「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 156 157 158 159 160 161 162 163 164 .... 366 367 次へ＞- To detect the presence, the location and/or the size of a defect on the inner peripheral face of a piping by injecting ultrasonic wave into the piping.
超音波を配管内部に入射して、配管の内周面に存在する欠陥の有無、位置及び／又は大きさを検出する。 - 特許庁 - To provide a defect checkable transparent printing label having a function capable of checking various kinds of defects of the transparent printing label in particular.
特に透明印刷ラベルの各種欠点の検査ができる機能を有する欠点検査性透明印刷ラベルを提供すること。 - 特許庁 - Then, data after the median filter processing are summed by each pixel and the defect of the solid-state image pickup element is decided on the basis of the sum data.
そして、このフィルタ処理後のデータを各画素毎に加算し、この加算データに基づいて固体撮像素子の欠陥の判定を行う。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an optical film with a low phase difference, a low residual solvent and a less surface defect by a simple manner at a low cost.
低位相差・低残存溶剤量で、かつ表面欠陥の少ない光学フィルムを簡便、かつ低コストな方法で製造する。 - 特許庁 - To solve a defect of a prior art in a high pressure connector of a fuel injection device used with an internal combustion engine in combination.
内燃機関と組合せて使用される燃料噴射装置の高圧コネクタにおける従来技術の欠点を解消することにある。 - 特許庁 - To provide a method of inspecting a large-hole connection defect of a shadow mask without deterioration in inspection accuracy and inspection efficiency.
シャドウマスクの大孔つながり不良を検査精度及び検査能率を落とすことなく検査する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - As a result, the developer or the resist component is suppressed from being residual on the surface of the substrate to obtain a pattern in which the development defect is reduced.
このため基板の表面に現像液やレジスト成分が残るのを抑えられて現像欠陥の少ないパターンを得ることができる。 - 特許庁 - Operation results by the means 404 are used as shading correction data to be used for the defect inspection object of this time.
重み付け演算手段４０４での演算結果を、今回の欠陥検査対象物に対して用いるシェーディング補正データとする。 - 特許庁 - The inspection device 1 extracts a defect (dirt or chip) from the difference with a reference region relative to the divided small domain image after correction.
検査装置１は補正後の分割小領域画像について、基準となる領域との差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。 - 特許庁 - To provide an array sensor having an excellent yield, capable of obtaining a measurement value no having a defect at all in the whole measurement area.
全ての測定領域において全く欠陥のない測定値を得ることができると共に、歩留りのよいアレイセンサを提供する。 - 特許庁 - To provide an image pickup device capable of easily reducing image deterioration caused by an OB (optical black) defect pixel without requiring a special composition.
特別な構成を必要とせず、ＯＢ欠陥画素による画像劣化を容易に低減することができる撮影装置を提供する。 - 特許庁 - Consequently, the quantity of the pulverized toner shifting to the image carrier is reduced, then, the image defect and the deterioration of the member can be prevented.
これにより、像担持体に移動する粉砕キャリア量は少なくなり、画像欠陥、部材の劣化を防止することが可能となる。 - 特許庁 - Such compositions provide an improved combination of properties, including color, strength, velocity of sound, electrical conductivity, and control of a defect.
このような組成物は、色、強度、音速、電気伝導率、及び欠陥の抑制を含めて、特性の改善された組み合せを提供する。 - 特許庁 - To support the design of a business process for suppressing the mismatching of data caused by a plurality of business process competitions caused by a design defect.
設計不備による複数のビジネスプロセス競合によるデータの不整合などを抑制するためにビジネスプロセスの設計を支援すること。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER MADE FROM SILICON WITH SPECIFIC DEFECT CHARACTERISTIC AND SEMICONDUCTOR WAFER MADE FROM SILICON WITH THE DEFECTIVE CHARACTERISTIC
規定の欠陥特性をもつシリコンから成る半導体ウェハの製造方法および該欠陥特性をもつシリコンから成る半導体ウェハ - 特許庁 - To suppress the occurrence of image quality defect on the rear side (second surface side) of a recording material when forming images on both sides of the recording material.
記録材の両面に画像を形成する際に、記録材の裏面側(第二の面側)における画質欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide a pattern defect inspecting device capable of detecting micro defects on a sample with high sensitivity without causing speckle noise in signals.
試料上の微小欠陥を信号にスペックルノイズを発生すること無く、高感度に検出できるパターン欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a letterpress printing machine capable of forming a high-quality and highly precise print pattern having no defect.
本発明は、欠陥がなく印刷品位の高い、高精細な印刷パターンを形成する凸版印刷機を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To obtain a sheet showing no sheet attack and having thin and uniform thickness without a defect in case of manufacturing a sheet for an electronic part such as MLCC.
ＭＬＣＣのような電子部品のシートを製造する場合に、シートアタックがなく、薄層で欠陥のない厚みの均一なシートを得る。 - 特許庁 - The maximum brightness values ML1, ML2, ML3 of the defect candidate images 61, 62, 63 are multiplied by a prescribes rate to set second threshold values Th21, Th22, Th23.
欠陥候補画像６１，６２，６３の最高輝度値ＭＬ１，ＭＬ２，ＭＬ３に所定の比率を掛け合わせて、第２閾値Ｔｈ２１，Ｔｈ２２，Ｔｈ２３を設定する。 - 特許庁 - To provide an optical disk apparatus and a data recording method in which defect of an optical disk can be detected early at data recording.
データ記録の際に光ディスクの不良を早期に発見することが可能な光ディスク装置およびデータ記録方法を提供する。 - 特許庁 - To eliminate such a defect that an absorbing and reduction type NOX cleaning catalyst has a low temperature NOX cleaning capacity and low SOX removing activity.
吸収還元型ＮＯ_X 浄化用触媒の低温ＮＯ_X 浄化性能が乏しく、ＳＯ_X脱離性が低いといった欠点を解消する。 - 特許庁 - To make problems of fixing defect so as to be effectively eliminated, regardless of a kind and a state of sheet state recording medium for a toner image to be fixed.
トナー画像を定着すべきシート状記録媒体の種類や状態に拘らず、定着不良の問題を有効に解消する。 - 特許庁 - In a process 15, the defect distribution provided in the process 14 is determined as a function of film thinning quantities of insulating films provided in the process 12.
過程１５は、過程１４で得られた欠陥分布を過程１２で得られた絶縁膜の薄膜化量の関数として確定する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display apparatus for obtaining favorable inspection accuracy while suppressing increase in the cost for inspecting a pixel defect.
画素欠陥検査についてコストの上昇を抑制しつつ良好な検査精度を得ることができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - BRAIN WAVE MEASURING METHOD BY ASYNCHRONOUS LIGHT INPUT ACTIVATION, VISUAL DEFECT JUDGING METHOD USING THE SAME, AND BRAIN WAVE MEASURING DEVICE THEREFOR
非同期光入力賦活による脳波測定方法とそれを用いた視覚障害判定方法、及びそのための脳波測定装置 - 特許庁 - Then the processor advances to an all picture element reading-out mode and makes defect inspections by performing pattern matching based on the selected template image data.
次いで、全画素読み出しモードに進み、前記の選択したテンプレート画像データに基づいてのパターンマッチングにより欠陥検査を行う。 - 特許庁 - When information is written or read with respect to the position of the detected defect, tracking servo or focus servo is held.
検出された欠陥の位置に対し情報の書き込み又は読み出しが行われる際には、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボがホールドされる。 - 特許庁 - A crystal defect density in a lateral face appeared by the etching is smaller than that appeared by the dicing.
エッチングによって現れる側面内の結晶欠陥密度は、ダイシングによって現れる側面内の結晶欠陥密度よりも小さい。 - 特許庁 - Consequently, a defect is prevented from being caused owing to substrate proximity caused by sealing pressure in the liquid crystal injection port area (a).
よって、液晶注入口領域ａにおける封着圧による基板近接が生じて、不良になるのを防止することができる。 - 特許庁 - To obtain an image forming apparatus improving detection accuracy for detecting an image defect in an image formed on a recording medium.
記録媒体に形成された画像の画像欠陥を検出する検出精度を向上させることができる画像形成装置を得る。 - 特許庁 - To provide an inorganic coating-coated metal sheet free from defect such as crack and peel and exhibiting good processability even when a thick inorganic coating film is provided.
厚膜の無機系塗膜を設けても亀裂，剥離等の欠陥がなく、加工性の良好な無機系塗装金属板を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method by which an observer can easily and precisely checkt a defect in a cholesteric liquid crystal layer by visual check.
コレステリック液晶層の欠陥を観察者の目視により簡易にかつ精密に検査することができる検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a developing device capable of preventing the occurrence of image defect over a long term even in the case of using developer (toner) whose fluidity is not good.
流動性の悪い現像剤（トナー）を用いても長期間にわたって画像不良を発生させない現像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an oxide semiconductor light emitting element for which the defect of an epitaxial layer can be reduced and which has high reliability and high luminous efficiency.
エピタキシャル層の欠陥を低減出来、高信頼性と高発光効率とを有する酸化物半導体発光素子を提供する。 - 特許庁 - To provide an antireflection film free from an appearance defect, an optical low-pass filter, a solid state image sensor, and a digital still camera.
外観不良になることを抑えることができる反射防止膜、光学ローパスフィルタ、固体撮像装置、デジタルスチルカメラを提供する。 - 特許庁 - To provide a tracking pull-in circuit which can pull-in a tracking servo surely and quickly by reducing influence caused by defect.
欠陥による影響を低減して、確実、かつ、迅速にトラッキングサーボへの引き込みが可能となるトラッキング引込回路を提供する。 - 特許庁 - To efficiently compensate defects without causing increase of waiting time due to read of defect data from a nonvolatile memory.
不揮発性メモリからの欠陥データの読み出しによる待ち時間の増大を招くことなく、効率よく欠陥補償を行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a device, method, and program for defect detection, in which exact inspection can be performed in a short time.
正確な検査を短時間で行うことができる欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁 - As a result, the adsorption of the electronic component 10 by the bubbles 9 is avoided to suppress the plating defect of the electronic component 10.
従って、気泡９が電子部品１０を吸着する事態が有意に回避されて、電子部品１０のめっき不良が抑制される。 - 特許庁 - By this anisotropic dry etching, a conical etching residue 6 having an apex made of the crystal defect 4 is left on the surface of the wafer 2.
この異方性ドライエッチングにより、ウェーハ２の表面には結晶欠陥４を頂点とする円錐状のエッチング残渣６が残される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory integrated circuit in which optimum defect relieving efficiency can be set by only change of connection of wirings.
最適な不良救済効率が配線の接続変更のみで設定できるようにした半導体メモリ集積回路を提供する。 - 特許庁 - The two-dimensioal photonic crystal is provided with a hole 12 arranged in a triangular grid shape on a slab 11 composed of Si and with a point defect resonator 13 ((a-1)-(a-4)).
Siから成るスラブ１１に三角格子状に配置された空孔１２と、点状欠陥共振器１３を形成する((a-1)-(a-4))。 - 特許庁 - To provide a device for detecting defect of an aluminum foil, in a liquid paper container in which a paper substrate is covered with a thermoplastic resin and the aluminum foil.
紙基材が熱可塑性樹脂とアルミ箔で覆われる液体紙容器におけるアルミ箔不良検出装置を提供する。 - 特許庁 - To suppress deterioration of resolution by erroneous correction by suppressing defect correction at an edge of an image pattern.
画像パターンのエッジではキズ補正を抑制することで誤補正による解像度低下を抑制することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁 - To inspect the presence or absence of a defect in the outer surface of a glass tube quickly and accurately without depending on the shape of the outer surface of the glass tube.
ガラス管の内表面の形状に依存することなく、ガラス管の外表面の欠陥の有無を短時間で正確に検査する。 - 特許庁 - To suppress an image quality defect due to ink ejection failure by appropriately ordering a plurality of printing heads in relation to humidity retention.
複数の記録ヘッドを保湿との関係で適切な並び順とすることで、インク吐出不良などによる画質不良を抑制する。 - 特許庁 - To prevent white-spot-like image defect and also suppress the average value of a voltage applied to a charging member from becoming extremely high.
白点状の画像欠陥の発生を防止しつつ、帯電部材に印加される電圧の平均値が過大になることを抑えること。 - 特許庁 - To provide a method for producing a semiconductor device, by which a fine pattern is formed even without using an assist pattern method or a phase shift mask and defect inspection on a mask is easily performed.
補助パターン法や位相シフトマスクなどを用いずとも微細パターンの形成が可能で、かつマスクの欠陥検査を容易とする。 - 特許庁 - To provide an optical disk device determining a logically defective position detected as a failure when an optical disk has a defect.
光ディスクに欠陥がある場合に不良として検出される論理的な欠陥位置を決定する光ディスク装置を提供する。 - 特許庁
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