testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
TIMING GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
タイミング発生器及び半導体試験装置 - 特許庁
ELECTRONIC CIRCUIT UNIT HAVING CONNECTOR FOR TESTING例文帳に追加
試験用コネクタを備えた電子回路ユニット - 特許庁
TESTING METHOD OF CENTRALIZED MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加
集中監視制御システムの試験方法 - 特許庁
DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加
装置試験システムおよび装置試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING PATTERN AND DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加
パターン検証方法及びデータ処理システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING ACTIVE MATERIAL MIXTURE FOR POSITIVE ELECTRODE例文帳に追加
正極活物質合剤の検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CIPHERING PROCESSING例文帳に追加
秘匿解読処理試験装置及び方法 - 特許庁
CLUTCH CONTROL DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
クラッチ制御装置およびその試験方法 - 特許庁
DISPLAY PANEL AND DISPLAY PANEL TESTING METHOD例文帳に追加
表示パネルおよび表示パネル検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置及びその試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験方法及びその装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING COMPUTER, AND COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
コンピュータの試験方法およびコンピュータ・システム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR TESTING例文帳に追加
半導体テストのための方法および装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査装置および方法 - 特許庁
CIRCUIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR POWER CONVERTER例文帳に追加
半導体電力変換装置の試験回路 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING EXPIRATION, AND EXHALATION BAG THEREFOR例文帳に追加
呼気検査システム及びそのための呼気バッグ - 特許庁
(ii) enclosed-type sprinkler head sensitivity testing device 例文帳に追加
二 閉鎖型スプリンクラーヘッド感度試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SUBSCRIBER LINE例文帳に追加
加入者回線テストシステム及びその方法 - 特許庁
DIMENSION MEASURING INSTRUMENT AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
寸法測定装置および材料試験機 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING TIME DIVISION SWITCH例文帳に追加
時分割スイッチの試験方法及び装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, TRANSFER PROCESSING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
検査装置、転送処理方法及びプログラム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING POWER MODULE例文帳に追加
パワーモジュールの検査方法および検査装置 - 特許庁
MOBILE COMMUNICATION TESTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
移動通信試験方法およびその装置 - 特許庁
SIGNAL-GENERATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置の信号発生回路 - 特許庁
BLOWING SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
送風装置及び電子部品試験装置 - 特許庁
METHOD OF ULTRASONICALLY TESTING WELDING JOINT例文帳に追加
溶接継手の超音波探傷試験方法 - 特許庁
ABRASION TEST METHOD AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加
摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁
SPEAKER CONTROL DEVICE AND SPEAKER TESTING METHOD例文帳に追加
スピーカ制御装置およびスピーカ検査方法 - 特許庁
MEMORY ELEMENT TESTING BY UTILIZING SENSE AMPLIFIER例文帳に追加
センスアンプを利用してテストを行うメモリ素子 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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