「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 158 159 160 161 162 163 164 165 166 .... 366 367 次へ＞- To provide an inspection method and inspection apparatus for accurately detecting a defect of a double row bearing and for detecting torque abnormality.
複列軸受の欠陥を高精度に検出でき、また、トルク異常の検出も可能な検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor memory device which can relieve defect without lowering yield even when spare memory cells have poor refresh characteristic.
予備のメモリセルのリフレッシュ特性が悪い場合にも、歩留りを低下させずに有効に欠陥救済ができる半導体記憶装置を得る。 - 特許庁 - To provide an Si substrate for growing compound semiconductor with which a compound semiconductor which is reduced in crystal defect can be grown epitaxially.
結晶欠陥の少ない化合物半導体のエピタキシャル成長を可能とする化合物半導体成長用Ｓｉ基板の提供。 - 特許庁 - To provide a sputter target which has an improved PTF and is free from any defect and chemically homogeneous by manufacturing a flawless billet.
無傷のビレット材を製造することにより、改善されたＰＴＦを有し、欠陥のない化学的に均質なスパッタターゲットを提供する。 - 特許庁 - To easily discover a fluctuation in the capacity of each cell and a defect of a cell by a small charging current and a short charging time.
充電電流を小さく充電時間を短縮し各セル毎の容量のバラツキやセルの不良が容易に発見できるようにする。 - 特許庁 - To provide restriction of the defect of photoelectric conversion sheet during charging operation, in the optically charging type secondary cell including combustible photoelectric conversion sheet.
可撓性の光電変換シートを備えた光充電式二次電池において、充電操作時の光電変換シートの損傷を抑える。 - 特許庁 - Defect of the EUV mask blank is detected by comparing the chip patterns transferred to regions of the lower layer film at more than one place.
下層膜の２箇所以上の領域に転写されたチップパターンを比較することによって、ＥＵＶマスクブランクスの欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide a solid-state imaging apparatus having sufficient resistance against intrusion of moisture so as to prevent a defect of image due to exfoliation.
湿気の侵入に対して十分な信頼性を有し、剥離による画像不具合を防止した固体撮像装置を提供すること。 - 特許庁 - (2) In the case referred to in the preceding paragraph, if the plaintiff fails to correct the defect, the presiding judge, by a direction, shall dismiss the complaint without prejudice.
２ 前項の場合において、原告が不備を補正しないときは、裁判長は、命令で、訴状を却下しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To provide a manufacturing method of a magnesium-alloy coil hardly causing surface defect by improving thin sheet manufacturing technology of a magnesium alloy.
マグネシウム合金の薄板製造技術を改良し、表面欠陥が少ないマグネシウム合金のコイルを製造する方法を提供する。 - 特許庁 - Then, the layer is thermally treated in nitrogen radical to recover nitrogen electron hole defect in the surface layer of the AlGaN electron donor layer 14.
その後，窒素ラジカル中で熱処理を行い，ＡｌＧａＮ電子供給層１４の表層の窒素空孔欠陥を回復させる。 - 特許庁 - Resistances of the epitaxial layer 2 and the semiconductor substrate 1 are heightened, and the crystal defect is removed, by performing ion injection into the opening part.
その開口部内にイオン注入することで、エピタキシャル層２、半導体基板１を高抵抗化し、結晶欠陥を除去する。 - 特許庁 - The ballast circuit includes many defect protections and safety characteristics, and performs self oscillation for driving a resonance circuit including a fluorescent lamp.
安定器回路は、多くの欠陥保護及び安全特徴を含み、蛍光ランプを含む共振回路を駆動するために自己発振する。 - 特許庁 - To provide a self-diagnosis method of an ultrasonic sensor capable of performing self-diagnosis of an operation defect without using a reflected wave of an ultrasonic wave.
超音波の反射波を用いずに、動作不良を自己診断することができる超音波センサの自己診断方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a method of correcting a reticle which is capable of correcting a black defect in such a manner that the perpendicularity of a pattern section may be assured.
パターン断面の垂直性を確保できるように黒欠陥を修正することができるレチクルの修正方法を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING EASE OF DEFECT OCCURRENCE IN PRODUCTION WORKSHOP, METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING QUALITY OF PRODUCT, AND RECORDING MEDIUM
製造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、製品の品質評価方法及びその装置並びに記録媒体 - 特許庁 - Further, depth of the minute defect is calculated on the basis of an integrated value of total amount of light received (luminance) detected on both of the optical receivers 22, 24.
更に、双方の受光器２２、２４で検出された総受光量（輝度）の積分値に基づいて微細傷の深さを算出した。 - 特許庁 - Alternative recording is allowed in a spare area during data recording by forming a defect 12 in a data area of an optical disk 10 for evaluation.
評価用光ディスク１０のデータ領域に欠陥１２を形成し、データ記録時にスペア領域に代替記録されるようにする。 - 特許庁 - To provide an image forming device which prevents a lack of transfer, color slurring and a transportation defect and can prevent a transfer irregularity.
転写抜け、色ズレ、搬送不良を防止した上で、転写ムラの発生を防止することができる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a jointed flux cored wire for welding stainless steel which is excellent in feeding properties and good in defect resistance.
送給性に優れ、耐欠陥性の良好な、継ぎ目を有するステンレス鋼溶接用フラックス入りワイヤの製造方法を提供する。 - 特許庁 - THIN FILM DEFECT CORRECTION METHOD, DEFECTIVE-CORRECTING THIN FILM, METHOD OF FORMING CRYSTALLINE THIN FILM, THE CRYSTALLINE THIN FILM, AND THIN FILM SEMICONDUCTOR DEVICE
薄膜欠陥修正方法、欠陥修正薄膜、結晶性薄膜の形成方法、結晶性薄膜および薄膜半導体素子 - 特許庁 - To provide a power supply device that protects a circuit by discriminating between wiring short-circuiting and a contact defect of a connector.
配線ショートの発生時とコネクタの接触不良とを区別して回路を保護することが可能な電力供給装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a soldering inspection method and a soldering inspection device in which an electrical bonding defect can be inspected at high speed and with high accuracy.
高速かつ高精度な白目不良の検査を行なうことができる、半田付け検査方法及び半田付け検査装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a preventing method of the peculiar defect in a casting in the case of casting by a mold containing phosphorus atom, and a coating agent used to this method.
リン原子を含有する鋳型で鋳造する場合に特有な鋳物の欠陥防止法、及びこれに用いる塗型剤の提供。 - 特許庁 - Then, the intrusion of the organic EL liquid between the tape mount table 711 and the tape 712 is suppressed to prevent the winding defect of the tape.
このため、テープ台７１１とテープ７１２との間への有機ＥＬ液の侵入も抑制され、テープの巻き取り不良を防止できる。 - 特許庁 - To provide an OCB(optically compensated bend) made type liquid crystal display element having display quality with less illuminated defect caused by thermal fluctuation due to a backlight or the like.
バックライト等の熱ムラに対して、光ヌケの少ない表示品位を有するＯＣＢモード型液晶表示素子を提供する。 - 特許庁 - To provide a component mounting machine and an inspection method capable of detecting defect in mounting a component with high precision and in a short time.
部品の実装不良を短時間で高精度に検知することができる部品実装機及び実装検査方法を提供する。 - 特許庁 - SYSTEM LSI RELIEVED OF DEFECT, COMPILER PROGRAM FOR FIRMWARE MOUNTED ON SYSTEM LSI, AND SHIPPING METHOD FOR SHIPPING SYSTEM LSI
不良を救済したシステムＬＳＩ、そのシステムＬＳＩに搭載するファームウエアのコンパイラプログラム、及びシステムＬＳＩを出荷する出荷方法 - 特許庁 - To reduce at least one defect of a device well-known by a conventional technology, in an improved holding device for a pressure sensor.
圧力センサのための改良された保持装置において、従来技術により公知の装置の少なくとも１つの欠点を減じる。 - 特許庁 - Since the discharged charges pass through the contact hole 18, the charges are not discharged on the occurrence of the formation defect in the contact hole 18.
放電された電荷はコンタクトホール１８を経由するので、コンタクトホール１８に形成不良が生じた場合には電荷は放電されない。 - 特許庁 - To keep an air layer between plate-like members such as glass plates to a good drying state for a long period even when seal defect occurs at the worst.
万一のシール不良によってもガラス板等の板状部材間の空気層を長期的に良好な乾燥状態に維持する。 - 特許庁 - When the maximum value ΔMAX is the defect determining level SL or more, the occurrence of a detect (melting damage) is determined, and a warning lamp is turned on (S6).
最大値ΔＭＡＸが欠陥判定レベルＳＬ以上であれば、欠陥（溶損）の発生を判定し、警告灯を点灯する（Ｓ６）。 - 特許庁 - To provide a suturing apparatus for surgery with which a defect accompanied with a suturing apparatus of conventional technique is eliminated.
本発明の目的は、従来技術の縫合装置に付随する欠点を解消する手術用縫合装置を提供することにある。 - 特許庁 - Occurrence of a defect of a processed body processed by a plurality of processors 13 is inspected by an inspecting device 14.
また、複数の処理装置１３…によって処理が行われた被処理体の欠陥の発生が検査装置１４によって検査される。 - 特許庁 - To improve track servo deviation by preventing late detection in running into defect (DF) and suppressing fluctuation of track servo low.
光ディスク装置において、ディフェクト（ＤＦ）突入時の検出遅れをなくし、トラックサーボ振られを低く抑えてトラックサーボ外れを改善する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method for detecting the disturbance of a cycle generated in the cyclic structure of a semiconductor device by image comparison.
半導体装置の周期的な構造に生じる周期の乱れを画像比較によって検出する欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device and method capable of easily inspecting a defect such as a crack of the solar battery at a certain determination level.
太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a boiling/cooling device which can prevent circulation defect of the refrigerant, even if it is used in an inclined state.
傾斜した状態で使用されたとしても冷媒の循環不良を防止することが可能な沸騰冷却装置を提供すること。 - 特許庁 - To realize an efficient and quick defect substitution method in a nonvolatile memory and a volatile memory including a defective area.
不良領域を含む不揮発性メモリ及び揮発性メモリにおいて、効率的かつ高速な不良代替方式の実現を目的とする。 - 特許庁 - Therefore, by comparing two images with each other, only the defect of the workpiece W can be extracted as a difference between two images.
よって２つの画像を比較すればワークＷの欠陥のみを２つの画像の相違点として抽出することが可能になる。 - 特許庁 - To provide a projection finder for a camera with tilt sensor and its operating method to remove the defect and limit of prior art.
傾き感知カメラの投影ファインダ及び動作方法を提供することによって、先行技術の欠点及び制限を解消する。 - 特許庁 - The above inspection logic is made by an application development system 40 separately for each classification of the tape carrier, and is given to a defect detector 10.
上記検査論理は、テープキャリアの種別ごとに、適用開発システム４０により作成され、欠陥検出装置１０に与えられる。 - 特許庁 - (iv) Damage was solely caused by a defect in the management of the aids to navigation or the signal facilities for traffic control by the state or a public entity.
四 専ら国又は公共団体の航路標識又は交通整理のための信号施設の管理の瑕疵により生じたこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To provide a radiation detecting device comprising a detector which settles defect which accompanies conventional technology and a method using the detector.
従来技術に伴う欠点を解消できる検出器を含む放射線検出装置及び検出器を用いた方法を提供する。 - 特許庁 - Because droplets are not spread even when coming into contact with a surface of the nozzle, liquid retaining in a tip of the nozzle does not occur and a discharge defect do not occur.
液滴がノズルの表面に接触しても拡がらないので、ノズル先端に液溜まりが生じず、吐出不良が生じない。 - 特許庁 - Subsequent to the formation of such a thin film, at least a part of the fine particles are released from the thin film 2 to form defect parts 3.
このような薄膜の形成に続いて、薄膜２から微粒子の少なくとも一部を脱離させて欠損部３を形成する。 - 特許庁 - The statistical value of the potential contrast of a pattern part is calculated from a sampled picture, and the defect occurrence situation of the whole wafer is estimated.
サンプリングされた画像から、パターン部分の電位コントラストの統計量を算出し、ウェハ全体の欠陥発生状況を推定する。 - 特許庁 - To reduce machining defect of a product by making a bending machine 3 have a function to correct a deviation of a workpiece W from a gripper 5.
曲げ加工機３においてワークＷの把持手段５に対するずれを補正する機能を有し製品の加工不良を低減させる。 - 特許庁 - In addition, an existing image forming means can be used without separately providing a means for marking printing paper in order to indicate the occurrence of a defect.
また、不具合品であることを印画紙に記す手段を別途設けなくても、既存の画像形成手段を用いることができる。 - 特許庁 - To rapidly detect a solid form of a solid defect on plane of a paid-out workpiece by an image processing technique.
繰り出されるワークの平面上の立体的な欠陥の立体形状を画像処理技術により高速で検出できるようにする。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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