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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 機械工学英和和英辞典 > SCANNING ELECTRON MICROSCOPEの意味・解説 
意味例文 (665件) 

SCANNING ELECTRON MICROSCOPEとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 走査型電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、走査電顕


機械工学英和和英辞典での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning electron microscope

走査電子顕微鏡

scanning electron microscope (SEM)

走査型電子顕微鏡

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「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 665件



例文

SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の走査回路 - 特許庁

例文

SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

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和英宇宙実験対訳用語集での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡

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学術用語英和対訳集での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡; SEM; 走査電子顕微鏡

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英和医学用語集での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning electron microscope

走査(型)電(子)顕(微鏡)
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眼科専門用語辞書での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡
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英和実験動物学用語集での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning electron microscope

走査（型）電子顕微鏡
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Weblio専門用語対訳辞書での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

Scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡

カテゴリ 技術用語

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡

カテゴリ 自動車用語

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Weblio英和対訳辞書での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

Scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡

scanning electron microscope

走査型電子顕微鏡; SEM

scanning electron microscope

走査電子顕微鏡
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ウィキペディア英語版での「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の意味

Scanning electron microscope

出典:『Wikipedia』 (2011/07/06 09:48 UTC 版)

英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用
引用
A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that images a sample by scanning it with a high-energy beam of electrons in a raster scan pattern. The electrons interact with the atoms that make up the sample producing signals that contain information about the sample's surface topography, composition, and other properties such as electrical conductivity.
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「SCANNING ELECTRON MICROSCOPE」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 665件



例文

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料ホルダ - 特許庁

SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

スピン偏極走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査Ｘ線電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡 - 特許庁

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査干渉電子顕微鏡 - 特許庁

例文

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR ANALYSIS例文帳に追加

分析走査電子顕微鏡 - 特許庁

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