「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 162 163 164 165 166 167 168 169 170 .... 366 367 次へ＞- To provide a substrate inspection method for improving detection precision of a defect, and to provide a selection method of the substrate inspection method.
欠陥の検出精度の向上を図ることが可能な基板検査方法及び基板検査方法の選択方法を提供する。 - 特許庁 - To mold a porous body having high strength in the whole body by restraining the development of defect when a porous plate is cast in.
多孔質板を鋳包むにあたって欠陥の発生を抑制して全体強度の高い多孔質体を形成できるようにする。 - 特許庁 - To provide a heating device of high reliability by detecting a connection defect in a connection means for fixing the heating member to an insulating member.
加熱手段を絶縁部材に固定する接続手段での接続不良を検知して信頼性の高い加熱装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a processor of a paper sheet or the like, which sufficiently analyzes the cause of defect occurrence and immediately disposes paper determined as defective.
不良発生原因の解析が十分可能であり、かつ不良判定紙を即時に処分し得る紙葉類処理装置を提供する。 - 特許庁 - Accordingly, the local irregularity defect on the surface of the silicon wafer caused by the polishing can be reduced or eliminated.
これにより、研磨に起因して発生したシリコンウェーハの表面の局所的な凹凸欠陥を縮小または消滅させることができる。 - 特許庁 - To provide a method of modifying a printed wiring board that is easily adaptive to remedy for a manufacturing defect of the printed wiring board and design change.
プリント配線基板の製造不良の救済や設計変更に容易に対応することができる改造方法を提供する。 - 特許庁 - By this procedure, a pseudo read-out signal is produced, and the detection of the defect is carried out by this pseudo read-out signal of low frequency.
このことで擬似的な読出信号を生成してこの擬似的な低い周波数の読出信号により欠陥検出を行うものである。 - 特許庁 - To provide an inspection apparatus in which sensitivity of defect detection can be improved by canceling trouble caused by optical distortion formed on a mask substrate.
マスク基板に形成された光学歪みによる不具合が解消され、欠陥検出の感度を高くできる検査装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce manufacturing costs by decreasing the defect rate and improving the working efficiency.
不良率を低減するとともに、作業効率を向上させ、製造コストの低減を図ることが可能な自動車用ウェザストリップを提供する。 - 特許庁 - A defect of missing 16 is corrected by filling correcting paste 18 having sandblast resistant property in a missing part from a needle 10.
欠損欠陥１６に対しては、針１０より耐サンドブラスト性を有する修正用ペースト１８を欠損欠陥部分に充填する。 - 特許庁 - To precisely detect a defect of a fillet weld part at a high S/N ratio.
高Ｓ／Ｎ比にて、隅肉溶接部の欠陥を高精度で検出することのできる超音波式探傷方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a reducing method of dross in a galvanizing bath causing a dross defect damaging the outward appearance of a surface, and a device therefor.
表面外観を損なうドロス欠陥を引き起こすめっき浴中のドロスの低減方法、およびそのための装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a wheel cutter for brittle materials in which neither chips nor the edge defect of a incision line easily generates when forming a rib mark.
リブマーク形成時に切り粉や切込みラインの角欠けが発生し難い脆性材料用のホイールカッターを提供しようとするもの。 - 特許庁 - To provide a method and device detecting a fine defect which exist in a pipe, continuously and accurately during a manufacturing process of the pipe.
管に存在し得る微小欠陥を管の製造工程中で連続的に精度良く検出可能な方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To avoid the generation of a wasteful communication cost when a defect portion that is generated in data communication using a broadcast wave is recovered by using a communication wave.
放送波よるデータ通信における欠損部分を通信波によって修復する際に、無駄な通信コストを発生させないこと。 - 特許庁 - To provide a trash elimination method of a printing device capable of preventing the defect of printing due to the influence of trash while suppressing cost.
コストを抑制しつつ、ゴミの影響による印刷の欠陥を防ぐことができる印画装置のゴミ除去方法を提供すること。 - 特許庁 - To form an excellent image having no image defect by preventing a belt member from being damaged in a stabilizing mode at image non-forming time.
非画像形成時の安定化モードにおけるベルト部材への傷の発生を防止し、画像不良のない良好な画像を形成する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of periodic structural body capable of conveniently and precisely manufacturing a periodic structural body in which different periodic lengths are combined, without almost causing defect etc.
異なる周期長が組み合わされた周期性構造物を、欠陥等が少なく、精度がよく、簡易に作製できるようにする。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF DISK STORAGE MEDIUM, AND CORRECTION METHOD AND DEVICE OF INSPECTION SLICE VALUE
ディスク記憶媒体の欠陥検査方法，ディスク記憶媒体の欠陥検査装置，検査スライス値の補正方法および検査スライス値の補正装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit of memory mixed mounted type capable of relieving defect of a memory while suppressing the increase of a circuit area.
回路面積の増大を抑制しつつメモリの欠陥を救済することができるメモリ混載型の半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - Date obtained by using various kinds of lighting systems are compressed and stored by using a computer and the evaluation of a stringing defect is carried out.
各種照明装置を用いて得られるデータを、計算機を用いて圧縮して記憶すると共に、架線欠陥の評価を行う。 - 特許庁 - To obtain an electrostatic charging member of an image forming device which obviates the abnormal electric discharge by a photoreceptor defect and does not give rise to a break out.
感光体欠陥による異常放電がなく、しかもブリードアウトを発生しない、画像形成装置の帯電部材を得ることにある。 - 特許庁 - To provide a method and a device for inspecting a defect by a surface wave, capable of speedily carrying out inspection with high measurement accuracy.
測定精度が高く迅速に実施することの可能な表面波による欠陥の検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁 - Atom displacement usually decreases fairly slowly with distance from the point defect so that a very large number of atoms may be affected.
原子変位は、通常は点欠陥からの距離とともにかなりゆっくり減少し、その結果、非常に多数の原子が影響される。 - 科学技術論文動詞集 - To provide a polishing composition to obtain a polishing surface with high quality having no surface defect, while maintaining a high polishing speed.
高い研磨速度を維持しながら且つ表面欠陥のない高品質の研磨面を生ぜしめる研磨用組成物を提供すること。 - 特許庁 - To provide a luminance improving film which can be easily produced in a high yield and is little in defect, and a liquid crystal display device.
高い歩留まりで簡便に製造することができ、欠陥が少ない輝度向上フィルム及び液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - Thereby, the alignment mark 15 can be accurately and easily formed and the seal adhesion defect caused by substrate sticking deviation is not generated.
これにより、アライメントマーク１５を精度良く形成することが容易にでき、基板貼り合わせずれ起因のシール密着不良が生じない。 - 特許庁 - To provide a plasma etching processing method capable of reducing a work defect in the terminal edge of a large diameter wafer and raising production yield.
大口径ウエハの最エッジ部での加工不良を低減し、生産歩留まりを向上できるプラズマエッチング処理方法を提供する。 - 特許庁 - In the semiconductor memory device and the driving method, the repair information is preserved while the memory cell and the bit line where a defect occurs are avoided.
この半導体メモリ装置及び駆動方法によれば、欠陥が発生したメモリセル及びビットラインを避けてリペアー情報が保存される。 - 特許庁 - This cutter defect detecting method for the numerical control machine tool is characterized in that a distance detecting means measures a distance d to the cutter 3, while rotating the cutter 3 having multiple blade parts 3a, compares the measured data with similar measured data obtained from the blade 3 having no defect, and detects presence/absence of the defect of the blade 3 by difference from the both measured data.
数値制御工作機械の刃物欠損検出方法において、複数の刃部３ａを有する刃物３を回転させながら、距離検出手段により前記刃物３までの距離ｄを測定し、その測定データと欠損の無い刃物３に対して得られた同様な測定データと比較して、両測定データの相違の有無により刃物３の欠損の有無を検出することを特徴とするものである。 - 特許庁 - To provide an evaluating method of a minute defect in a silicon wafer that can detect the minute defect that is smaller than the detection lower limit of a light scattering type surface inspection apparatus on a silicon wafer surface that is smoothed by mirror machining, and can further detect the minute defect that exists not only on the wafer surface but also inside a wafer surface layer that influences the performance of a device formed on the wafer surface.
鏡面加工により平滑化されたシリコンウエハ表面において、光散乱式表面検査装置の検出下限界よりも小さいサイズの微小欠陥を検出することができ、しかも、ウエハ表面だけでなく、その上に形成されるデバイスの性能に影響を及ぼすウエハ表層内部に存在する微小欠陥をも検出することができるシリコンウエハの微小欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁 - In a substrate defect checkup system or a substrate defect checkup method by which a substrate is mounted, conveyed to an examination area for examining the substrate, and photographed by irradiating the examination area with examining light to check up any defect in the substrate, the substrate is reformed into a curved shape and subjected to the examination using a plurality of optical checkup units arranged along the curved shape.
本発明は、基板を載置し前記基板を検査する検査領域に搬送し、前記検査領域に検査光を照射して前記基板を撮像し前記基板の欠陥を検査する基板欠陥検査システムまたは基板欠陥検査方法において、前記基板を湾曲形状に矯正し、前記湾曲形状に沿って配置され複数の光学検査ユニットで前記検査を行うことを特徴とする。 - 特許庁 - The method of correcting the recessed defects on the overcoat layer 4 formed on the colored layer 3 of the color filter 5 includes a defect correction ink applying process to apply defect correction ink 7 to the recessed defects 6 found on the overcoat layer in the defect check carried out in advance and to correct them.
カラーフィルタ５の着色層３上に形成されたオーバーコート層４に存在する凹部欠陥を修正するカラーフィルタの修正方法であって、予め実施された欠陥検出検査において検出された、上記オーバーコート層に存在する上記凹部欠陥６に欠陥修正用インキ７を塗布し、上記凹部欠陥を修正する欠陥修正用インキ塗布工程を有することを特徴とするカラーフィルタの修正方法。 - 特許庁 - To provide a repair method and system that removes a defect of a half tone mask by using a laser, can efficiently form a block film in a defect area, adjusts a film thickness of the block film, enables the defect to be removed even after a pellicle film is formed, adjusts permeability in real time so as to carry out a repair process, and guarantees the uniformity of the permeability of a repaired section.
本発明は、レーザを用いてハーフトーンマスクの欠陥を除去し、欠陥部領域に遮断膜を効率良く形成でき、遮断膜の膜厚を調節し、ペリクル膜が形成された後も欠陥の除去が可能な機能とともに、リアルタイムで透過率を調節してリペア工程を行うことができるようにし、リペア部位の透過率の均一性を保障できるリペア方法及びそのシステムに関する。 - 特許庁 - Whether or not a glass substrate OB with defect exists in the block to be inspected is determined based on luminance data in a photographing screen; then imaging is performed with finely changing the position of the camera in a normal line direction of the glass substrates OB when there exists a glass substrate OB with defect, and the glass substrate OB with defect is distinguished with reference to a change curve of values in relation to luminance values to camera positions.
撮影画面における輝度データに基づいて、検査対象ブロック内に欠陥が存在するガラス基板ＯＢがあるか否かを判定し、欠陥が存在するガラス基板ＯＢがある場合には、カメラ位置をガラス基板ＯＢの法線方向に細かく切り替えて撮影し、カメラ位置に対する輝度値と関連する値の変化曲線から欠陥が存在するガラス基板ＯＢを判別する。 - 特許庁 - The image processing means generates added image data including information of wavelengths and signal intensity by additionally processing the signals of respective wavelengths correspondingly to the incident positions on the detection surface, determines whether or not a defect exists on the pattern to be inspected based on the added image data, and when determining the existence of a defect, detects the position of the defect in a direction vertical to the substrate.
前記画像処理手段は、前記波長毎の信号を前記検出面の入射位置に対応付けて加算処理して波長および信号強度の情報を含む加算画像データを生成し、該加算画像データに基づいて検査対象のパターンにおける欠陥の有無を判定し、欠陥が有ると判定した場合に前記基体に垂直な方向における前記欠陥の位置を検出する。 - 特許庁 - Consequently, the mentioned time is set much longer than the time constant of the RC product of a resistance component generated owing to the insulation characteristic defect and the capacity of a bit line, variation in bit line potential due to a leak can be detected by a sense amplifier at the inspection time, and the reliability defect having the resistance component can be detected as a defect in the beginning.
この結果、セルプレート線信号（ＣＰ）活性化からセンスアンプ信号（ＳＡ）活性化までの時間が、絶縁特性不良によって発生する抵抗成分とビット線容量のＲＣ積の時定数より十分に長く設定され、リークによるビット線電位の変動を検査時にセンスアンプにより検出することが可能となり、抵抗成分を有する信頼性不良を初期に不良として検出することができる。 - 特許庁 - The method comprises, in a substrate with the bulkhead formed thereon, a defect correcting process of applying a defect correcting member to the bulkhead having the defect and drying it, and a phosphors forming process of forming a phosphors after completion of the correcting process and calcinates the correcting member and the phosphors simultaneously after completion of the forming process.
本発明のラットパネルディスプレイの製造方法は、 隔壁が形成された基板において、欠陥が存在する隔壁に欠陥修正部材を塗布・乾燥して欠陥を修正する欠陥修正工程と、欠陥修正工程終了後に蛍光体を形成する蛍光体形成工程とを有し、蛍光体形成工程終了後に欠陥修復部材と蛍光体とを同時に焼成することを特徴とするものである。 - 特許庁 - This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.
テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁 - The respective terminals of a user, a business department 2 directly having contact with the user, an information window 3 for accepting an inquiry about the commodity defect and commodity, a general window 4 for managing the inquiry about the commodity defect and commodity, and an answer department 5 responsible for the inquiry about the commodity defect and commodity are connected to a global market customer quality information system 10 through a network.
ユーザーやユーザーと直接に接する営業部門２、ユーザー等２から商品不具合や商品に関する問い合わせを受け付ける情報窓口３、商品の不具合や商品に関する問い合わせを管理する総合窓口４及び商品不具合や商品に関する問い合わせについての回答責任部門５の各端末は、グローバル市場顧客品質情報システム１０にネットワークを介して接続されている。 - 特許庁 - To reduce occurrence of mounting defect of an insulating ring to a negative electrode terminal board and an appearance defect caused by it, and to suppress the spray-shaped jet of an alkali electrolyte, even if the gas pressure in an alkaline dry cell increases, in a manufacturing process of the alkaline dry cell.
アルカリ乾電池の製造工程において、絶縁リングの負極端子板への装着不良およびそれに起因する電池の外観不良の発生を低減化するとともに、アルカリ乾電池内部のガス圧が上昇した場合でも、アルカリ電解液のスプレー状の噴出を抑制する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.
基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁 - The black defect which remains without being removed by the action of the fluid is locally irradiated with energy beam by an energy beam irradiation means 10, and then the black defect is removed, and thus defects including foreign matters and black defects are removed to correct the mask.
そして、エネルギービーム照射手段１０により、先の流体の作用によっても除去されずに残った黒欠陥に局所的にエネルギービームが照射されることにより、黒欠陥が除去され、これにより、異物および黒欠陥を含む欠陥が除去されてマスクが修正される。 - 特許庁 - In addition, the apparatus includes a means of detecting a statistical offset value from the image feature amount to be a defect candidate, thereby enabling the defect to be properly detected even when a brightness difference is occurring between the same patterns of the images in association with a film thickness difference in a wafer.
また，画像の特徴量から統計的なはずれ値を欠陥候補として検出する手段を備えて構成し，ウェハ内の膜厚の違いに起因して画像間の同一パターンで明るさの違いが生じている場合であっても、正しく欠陥を検出できるようにした。 - 特許庁 - In a difference calculator 45, an image signal in which an integrated defect is also removed is subtracted in units of pixels from an image signal in which only the high-frequency component is removed and stored in the frame memory 37, and the defective level constituting the integrated defect is calculated in units of pixels.
差分算出器（４５）において、フレームメモリ（３７）に記憶された高周波成分のみが取り除かれた画像信号から、集合欠陥まで取り除かれた画像信号が、対応する画素毎に減算され、集合欠陥を構成する画素毎の欠陥レベルが算出される。 - 特許庁 - To provide an illuminator for light sensor and a defect detector employing it in which even a small irregular defect can be detected at low cost through a simple arrangement without making strict the arranging angle, installation criterion, and the like, of camera or illuminator.
カメラや照明装置の配置角度等、設置基準が厳しくなることなく、簡易な構成にて、しかも低コストで、小さな凹凸欠陥でも検出することができるラインセンサ用照明装置およびそのラインセンサ用照明装置を用いてなる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - A plurality of drive signals having a driving waveform, corresponding to a defect type of a TFT array are prepared, and a plurality of defect types are detected during inspection of one substrate, by altering a drive signal applied according to a scanning condition in the inspection of the substrate.
ＴＦＴアレイの欠陥種に応じた駆動波形を有する駆動信号を複数用意しておき、一つの基板を検査する間に走査条件に応じて印加する駆動信号を切り替えることによって、一つの基板を検査する間に複数の欠陥種の検出を行う。 - 特許庁 - To provide a defect limit specimen tool for visual inspection of an eyeglass lens that easily and certainly inspects whether there is a defect that has adverse effect on the field of view in a predetermined region and reduces the influence of an inspecting person on the inspection results.
所定の領域内に視野を害する欠陥があるか否かを容易かつ確実に検査することができ、また検査者の検査結果への影響を低減することができるようにした眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a porous polypropylene film which can give high accuracy to a filter for removing a foreign substance causing a defect of pinholes and the like in the film while keeping high gas permeability and porosity, and which hardly causes a defect such as short circuit when used as a separator of an electric storage device.
高い透気性、空孔率を維持したまま、フィルム中のピンホールなどの欠陥の原因となる異物を除去するためのフィルターを高精度にすることができ、蓄電デバイスのセパレータに用いた際に、短絡などの欠陥を起しにくい多孔性ポリオレフィンフィルムを提供すること。 - 特許庁 - To achieve a minimally invasive treatment for a patient by performing a procedure without requiring a large skin incision, performing extracorporeal circulation, causing a heart to stop beating, and leaving a large foreign matter in the heart in closing a defect hole of atrial septal defect.
心房中隔欠損症の欠損孔を閉鎖する場合に、大きな皮膚切開を必要とすることなく、しかも、体外循環及び心停止をすることなく、さらに、心臓に大きな異物を残すことなく行えるようにして、患者に低侵襲な治療を実現できるようにする。 - 特許庁
- 特許庁
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