secondary ion mass spectrometryの意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書

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secondary ion mass spectrometry

二次イオン質量スペクトル; 二次イオン質量分光分析; 二次イオン質量分析

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ライフサイエンス辞書

secondary ion mass spectrometry

** シソーラス共起表現 Scholar, Entrez, Google, WikiPedia

(固体表面にイオンを衝突させて生じる二次イオンを同定する表面分析法)
二次イオン質量分析

同義語（異表記）: Secondary Ion Mass Spectrometry

Secondary Ion Mass Spectrometry Microscopy

Secondary Ion Mass Spectroscopy

Secondary Ion Mass Spectroscopy Microscopy

SIMS Microscopy

二次イオン質量分析

概念ツリー: 研究技術　 Investigative Technique

分析化学技術　 Analytical Chemistry Technique

質量分析　 Mass Spectrometry

二次イオン質量分析　Secondary Ion Mass Spectrometry

日英・英日専門用語辞書

secondary ion mass spectrometry

二次イオン質量分析法，二次イオン質量分析

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secondary ion mass spectrometry

二次イオン質量分析法

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Secondary ion mass spectrometry

二次イオン質量分析法

二次イオン質量分析法（にじイオンしつりょうぶんせきほう、英: Secondary Ion Mass Spectrometry、略称：SIMS）とは、質量分析法におけるイオン化方法の種類の一つである。

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Wiktionary英語版

出典：Wiktionary

secondary ion mass spectrometry

出典:『Wiktionary』 (2006/11/12 01:56 UTC 版)

名詞

secondary ion mass spectrometry (uncountable) (Abbreviated as SIMS)

(physics) A technique used to visualize the three-dimensional structure of solids by employing an energetic ion beam to fragment the atomic or molecular constituents from a surface

ウィキペディア英語版

出典：Wikipedia

Secondary ion mass spectrometry

出典:『Wikipedia』 (2011/05/01 02:46 UTC 版)

英語による解説

ウィキペディア英語版からの引用

引用: Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a technique used in materials science and surface science to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions. These secondary ions are measured with a mass spectrometer to determine the elemental, isotopic, or molecular composition of the surface. SIMS is the most sensitive surface analysis technique, being able to detect elements present in the parts per billion range.

Weblio例文辞書

secondary ion mass spectrometry

1

質量分光器によって示されるイオンの分配

例文

a distribution of ions as shown by a mass spectrograph or a mass spectrometer

2

質量スペクトルを画像で表現する質量分析計

例文

a mass spectrometer that produces a graphical representation of the mass spectrum

3

量子力学において,軌道電子という,波動関数をもった電子

例文

a quantum-mechanical orbital electron

4

重陽子という,重水素の原子核

例文

the nucleus of heavy hydrogen, called deuteron

5

記号の分析

例文

semiotic analysis

6

一次の多項式

例文

a polynomial equation of the first degree

7

負電荷の素粒子

例文

an elementary particle with negative charge

8

インジウムと燐の化合物半導体

例文

{Indium phosphorous}

9

核磁気共鳴の測定法

例文

a method of measuring nuclear magnetic resonance

10

中性子の反粒子

例文

the antiparticle of a neutron

11

高分子量の電解質

例文

an electrolyte of high molecular weight

12

質量の大きい中性中間子

例文

a neutral meson with a large mass

13

中間子の反粒子

例文

the antiparticle of a meson

14

負電荷で2マイクロ秒の半減期の素粒子

例文

an elementary particle with a negative charge and a half-life of 2 microsecond

15

鉱石の成分を分析すること

例文

analyzing a mineral

16

中性子という素粒子

例文

an elementary particle, called neutron

17

陽子の反粒子

例文

the "antiparticle" of the proton

18

例文

a cubic equation

19

例文

a cubic equation

20

三次方程式

例文

a cubic equation

21

中性微子という素粒子

例文

an uncharged elementary particle called neutrino

22

イオンを偏向させ薄い割れ目に入れて、電位計でイオン電流を測定することでスペクトルを得る分光器

例文

spectroscope for obtaining a mass spectrum by deflecting ions into a thin slit and measuring the ion current with an electrometer

23

反中性子という素粒子

例文

an uncharged particle having a magnetic moment in the opposite direction of the neutron, called antineutron

24

P型半導体という半導体

例文

a semiconductor called {p-type semiconductor}

25

軽粒子の反粒子

例文

the antiparticle of a lepton

26

ミュー中間子の反粒子

例文

the antiparticle of a muon

27

超音波診断

例文

ultrasonic diagnosis

28

X線スペクトルというスペクトル

例文

a spectrum called an X-ray spectrum

29

分光景分析

例文

spectrum analysis―spectral analysis

30

例文

spectrum analysis―spectral analysis

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