPに変換する。 - 特許庁

SAMPLE PREPARING DEVICE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER ROTATING DEVICE FOR FORMING SAMPLE IMAGE, OPTICAL SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

試料の画像形成のための光ファイバ回転装置、光学システム及び方法 - 特許庁

This equivalent-time sample radar device has a transmission system and a reception system.例文帳に追加

送信系と受信系とを有する等価時間サンプルレーダ装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING THIN SLICE OF SAMPLE USING IMAGE-RECOGNITION SYSTEM例文帳に追加

画像認識システムを用いてサンプルの薄切片を作製する方法及び装置 - 特許庁

CONCENTRATION MEASURING METHOD FOR ORGANIC MATTER IN LIQUID, VAPORIZED SAMPLE PRODUCING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

液体中の有機物濃度測定方法、気化試料生成方法及び装置 - 特許庁

VACUUM SYSTEM AND METHOD FOR REGULATING TEMPERATURE OF SAMPLE AND METHOD FOR FABRICATING DEVICE例文帳に追加

真空装置及び試料の温度調整方法及びデバイスの製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SEPARATING SAMPLE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

試料の分離装置及び分離方法並びに半導体基板の製造方法 - 特許庁

An automatic sample injection device 8 is fixed to the upper stage of the frame 16.例文帳に追加

自動試料注入装置８は、フレーム１６の上段に固定されている。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE, CALIBRATION METHOD, ANALYSIS METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

標準試料、ならびに校正方法、分析方法およびデバイスの製造方法 - 特許庁

To improve photodetection sensitivity in a measuring unit, in a sample measuring device.例文帳に追加

サンプル測定装置において、測定ユニットにおける光検出感度を高める。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR THIN FILM STRUCTURAL BODY, SAMPLE USED IN IT AND OPTICAL DEVICE例文帳に追加

薄膜構造体の製造方法、これに用いられる試料、及び光学装置 - 特許庁

To realize a device for measuring an optical-absorption coefficient of a sample at a high sensitivity.例文帳に追加

試料の光吸収係数を高感度で測定する装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method and device for quantitatively determining an analyte in a sample.例文帳に追加

試料中のアナライトの定量的に測定する方法と装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR OBSERVING SAMPLE IMAGE IN SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法及び装置 - 特許庁

To provide a device effective for sampling and preparing a tissue sample.例文帳に追加

組織サンプルを採取して調製するための有効な装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an observation device for observing a plurality of positions of a sample simultaneously.例文帳に追加

標本の複数の位置を同時に観察し得る観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method capable of decontaminating a sample to be decontaminated, efficiently using a laser light.例文帳に追加

被汚染試料における除染をレーザー光を用いて効率よく行う。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PREPARING SAMPLE CARTRIDGE FOR PARTICLE ACCELERATION DEVICE例文帳に追加

粒子加速デバイスのためのサンプルカートリッジを調製する方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEDICINE-MEDICINE INTERACTION TESTING SAMPLE PREPARATION例文帳に追加

薬剤−薬剤間相互作用試験サンプル調製物のための方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRE-TREATING SAMPLE FOR ANALYZING CARBON CONTENT OF METAL例文帳に追加

金属中炭素分析用試料の予備処理方法および予備処理装置 - 特許庁

MASS ANALYSIS METHOD, AND METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR MASS ANALYSIS例文帳に追加

質量分析法、質量分析用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE OBSERVATION SAMPLE FORMATION DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS METHOD例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

KIT, METHOD AND DEVICE FOR ASSAYING MICROORGANISM IN LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液体試料中の微生物の測定キット及び測定方法及び測定装置 - 特許庁

MORPHOLOGICAL ANALYTICAL SAMPLE PRETREATMENT METHOD AND DEVICE BY HYDRIDE INTRODUCING METHOD例文帳に追加

水素化物導入法による形態別分析試料前処理方法及び装置 - 特許庁

MAPPING IMAGE DATA SAMPLE TO PIXEL SUB-COMPONENTS ON STRIPED DISPLAY DEVICE例文帳に追加

ストライプ形ディスプレイ装置上の画素サブコンポーネントへの画像データ・サンプルのマッピング - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF ORGANIC SUBSTANCE CONCENTRATION IN SAMPLE LIQUID, AND ULTRAVIOLET ABSORBANCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

試料液中の有機物濃度測定方法および紫外線吸光度計測器 - 特許庁

MICROTUBE READER DEVICE FOR ANALYSIS OF BLOOD SAMPLE AND METHOD FOR READING MICROTUBE例文帳に追加

血液試料分析用マイクロチューブリーダー装置およびマイクロチューブを読取る方法 - 特許庁

SAMPLER DEVICE HAVING REINFORCING COMPARTMENT AND METHOD FOR PACKING SAMPLE MATERIAL例文帳に追加

補強コンパートメントを有するサンプラー装置およびサンプル材料を包装する方法 - 特許庁

PETRI DISH, CHAMBER DEVICE, OPTICAL MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD, AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

ペトリディッシュ、チャンバー装置、光学顕微鏡観察方法及び試料分析方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ORGANIC STAIN ON SURFACE OF SOLID SAMPLE AND ITS PRETREATING DEVICE例文帳に追加

固体試料表面の有機物汚れの測定方法及びその前処理装置 - 特許庁

PHYSICAL PROPERTY EVALUATION METHOD OF SAMPLE, AND PHYSICAL PROPERTY EVALUATING DEVICE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL例文帳に追加

試料の物性評価方法及び半導体材料の物性評価装置 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATION AND METHOD FOR CALIBRATING WATER VAPOR PERMEABILITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

校正用標準試料および水蒸気透過度測定装置の校正方法 - 特許庁

In a treating device wherein a plurality of places carrying the sample exist and another treating device where a mechanism to the carrying position, the sample and the information of the sample exist, the sample has the information at both carrying original position and carrying destination position on the halfway of carrying.例文帳に追加

試料を搬送する場所が複数ある処理装置と、その搬送位置への機構と、試料及び、試料の情報がある処理装置において、試料を搬送途中は搬送元位置と搬送先位置の両方に試料情報を有することを特徴とする。 - 特許庁

A light source 2 having a transmissive wavelength through the sample 1 and a light intensity measuring device 4 are installed in the facing state to a face in the thickness direction of the sample 1 across the flat sample 1, and the intensity of transmitted light transmitted through the sample 1 is detected by the light intensity measuring device 4.例文帳に追加

平板状試料１を挟んで、試料１を透過する波長の光源２と光強度測定器４が試料１の厚さ方向の面に対向して設置され、試料１を透過した透過光の強度を光強度測定器４で検出する。 - 特許庁

Components of a sample are separated using either of a combination of the head space sample introduction device 10 and the the first column 22, or a combination of the liquid sample introduction device 14 and the second column 23, and sample gas is introduced directly into the ionization chamber 42 to execute mass spectrometry.例文帳に追加

ヘッドスペース試料導入装置１０と第１カラム２２又は液体試料導入装置１４と第２カラム２３のいずれかの組み合わせを使用して試料を成分分離し、その試料ガスを直接イオン化室４２に導入して質量分析を実行する。 - 特許庁

To provide an agitating device with high working efficiency, which samples and agitates a sample simultaneously, and also to provide a measurement device which measures substance contained in the sample using the agitating device.例文帳に追加

試料の採取と攪拌の作業を同時に行うことのできる作業効率の高い攪拌装置と、それを用いて試料に含有される物質を測定する測定装置を提供する。 - 特許庁

When supplying a liquid sample to a sample analysis device having a working electrode and a counter electrode, a potential is applied between the electrodes to determine a current, and thereby initial filling speed of the sample into the device is calculated.例文帳に追加

作用電極及び対電極を有するサンプル分析デバイスに血液サンプルを供給する際、電極間に電位を印加し電流を求める事により、サンプルのデバイスへの初期充填速度を計算する。 - 特許庁