「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 157 158 159 160 161 162 163 164 165 .... 366 367 次へ＞- The acquired mask data of the defect portion of mask inspection results 205 is sent to a simulated repair circuit 300 to be simulatedly repaired.
マスク検査結果２０５のうち、欠陥箇所のマスク採取データは、模擬修正回路３００に送られて模擬修正が行われる。 - 特許庁 - To provide an edge sensor capable of certainly detecting a defect such as a chip or crack occurring in a transparent or translucent object.
透明または半透明の物体に生じた欠けやひび割れ等の欠陥を確実に検出することのできるエッジセンサを提供する。 - 特許庁 - To provide an implant material introduction device by which bone defect site of any shape can be filled securely and the strength of the reproduced bone tissue is improved by an easy operation.
簡易な操作によって、任意の形状の骨欠損部を確実に補填し、再生される骨組織の強度を向上する。 - 特許庁 - To provide a water heater capable of positively stopping water supply operation when a risk of a valve opening defect exists in a gas opening and closing valve.
ガス開閉弁に閉弁不良の恐れがある場合に給湯運転を確実に停止することが可能な湯沸器を提供する。 - 特許庁 - The first insulating layer 13 is formed so as to cover the high-defect region 10a on the principal surface 10c of the GaN layer 10.
第１の絶縁層１３は、ＧａＮ層１０の主表面１０ｃにおける高欠陥領域１０ａを覆うように形成される。 - 特許庁 - To prevent oxidation of a semi-solidified slurry and allow a casting defect not to be caused in a cast product.
半凝固スラリーの酸化を防止することができ、鋳造された製品に鋳造欠陥を生じさせないようにすることを目的とする。 - 特許庁 - By correlating a variable spectrum of a motor drive with the speed parameter, a machine defect can be discriminated based on an energy distribution in the spectrum.
モータ・ドライブの可変スペクトルを速度パラメータに相関させることにより、スペクトルでのエネルギー分布に基づいてマシン欠陥を識別できる。 - 特許庁 - To write data so that the data can be read consecutively even when a defect occurs during writing.
書き込み時にディフェクトが発生したような場合でも、読み出し時にデータが連続して読み出せるような書き込みを行えるようにする。 - 特許庁 - To guarantee high reliability for control information provided for relieving defect or the like of a plurality of on-chip circuit modules.
複数のオンチップ回路モジュールに対する欠陥救済等のために配信される制御情報に対して高い信頼性を保証する。 - 特許庁 - As compared to the case only the relative position of the defect like heretofore, the selection of more optimum correction procedures is made possible.
従来のように欠陥の相対位置のみを考慮する場合に比べて、より最適な修正手順を選択することが可能となる。 - 特許庁 - To provide a method of replacing a surgically removed bladder defect part in order to promote regrowth of endogenous urinary bladder tissue.
内因性膀胱組織の再増殖を促進するために、外科的に切除した膀胱欠損部を置換するための方法の提供。 - 特許庁 - A yield is calculated using a monthly fatal defect density in the period when a yield prediction subject lot of prediction subject products is processed.
予測対象製品の歩留り予測対象ロットが処理された時期の月別致命欠陥密度を用いて歩留りを算出する。 - 特許庁 - To properly improve a defect during a medium conveyance in a printing apparatus using a medium roll by eliminating skew, floating, or the like of the medium.
媒体ロールを用いる印刷装置において、媒体のスキューや浮き等を解消し、媒体搬送時の不具合を適切に改善する。 - 特許庁 - An operation defect detecting section 20 detects from an input value and an output value whether a delay time of the delay element 14 is appropriate or not.
動作不良検出部２０は入力値と出力値とから遅延素子１４の遅延時間が適正であるか否かを検出する。 - 特許庁 - To provide a liquid droplet spraying apparatus capable of preventing the occurrence of the spray defect of liquid droplet while suppressing the up-sizing of the apparatus.
装置の大型化を抑えつつ、液滴の噴射不良の発生を防止することができる液滴噴射装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a developing roller with which excellent picture quality can be obtained for long periods without a defect of an obtained image nor image density unevenness.
得られる画像の不具合および画像濃度ムラが生じず、長期にわたり良好な画質が得られる現像ローラを提供する。 - 特許庁 - Correction is efficiently made, therefore, with a small amount of correction ink 40 comparing with the conventional method where the entire black defect 36 is removed at once.
したがって、黒欠陥３６全体を一度に除去する従来に比べ、少量の修正インク４０で効率良く修正できる。 - 特許庁 - To prevent a defect of missing a concerned part due to a narrowed visual angle in the case of selecting a magnified observation mode from a usual observation mode.
通常観察から拡大観察に切り替えた際に、視野角が狭くなることで関心部位を見失う不都合を防止する。 - 特許庁 - To make the inspection of pattern defects possible in a photomask using a resist as a light shield by a photomask defect inspection device which detects transmitting light.
レジストを遮光体としたホトマスクにおいて、透過光検出型のホトマスク欠陥検査装置によるパターン欠陥検査を可能にする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor module which can be repaired, even when the defect of a chip is detected, after the chip is molded by mold resin.
モールド樹脂によりチップをモールドした後にチップの不良が検出された場合にも、リペア可能な半導体モジュールを提供する。 - 特許庁 - To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).
ＳＥＭの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁 - To automatically prepare a mask image capable of reliably masking a border line of a light-and-shade pattern, and to appropriately detect coating defect.
明暗パターンの境界線をより確実にマスクするマスク画像を自動作成すると共に塗装欠陥をより適切に検出する。 - 特許庁 - To provide an image inputting device and method for detecting any stripe-shaped defect, and for checking the full width of a Web.
スジ状の欠陥を検出することができ、かつウェブの全幅を検査することができる画像入力装置および方法を提供する。 - 特許庁 - Next, omission of a noise component and restriction of the maximum absolute value of a level of large defect are performed from the full-wave rectification signal by a clip circuit.
次に全波整流信号からクリップ回路にてノイズ成分の切り捨てとラージ・ディフェクトのレベルの最大絶対値の制限を行う。 - 特許庁 - Further, if this defect determination is not made, the charging is carried out up to the final stage in the second constant current and constant voltage charging process.
また、この不良判定がなされない場合には、第２の定電流定電圧充電工程により最後まで充電を行う。 - 特許庁 - A second redundant memory cell is used when second defective position information indicating a position of defect is programmed in a second redundant program part.
第２冗長メモリセルは、不良の位置を示す第２不良位置情報が第２冗長プログラム部にプログラムされたときに使用される。 - 特許庁 - When a defect is found in a battery block 10 or a circuit block 20 in a manufacturing process, only the blocks with defects are to be replaced.
製造工程で電池ブロック１０または回路ブロック２０に不具合が生じた場合に、不具合の生じたブロックだけを交換する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor wafer where there is no occurrence of grown-in defect such as COP and besides which is very small in surface roughness.
ＣＯＰのようなｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥の発生がなく、かつ、表面ラフネスが非常に小さい半導体ウェハを提供する。 - 特許庁 - Through such dicing, the semiconductor element is suppressed from having the defect when the semiconductor substrate 100 is cut into individual pieces.
この様なダイシングによって、切り込みによる半導体基板１００の個片化の際、半導体素子における不良の発生を抑制できる。 - 特許庁 - To provide an inner cylinder brick-laid structure of coke dry quenching facility capable of preventing crack of vertical joint of inner cylinder brick and corner defect of brick.
内筒煉瓦の縦目地の亀裂及び煉瓦の角欠きを防止できるコークス乾式消火設備の内筒煉瓦積み構造の提供。 - 特許庁 - To provide a camera capable of obtaining a still picture with less white defect even in the case of imaging a through-image by infrared ray imaging.
赤外光撮像によりスルー画を撮像する場合であっても白キズの少ない静止画を得ることができるようにすること。 - 特許庁 - It becomes possible to manage defects of a disk medium of a high capacity without increasing defect management regions by this coding mode.
本コーディングモードによって欠陥管理領域を増やすことなく、より高容量ディスク媒体の欠陥を管理することが可能となる。 - 特許庁 - To provide an optical display manufacturing system and an optical display method of manufacturing can more preferably performing defect inspection.
欠点検査をより好適に行うことができる光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device, which prevents a defect in contact between a bump electrode and a substrate by suppressing oxidation of the bump electrode.
バンプ電極の酸化を抑制し、バンプ電極と基板との密着不良を防ぐ半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To produce an SiC single crystal reduced in micropipes exposed on the surface and lamination defect and provide a method for growing the single crystal.
表面に露出するマイクロパイプおよび積層欠陥が低減されたＳｉＣ単結晶およびその成長方法を提供すること。 - 特許庁 - To reduce light leakage accompanying laser beam processing when performing correction of a luminescent spot defect pixel of a liquid crystal display by using a laser beam.
レーザ光を用いて液晶表示装置の輝点欠陥画素の修正を行うにあたり、レーザ加工に伴う光漏れを少なくする。 - 特許庁 - Furthermore, the program calculates review priority of each defect from the inferiority probability of each mask (step 11), and writes the result into inspection data (step 12).
さらに、各マスクの不良確率から各欠陥のレビュー優先度を算出し（ステップ１１）、結果を検査データに書き込む（ステップ１２）。 - 特許庁 - Defect inspection of a TFT substrate is performed first in each manufacturing stage and coordinate data on a defective image and a defective pixel are stored.
まず、各製造工程においてＴＦＴ基板の欠陥検査を行い、欠陥画像及び欠陥画素の座標データを保存する。 - 特許庁 - With this constitution, oxidation of the connection part and a generation defect caused by the oxidation of the connection part 100 can be suppressed.
これにより、接続部１００、１０１の酸化及び接続部１００、１０１の酸化による発電不良を抑制することができる。 - 特許庁 - The charge defect toner stuck on the surface of photoreceptor 21, is scraped off from the surface of the photoreceptor 21 by a cleaning unit 31.
感光体２１の表面に付着した帯電不良トナーは、クリーニングユニット３１で感光体２１の表面からかき落とされる。 - 特許庁 - To provide a method and a device for correcting a white defect in a photomask with high correction accuracy while preventing influences on image quality on transferring a pattern.
転写時の像質への影響がなく修正精度の高いフォトマスクの白欠陥修正方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a connecting rod for oven lid-attaching and detaching apparatus capable of reducing defect of attachability of an oven lid by preventing occurrence of buckling.
座屈の発生を防止して、炉蓋の着脱不良を低減させることが可能な炉蓋着脱装置の連結ロッドを提供する。 - 特許庁 - To perform data embedding processing without creating an influence in appearance, and to extract data embedded from a printed matter of the data embedding processing with few data defect.
見た目に影響のないデータ埋め込み加工処理と、その印刷物から埋め込んだデータを、データ欠損を少なく抽出すること。 - 特許庁 - To acquire a resin sealed semiconductor capable of preventing insulation defect caused by an unfilled part with resin under the base part.
ベース部の下面側に樹脂の未充填部分が形成されず、絶縁不良を発生させない樹脂封止型半導体装置を得ること。 - 特許庁 - To prevent leakage defect of a normal breakdown strength MOS transistor and a high breakdown strength MOS transistor made on the same semiconductor substrate.
同一半導体基板上に形成される通常耐圧ＭＯＳトランジスタと高耐圧ＭＯＳトランジスタのリーク不良を防止する。 - 特許庁 - Based upon the data stored in the data register 11, it is decided whether a pixel of the display panel has a defect and its position is also decided.
データレジスタ１１に格納されたデータにより、表示パネルの画素に欠陥が発生しているか否か、またその位置も判定される。 - 特許庁 - To form an AlGaN layer having such a thickness that the layer can sufficiently function as a crystal growing base layer with a low defect density.
結晶成長下地層として充分に機能する程度の厚みを有する低欠陥密度のＡｌＧａＮ層を形成すること。 - 特許庁 - The inorganic coating film provided through the undercoat coating film exhibits no defect such as cracking and exfoliation and is excellent in coating film adhesiveness after processing.
該下塗り塗膜を介して設けられた無機系塗膜は、亀裂，剥離等の欠陥がなく、加工後にも塗膜密着性に優れている。 - 特許庁 - To inspect a formation defect of a resist pattern formed on an antireflection film by diffracted light of light with which the resist pattern is irradiated.
反射防止膜上に形成されたレジスト・パターンの形成不良を、レジスト・パターンに照射した光の回折光によって検査する。 - 特許庁 - Then, for example, defect discriminating information is recorded in the alternated packet, and alternation discrimination information is recorded in the alternating packet (S013).
そして、例えば交替元のパケットに欠陥識別情報を記録し、また交替先のパケットに交替識別情報を記録する（Ｓ０１３）。 - 特許庁
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