「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 166 167 168 169 170 171 172 173 174 .... 366 367 次へ＞- The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.
ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁 - The method for detecting the pixel defect of the solid state imaging element comprises the step of detecting whether the defect is generated or not in the element imaging any of the spectral lights in response to a compared result of video signals obtained by imaging and outputting the same imaging position or near imaging position at each spectral light.
分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。 - 特許庁 - Further, a second sensor truck 200, mounted with a vertical tire type ultrasonic sensor, is connected to the pipe inspection truck 100 mounted with the oblique sensor 10 to detect a defect, and the vertical sensor measures the property of a detected defect, while the second sensor truck is decelerated and moved at a low speed.
さらに、斜角センサ１０を搭載して欠陥を検出する管内検査台車１００に、垂直タイヤ型超音波センサを搭載した第２センサ台車２００を連結し、減速して低速で移動しながら検出された欠陥の性状を、垂直センサが測定する。 - 特許庁 - The predetermined judgment conditions are, for example, such conditions that a defect shown by the inspection result is a serious defect, such conditions that the same defects continuously arise, and such conditions that the same defects arise discontinuously or different defects continuously or discontinuously arise.
予め定める判定条件は、たとえば、検査結果が示す不良が、重欠陥であるという条件、同じ不良が連続して発生しているという条件、および同じ不良が不連続にまたは異なる不良が連続してもしくは不連続に発生しているという条件である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor circuit component inspection method which detects a defect which is not revealed in an inspection at a normal actual use voltage and prevents the use of a semiconductor circuit provided with a semiconductor circuit component having a defect to be revealed through a change with the passage of time.
通常の実使用電圧での検査では顕在化しない欠陥を検出し、経時変化により顕在化する欠陥を有する半導体回路構成部品を備えた半導体回路が使用されることを防止する半導体回路構成部品の検査方法を提供する。 - 特許庁 - A bone regeneration material 1 includes: a compensation body 2 that contains particulates made of a β tricalcium phosphate porous body and is compensated to a bone defect region; and a membrane member (excluding periosteum) 3 that holds the compensation body 2 and has biocompatibility thereby to clog the bone defect region.
βリン酸三カルシウム多孔体からなる微小顆粒を含み、骨欠損部に補填される補填体２と、該補填体２を保持するとともに、生体適合性を有し骨欠損部を閉塞可能な膜部材（骨膜を除く）３とを備える骨再生材料１を提供する。 - 特許庁 - A first type of fuse, e.g. a laser actuation fuse, is principally used for repairing a wafer level defect and a second type of fuse, e.g. an electric starting fuse, is used for repairing a defect found after an IC chip is mounted on a module and a stress is applied to the module during burn-in test.
第１タイプのヒューズ、例えばレーザ起動ヒューズが、主としてウェハ・レベルの欠陥を修復するために使用され、第２タイプのヒューズ、例えば電気起動ヒューズが、モジュール上にＩＣチップを搭載し、バーンイン・テストでモジュールに応力をかけた後に見つかった欠陥を修復するために使用される。 - 特許庁 - The defect information of a half-product is previously transmitted to a customer through the Internet, the customer judges whether the completion of a product is available or not on the basis of the defect information and a manufacturer receives a production command from the customer through the Internet and manufactures a product on the basis of the production command.
あらかじめ半製品における欠陥情報を、インターネットを経由して顧客に送信し、該欠陥情報に基づいて顧客が製品化の可否を判断し、製品化指令をインターネットを経由して顧客から受信し、該製品化指令に基づいて製品にする。 - 特許庁 - The defect inspection method comprises steps of: transmitting at least two inspection light beams 8 for illumination through first and second light transmitting parts having the same phase of the phase shift mask; again transmitting the light beams through the light transmitting parts by a reflection plate 3; and comparing the intensities of the reflection light beams 9 to inspect the defect of the phase shift mask.
少なくとも２つの検査照明光８を位相シフトマスクの位相が等しい第１、第２の光透過部を透過させ、反射板３で再度光透過部を透過させ、それらの反射光９の光強度を比較して、その強度差により位相シフトマスクの欠陥検査を行う。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device wherein a display defect, especially an uneven reddish hue of the liquid crystal display can be prevented without complicating a process for manufacturing a color filter and to provide a method of evaluating the liquid crystal display device by which a display defect which is changed with time can be easily evaluated.
カラーフィルタの作製プロセスを複雑化することなく、液晶表示装置の表示不良、特に赤ムラを防止することができる液晶表示装置、及び経時的に変化する表示不良を簡便に評価することができる液晶表示装置の評価方法の提供。 - 特許庁 - To provide a polyester film with excellent optical performance, which has no unevenness and no defect, attains a high degree of luminance, and can give a high-quality image without any defect, when used as the member of an optical product, in particular as a substrate for a diffusion plate of a backlight for an LCD, or for a prism sheet.
光学製品の部材、特にＬＣＤ用バックライトの拡散板用あるいはプリズムシート用の基材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、欠点のない高品質な画像を与えることができる、光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - This defect detection method of the roller bearing by torque monitoring is a method for detecting a defect on either or both of the rolling contact surface of an outer ring and the roller in the roller bearing equipped with the outer ring and a plurality of rollers rolling along the rolling contact surface of the outer ring.
この発明のトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法は、外輪およびこの外輪の転走面を転動する複数のころを備えたころ軸受において、前記外輪の転走面およびころのいずれか一方または両方の欠陥を検出する方法である。 - 特許庁 - To provide a coaxial connector for an electronic endoscope capable of suppressing the generation of the failure such as defect of watertightness and flowing in of an adhesive in an assembling process and excellent in production efficiency because there is not much part disposed as defect articles when there is the failure.
組み立て工程における水密性不良や接着剤流れ込み等の不具合の発生を大幅に抑制することができ、しかも不具合があった場合には不良廃棄する部分が少なくて製造効率のよい電子内視鏡の同軸コネクタを提供すること。 - 特許庁 - Next, a low magnification defect image (7) of the same low magnification at the defect position of the target chip is acquired (steps 118 and 119).
欠陥を含む対象チップの近傍のチップでのこの欠陥の位置に対応する欠陥対応位置で、この電子ビームを用いて低倍率の低倍参照画像(６）を取得し(ステップ１１６，１１７）、次いで、対象チップの欠陥位置で同じ低倍率の低倍欠陥画像（７）を取得する(ステップ１１８，１１９）。 - 特許庁 - To provide an information reproducing device capable of improving follow-up ability to fluctuations of an information reproducing signal after a defect has passed, without worsening the jitter level of the binarized information reproducing signal, and is capable of recovering data reading quickly, after the defect has passed.
二値化した情報再生信号のジッタレベルを悪化させることなく、ディフェクト通過後の情報再生信号の変化に対する追従性を向上することができ、ディフェクト通過後のデータ読み取りの早期回復を図ることができる情報再生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a detection method for medium defect of information storage device by which a minute medium defect is surely detected, and an information storage device having error-correcting ability.
エラー訂正能力をもつ情報記憶装置の媒体の欠陥を検出するための媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置に関し、微小な媒体欠陥を確実に検出できる媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a device and method for manufacturing solar cells, which accurately specifies a place where a structural defect occurs in a short period of time and surely removes and repairs the specified structural defect without inflicting great damage on a photoelectric conversion body of a solar cell.
太陽電池の光電変換体に大きなダメージを与えることなく、短時間で構造欠陥の発生箇所を正確に特定し、特定した構造欠陥を確実に除去、修復が可能な太陽電池の製造方法および太陽電池の製造装置を提供する。 - 特許庁 - A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.
イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁 - In an IC chip wherein one surface of a substrate 12 is a face surface FF wherein a circuit is formed and the rear of the face surface is a rear face RF, defect preventive means for preventing a defect by a crack 13 are formed at four sides of the rear face RF of the substrate.
基板１２の一面を回路が形成されているフェース面ＦＦとし、このフェース面の背面を反フェース面ＲＦとしたＩＣチップにおいて、前記基板の反フェース面ＲＦの四辺に、欠け１３による欠損を防止するための欠損防止手段を形成する。 - 特許庁 - Redundancy definition data for realizing a redundancy function of a memory device including arrangement of spare cells in a memory device and position information of a defect relieving range in which defect is relived by the spare cells is preparing by using a programming language A including item names, operation equation, and a repeating instruction.
メモリデバイスのリダンダンシ機能を実現するための、メモリデバイス内のスペアセルの配置と、このスペアセルによって救済される不良救済範囲の位置情報とを含むリダンダンシ定義データを、項目名、演算式および繰返し命令を含むプログラミング言語Ａを用いて作成する。 - 特許庁 - The defect detecting device of the press component comprises a detecting means for detecting the heat distribution on the components after the press molding, an analyzing means for analyzing the detected heat distribution, and a determining means for determining whether there is a defect based on the result of the heat distribution.
そのために、プレス成形後の部品上の熱分布を検出する検出手段と、検出した熱分布を解析する解析手段と、熱分布の結果に基づいて欠陥があるか否かを判定する判定手段とを備えるプレス部品の欠陥検出装置とした。 - 特許庁 - To provide a particulate structure for a 3-dimensional photonic crystal or the like into which a defect, in which a defective volume is controlled, is introduced, and also to provide a periodic particulate structure into which a defect is introduced locally without disturbing the global repetition of the structure.
欠陥ボリュームが制御された欠陥が導入された３次元フォトニック結晶などのための微粒子構造体を提供すること、また、構造体全体の繰り返しを乱すことなく、局所的に欠陥が導入された周期的な微粒子構造体を提供すること。 - 特許庁 - To provide a resin a resin which favorably hydrophobilizes the surface of resist film to improve the followability of immersion liquid in patterning by immersion exposure and which exhibits an effect of preventing coating defect and development defect and to provide a method for production of the resin, and to provide a positive resist composition containing the resin.
液浸露光によるパターニングにおいて、良好にレジスト膜表面を疎水化し、液浸液追随性を良好とするとともに、塗布欠陥、現像欠陥の抑制に効果を示す樹脂、及び、その製造方法、該樹脂を含有するポジ型レジスト組成物を提供することである。 - 特許庁 - Meanwhile, when the defect of the track is formed, the SW1 is turned OFF and the SW2 is turned ON, and then such a PWM signal that has a DC level coinciding with the DC level of the servo signal directly before the defect formation is supplied to the driver 20 from a SIN wave generating circuit 18c to drive an objective lens.
一方、トラック欠陥が生じた場合、ＳＷ１をＯＦＦし、ＳＷ２をＯＮしてそのＤＣレベルが欠陥発生直前のサーボ信号のＤＣレベルに一致するＰＷＭ信号をＳＩＮ波発生回路１８ｃからドライバ２０に供給して対物レンズを駆動する。 - 特許庁 - To provide a coating method and a coating device of a resin composition, which reduces the generation of the soiling of the tip of a nozzle, the cobwebbing of the resin composition or coating shape defect due to the scattering, or the like, in a coating process of the resin composition to decrease unsoldering defect in the post process.
樹脂組成物の塗布工程におけるノズル先端の汚れ、樹脂組成物の糸引き、飛び散り等による塗布形状不良の発生を低減し、後の工程における未はんだ不良等を低減させることができる樹脂組成物の塗布方法および塗布装置を提供する。 - 特許庁 - A light shield film 40 is disposed at the position of a first glass plate 21 corresponding to a color filter 6 of a pixel where a bright spot defect occurs on a TFT substrate due to incorporation of foreign matter 31, and the light shield film 40 shields backing light 51 with which the pixel at the bright spot defect position is irradiated.
異物３１の混入でＴＦＴ基板の輝点不良が発生している画素のカラーフィルタ６に対応する第１のガラス板２１の部位に遮光膜４０を設置し、この遮光膜４０により、当該輝点不良部位の画素を照射するバックライト光５１を遮断する。 - 特許庁 - To provide a composition for an optically anisotropic layer, which can lower heating temperature in a heating alignment step without causing the alignment defect and dirt defect of the composition for the optically anisotropic layer caused by the volatilization of an additive.
加熱配向工程において、添加剤の揮発に起因する光学異方性層用組成物の配向不良や汚れ故障を生じることなく、加熱温度を下げることができる光学異方性層用組成物、それを用いた光学補償シートの製造方法及び光学補償シートを提供する。 - 特許庁 - Since defect detection is performed by utilizing a focus error signal and an index signal which are used in the master disk cutting machine 10, the master disk defect measuring device 50 can be easily installed in the master disk cutting machine 10 without incurring large scale reconstruction.
本発明によれば、原盤カッティング機１０で用いられているフォーカスエラー信号及びインデックス信号を利用してディフェクトの検出を行うため、大幅な改造を行わずとも原盤ディフェクト測定装置５０を原盤カッティング機１０に容易に設置することができる。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which allows an intermediate transfer material to have a long lifetime by using an area other than an injured defect position of the intermediate transfer material in the case of the occurrence of the injured defect position on the intermediate transfer material and is capable of forming an image of high quality at a low cost.
中間転写体に傷等の付けられた欠陥位置が発生しても、中間転写体の欠陥位置以外の領域を使用するようにして中間転写体の寿命が長く、低コストで、高品質の画像形成を行うことが出来る画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface defect-determining method, in a continuous casting process in which a molten metal within a mold is cast while being whirled horizontally by a moving magnetic field, which can judge the occurrence of the defect in the surface of a slab on-line based on the measured value of the temperature in each mold copper plate.
鋳型内の溶鋼を移動磁場によって水平方向に旋回させながら鋳造する連続鋳造工程において、鋳型銅板温度の測定値に基づいてオンラインで鋳片表面の欠陥の発生を判定することのできる表面欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁 - A disk recording and reproducing drive 1020 records the information on the information recording medium including a volume apace for recording user data, a spare area containing a substitute area usable instead of a defective area, and a defect management information area for recording the defect management information.
ディスク記録再生ドライブ１０２０は、ユーザデータが記録されるボリューム空間と、欠陥領域の代わりに使用され得る交替領域を含むスペア領域と、欠陥管理情報が記録される欠陥管理情報領域とを備えた情報記録媒体に情報を記録する。 - 特許庁 - In the recording stop period in which recording data is not performed, either or both of defect inspection of a recording scheduled area and reading inspection of an already recorded area are performed by the microcomputer of the optical disk drive 7, defect of the disk is avoided and a recording state can be held appropriately.
データの記録を行わない記録停止期間において、光ディスクドライブ７のマイクロコンピュータにより、記録予定エリアの欠陥検査と記録済みエリアの読取り検査との一方または両方を行い、ディスク上の欠陥を回避し、記録状態を適正に保てるようにする。 - 特許庁 - To provide a defect marking method and device for a sheet like product capable of positively detecting a marking applied to a defect portion of a sheet like product in a latter process and suppressing deterioration of a yield when cutting the sheet like product and cutting out a partition portion of a certain shape.
シート状製品の欠陥部分に施されたマーキングを後工程で確実に検出でき、さらにシート状製品をカットして一定の形状の区画部分を切り出す際に、歩留まりの低下を抑制することができるシート状製品の欠陥マーキング方法および装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a fixing belt having a surface layer which is free of a surface defect such as a stripe or trail causing an image defect when the fixing belt is manufactured through a process of forming the surface layer on the outer peripheral surface of a base material by using a resin solution.
定着ベルトが基材の外周面に樹脂溶液を利用して表面層を形成するプロセスを経て定着ベルトを作製される場合において、画像欠陥の原因となるスジやダレ等の表面欠陥の無い表面層を有する定着ベルトを提供すること。 - 特許庁 - This information storage medium is provided with a user area (UA) for storing user data, a defect management area (DMA) for storing defective information related to the defects on the user area and an overwrite management area (DMA) for storing overwrite information related to the frequency of overwrites with respect to the defect management area.
ユーザデータを格納するためのユーザエリア（ＵＡ）と、前記ユーザエリア上の欠陥に関する欠陥情報を格納するための欠陥管理エリア（ＤＭＡ）と、前記欠陥管理エリアに対するオーバーライト回数に関するオーバーライト情報を格納するためのオーバーライト管理エリア（ＤＭＡ）とを備えている。 - 特許庁 - To prevent occurrence of erroneous insertion in a terminal group of a uniform projection state defect where a uniform projection state defect occurs in each terminal, in relation to terminal inspection for inspecting a projection state of a terminal mounted to protrude to a holding member by a terminal inspection tool.
保持部材に突出装着された端子の突出状態を端子検査治具で検査する端子検査について、各端子に一律的な突出状態不良を生じている一律的突出状態不良の端子群に過誤挿通が発生するのを防止できるようにする。 - 特許庁 - To provide: a lens sheet that has no decrease in luminance of a back light, hardly has a lens sheet surface electrostatically charged, and prevents a decrease in defect concealment, a product defect due to sticking of dust, dirt, etc., and electric charge, and deterioration in outward appearance; a surface light source device using the lens sheet; and a liquid crystal display device.
バックライトの輝度低下を伴わず、レンズシート表面の帯電が起き難く、欠陥隠蔽性の低下や、埃、塵、ゴミ等の付着や電荷による製品欠陥、外観の悪化を防止できる、レンズシート、そのレンズシートを用いた面光源装置、および、液晶表示装置を目的とする。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display having no defect inherent in conventional technology or having a defect only in some reduced degree and at the same time, having a suitable operating temperature range and short response time owing to an especially low operating voltage and sufficiently large steepness of an electrooptical characteristics curve.
従来技術の欠点を有していないか、または減少された程度でのみ有し、同時に特に低い動作電圧および充分に大きい電気光学特性曲線の急峻度をもって、適度の動作温度範囲および短い応答時間を有する液晶ディスプレイを提供する。 - 特許庁 - At the time, when a defect state of the RF signal is detected by a defect detecting circuit 69, a system control part 59 switches a value to be added to the focus error signal in the adder 62 to bias of an inverse direction of this value from the focus bias stored in the focus bias register 65.
このとき、ディフェクト検出回路６９によってＲＦ信号のディフェクト状態が検出された場合、システム制御部５９は、加算器６２にてフォーカスエラー信号に加算する値をフォーカスバイアスレジスタ６５に格納されたフォーカスバイアスからこの値の逆方向のバイアスに切り換える。 - 特許庁 - To provide an inspection device using a charged particle beam, capable of accurately detecting a defect hard to detect by an optical image by using an electron beam and of reducing erroneous detection of the defect without degrading inspection resolution by reducing noise of the inspection image causing trouble at that time.
光学画像では検出困難な欠陥を電子線を用いて高精度に検出するとともに、その際問題となる検査画像のノイズを低減して、検査分解能をさげることなく欠陥の誤検出を低減することができる荷電粒子線を用いた検査装置を提供する。 - 特許庁 - In the method for selecting the carbonization chamber, correction which considers a value obtained by subtracting an extrusion power value by combustion defect from a measured maximum extrusion resistance value as a maximum extrusion resistance value is carried out in the carbonization chamber causing combustion defect and having a combustion state-indicating value which is not smaller than a definite value.
この際、燃焼不良が生じ、燃焼状態指標値が一定以上になっている炭化室については、実測された最大押出抵抗値から燃焼不良による押出電力値を控除したものを最大押出抵抗値と看做す補正をする。 - 特許庁 - To provide a recording/reproducing device capable of deciding optimal recording conditions by eliminating evaluation data (jitters, or modulation degree) affected by a defect even when the defect such as a flaw or a fingerprint is present in an OPC area.
光ディスクの最適記録条件を求めるために、ＯＰＣ領域にＥＣＣブロック単位で記録条件を異ならせて記録したテスト信号の再生信号に基づく評価データを検出する場合、ＯＰＣ領域にディフェクトがあると最適な記録条件を求めることができない。 - 特許庁 - To provide a signal detecting circuit capable of detecting the defect at the same detection level even when the defect is detected on either the inner periphery or the outer periphery of a disk and also capable of detecting a mirror part even when the attenuation amount of an RF signal in the case of the mirror is less than that of a CD or DVD like the case of a DVD-R or DDCD.
ディスクの内周においても外周においてもディフェクト検出の際に同じ検出レベルで検出することができ、また、DVD-RやDDCDのようにミラー時のRF信号の減衰量がCDやDVDよりも小さい場合にもミラー部を検出することができる信号検出回路を提供する。 - 特許庁 - The guide material 110 is equipped with at least one or more crown parts 112 for covering and attaching the defect part of the human body, and at least one or more support parts 114 which is fixed by covering the human body part next to the defect part and connected together with the crown part.
ガイド部材１１０は、人体部位の欠損部に被せて装着する少なくとも１つ以上冠状部材１１２と、欠損部に隣接する人体部位に被せて固定し冠状部材と一体連結された少なくとも１つ以上の支持部材１１４とを備えて形成される。 - 特許庁 - If the goods on exhibition are unspecific and can be replaced with other goods available in the market, the seller bears the responsibility to deliver goods free of defect in accordance with the description and the buyer may demand that the seller deliver the goods which both comply with the description and are free of defect.
出品物が容易に代替品を市場で調達できる不特定物の場合には、売主は表示に従った欠陥のない商品の引渡義務があり、買主は売主に対し、欠陥のない商品 表示に従った商品を引き渡すよう請求できる。 - 経済産業省 - Troubles for presetting detailed conditions before review are saved, and proper conditions are automatically decided in a short time based on defect information delivered from a defect inspection device and information obtained in actual review.
欠陥検査装置から送られてくる欠陥情報及び実際のレビュー中に得られる情報に基づき、種々の条件を自動的に決定することによって、レビュー前に予め詳細条件を設定する手間を省き自動的かつ短時間で適正な条件を決定する。 - 特許庁 - To provide a method for regulating clock of an optical disk device which is capable of normally detecting the clock even when there is a disk defect in accessing.
アクセス時やディスク欠陥がある場合にも正常にクロック検出を行い得る光ディスク装置のクロック調整方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a communication apparatus employing a redundant configuration where no signal defect is caused when one system is switched into the other system.
冗長構成をとる場合に、一方の系から他方の系へと切り替える際に、信号の欠落が生じない通信装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a leakage flux inspecting method for a ferromagnetic metal specimen capable of detecting even a micro defect, with high detection precision.
微小な欠陥であっても検出可能であり、検出精度の高い強磁性体金属被検体の漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display in which an air bubble is always present at a position irradiated with pulse laser light and a defect pixel is surely corrected.
パルスレーザを照射する位置に常に気泡が存在し、確実な欠陥画素の修正が行われる液晶ディスプレイを提供することにある。 - 特許庁
