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ライフサイエンス辞書
secondary ion mass spectrometry
- 同義語（異表記）
- Secondary Ion Mass SpectrometrySecondary Ion Mass Spectrometry Microscopy
- 概念ツリー
- 二次イオン質量分析 Secondary Ion Mass Spectrometry
Weblio専門用語対訳辞書
secondary ion mass spectrometry
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Weblio英和対訳辞書
Secondary ion mass spectrometry
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ウィキペディア英語版
出典：Wikipedia
Secondary ion mass spectrometry
出典:『Wikipedia』 (2011/05/01 02:46 UTC 版)
英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用
- 引用
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a technique used in materials science and surface science to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions. These secondary ions are measured with a mass spectrometer to determine the elemental, isotopic, or molecular composition of the surface. SIMS is the most sensitive surface analysis technique, being able to detect elements present in the parts per billion range.
Weblio例文辞書
secondary ion mass spectrometry
例文
例文
例文
例文
the antiparticle of a neutron
例文
a neutral meson with a large mass
例文
the antiparticle of a meson
例文
an elementary particle with a negative charge and a half-life of 2 microsecond
例文
the "antiparticle" of the proton
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例文
19
例文
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例文
例文
spectroscope for obtaining a mass spectrum by deflecting ions into a thin slit and measuring the ion current with an electrometer
例文
an uncharged particle having a magnetic moment in the opposite direction of the neutron, called antineutron
例文
the antiparticle of a lepton
例文
the antiparticle of a muon
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- Wiktionary
- Text is available under Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA) and/or GNU Free Documentation License (GFDL).
Weblio英和・和英辞典に掲載されている「Wiktionary英語版」の記事は、Wiktionaryのsecondary ion mass spectrometry (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA)もしくはGNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。
- Wikipedia
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