「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 169 170 171 172 173 174 175 176 177 .... 366 367 次へ＞- To provide an electrophotographic photoreceptor which can be improved in image defect level without lowering potential characteristics, and its manufacturing method.
電位特性を低下させずに画像欠陥レベルを向上させることができる電子写真感光体とその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To prevent occurrence of sealing defect by preventing deterioration of the sealing seal material and minimize reduction of light-emitting area and deterioration of light-emitting quality.
封止用シール材が劣化しないようにして封止不良の発生を防止し、発光面積の減少や発光品位の劣化を低減する。 - 特許庁 - With a disconnection defect caused on the data line 2, voltage application is maintained to the data line 2 by bypassing the disconnected part by means of the auxiliary line 5.
データ線２に断線不良が生じたときには、予備線５により断線箇所を迂回してデータ線２への電圧印加が維持される。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method of high-titanium-containing steel which makes a cast steel slab free from any surface defect and enables the high-titanium-containing steel slab to be rolled without care.
鋳片の表面欠陥を防止し、無手入れで圧延することが可能な高Ｔｉ含有鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - The line width of the pattern of the absorbing film 4 adjacent to a pattern defect correcting portion is made narrow, thereby improving the reflection rate.
パターン欠陥修正部に隣接する吸収膜４のパターンの線幅を狭くすることにより、反射率を向上させることができる。 - 特許庁 - To provide a pattern forming method for effectively forming a highly reliable pattern on a substrate by compensating for a defect of mask.
マスクの欠陥を補償して基板上に信頼性の高いパターンを効率よく形成することが可能なパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a positioning device capable of preventing a positioning defect when positioning a workpiece mounted on a workpiece placing table by moving the workpiece in a plane direction.
ワーク載せ台上に載せたワークを平面方向に移動して位置決めする際の位置決め不良を防止できる位置決め装置を提供する。 - 特許庁 - To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput.
最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。 - 特許庁 - To provide a film winding roller the defect of which caused by a height difference is eliminated and cleaning having excellent cleaning performance.
厚み段差に起因する不具合が解消されたフィルム巻取りローラを提供すると共に優れたクリーニング性能を有するクリーニングを提供する。 - 特許庁 - Furthermore, since the lamp is exchangeable by separating only the second frame 660, possibility of defect generation caused by contact in the case of lamp exchange is reduced.
かつ、第２フレーム６６０のみ分離してランプ交換が可能であるので、ランプ交換時の接触による不良可能性を減らすことができる。 - 特許庁 - Since a stage for removing the skin layer is previously included before the reflection prevention film is formed, the adhesion defect can be suppressed.
反射防止膜を形成する前に、予め、スキン層を除去する工程を含んでいるので、密着不良の発生を抑制することができる。 - 特許庁 - To provide a rinse liquid for lithography which can improve the pattern collapse, surface roughness, and surface defect; and a pattern forming method using the same.
パターン倒れ、表面粗さ、および表面欠陥を改良することができる、リソグラフィー用リンス液とそれを用いたパターン形成方法の提供。 - 特許庁 - As for each high pressure pump a quantity indicating a pressurized characteristic curve of each high pressure pump is monitored and used for a diagnosis of a defect of the high pressure pump.
各高圧ポンプについて各高圧ポンプの圧送特性曲線を表す量を監視し、高圧ポンプの欠陥の診断に利用する。 - 特許庁 - To minimize thermal deformation to a laminating ceramic capacitor during a press-bonding process so as to reduce a fraction defect ratio with respect to a manufacturing method.
積層セラミックキャパシタの製造方法に関し、圧着工程時に積層体に与える熱変形を最少化して不良率を低減する。 - 特許庁 - To prevent defect in feedback control, even if there is deviation in the input signal, and to satisfy predetermined quadrature error compensating characteristics, using a simple circuit.
入力信号に偏りがあってもフィードバック制御の破綻を防ぎ、簡易な回路で所定の直交誤差補償特性を満足させる。 - 特許庁 - Simultaneously, the controller 50 performs control such that cylinder extraction is performed by a cylinder extraction device 61 to stack the sheet-like object having the misregistration on a defect pile.
同時に、胴抜き装置６１によって胴抜きを行うように制御し、見当不良のシート状物を不良用パイルに紙積する。 - 特許庁 - To precisely detect a size of an uneven defect in a surface of a face plate.
面板表面の凹凸欠陥の大きさを精度よく検出することができる欠陥検出光学系および検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - On the basis of the state of all the presence of the matrix elements as the defect candidates, the presence or absence of defects in the work to be inspected is determined.
更に、欠陥候補となるマトリクス要素の全ての存在状態に基いて検査対象となるワークの欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - Consequently, an operator notices a defect by the normal inspecting operation for image quality and thus the inspecting operation is improved.
したがって、作業者は、通常の画質の検品作業で不具合品に気付くことができ、検品作業の作業性を向上することができる。 - 特許庁 - To provide an image scanner capable of preventing the discharge defect of an original to be discharged to a discharge tray, and to provide an image forming apparatus.
排紙トレイに排出される原稿の排出不良を防止することができる画像読取装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - Then the command value of the laser apparatus is adjusted on the basis of the operating information items so as to prevent a pattern defect on the integrated circuit chip.
そしてこれらの動作情報に基づいて集積回路チップにパターン不良が生じないようにレーザ装置の指令値を調整する。 - 特許庁 - The defect on the surface of the coating layer appears on an image as an area darker than its periphery, with coaxial epi-illumination by the illumination part 2A.
照明部２Ａによる同軸落射照明により、コーティング層の表面の欠陥が画像上に周囲より暗い領域として現れる。 - 特許庁 - To suppress malfunction and an image defect by lowering an STI level difference of a semiconductor device, especially a MOS-type solid-state imaging device.
半導体装置、特にＭＯＳ型固体撮像装置のＳＴＩ段差を低くすることによって、誤作動及び画像欠陥を抑制する。 - 特許庁 - To prevent defect from occurring when a quartz tube is formed into an optical fiber in a state that the hollow part of the quartz tube is contaminated by washing and cleaning.
石英管の中空部が汚染した状態のままで光ファイバにした場合に発生する不具合を洗浄により浄化して防ぐ。 - 特許庁 - To enable detection/registration of acquired defects of detection while avoiding destruction of initial defect data in a nonvolatile memory.
不揮発性メモリの初期欠陥データが破壊される危険を回避しつつ、後発性の検出欠陥についても検出・登録できるようにする。 - 特許庁 - This system 10 includes a transducer 14 for coupling a sound signal into a structure 12, and the sound signal heats a defect in the structure 12.
このシステム（１０）は、音信号を構造（１２）の中に結合するトランスデューサ（１４）を含み、構造（１２）の中で音信号は、欠陥を加熱させる。 - 特許庁 - To provide an inkjet printer capable of accurately detecting a defect of a nozzle by utilizing an impact force when an ink discharged from the nozzle impacts.
ノズルから吐出されたインクの着弾時の衝撃力を利用して正確にノズル欠を検知可能なインクジェットプリンタを提供することである。 - 特許庁 - To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.
ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁 - As shown in a figure, respective approximation lines R=mx+b is calculated from the relation between the defect numbers x of samples A, B, C and the chain resistance R.
図６に示すように、サンプルＡ，Ｂ，Ｃの欠陥数ｘとチェーン抵抗Ｒの関係から、それぞれ近似線Ｒ＝ｍｘ＋ｂを求める。 - 特許庁 - Measurement by an end part echo method or a TOFD method is also executed by raising measurement sensitivity, and the defect is also evaluated from the result.
更には、測定感度を上げることにより、端部エコー法又はＴＯＦＤ法による測定も行い、この結果からも欠陥を評価する。 - 特許庁 - To provide an automatic hot water filling device equipped with an automatic bung defect detection capable of performing a hot water filling in a short time from the first time in conformation to a bathtub size.
浴槽サイズに対応し、初回から短時間で湯張りの行なえる自動栓抜け検出を備えた自動湯張り装置を提供する。 - 特許庁 - To control the primary voltage and the secondary voltage, regardless of the defect (failure) of the voltage detecting function of a primary voltage sensor or a second voltage sensor.
１次電圧センサ又は２次電圧センサの電圧検出機能の失陥（故障）に関わりなく、１次電圧又は２次電圧を制御する。 - 特許庁 - To realize a new method for accurately detecting the defect and distortion of the mask pattern of an electron beam exposure device relatively in a short time.
電子ビーム露光装置に使用するマスクパターンの欠陥及び歪みを、実際の露光電子パターンを比較的短時間に正確に測定できる。 - 特許庁 - The MOSFET formed in the second region has a crystal defect region 68 near a pn junction on the bottom of the semiconductor layer.
第１領域に形成されたＭＯＳＦＥＴは、半導体層の底部の、ｐｎ接合の近傍に結晶欠陥領域６８を備えている。 - 特許庁 - To surely obtain a nitride semiconductor substrate which is low in defect density and is excellent in productivity without the occurrence of cracks, etc.
クラック等を発生させることなく、さらに、欠陥密度が小さく且つ生産性に優れた窒化物半基板を確実に得られるようにする。 - 特許庁 - To solve a problem of dependency caused by a pattern length and a bias position of a Mach-Zhender modulator by removing defect of existing duobinary optical transmitters.
既存のデュオバイナリー光送信機の短所を除去し、パターン長さ及びマッハツェンダー変調器のバイアス位置による依存性問題を解決する。 - 特許庁 - To provide a method for ultrasonically inspecting the presence of an aerofoil defect without demounting the aerofoil from turbomachinery having the aerofoil as a part.
エーロフォイルを部品として含むタービン機械からエーロフォイルを取り外すことなく、エーロフォイルの欠陥の有無を非破壊検査する方法を開示する。 - 特許庁 - To eliminate the defect that the mechanical deformation is made on both boards when connected two electrodes are damaged at the same time.
接合された２つの電極が同時に破損してしまうことにより両方の基板に機械的歪みをもたらす、という欠点を除去する。 - 特許庁 - To provide a matrix type cold-cathode electron source device in which line defect in matrix operation can be prevented even if the number of emitter is increased.
エミッタ数を増やした場合においてもマトリックス動作時の線欠陥を防止できるマトリックス型冷陰極電子源装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a reticle repair method which can exactly and easily detect the end point of repair processing in repair processing of the pattern defect of a reticle.
レチクルのパターン欠陥を修正加工する際に的確且つ容易に修正加工の終点を検出できるレチクルリペア方法を提供する。 - 特許庁 - To rapidly evaluate a defect based on measurement data even in cases where a measurement place of eddy-current flaw detection is apart from an evaluation place therefor.
渦電電流探傷の測定場所と評価場所が離れている場合においても、測定データから迅速に欠陥評価を可能とする。 - 特許庁 - To provide an additive for a lost pattern by which a defect in residual dross can sufficiently be solved when a lost pattern made of foamed plastics is used.
発泡プラスチック製の消失模型を用いた場合に、残渣欠陥を十分に解消できる消失模型用添加剤を提供する。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus and an imaging method which can substantially reduce a distribution defect even when the temperature of an imaging element varies.
撮像素子の温度が変わる場合でも、振分け不良を実質的に低減することができる撮像装置および撮像方法を提供。 - 特許庁 - This can make the metal dopant existing in a SOI layer 10A be caught by the crystal defect R at the heat treating time in the device process.
これにより、デバイス工程での熱処理時、ＳＯＩ層１０Ａに存在する金属不純物を結晶欠陥Ｒに捕獲することができる。 - 特許庁 - To provide a means of preventing collected toner from stagnating or causing a clog and improving a defect in electrostatic charging of the collected toner without generating sound nor vibration for an electrophotographic type image forming apparatus.
音や振動を生じることなく、回収トナーの滞留やつまりを防止するとともに、回収トナーの帯電不良を改善する。 - 特許庁 - To obtain an inspection result of a black stain G etc., stably without differences of determination results of the black stain defect G etc., by inspectors.
検査員によって黒シミ欠陥Ｇ等の判定結果が異なるようなことがなく、安定して黒シミ欠陥Ｇ等の検査結果を得ること。 - 特許庁 - To solve the problem, wherein the precision for the size and the height of a defect cannot be improved with conventional techniques that determine irregular defects by means of lens effect.
レンズ効果により凹凸欠陥の判定をする従来技術では、欠陥の正確な大きさ、高さに関しての精度向上が図れない。 - 特許庁 - To provide a method for depositing a GaN-based compound semiconductor layer having a low crystal defect density and almost free from production of piezo spontaneous polarization.
結晶欠陥密度が低く、しかも、ピエゾ自発分極が生じ難いＧａＮ系化合物半導体層の形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor element suitable for preventing the occurrence of element defect and destruction due to the heat of the semiconductor element, and to provide a manufacturing method thereof.
半導体素子の熱による素子欠陥及び破壊を未然に防止するのに適した半導体素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device manufacturing method with which a product defect rate can be reduced by accurately implementing a wafer-on-wafer mounting step.
ウェハオンウェハ実装工程を精度良く行えて、製品不良率を低くすることができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
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