| 例文 |
samples expenseの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
To provide a sample holder for underface irradiation fluorescent X-ray analysis used for the fluorescent X-ray analysis of various samples having different shapes, and an underface irradiation type fluorescence X-ray spectrometer equipped therewith, to effectuate thereby analytical work for the different shape samples, and to reduce thereby an expense therefor.例文帳に追加
形状の異なる様々な試料を蛍光X線分析するために用いられる下面照射蛍光X線分析用の試料保持具ならびにそれを備えた下面照射型蛍光X線分析装置を提供することにより、異形試料の分析作業の効率化と費用の削減を図ることを目的とする。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|