「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 155 156 157 158 159 160 161 162 163 .... 366 367 次へ＞- To provide a method for manufacturing a semiconductor device which avoids an occurrence of a defect and has a high reliability when forming a damascene wiring.
ダマシン配線形成の際、欠陥の発生を回避して、高い信頼性を有する半導体装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce processing manhours due to crosstalk occurrence, to suppress area increase and power consumption increase and to reduce a product defect incidence rate.
クロストーク発生による処理工数を削減し、面積増大・消費電力増大を抑制し、また、製品不良発生率を低減する。 - 特許庁 - To provide an electrooptical device substrate in which a defective spot can be quickly surely specified and a defect inspection can be stably conducted.
迅速かつ確実に欠陥個所を特定でき、安定して欠陥検査を行うことができる電気光学装置用基板を提供する。 - 特許庁 - To provide a solid electrolyte fuel cell easy to make a cylindrical unit cell in a series-parallel structure with no defect.
円筒型単セルを直並列構造にすることが容易で、上記欠点のない固体電解質型燃料電池を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a nitride semiconductor substrate free from cracks and having a reduced defect density and excellent productivity.
クラック等を発生させることなく、さらに、欠陥密度が小さく且つ生産性に優れた窒化物半基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a carbon fiber having a radial structure in at least a part of its cross sectional constitution without substantially presenting a defect on a fiber surface.
断面組織の少なくとも一部がラジアル構造であり、繊維表面に実質的に欠損が存在しない炭素繊維を得ること。 - 特許庁 - To provide a flying capacitor type voltage detection device for performing determination of abnormality while discriminating the disconnection defect and the abnormality of power generation of group battery.
断線不良と組電池の発電異常とを区別して、異常判定を行うフライングキャパシタ式電圧検出装置を提案する。 - 特許庁 - To improve safety of data recorded on a magnetic disk by conducting an alternation processing from the sector having large defect in an automatic alternation process.
自動交代処理において欠陥の大きいセクタから交代処理し、磁気ディスクに記録されているデータの安全性を向上する。 - 特許庁 - In addition, with a leak defect caused at the intersection of a gate line 1 and the data line 2, the data line 2 is cut on both sides of the gate line 1.
また、ゲート線１とデータ線２との交差部にリーク不良が生じたときには、ゲート線１の両側でデータ線２を切断する。 - 特許庁 - The charging failure of the secondary battery 35 by the connection defect and damages by the short-circuiting of the charging circuit of the charging stand are prevented.
接触不良による二次電池３５の充電不良および充電台の充電回路の短絡などによる損傷を防止できる。 - 特許庁 - To provide a method for forming a protective film which protects the surface of a mold and does not generate residue or defect when peeled.
モールドの表面を保護する保護膜の形成において、剥離した時に残渣欠陥が生じない保護膜の形成を可能とする。 - 特許庁 - Namely, a striped peculiar area S is formed of the area having concentrated crystal defect, and its stripe width d is about 50 μm.
即ち、ストライプ状の特異領域Ｓは、結晶欠陥集中領域で構成されており、そのストライプ幅ｄは約５０μｍである。 - 特許庁 - To provide an electroconductive diamond electrode having a prolonged life by inhibiting the exfoliation of a diamond catalyst layer, which has been a defect of a conventional one.
従来の導電性ダイヤモンド電極の欠点であるダイヤモンド触媒層の剥離を抑制して長寿命化を達成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit in which an increment in circuit scale and a test time is suppressed and the defect of a memory is easily analyzed.
回路規模およびテスト時間の増大を抑えて、メモリの不良解析の容易化が図られた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - If there is such a defect that the light shielding band pattern 16 overlaps a reticle pattern 15, that can be immediately detected from the exposure pattern 23.
遮光帯パターン16がレチクルパターン15に重なるような不具合があると、この露光パターン23から直ちにこの不具合を検出できる。 - 特許庁 - The rare earth permanent magnet alloy comprises a rare earth-iron-boron type magnetic phase (R_2Fe_14B type magnetic phase) and at least a defect structure 2 in an internal structure.
希土類−鉄−ボロン型磁性相（Ｒ_２Ｆｅ_１４Ｂ型磁性相）と、少なくとも欠陥構造２とを内部組織に有している。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a liquid crystal display element by which a stage cycle time and manufacturing defect can be effectively reduced.
工程タクトの短縮および製造不良の低減を効果的に図ることができる、液晶表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - With regards to the other regions, the presence or absence of the defect is disregarded, by which a yield is improved and the processing time is shortened.
その他の領域については欠陥の有無を無視することにより、歩留まりを向上させると共に処理時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a method of manufacturing the same for preventing formation of a crystal defect resulting from stress concentration.
ストレスの集中に起因する結晶欠陥の発生を防止することができる、半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To internally analyze a cause of a reception defect of a digital broadcast reception device, and to present a specific solution method to a user.
デジタル放送受信装置の受信不良の原因を内部で解析して具体的な解決方法をユーザに提示できるようにする。 - 特許庁 - The hard disk drive system (50) time correlates growth defects by associating each occurrence of a growth defect with a time stamp.
成長欠陥の各発生をタイムスタンプと結び付けることによって、成長欠陥をこのハードディスク・ドライブ・システム（５０）の時間と関連付ける。 - 特許庁 - To eliminate certainly crystal defect of a deep trench side wall which is formed in a distorted Si substrate without being accompanied by deformation of the trench or the like.
歪Ｓｉ基板に形成された深い溝側壁の結晶欠陥を、溝の変形等を伴うことなく確実に除去する。 - 特許庁 - To remarkably improve performance of an antenna by increasing a gain through positive feedback for gain reduction that is a defect of a short-type antenna.
短縮型アンテナの欠点である利得低減を、正帰還によって利得を増大させアンテナの性能を飛躍的に向上させる。 - 特許庁 - To repair a defect of an organic EL element without destroying a foreign matter mixed in an organic layer and giving damages to other functional layer.
有機層に混入した異物を破壊せず、他の機能層のダメージを与えることなく、有機ＥＬ素子の欠陥を修復すること。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus and a program, detecting defect of a blade regardless of kinds of defects, with a simple method.
簡易な方法で、欠陥の種類によらずブレードの欠陥を検出することができる画像処理装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a waterproof structure that has fewer components and a good operability of incorporation, and is free of risk of occurrence of a waterproofing defect.
部品点数が削減され、しかも組み込みの作業性が良く防水不良が発生する恐れのない防水構造を提供する。 - 特許庁 - To prevent defect caused by water remaining on a surface where it is difficult to move water while water is not preferable, in a lithographic apparatus.
リソグラフィ装置おいて、水は望ましくないが水を移動するのが困難な表面に水が残ることによる不具合を防止する。 - 特許庁 - To prevent a defect such as gas leakage by reliably keeping the sealed condition of the space between a cover member and an engine body.
カバー部材とエンジン本体との間の空間の密閉状態をより確実に保つことにより、ガス漏れ等の不具合を防止する。 - 特許庁 - To provide a method of forming a pattern of a gold plated layer thin and little in defect on a stainless substrate while suppressing the corrosion to a stainless substrate.
ステンレス基板への腐食を抑え、薄く欠陥のない金めっき層のパターンをステンレス基板上に形成する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a smooth surface inspection apparatus for avoiding a damage in an object to be measured and a slider, and detecting a minute defect.
測定対象物及びスライダの損傷を回避して、微小な欠陥を検出することが可能な平滑面検査装置を提供する。 - 特許庁 - The plurality of energy distributions are compared with corresponding reference energy distributions, thereby determining the existence of the defect in the weld zone.
上記複数のエネルギ分布は、対応する基準エネルギ分布と比較され、上記溶接部における欠陥の存在が決定され得る。 - 特許庁 - To provide a cable defect simulation method, capable of significantly reducing the testing cost of reliability, and a discharge tester.
信頼性を試験する経費を相当に低減することのできるケーブルの欠陥シミュレーション方法および放電試験器を提供する。 - 特許庁 - To provide a compound semiconductor crystal substrate having a low defect density which can be applied to a semiconductor device, and to provide a method for producing the same.
半導体素子への適用が可能な低欠陥密度の化合物半導体結晶基板、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a dental material characterized in high antimicrobial action and expressing no defect described in the specification.
高い抗菌作用により特徴付けられ、そして本明細書中に記載される欠点を示さない、歯科材料を提供すること。 - 特許庁 - To provide a technique for easily and properly evaluating occurrence of a defect caused by a contact existing at an edge of a wafer.
ウェーハの端部に存在する接触に起因する欠陥の発生を容易且つ適切に評価することのできる技術を提供する。 - 特許庁 - To improve a defect of conventional technique, and in particular, to provide a polyethylene resin composition for a bottle cap, which is high in molding speed.
従来技術の欠点を改良すること、とくに成形速度が高いボトルキャップ用ポリエチレン樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device suppressing a crystal defect having an effect on reliability and a manufacturing method for the semiconductor device.
信頼性に影響を与える結晶欠陥を抑制する半導体装置および半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a lens that is molded by injecting a resin into a mold, wherein the occurrence of a molding defect is suppressed.
金型に樹脂を注入することで成形されるレンズにおいて、成形不良の発生を抑制することができるレンズを提供する。 - 特許庁 - To prevent superfluous rank omission by performing required sufficient determination, to increase a yield and to prevent defect generation in the following step.
必要十分な判定を行うことで過剰な格落ちを防ぎ、歩留まりの向上を図り次工程での不良発生を防止する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for producing a single crystal of sapphire, in which generation of a crystal defect due to deviation of crystal orientation can be prevented.
結晶方位のずれに起因する結晶欠陥の発生を防止することができるサファイア単結晶の製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect classifying apparatus that classifies defects by using a binary tree structure having a classifying condition setting function capable of reflecting an intention of a user.
ユーザの意図を反映可能な分類条件設定機能を有する二分木構造を用いて欠陥を分類する装置の提供。 - 特許庁 - Here, a decision is made that there is a phase defect on the EUV mask of that mesh when the mesh signal strength exceeds a predetermined threshold.
ここでは、メッシュ信号強度が所定の閾値を超える場合に、そのメッシュのＥＵＶマスク上に位相欠陥が有ると判定する。 - 特許庁 - Also a smaller defect than feeding width can be detected by making the width of vibration amplitude of the sine wave larger than the feeding width of the stepping motor.
正弦波の振動振幅をステッピングモータの送り幅以上とすることで、送り幅より小さい欠陥も検出可能とする。 - 特許庁 - To provide a beryllium foil with a large area which has small defect density though it has thickness of around 10 μm and is excellent in vacuum airtightness.
厚さ１０μｍ程度でありながら欠陥密度が小さく、真空気密性に優れた大面積のベリリウム箔を提供する。 - 特許庁 - To compensate a panel defect with electric data during a manufacturing process.
本発明は、製造工程中、パネル欠陥を電気的なデータに補償するようにした平板表示装置の製造方法及び装置に関する。 - 特許庁 - To prevent deterioration of display image quality while reducing occurrence of short-circuit defect even when an organic light emitting element display is driven for a long period of time.
有機発光素子ディスプレイを長期間駆動した場合でも、短絡欠陥の発生が少なく、表示画質の低下を防止すること。 - 特許庁 - Furthermore, an area where the impedance shows the minimum value is sought based on the impedance thus obtained, and the area is specified as the location of the defect.
そして、得られたインピーダンスに基づいてインピーダンスの最小値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。 - 特許庁 - The semiconductor device with a defect on the flip-chip bonded surface detected is determined to be a defective product by a determination section 103.
フリップチップ接合面に存在する欠陥が検出された半導体装置は、判定部１０３によって不良品と判定される。 - 特許庁 - To provide an image forming device capable of preventing such a transfer defect as middle omission and tailing even though a transfer material high in rigidity is used.
剛度の強い転写材を使用しても、中抜けや尾引き等の転写不良を防止できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a thermal transfer image receiving sheet capable of forming a high image quality image which is of high optical density without any image defect, and its manufacturing method.
高濃度で画像欠陥のない高画質な画像を形成できる感熱転写受像シートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
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