「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 159 160 161 162 163 164 165 166 167 .... 366 367 次へ＞- There is provided a mist feeding device for filter inspection which can further improve a detection accuracy of the defect of a filter, while using liquid particles.
液体粒子を使いつつ、フィルタ欠陥の検出精度をより向上できるフィルタ検査用ミスト供給装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent connection defect between optical fibers by visually confirming insertion/removal of an interposing member between a pair of elements of an optical connector.
介挿部材が光コネクタの一対の素子の間に挿脱しているか否かを目視確認して、光ファイバ同士の接続不良を防止する。 - 特許庁 - To provide a practical drying method for a square timber extremely which is high in the suppressing effect for the occurrence of a defect such as a crack, warp, etc.
割れや狂い等の欠点発生の抑制効果が非常に高い実用的な心持ち角材の乾燥方法を提供する。 - 特許庁 - To smoothly supplement an osseous defect site near a joint by improving the working efficiency in supplementing a bone prosthetic material with relatively large particle size.
比較的大きな粒径の骨補填材を補填する際の作業性を向上し、関節部付近の骨欠損部にもスムーズに補填する。 - 特許庁 - To eliminate a defect in the case of reproducing a picture on the basis of image data obtained through longitudinal direction photographing with respect to an electronic camera.
電子カメラにおいて、縦撮影により得られた画像データに基づいて画像の再生を行う場合の不具合を解消する。 - 特許庁 - To provide a technology of reducing a defect caused in an image when a conversion lens is mounted on a digital still camera without improving the dimensional precision and the optical performance of the conversion lens.
コンバージョンレンズを装着した際の不具合を、コンバージョンレンズの寸法精度や光学性能をアップすることなく軽減する。 - 特許庁 - To provide a method for repairing a wear resistant member by which, when defect such as wear and a crack of the wear resistant member is to be repaired, the repair is effectively performed to maintain high quality.
摩耗や割れ等の欠陥に対し、補修施工する場合、補修を効果的に行って高い品質を維持させる。 - 特許庁 - In such a case, a defect of the gate signal is detected by the inspecting circuit, and the gate signal is corrected by the signal correcting circuit.
このような場合に、検査回路によりゲート信号の異常を検出し、信号修正回路により、ゲート信号を修正する。 - 特許庁 - To provide a processing apparatus in which the defect of equipment known is removed, mechanical structure is simple, and operates with high reliability.
知られている装置の欠点を取り除き、機械的に簡単に構成され、かつ高信頼性で作動する処理装置を提供する。 - 特許庁 - To solve the problem wherein irregularity in a lubricant applied on the surface of an image carrier by a minute gap of a brush hair occurs to generate image irregularity and image defect.
ブラシ毛の微細な間隙により像担持体表面に塗布される潤滑剤にムラが発生し、画像ムラ、画像欠陥が生じる。 - 特許庁 - Thereby, it is possible to prevent a defect formed in the first protective layer and a failure in the heat generation layer caused by pin holes when the inkjet head is driven.
これによれば，ヘッドの駆動時の第１の保護層の破損およびピンホールによる発熱層の破損を防止することができる。 - 特許庁 - To obtain a liquid crystal display device in which: a contact defect is reduced; an increase in contact resistance is suppressed; and an opening ratio is high.
接触不良を低減し、コンタクト抵抗の増大を抑制し、開口率が高い液晶表示装置を得ることを課題とする。 - 特許庁 - Consequently, a defect of the wire 13 disconnection caused by flow of the pressure measuring medium 41 can be removed.
したがって、圧力伝達媒体４１の流動によってワイヤ１３が断線してしまうという不具合を無くすことが可能となる。 - 特許庁 - To distinctly and easily detect a very fine defect in a translucent substrate.
透光性基板における極めて微細な欠陥を、明瞭かつ容易に検出することができる欠陥検出装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for deciding the presence of a defect clearly in a concrete structure or behind the structure.
コンクリート構造物中或いはコンクリート構造物背後に存在する欠陥の有無を、明瞭に判定し得る方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a measuring device capable of maintaining normal measurement by automatically detecting an operation defect of a movable part.
可動部の作動不良を自動的に検出することで正常な計量を維持することができる計量装置を提供すること。 - 特許庁 - To obtain an image with a few out-of-focus and a few exposure defect without making a service user conduct a special procedure of a tag possession or the like.
サービス利用者にタグの所持等の特別な手続きをさせることなく、またピンぼけや露出不良の少ない画像を得る。 - 特許庁 - To provide a defect inspecting method for a drive belt for speedily and accurately inspecting defects on a belt end face.
ベルト端面の欠陥を高速で、かつ自動的に精度よく検査することができる駆動用ベルトの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To improve recording and reproducing accuracy by reducing a reproduction error and/or recording error for a defect state of a reproduced signal of an optical disk.
光ディスクの再生信号のディフェクト状態に対する再生エラー及び／又は記録エラーを低減し記録再生精度を向上する。 - 特許庁 - Using the image read by its infrared ray oomponents corrects a defect of an image read by its visual light components due to dust and a flaw.
この赤外光成分で読み取った画像によって可視光成分で読み取った画像におけるごみ，傷等の欠陥を補正する。 - 特許庁 - This plate glass defect detector 10 is provided with a light source 20 and a photoreception device 30 arranged in opposite positions with the plate glass G therebetween.
板ガラス欠陥検出装置１０は、板ガラスＧを挟む対向位置に配置された光源２０と受光装置３０とを備えている。 - 特許庁 - To provide a microscopic apparatus which can easily enlarge and observe a photodetecting section of a solid-state imaging element where a defect occurs.
固体撮像素子において欠陥を生じた受光部を容易に拡大して観察することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - The air stagnated around a carcass during the production of a tire is vented by the small holes to suppress the defect of air inclusion in the green tire.
この小孔にりタイヤ製造中にカーカス周りに滞留したエアーを抜き、生タイヤのエアー入り不良の発生を抑制する。 - 特許庁 - To make it easy to precisely inspect and analyze a defect made in a memory cell by reducing parasitic resistance from an external terminal to the memory cell.
外部端子からメモリセルまでの寄生抵抗を低減し、メモリセルに生じた欠陥を高精度に検査、解析することを容易化する。 - 特許庁 - Grating strain, a grating defect, etc., which operate as a center of carrier rebonding in the SOI layer 12 are removed through a heat treatment.
加熱処理等によりＳＯＩ層１２内のキャリア再結合中心として作用する格子歪や格子欠陥などを除去する。 - 特許庁 - To provide an abnormality diagnosing device for fuel level detector that can accurately diagnose the defect of a fuel level detector in a relatively short time.
比較的短時間で正確な故障診断を行うことができる燃料レベル検出器の故障診断装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus in which an image defect is not caused even when a pressurizing means performs attaching/detaching operation during the formation of an image.
加圧手段が画像形成中に着脱動作をしても画像不良を引き起こさない画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection system for electronic device in which an image for clarifying a defect and the boundary between different materials can be obtained.
異なる材質の境界および欠陥が明瞭となるような画像を得ることができる電子部品の検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection processor capable of accurately detecting a defect or the like existing over the photographing range of a plurality of cameras.
複数のカメラの撮像範囲に跨って存在する欠陥等を正確に検出することができる検査処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a nozzle visual inspection apparatus capable of identifying the kind of a defect that occurs in a nozzle hole, and a nozzle visual inspection method.
ノズル穴に生じる欠陥の種類を特定可能なノズル外観検査装置、およびノズル外観検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image processing method and an image processor for automatically correcting color defective areas in an image, a color-defect in particular.
画像の色調不良領域、特に赤目欠陥を自動的に補正する画像処理方法および画像処理装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide HVAC system for an automobile having no defect of a conventional device and controlling by a left/right independent type process.
従来装置の欠点を有さない、左右独立式プロセスにより制御する自動車用ＨＶＡＣシステムを提供することである。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device that can enhance the planar positioning accuracy of a crystal defect formation region, and to provide a method of manufacturing the same.
結晶欠陥形成領域の平面位置精度を上げることが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - However, the productivity can be enhanced upon suppressing the transferring defect by removing the excessive water by the heater 60.
しかし、ヒータ６０によって余剰の水分を除去することで、転写不良を抑制した上で、生産性を向上させることができる。 - 特許庁 - The organic optical crystal is characterized in that no linear defect exists on a cleavage surface of an inner part of the crystal.
本発明の有機光学結晶は、前記結晶内部の劈開面上に直線状欠陥が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of preventing the occurrence of a defect attendant on revision of forward order processing/reverse order processing during printing.
プリント動作中の正順処理／逆順処理の変更に伴う不具合の発生を防止できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - A defect is determined according to the result of comparison between the generated ideal pattern and the unit patterns contained in the inspection image S.
そして、この生成された理想パターンと被検査画像Ｓに含まれる単位パターンとを比較した結果を用いて欠陥を判定する。 - 特許庁 - An eddy current defect detection apparatus 10 comprises three flaw-detecting machines 12, 13 and 14 arranged along a path line for a material 11 to be inspected.
渦流探傷装置１０は、被検査材１１のパスラインに沿って配置された３基の探傷機１２,１３,１４で構成される。 - 特許庁 - To quickly and precisely realize the defect inspection of an object having a complicate shape such as a bonding pad.
ボンディングパッド等の複雑な形状を持つ対象の欠陥検査を高速且つ精度良く実現できるようにすることを目的とする。 - 特許庁 - Also signal light 3 is made incident on one out of the line defect optical waveguides 1 and 2, and control light 4 is made incident on the other out of the two.
また、線欠陥光導波路１および２には、一方に信号光３が入射され、他方に制御光４が入射される。 - 特許庁 - To exactly detect even the slight defect of an extremely slight differ ence of luminance from a background while distinguishing it from noise.
欠陥検出方法に関し、背景との輝度差の極めて小さい淡い欠陥でもノイズと区別して正確に検出できるようにする。 - 特許庁 - To surely detect the existence of a pinhole defect in a skive hemming part without missing.
スカイブヘミング加工部におけるピンホール欠陥の存在を見逃すことなく確実に検出するためのピンホール欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To detect a defect in a bent part such as a skirt corner part of a glass container.
ガラス容器の裾コーナ部などの屈曲部の欠陥を検出することができる欠陥検出装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, defect and damage of the coated hard material at the edge part due to plasma generated in the forming process of the coating hard material, is prevented.
これにより被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a card with built-in electronic component reducing defect rate with a simple process.
本発明の課題は、簡便工程による、かつ、不良率を低減させる電子部品内蔵カードの製造方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing exposure mask capable of exactly performing the judgement of the necessity of defect correction of the exposure mask.
露光用マスクの欠陥修正要否の判定を、より正確に行うことが可能な露光用マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁 - An ultrasonic flaw detector 46 for detecting the internal defect of the wire 12 is arranged on the downstream side of the eddy current flaw detector 40.
渦流探傷装置４０の下流側に、線材１２の内部欠陥を検出する超音波探傷装置４６が配置される。 - 特許庁 - Before a CMP processing process, a substrate defect present on a surface of an SiC substrate 1 is exposed by executing a heat treatment process.
ＣＭＰ加工工程に先立ち、熱処理工程を行うことでＳｉＣ基板１の表面に存在する基板欠陥を顕在化させる。 - 特許庁 - To provide a substrate for imprint, transferring an uneven pattern with a small defect rate by photo nanoimprint.
本発明は、光ナノインプリントによる欠陥率の小さい凹凸パターンの転写が可能なインプリント用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method for producing PDPs, the method allowing early-stage detection of a defect in a protection layer, and improvement of a yield in reduced time.
保護層の不良を早期に検出し、より短い時間で歩留りの改善を実現するＰＤＰの製造方法を提供する。 - 特許庁
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