「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • The unit controller delays a stoppage timing, which is a timing at which feeding of the spun yarn is stopped, when the yarn clearer detects a prescribed yarn defect in which the yarn strength is low, compared with when other type of yarn defect is detected, and stops the yarn accumulating roller after the stoppage timing.
    ユニットコントローラは、ヤーンクリアラが糸強力の弱い所定の糸欠点を検出すると、その他の糸欠点を検出したときに比べて、紡績糸の供給を停止する停止タイミングを遅らせるとともに、この停止タイミングの後に糸貯留ローラを停止させる。 - 特許庁
  • To provide a molding method and a molding apparatus of a foamed resin molding, wherein the sheet thickness of a product is freely set, and the appearance is made excellent by eliminating molding defect like silver streak, uneven foaming and irregularity defect.
    発泡樹脂成形品の成形方法並びに成形装置に係り、製品板厚を自由に設定できるとともに、シルバーストリーク、発泡ムラ、凹凸不良等の成形不良を解消した外観性能に優れた発泡樹脂成形品の成形方法並びに成形装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection method of hydrogen separation film capable of reliably removing a hydrogen separation film having a film defect by detecting a pinhole being the film defect with high precision in order to manufacture a high-quality hydrogen separation film module, and capable of improving the efficiency of manufacturing the hydrogen separation film module.
    品質の高い水素分離膜モジュールを製造すべく、膜欠陥となるピンホールを高い精度で検出して、膜欠陥を有する水素分離膜を確実に取り除くことができ、水素分離膜モジュールの製造効率を改善可能とする水素分離膜の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • A row of a normal memory cell comprising a memory cell in which defect is caused can be substituted by a useful row of a redundant memory cell having no defect by controlling operation of such the selection circuit 32 without connecting a row of a redundant memory cell and a row of a normal memory cell substituted generally.
    このような選択回路３２の作動を制御することによって、不良が生じたメモリセルを含むノーマルメモリセルのローは、リダンダントメモリセルのローが一般的に代えられたノーマルメモリセルのローと連結されていなくても、不良がないリダンダントメモリセルの有用なローに代えることができる。 - 特許庁
  • When the wet film 17 is dried during transferring while supporting it with each pass roller 91-97, stabilization at transfer can be attained and a film which has reduced roller transfer defect and push scars defect and is excellent in flatness and optical property can be manufactured.
    各パスローラ９１〜９７により、湿潤フイルム１７を支持しながら搬送する間に乾燥すると、搬送する際の安定化を図ることができるとともに、ローラ写り欠陥や押しキズ欠陥を低減して平面性や光学特性に優れたフイルムを製造することができる。 - 特許庁
  • By conducting burn-in, a defect address of the semiconductor device in which a defect is generated is accessed continuously, when the defective semiconductor is generated, and a defective portion of the defective semiconductor device is specified based on a surface temperature distribution of the semiconductor device measured by the infrared sensor 1b.
    さらに、バーンインを行うことにより、不良半導体が発生したとき、不良が発生した半導体装置の不良アドレスを連続的にアクセスし、前記赤外線センサ１ｂより測定された上記半導体装置の表面温度分布から不良半導体装置の不良箇所を特定する。 - 特許庁
  • To provide a defect recovery method of a thin film photoelectric conversion cell, which enables the manufacture of a thin film photoelectric conversion module with its fully enhances output, the manufacturing method of the module and the defect recovery device of the module.
    モジュール出力が十分に向上された薄膜光電変換モジュールを製造することを可能とする薄膜光電変換セルの欠陥修復方法、薄膜光電変換モジュールの製造方法、及び薄膜光電変換モジュールの欠陥修復装置を提供すること。 - 特許庁
  • In a diagnosis for the defect inspection system 10 itself, a first switch part 11 is turned to an off (opened) state, and in a state that electric connection between the inspection target and the defect inspection system 10 is interrupted, second and third switch parts 12, 13 are controlled so as to be turned on/off.
    この欠陥検査システム１０自体の良否の診断については、第１スイッチ部１１をオフ（開）状態とし、検査対象物と欠陥検査システム１０との間の電気的な接続を遮断した状態において、第２，第３スイッチ部１２，１３をオン／オフ制御することによって行う。 - 特許庁
  • To easily prove that a dropout of a certificate number presented to an insurance company is due to a printing defect when a compulsory automobile liability insurance certificate is outputted again because of the printing defect caused in a certificate output device printing the compulsory automobile liability insurance certificate on a blank form for issuing it.
    自賠責保険の証明書を白紙の用紙に印刷して発行する証明書出力装置に印刷障害が発生し、自賠責証明書を出力し直した場合、保険会社に提出される証明書番号の抜けが、印刷障害に起因することを簡便に証明する。 - 特許庁
  • To provide a method of attaining a defect-free beautiful appearance of defect-free such as a double truck pattern, a melange pattern, a roll pattern on a strip steel by continuously coating the continuous traveling strip steel in horizontal path with a low viscosity coating material to have a thick film using a multistage natural roll coater having a grooved applicator roll.
    水平パスで連続走行する帯状鋼板に対し溝切りのアプリケーターロールを有する多段ナチュラルロールコーターを用いて低粘性の塗料を厚膜に連続塗布し、ダブルトラック、霜降り状模様、ロール目模様等の外観欠陥のない美麗外観を得る方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection device capable of not only discriminating a stripe-shaped defect having a known shape generated on the surface of an inspection object by using an optical procedure but also evaluating quantitatively and highly accurately in a short time a parameter characterizing the shape of the stripe-shaped defect.
    光学的手法を用いて、被検査体表面に生じる形状が既知のスジ状欠点の有無を判別するだけでなく、スジ状欠点の形状を特徴付けるパラメータを、短時間で、かつ高精度に定量評価することを可能とする検査装置を提供すること。 - 特許庁
  • The reflected light 12 is received by the first detection means 6 independently of the light receiving element 4, and thereby the tilt angle of the irregularity defect 8 is measured by an image processing device 17, and the height or the depth of the irregularity defect 8 is measured by triangulation from the measurement result.
    第１の検出手段６によって受光素子４とは別に反射光１２を受光することで、画像処理装置１７によって、凹凸欠陥８の傾斜角度を計測したうえで、その計測結果から三角測量によって凹凸欠陥８の高さあるいは深さを計測する。 - 特許庁
  • An average period generation circuit 11 calculates an average half period Tav between two adjacent half periods by a first calculation method when no defect occurs, and calculates a corrected average half period by a second calculation method different from the first calculation method when the defect occurs.
    平均周期発生回路１１は異常が発生していない場合には第１の算出方法である隣接する２つの半周期の平均半周期Ｔavを求め、異常が発生した場合には第１の算出方法とは異なる第２の算出方法によって補正平均半周期を求める。 - 特許庁
  • In a device 1 for detecting the defect, a reference image showing a pattern of a die as a reference on the substrate 9 in a reference image inspection circuit 42 is compared with a plurality of selected images showing the patterns of selected dies, and a defect included in the reference image is detected.
    欠陥検出装置１では、基準画像検査回路４２において基板９上の基準とされるダイのパターンを示す基準画像と、それぞれが選択されたダイのパターンを示す複数の選択画像とが比較され、基準画像が有する欠陥が検出される。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device before crimping a wire and a defect inspection method before crimping a wire capable of correctly individually determining presence of respective defects of a crimp blade die, a crimp terminal, a wire core part and a wire covering part before crimping the wire at low cost.
    低コストで、電線の圧着前に圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のそれぞれの不具合の有無を個別に正確に判断することができる、電線圧着前の不具合検査装置および電線圧着前の不具合検査方法を提供する。 - 特許庁
  • A technique of imaging a hologram surface shape is provided for detecting a hologram film defect in hologram products and after the aluminum deposition process, which are the lighting method for imaging using coaxial epi-illumination, a hologram image acquisition method, and the hologram defect extraction method.
    ホログラム製品およびアルミニウム蒸着工程後におけるホログラムフィルム欠陥検出のためのホログラム表面形状の画像化手法であって、同軸落射照明を用いることを特徴とする画像化用照明方法、ホログラム画像取得方法、およびホログラム欠陥抽出方法である。 - 特許庁
  • (ii) in case where the product is used as a component or raw material of another product, the defect occurred primarily because of the compliance with the instructions concerning the design given by the manufacturer of such another product, and that the manufacturer, etc. is not negligent with respect to the occurrence of such defect.
    二　当該製造物が他の製造物の部品又は原材料として使用された場合において、その欠陥が専ら当該他の製造物の製造業者が行った設計に関する指示に従ったことにより生じ、かつ、その欠陥が生じたことにつき過失がないこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a defect inspection device for a flat panel display capable of exactly indicating spots to be repaired to a repair device, by pinpointing the spots from inspection information acquired by defect inspection, not to mention of being capable of finding out the causes of the defects or the like in a short time efficiently, and to provide its inspection method.
    欠陥原因の究明などを短期間で効率よく行えることはもとより、欠陥検査した検査情報から特定することで、リペア装置にリペア箇所を的確に指示することが可能なフラットディスプレイパネルの欠陥検査装置およびその方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for correcting a display defect such as a display defect accompanying a smear or unevenness, sticking, or a decrease in voltage holding rate due to a chromato-phenomenon of impurities, originating from a material constituting a liquid crystal display device, on a surface of an alignment film.
    ネマチック液晶表示素子において、液晶表示装置を構成する材料由来の不純物の配向膜表面でのクロマト現象に起因するシミ・ムラ、焼き付き又は電圧保持率の低下に伴う表示不良などの表示不良を解決する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of defect detection even in a domain other than a repeated pattern domain without generating a reference image, when detecting a defect appearing in the appearance of a substrate on whose surface an electric pattern is to be formed or has been formed.
    表面に電気的パターンが形成される、又は形成された基板の外観に現れる欠陥を検出する際に、基準画像を生成することなく、繰り返しパターン領域以外の領域においても欠陥検出が可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁
  • Radiation transmitted through a subject is radiated on the imaging panel 11, which is developed as a second image data and written in the image memory part 20, and the image data of the position indicated in the defect information memorized in the defect information memory part 26 is corrected to acquire the preferable radiation image.
    被写体を透過した放射線を撮像パネル１１に照射して作成した第２の画像データを画像メモリ部２０に書き込み、欠陥情報メモリ部２６に記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データを補正して良好な放射線画像を得る。 - 特許庁
  • A monitor controller 2 monitors a defect in the system 1, the operator 4 uses the mobile terminal 3 connected to the monitor controller 2 via an information transfer network 6 so as to receive information such as a defect and return a reply with respect to the received information.
    障害検出が可能な監視対象システム１の障害を監視する監視制御装置２があり、作業員４は、情報転送網６を介して監視制御装置２に接続された携帯端末３により、障害等の情報を受信し、受信に対する返信を行う。 - 特許庁
  • To prevent a defect of a donor substrate from being caused by contaminations in a laser transfer process by eliminating the contaminations present on a base substrate of a donor substrate when the base substrate is prepared and prevent a defect of an organic electroluminescent display device manufactured by using the donor substrate.
    ドナー基板のベース基板を用意するに際して、前記ベース基板上に存在する汚染物を除去することによって、レーザ転写工程時において汚染物によるドナー基板の不良を防止し、前記ドナー基板を使用して製造される有機電界発光表示装置の欠陥を防止すること。 - 特許庁
  • To easily prove that a dropout of the certificate number presented to an insurance company is due to a printing defect when a compulsory automobile liability insurance certificate is outputted the second time because of a printing defect caused in a certificate output device that prints the compulsory automobile liability insurance certificate on a blank sheet, and issues it.
    自賠責保険の証明書を白紙の用紙に印刷して発行する証明書出力装置に印刷障害が発生し、自賠責証明書を出力し直した場合、保険会社に提出される証明書番号の抜けが、印刷障害に起因することを簡便に証明する。 - 特許庁
  • Since the surface of the steel sheet 101 is heated uniformly along the sheet-width direction by the bandlike laser 103, a temperature gets substantially uniform in a portion where no defect such as the surface flaw 102 exists, and a temperature change is generated in a portion where the defect exists, because of an influence thereof.
    鋼板１０１の表面は帯状のレーザ１０３によって板幅方向にライン状に均一に加熱されるので、表面疵１０２等の欠陥の存在しない個所では温度がほぼ均一になるのに対して、欠陥の存在する個所ではその影響により温度変化が生じる。 - 特許庁
  • A coordinate difference information for each of defect inspection devices 41 and 42 is stored beforehand in an image observation SEM storage device 45, and the difference information is used to calibrate a defect position coordinate outputted from the devices 41 and 42 for a coordinate value as a coordinate value for the image observation SEM.
    像観察ＳＥＭの記憶装置４５に、予め欠陥検査装置４１，４２毎の座標誤差情報を記憶しておき、その誤差情報を用いて欠陥検出装置４１，４２から出力された欠陥位置座標を像観察ＳＥＭ用の座標値に校正する。 - 特許庁
  • To provide an internal defect testing method for detecting an internal defect existing in a wire rod which can be a cause of welding failure when oxygen-free copper magnetic are connected by welding; and to provide a manufacturing method for preventing the occurrence of the welding failure.
    本発明は、溶接を伴う無酸素銅マグネットワイヤの接続を溶接で行った場合の溶接不良の原因となる線材に存在する内部欠陥を検出するための内部欠陥試験方法と、溶接不良の発生を防止した製造方法とを提供する。 - 特許庁
  • A disk recording/reproducing drive 1020 records the information on the information recording medium including: a volume space for recording user data; a spare area containing a substitute area usable instead of a defective area; and a defect management information area for recording the defect management information.
    ディスク記録再生ドライブ１０２０は、ユーザデータが記録されるボリューム空間と、欠陥領域の代わりに使用され得る交替領域を含むスペア領域と、欠陥管理情報が記録される欠陥管理情報領域とを備えた情報記録媒体に情報を記録する。 - 特許庁
  • Since the inspection 5 is arranged between the signal line driving circuit 3 and the drive IC (Integrated Circuit) 4 and the drive IC 4 and the inspection circuit 5 are made to utilize the same data lines, not only a defect in the pixel array 1 but also a defect in the signal line driving circuit 3 can be detected correctly when performing inspection.
    信号線駆動回路３と駆動ＩＣ４の間に検査回路５を配置し、駆動ＩＣ４と検査回路５が同じデータ線を利用するようにしたため、検査時には、画素アレイ部１内の不良だけでなく、信号線駆動回路３内の不良も正しく検出することができる。 - 特許庁
  • Thus, the outer appearance of the end surface portion of the wafer W in the dry etching which is highly relevant to the occurrence of a defect in the device process is observed, so that it can be suitably evaluated whether the wafer W has a high possibility of defect occurrence in the device process.
    デバイスプロセスの欠陥の発生と関連性が強い、ドライエッチングを行った際のウェーハＷの端面部の外観を観察するようにしているので、ウェーハＷがデバイスプロセスにおいて欠陥を発生させる可能性が高いか否かを適切に評価することができる。 - 特許庁
  • To provide a liquid jetting apparatus capable of compensating for a jetting defect when a defect of a jetting liquid arises in a nozzle of a first nozzle array in a liquid jetting apparatus having two nozzle arrays of the first nozzle array and a second nozzle array provided so as to align in a transporting direction of a medium.
    第１ノズル列と第２ノズル列の２つのノズル列を媒体の搬送方向に並べるように設けられた液体噴射装置において、第１ノズル列のノズルに液体の噴射不良があった場合に、これを補填することができる液体噴射装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for correcting a defect of a photomask by which the transmittance of a thin film during correcting a defect of a photomask can be judged and, from the results, the supply amount of CVD source gas, laser irradiation intensity, laser irradiation time and the number of irradiation pulses can be controlled.
    フォトマスクの欠陥修正中の薄膜の透過率を判断でき、その結果によってＣＶＤ原料ガス供給量、レーザ照射強度、レーザ照射時間及び照射パルス数を制御することが可能なフォトマスクの欠陥修正方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a pattern medium using an imprint method capable of preventing a resist pattern defect generated by gas taken between an interface of an imprinting mold and a resist layer and a resist pattern defect generated by a bubble probably generated in the resist film and on the resist surface.
    インプリント用モールドの界面とレジスト層との間に取り込まれた気体によるレジストパターン欠陥や、レジスト膜中、レジスト表面に発生する可能性のある気泡によるレジストパターン欠陥の発生を防止できるインプリント法を用いたパターン媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The imaging device 1 outputs a signal X from an output bus 11 corresponding to a timing pulse A, and in this case, the signal of a pixel from the A/D converter 5 and the pixel defect information corresponding to the pixel from the pixel defect memory 7 are alternately outputted by the selector 9 for every 1/2 pixel term.
    撮像素子１は、タイミングパルス（Ａ）に合わせて出力バス１１から信号（Ｘ）を出力するが、その際Ａ／Ｄ変換器５からの画素の信号と画素欠陥メモリ７からのその画素に対応した画素欠陥情報を、セレクタ９により（１／２）画素期間毎に交互に出力する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for detecting a ceramic surface layer zone defect which can simply and accurately examine a fine defect generated near surface after a ceramic material is mechanically worked and which can easily examine even at a working site.
    セラミックス材料の機械加工後の表面近傍部に発生する微細欠陥を簡単且つ高精度に検出することができ、加工現場でも容易に検査することができるセラミックス表層域欠陥の検出方法と、このような欠陥検出に用いる検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect pixel replacement system where pixel data of a defective pixel are replaced with a weight mean of pixel data of a normal pixel when there is a defect in a pixel being a configuration unit of a video input section and to provide a video display device.
    欠陥画素置換方式及び映像表示装置に関し、映像入力部の構成単位である画素に欠陥がある場合に、欠陥画素の画素データを正常画素の画素データの荷重平均で置換する欠陥画素置換方式及び映像表示装置を提供する。 - 特許庁
  • In this internal defect detecting method for the structure wherein a material generating heat in curing is filled in a hollow shell to be cured, a surface temperature distribution in the structure is measured after a prescribed lapse time counted from the start of the filling, and a defect is detected based on the distribution.
    硬化時に発熱する材料を、中空殻内に充填して硬化させてなる構造体の内部欠陥を検出する方法において、充填を開始してから所定時間経過後、構造体の表面温度分布を測定して、その分布により欠陥の検出を行う。 - 特許庁
  • To provide a polishing treatment agent which eliminates defect wherein, after washing, the original color or given color of fiber is paled and the luster and gloss are lost and defect wherein, after car washes, the paint color or given color of the car is paled and the luster and gloss are lost.
    洗濯すると繊維の元の色、着色した色が薄くなり艶出しや光沢がなくなる欠点があったり、車を洗車すると車の塗料の色、着色した色が薄くなり艶や光沢がなくなる欠点があったりするが、これらの欠点のない艶出し処理剤を提供すること。 - 特許庁
  • A plot controller stores two-dimensional defect position data as plot data produced by projecting a position of the micro-defect generated in the painted surface of the vehicle onto the horizontal or vertical two-dimensional projecting plane, retrieves the plot data sequentially, in response to switch operation and plots them on the painted surface of the vehicle.
    プロット制御部が、車両塗面に生じている微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データをプロットデータとして格納し、スイッチ操作に応答して順にプロットデータを検索して車両塗面にプロットする。 - 特許庁
  • To provide a gas barrier film for an electronic display medium whereby an excellent image display can be obtained, because even if it has a defect such as a dark spot or the like, the visibility of the defect is low, or it has a wide angle of visibility.
    本発明は、ダークスポット等の欠陥がある場合であってもその欠陥の視認性が低く、あるいは、広視野角性を有することにより、良好な画像表示を得ることが可能である電子表示媒体用ガスバリア膜を提供することを主目的とするものである。 - 特許庁
  • By having a structure in which a perfect Cr shading part is a self-alignment type, a dicing mark part is a Cr recessing type and a pattern part is a HT pattern, the resist shape on the wafer after photomask pattern exposure can be improved and the defect detection sensitivity in the photomask defect inspection can be sufficiently obtained.
    完全Ｃｒ遮光部はセルフアライン型、ダイシングマーク部はＣｒ後退型、パターン部はＨＴパターンという構造を有することにより、フォトマスクパターン露光後のウェーハ上のレジスト形状を良好にし、かつフォトマスク欠陥検査時における欠陥検出感度を十分に得ることができる。 - 特許庁
  • To provide a method and device for converting pattern data never causing the unexpected increase in data capacity even in the conversion of CAD data for a drawing machine to pattern data for a defect inspecting machine or the reduction in processing speed of the defect inspecting machine by an unnecessary region division.
    描画機用のＣＡＤデータを欠陥検査機用の図形データに変換してもデータ容量が不用意に増大したり不要な領域分割によって欠陥検査機の処理速度が低下したりすることのない図形データ変換方法およびデータ変換装置を提供すること。 - 特許庁
  • In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.
    本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯１の表面画像を光学系２０で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁
  • Although a serious line defect appears on a picture display in the case the interlayer short circuit takes place between the drain wire and the shield common electrode, the line defect can be repaired or made to disappear by cutting off both sides of the slit on which the short circuit has taken place with the laser repair etc. and separating the place where the short circuit has taken place.
    ドレイン配線とシールド共通電極との層間ショートが発生した場合、画面表示上は重大な線欠陥となるが、ショート発生部のスリットの両脇をレーザーリペア等で切断し、ショート箇所を分離することで、線欠陥をリペア・消滅することができる。 - 特許庁
  • To provide a quality inspection method and device for a micro surface defect in a magnetic metal zone, capable of detecting automatically such the micro surface defect as usually difficult to be visually confirmed and detectable by grinding inspection using a grinding stone, in an objective specimen having a coarse surface roughness.
    表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認が困難で砥石がけ検査により検出しているような微小表面欠陥を自動検出することができる磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • When the integrated circuit chip on the semiconductor wafer is inspected after the exposure and any pattern defect is found out; the operating information by each pulse in cross-reference with the information of the lot number of the semiconductor wafer whose defect is found out, and the information of the integrated circuit chip position is acquired from the stored information items.
    露光後に半導体ウェーハ上の集積回路チップを検査し、パターン不良が発見された場合は、記憶した情報の中から不良が発見された半導体ウェーハのロット番号の情報及び集積回路チップ位置の情報に対応するパルス毎の動作情報を取得する。 - 特許庁
  • The high-resistance silicon wafer has a resistivity of ≥100 Ωcm, an interstitial oxygen concentration of ≤8×10^17 atoms/cm^3 (measured according to ASTM F121-1979) and an oxygen deposit (BMD: Bulk Micro Defect) density of ≤5×10^7 pieces/cm^3.
    １００Ω・ｃｍ以上の抵抗率を有する高抵抗シリコンウェーハであって、該ウェーハ中の格子間酸素濃度が８×１０^17ａｔｏｍｓ／ｃｍ^3（ ASTM F121-1979 )以下で、且つ該ウェーハ内部の酸素析出物（ BMD: Bulk Micro Defect ）密度が５×１０^７個／ｃｍ^３以下であることを特徴とする高抵抗シリコンウェーハ。 - 特許庁
  • In a method for writing, a position of a first data sector on a disk where write operation fails is located, the first data sector and a plurality of other data sectors near the first data sector are identified as a grown defect, and the locations of the first data sector and the plurality of other data sectors are stored in a grown defect list.
    書き込み方法は、書き込み動作が失敗したディスク上の第１データセクタの位置を見つけ、第１データセクタと第１データセクタ近傍にある複数の他のデータセクタを後発欠陥として特定し、第１データセクタと複数の他のデータセクタの位置を欠陥リストに格納する。 - 特許庁
  • To solve the problem wherein, when inspecting a defect by an image acquired by imaging a surface of a polycrystal silicon wafer such as a solar cell wafer by an imaging device, a pattern of a crystallite of the silicon wafer is imaged in a normal visible light illumination, and thereby discrimination from a defect existing on the surface is difficult.
    太陽電池ウェーハなどの多結晶シリコンウェーハの表面を撮像装置で撮像した画像によって欠陥検査を行う場合、通常の可視光照明では、シリコンウェーハの結晶体の模様が撮像されて、表面にある欠陥との判別が困難である。 - 特許庁
  • Radioactive rays penetrating the object irradiates against the picture pick-up panel 11, a produced second image data is wrote in the image memory 20, and the image data of the position represented by the defect information memorized in the defect information memory 26 is amended by the image data of normal image elements of this position.
    被写体を透過した放射線を撮像パネル１１に照射して作成した第２の画像データを画像メモリ部２０に書き込み、欠陥情報メモリ部２６に記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データを、この位置の周囲の正常画素の画像データを用いて補正する。 - 特許庁
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