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sample deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4634件
POWDER SAMPLE COLLECTING DEVICE例文帳に追加
粉体試料採取装置 - 特許庁
LIQUID SAMPLE DISPENSING DEVICE例文帳に追加
液体試料分注装置 - 特許庁
PROBE HOLDING DEVICE, SAMPLE ACQUIRING DEVICE, SAMPLE WORKING DEVICE, SAMPLE WORKING METHOD, AND SAMPLE EVALUATION METHOD例文帳に追加
プローブ保持装置、試料の取得装置、試料加工装置、試料加工方法、および試料評価方法 - 特許庁
SAMPLE MACHINING METHOD, SAMPLE MACHINING DEVICE AND SAMPLE OBSERVING METHOD例文帳に追加
試料加工方法、試料加工装置及び試料観察方法 - 特許庁
SAMPLE INLET DEVICE, SAMPLE ANALYZER, AND SAMPLE ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加
試料導入装置、試料分析装置及び試料分析システム - 特許庁
EVALUATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SAMPLE例文帳に追加
半導体デバイス試料評価装置。 - 特許庁
STATIC CHARGE ELIMINATION DEVICE FOR SAMPLE例文帳に追加
試料帯電除去装置 - 特許庁
DEVICE FOR DISPENSING TRACE SAMPLE例文帳に追加
微量試料分注装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTING DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加
試料の欠陥検査装置 - 特許庁
SAMPLE PROCESSING DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
試料加工装置及び試料加工方法並びに試料観察装置及び試料観察方法 - 特許庁
SAMPLE INTRODUCTION DEVICE AND SAMPLE INTRODUCTION METHOD例文帳に追加
試料導入装置及び試料導入方法 - 特許庁
SAMPLE INTRODUCTION METHOD AND SAMPLE INTRODUCTION DEVICE例文帳に追加
試料導入方法及び試料導入装置 - 特許庁
SAMPLE OBSERVATION DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
試料観測装置および試料観測方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD AND SAMPLE PREPARATION DEVICE例文帳に追加
試料作製方法および試料作製装置 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION DEVICE AND SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加
試料作製装置および試料作製方法 - 特許庁
SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION METHOD, SAMPLE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
試料保持体、試料検査方法及び試料検査装置並びに試料検査システム - 特許庁
SAMPLE DISH POSITION CORRECTING DEVICE例文帳に追加
試料皿位置矯正装置 - 特許庁
SAMPLE-HOLDING DEVICE AND ALIGNER WITH THE SAMPLE- HOLDING DEVICE例文帳に追加
試料保持装置およびこの保持装置を用いた露光装置 - 特許庁
SAMPLE SCANNER DEVICE, AND SAMPLE POSITION DETECTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加
標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法 - 特許庁
LIQUID SAMPLE ANALYSIS DEVICE AND LIQUID SAMPLE INTRODUCTION DEVICE例文帳に追加
液体試料分析装置及び液体試料導入装置 - 特許庁
SAMPLE INSPECTING DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
試料検査装置及び試料検査装置の制御方法 - 特許庁
SAMPLE DATA REPRODUCING DEVICE AND SAMPLE DATA RECORDING AND REPRODUCING DEVICE例文帳に追加
サンプルデータ再生装置およびサンプルデータ記録再生装置 - 特許庁
SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD, AND SAMPLE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
試料検査装置及び試料検査方法並びに試料検査システム - 特許庁
SAMPLE RETAINER, SAMPLE INSPECTION METHOD AND SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
試料保持体及び試料検査方法並びに試料検査装置 - 特許庁
SAMPLE HOLDER, SAMPLE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加
試料保持体及び試料検査装置並びに試料検査方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION DEVICE AND SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加
標本作製装置および標本作成方法 - 特許庁
SAMPLE MEASURING METHOD, AND SAMPLE MEASURING DEVICE例文帳に追加
サンプルの測定方法およびサンプルの測定装置 - 特許庁
SAMPLE CONCENTRATION DEVICE AND SAMPLE CONCENTRATION METHOD例文帳に追加
試料濃縮装置および試料濃縮方法 - 特許庁
HEAD SPACE SAMPLE INTRODUCTION DEVICE例文帳に追加
ヘッドスペース試料導入装置 - 特許庁
SAMPLE STAGE FOR ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加
電子線装置用試料台 - 特許庁
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