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testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

FERROELECTRIC MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

強誘電体メモリ装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM AND TEST METHOD OF SHORT MESSAGE例文帳に追加

ショートメッセージ試験システム及び試験方法 - 特許庁

PATTERN GENERATOR FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置のパターン発生装置 - 特許庁

COIL TESTING PROCEDURE AND DEVICE FOR MOTORS例文帳に追加

電動機用コイル試験方法および装置 - 特許庁

例文

COLLAPSE TESTING DEVICE AND COLLAPSE TEST METHOD例文帳に追加

崩壊試験装置及び崩壊試験方法 - 特許庁


例文

DEFORMATION TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

変形試験装置および変形試験方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING TESTING EQUIPMENT, AND EQUIPMENT例文帳に追加

試験機器の較正方法および試験機器 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING AND TESTING MEMBRANE DAMAGE OF FILTRATION MEMBRANE例文帳に追加

ろ過膜の膜損傷検知試験方法 - 特許庁

NETWORK TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法 - 特許庁

例文

The burn-in board housing many testing devices and judging good or bad of the testing devices for every testing group of a specified unit based on a testing signal from the outside is provided with the skew correction means for correcting the skew of the testing signal generating in every testing group of a specified unit, for every testing group, is installed.例文帳に追加

被試験デバイスが多数個収納され、外部からの試験信号に基づいて、所定単位の試験群毎に前記被試験デバイスの良否判定を行うためのバーンインボードにおいて、前記所定単位の試験群毎に発生する前記試験信号のスキューを前記試験群毎に補正するスキュー補正手段を備えた。 - 特許庁

例文

This testing device is provided with two or more of a surface shape testing device (3), a hardness testing device (5), and tensile testing device (6); a test piece transporting device (7) which transports the test piece in the order of testing steps; and a controller which automatically controls the transportation of the test piece and the testing work of each testing device.例文帳に追加

この試験装置は、表面性状試験装置(3),硬さ試験装置(5),引張試験装置(6)のうち2以上の装置、およびこの試験工程順に試験片を搬送する試験片搬送装置(7)、試験片の搬送及び各試験装置における試験作業を自動操作する制御装置を備えている。 - 特許庁

FUNCTION LIQUID DELIVERING PROPERTY TESTING METHOD, FUNCTION LIQUID DELIVERING PROPERTY TESTING APPARATUS AND LIQUID DROP DELIVERING APPARATUS PROVIDED WITH FUNCTION LIQUID DELIVERING PROPERTY TESTING APPARATUS例文帳に追加

機能液吐出性試験方法、機能液吐出性試験装置および機能液吐出性試験装置を備えた液滴吐出装置 - 特許庁

CONTACT SHEET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品のテスト用コンタクトシート、電子部品のテスト装置、電子部品のテスト方法及び電子部品の製造方法、及び電子部品 - 特許庁

This immunological testing method and the testing instrument are suitably used for the examination or emergent simple testing of infectious disease, such as influenza virus or the like.例文帳に追加

これらの検査方法及び検査器具は、インフルエンザウイルスなどの感染症の検査や緊急簡易検査に用いるのに好適である。 - 特許庁

TEACHING MATERIAL ACTION TESTING METHOD IN INTELLIGENT LEARNING SUPPORT SYSTEM, TEACHING MATERIAL GENERATING/ TESTING DEVICE AND TEACHING MATERIAL GENERATING/TESTING PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

知的学習支援システムでの教材動作試験方法,教材作成・試験装置および教材作成・試験プログラム記録媒体 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, SOFTWARE OPERATION TESTING SYSTEM, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報処理装置、ソフトウェア動作テストシステム、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device having a built-in testing circuit, capable of simultaneous switching noise testing, and to provide a noise testing method that uses it.例文帳に追加

同時スイッチングノイズ試験が可能な組み込みテスト回路を有する半導体集積装置およびノイズ試験方法を提供する。 - 特許庁

TELEPHONE EXCHANGE TESTING DEVICE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

電話交換機試験装置およびその方法 - 特許庁

DEFECT-MARKING DEVICE FOR TESTING PAINTED SURFACE OF VEHICLE例文帳に追加

車両塗面検査用欠陥マーキング装置 - 特許庁

WATER DETECTING SHEET AND HEAT-SEALED FACE TESTING METHOD例文帳に追加

水検知シートと熱融着面検査方法 - 特許庁

AUTOMATIC MEASUREMENT AND ANNOUNCEMENT VOICE QUALITY TESTING SYSTEM例文帳に追加

音声品質自動測定発表テストシステム - 特許庁

ENERGIZATION CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS FOR EVALUATION SAMPLE例文帳に追加

評価用試料の通電特性試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL例文帳に追加

液晶ディスプレイパネル試験装置及び方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING CONNECTION OF COMPOSITE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

複合半導体装置の接続試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CROSS POINT SWITCH例文帳に追加

クロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING HARD DISK DRIVE例文帳に追加

ハードディスクドライブのテスト装置及びその方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MOBILE DEVICE例文帳に追加

移動機試験装置及び移動機試験方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

測定装置、測定方法および試験装置 - 特許庁

WATER QUALITY TESTING DEVICE AND ITS CLEANING METHOD例文帳に追加

水質検査装置及びその洗浄方法 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING INTELLIGENT ELECTRONIC DEVICES例文帳に追加

インテリジェント電子デバイスを試験するためのシステム - 特許庁

METHOD OF TESTING OIL PUMP INTEGRATED WITH ENGINE BALANCER例文帳に追加

エンジンバランサ一体式オイルポンプの試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路を試験する装置および方法 - 特許庁

OSCILLATION DEVICE FOR AC MEASUREMENT INSTRUMENT TESTING POWER SOURCE例文帳に追加

交流計器試験電源用発振装置 - 特許庁

PARTICLE ABRASION TESTING MACHINE OF DUST COLLECTION FILTER CLOTH例文帳に追加

集塵用濾布の粒子摩耗試験装置 - 特許庁

DNA TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

DNA検査方法及びDNA検査装置 - 特許庁

TESTING SUPPORT DEVICE OF DIGITAL PROTECTION CONTROL APPARATUS例文帳に追加

ディジタル保護制御装置の試験支援装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING GADOLINIA-ADDED URANIUM DIOXIDE PELLET例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの試験方法 - 特許庁

PATTERN GENERATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

パターン発生装置及び半導体試験装置 - 特許庁

JUNCTION PART TESTING METHOD IN WATER SEALING SHEET例文帳に追加

遮水シートにおける接合部試験方法 - 特許庁

GENE SET USED FOR TESTING COLON CANCER例文帳に追加

大腸がんの検査に使用する遺伝子セット - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PIXEL例文帳に追加

ピクセルの検査方法、及び、ピクセルの検査装置 - 特許庁

TERMINAL CONTACT ELEMENT AND TERMINAL BLOCK TESTING TOOL例文帳に追加

端子接触素子及び端子台試験治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体装置および半導体試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING CIRCUIT IN ADSL SYSTEM例文帳に追加

ADSLシステムにおける回線試験方式 - 特許庁

CONTINUITY TEST SYSTEM AND ATM TESTING DEVICE例文帳に追加

導通試験システム及びATM試験装置 - 特許庁

MATERIAL TESTER HAVING TENSILE TESTING FUNCTION例文帳に追加

引張り試験機能を有する材料試験機 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置110の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル710を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置210に出力する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路および集積回路のテスト方法 - 特許庁

例文

CONNECTOR, AND METHOD OF TESTING CONNECTOR JOINT例文帳に追加

コネクタ及び該コネクタの接続部の検査方法 - 特許庁




  
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