「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample preparing device or a defect inspecting device comprising a contact detecting means where the contact between a sample and a prove is detected regardless of kind of samples, at a low cost.例文帳に追加

試料と探針の接触を試料の種類を問わず検知できる安価な接触検知手段を備えた試料作成装置または不良検査装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD THROUGH USE OF FOCUSING ION BEAM AND FOCUSING ION BEAM PREPARING DEVICE例文帳に追加

集束イオンビームを用いた試料加工方法、及び集束イオンビーム加工装置 - 特許庁

To provide a particle beam device and a method of pretreating a sample and/or inspecting the sample capable of being applied for the particle beam device.例文帳に追加

粒子ビーム装置と、この粒子ビーム装置に適用可能であり、試料を前処理するためのおよび／または試料を検査するための方法とを提供すること。 - 特許庁

The second coupler 18 is connected to a discharge passage 13c between the sample container 15 and the evacuation device 16 to separate the sample container 15 from the evacuation device 16.例文帳に追加

第２カプラー１８は、試料容器１５と真空排気装置１６との間の排出路１３ｃに試料容器１５を真空排気装置１６から分離可能に接続される。 - 特許庁

To provide an automatic device attached with a controlling device, for performing a polymerase chain reaction in at least one sample tube housing a prescribed amount of a liquid sample mixture.例文帳に追加

所定量の液体試料混合物を収容した少なくとも１つの試料管内におけるポリメラーゼ連鎖反応の、制御装置付自動遂行装置の提供。 - 特許庁

To create a device for processing a tissue sample in which the filling level of a liquid, in a processing space of the device for processing a tissue sample can, in particular, be detected with accuracy.例文帳に追加

組織試料を処理する装置のプロセス空間内の液体の充填レベルが特に正確に検知可能である、組織試料を処理する装置を創作する。 - 特許庁

To achieve multiple blood sample tests on a single strip in a blood sample test device having a continuous strip sensor which is advanced through the device.例文帳に追加

装置を通って進行する連続したストリップ状のセンサを有する血液サンプルの検査装置にあって、単一のストリップ上で複数の血液サンプルの検査が行えるようにする。 - 特許庁

The fixing device 1 includes the horizontal optical microscope 2 and a sample fixing section 3.例文帳に追加

固定装置１は、水平型光学顕微鏡２と、試料固定部３とを備える。 - 特許庁

To propose an alternative slide transfer mechanism for a laser scanner device for a fluorescent sample.例文帳に追加

蛍光サンプルのレーザスキャナ装置において、代替のスライド移送機構を提案する。 - 特許庁

METHOD FOR FINDING CONDITION FOR DECOMPOSITION, AND DEVICE FOR MAKING SAMPLE FOR THE SAME例文帳に追加

分解処理する条件を求める方法、および、そのためのサンプルの作成装置 - 特許庁

A device for focusing a microscope objective (26) on a sample (18) is disclosed.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズ（２６）をサンプル（１８）に合焦させるための装置が開示される。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁

A sample lens 130 is mounted on the lens fixing tool 70 of the device for drilling lens 50.例文帳に追加

レンズの孔開け装置５０のレンズ固定具７０に、サンプルレンズ１３０を固定する。 - 特許庁

GRADIENT MECHANISM OF SAMPLE STAGE IN CHARGED PARTICLE MICROSCOPE PROVIDED WITH PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加

周辺装置を備えた荷電粒子顕微鏡における試料ステージ傾斜機構 - 特許庁

To provide a pattern image of a sample with improved resolution with a simple device configuration.例文帳に追加

簡易な装置構成で分解能が向上された試料のパターン像を得ること。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SAMPLE IMAGE DISPLAY METHOD, AND IMAGE SHIFT SENSITIVITY MEASURING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、試料像表示方法及びイメージシフト感度計測方法 - 特許庁

A correction data generating device 60 is coupled to a print sample reading device 70 for reading a test pattern on a print sample PS formed by using an LPH (light emitting diode print head) 14.例文帳に追加

補正データ生成装置６０は、ＬＰＨ１４を用いて作成されたプリントサンプルＰＳ上のテストパターンを読み取るプリントサンプル読取装置７０に接続されている。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING SUBSTANCE CONCENTRATION OF SAMPLE IN WHICH DISTURBING MATERIAL EXIST例文帳に追加

妨害材料が存在する試料中の物質濃度の決定方法および装置 - 特許庁

SAMPLE HEATER, PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR PROCESSING TEST PIECE USING SAME例文帳に追加

試料加熱装置および処理装置ならびにそれを用いた試料の処理方法 - 特許庁

To provide a sample supply device capable of removing bubbles adhering to a plunger after finish of bubbling, and to provide a TOC meter that uses the sample supply device.例文帳に追加

バブリング終了後において、プランジャに付着した気泡を除去できる試料供給装置及びその試料供給装置を用いたＴＯＣ計を提供する。 - 特許庁

To provide a large-dimension high frequency plasma device for sample treatment using a waveguide.例文帳に追加

導波管を用いた大面積試料処理用高周波プラズマ装置の提供。 - 特許庁

BLOOD SAMPLING NEEDLE, ITS MANUFACTURE, BLOOD SAMPLE ANALYSIS DEVICE, AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

採血針及びその製造方法並びに採血分析装置及びその製造方法 - 特許庁

SAMPLE FOR INFRARED ABSORPTION SPECTRUM ANALYSIS, ITS PREPARING METHOD AND ITS PREPARING DEVICE例文帳に追加

赤外吸収スペクトル分析用サンプル並びにその作成方法及び作成装置 - 特許庁

The biopsy device includes a tissue sample holder and a cutter defining a cutter lumen.例文帳に追加

生検装置は、組織サンプルホルダ、および、カッター内腔を画定しているカッターを含む。 - 特許庁

The core sampling biopsy device 10 obtains a tissue sample for diagnostic or therapeutic purposes.例文帳に追加

コアサンプリング用生検装置は、診断または治療の目的で、組織サンプルを得る。 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION CONDITION DECISION SUPPORT UNIT AND ELECTRON BEAM TYPE SAMPLE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

電子線照射条件決定支援ユニット、および電子線式試料検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING INTERNAL MACHINING PROCESS FOR TRANSPARENT SAMPLE BY LASER例文帳に追加

レーザーによる透明試料の内部加工過程の測定方法及びそのための装置 - 特許庁

SAMPLE-COOLING DEVICE AND ELECTRON BEAM IRRADIATION TYPE ANALYSIS/OBSERVATION APPARATUS HAVING THE SAME例文帳に追加

試料冷却装置及びそれを備えた電子線照射型分析／観察装置 - 特許庁

MERCURY-MEASURING DEVICE FOR MEASURING MERCURY IN SAMPLE HAVING HYDROCARBON AS MAIN COMPONENT例文帳に追加

炭化水素を主成分とする試料中の水銀を測定する水銀測定装置 - 特許庁

CRITICAL VULCANIZATION DEGREE TESTING DEVICE FOR FOAMING IN RUBBER SAMPLE AND ITS METHOD FOR DETERMINING VULCANIZATION LIMIT例文帳に追加

ゴムサンプルの発泡限界加硫度試験装置およびその加硫限界特定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY FILTERING SAMPLE SOLUTION FOR ANALYSIS例文帳に追加

分析用試料液の自動濾過方法及び分析用試料液の自動濾過装置 - 特許庁

The device 1 also comprises a detector 6 for detecting fluorescent X-rays from the sample.例文帳に追加

さらに装置１は、サンプルからの蛍光X線を検出する検出器6を有する。 - 特許庁

To provide a pretreatment method and a device thereof for performing SEM observation of a microbial sample.例文帳に追加

微生物試料のSEM観察のための前処理方法及びその装置の提供。 - 特許庁

To provide a medical device and a method useful for obtaining a tissue sample.例文帳に追加

組織サンプルを採取するために有用な医療装置および方法を提供する。 - 特許庁

The painted surface of the sample 5 is irradiated with light from a diagonal direction by an illuminating device 30, and brightness image data on the painted surface of the sample 5 is acquired by an image acquisition device 10.例文帳に追加

サンプル５の塗装表面に照明装置３０で斜め方向から光を照射し、サンプル５の塗装表面の輝度画像データを画像取得装置１０で取得する。 - 特許庁

The minute sample processing observation device includes a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, as well as a probe 72 separating a minute sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated minute sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

To provide a method and device for producing a sample for separating or separately preparing a minute sample including a desired specific region from a sample such as a semiconductor wafer and an electronic part like a device without tilting a sample stage for the purpose of minute region analysis, observation, or measurement.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウエーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparing method and device for microregion assay, observation or measurement of a minute sample by separating or separating/preparing the minute sample containing a desired specific region from samples of electronic components such as semiconductor wafer and device, etc. without inclining the sample stage.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of removing extraneous matter like dust or foreign substances obstructing observation of a sample surface or a processing position in a sample just before the observation and processing of the sample, by providing a sample exchanging device of the charged particle beam device with a removing function.例文帳に追加

荷電粒子線装置で試料において、試料表面の観察や加工部位に妨げとなる付着物等のゴミや異物を除去することを目的としており、荷電粒子線装置の試料交換装置に除去機能を有することで試料の観察，加工時直前に実施でき付着物を着実に除去できる。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and its device in which only a sample piece containing a desired specified region from a semiconductor wafer and a device chip is sampled (extracted) and is mounted on a sample stage of analysis and measurement device without going through a process of sample preparation by manual work requiring experience, skill, and time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

In the sample transfer device for transferring the sample to be observed and analyzed by irradiating the charged particle beam, the sample transfer device includes an expansible hollow member capable of internally storing the sample holder where the sample is mounted, a fixing member for fixing the sample holder inside the expansible hollow member, and a sealing member for opening and closing an opening communicating with the inside of the expansible hollow member and used for passing the sample holder.例文帳に追加

荷電粒子線を照射して観察及び分析する試料を搬送するための試料搬送装置であって、試料が設置される試料ホルダを内部に収容可能な伸縮部材と、前記試料ホルダを前記伸縮部材の内部で固定する固定部材と、前記伸縮部材内部と接続し試料ホルダが通過する開口部の開閉を行う封止部材を備えたことを特徴とする試料搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of observing a sample surface by easily detecting potential contrast of the sample surface based on a capacitance difference of the sample by irradiating the sample with charged particles through a dielectric material, while the sample is arranged in the atmosphere; and to provide a sample observation method using the same.例文帳に追加

本発明は、試料を大気中に置きながらも、誘電体を介して荷電粒子を試料に照射することにより、その静電容量差から容易に試料表面の電位コントラストを検出し、試料表面の観測を可能とした荷電粒子線装置及びこれを用いた試料観測方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method corresponding to the subject related to a sample holding stand, sample pretreatment and a sample holder for analyzing a structure, a composition and an electronic state in a device operated state by applying external voltage to a sample to be observed in a sample analyzer inclusive of a transmission electron microscope, and a sample analyzing method.例文帳に追加

透過電子顕微鏡をはじめとする試料分析装置において、観察しようとする試料に外部電圧を印加し、デバイスが動作状態のまま構造、組成、電子状態を分析するための、試料保持台、試料の前処理および試料ホルダに関する課題に対応する方法、および、当該試料の分析を行う方法を提供する。 - 特許庁

The spectrochemical analysis device 10 for analyzing the state of the surface of the sample under presence of the atmosphere medium has the atmosphere medium 13 filled between the sample 11 on a sample base and a window material 12, and spectrochemically analyzes the surface of the sample while varying the interval between the the sample 11 on the sample base and the window material 12 during the analysis.例文帳に追加

雰囲気媒体の存在下での試料表面の状態を分析する本発明の分光分析装置１０は、試料台上の試料１１と窓材１２との間に雰囲気媒体１３を満たし、試料台上の試料１１と窓材１２との間隔を分析の間に変動させつつ、試料表面の分光分析を行う。 - 特許庁

A sample file preparation part of a cellphone device 10 of a transmission source prepares a sample file including description using a graphics description language of a sample element in the message to be transmitted to a cellphone device 20 of a transmission destination.例文帳に追加

送信元の携帯電話装置１０の雛型ファイル準備部が、送信先の携帯電話装置２０に伝達しようとするメッセージにおける雛型要素のグラフィックス記述言語を用いた記述を含む雛型ファイルを準備する。 - 特許庁