「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 138 139 140 141 142 143 144 145 146 .... 288 289 次へ＞- The present invention also provides the specimen testing kit including further a test strip 14 and a cotton rod 15.
テストストリップ（１４）と、綿棒（１５）とを更に含む検体試験キットも提供されている。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus which can efficiently perform a setup test or hold test.
セットアップ試験又はホールド試験を効率よく行うことのできる試験装置を提供する。 - 特許庁 - COLLIMATION DEVICE, RADIOLOGY APPARATUS, TEST KIT, AND METHOD OF TESTING RADIOLOGY APPARATUS
コリメーション装置、放射線装置及び試験キット、並びに放射線装置を試験する方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR CHIP, PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, PROBE CARD AND PACKAGE TESTING METHOD
半導体チップおよび半導体装置用パッケ—ジ、並びに、プロ—ブカ—ドおよびパッケ—ジのテスト方法 - 特許庁 - To provide a means for sensitively, rapidly, simply and inexpensively testing a microorganism.
高感度で迅速簡便であり、なおかつ安価な微生物検査の手段を提供すること。 - 特許庁 - IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND APPARATUS FOR INSPECTING THE SAME
半導体集積回路装置のテスト方法、および半導体集積回路装置の検査装置 - 特許庁 - TOOL AND METHOD FOR TESTING WHICH SEX WILL BE BORN USING STEEL PENDULUM ROD
鋼鉄製振り子棒による子供の男、女産み分け方発見検査器具及び方法 - 特許庁 - The apparatus 18 transmits the request testing packet to the apparatus 10.
通信装置18では、要求された試験用パケットを試験用通信装置10へ送信する。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING DURABILITY OF METAL MATERIAL FOR LIVING BODY IN CELLULAR ENVIRONMENT, AND APPARATUS OF THE SAME
細胞環境下での生体用金属材料の耐久性試験法とその装置 - 特許庁 - The terminal outputs an output of the timing adjustment circuit to the outside when testing the memory.
端子は、メモリの試験時にタイミング調整回路の出力を外部に出力する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SOUNDNESS OF THERMOMETER FOR NUCLEAR REACTOR COOLING WATER
原子炉冷却水用温度計の健全性試験装置および健全性試験方法 - 特許庁 - SPINDLE STAGE FOR TESTING MAGNETIC HEAD HAVING VCM MECHANISM AND MAGNETIC HEAD AUTOMATIC LOADING/UNLOADING DEVICE
ＶＣＭ機構を有する磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッド自動着脱装置 - 特許庁 - GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE
プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE
被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁 - To more accurately perform positioning operation of an irradiation target and the positioning accuracy testing.
照射対象の位置決め操作や位置決め精度確認をより正確に実行すること。 - 特許庁 - CONTACT PROBE, ELECTRONIC CIRCUIT TESTING DEVICE USING IT, AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT PROBE
コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置、並びにコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁 - GRADATION WIRING FOR DISPLAY DEVICE, DRIVER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS STRESS TESTING METHOD
表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法 - 特許庁 - REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF
赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING INTEGRITY OF VIBRATION OF STEAM DRYER AND STEAM DRYER TESTING DEVICE
蒸気乾燥器の振動健全性を評価する方法及び蒸気乾燥器の試験装置 - 特許庁 - PICTURE PROCESSING METHOD AND DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE USING THE SAME
画像処理方法、画像処理装置およびそれらを用いた半導体デバイス試験装置 - 特許庁 - (2) Designation shall be granted upon application by those who wish to conduct the testing procedures.
２ 指定試験機関の指定は、試験事務を行おうとする者の申請により行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - Article 52 (1) The designated testing agency shall establish the Testing Procedure Rule that covers the matters related to execution of the testing procedures prescribed in the Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism and obtain an approval of the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism. The same shall apply to the event of any revision.
第五十二条 指定試験機関は、国土交通省令で定める試験事務の実施に関する事項について試験事務規程を定め、国土交通大臣の認可を受けなければならない。これを変更しようとするときも、同様とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (ii) In violation of the provision in paragraph (1) of Article 56, has abolished the entire testing procedures;
二 第五十六条第一項の規定に違反して試験事務の全部を廃止したとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - 3. Centrifugal balancing machines capable of testing at 5,000 rounds per minute or more
（三） 一分につき五、〇〇〇回転を超える回転数で試験することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - 2. Machines capable of testing rotors of 0.9 kilograms or more and 23 kilograms or less
（二） 重量が〇・九キログラム以上二三キログラム以下のロータを試験することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - (ii) When it has implemented Testing of Organisms not in accordance with the regulations in Article 19 paragraph (4).
二 第十九条第四項の規程によらないで生物検査を実施したとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - Note: Tip: If you get an error try compiling and testing prelink yourself(./configure ; make ; make check ).
注意:Tip:もしエラーが出たら、あなた自身でprelinkのコンパイル、テスト(./configure;make;makecheck)を行ってみてください。 - Gentoo Linux - Nofacility for testing whether an EJB module is deployed successfully is currently available.
EJB モジュールが正常に配備されて現在使用可能かどうかをテストする機能はありません。 - NetBeans - SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT HAVING TEST CIRCUIT AND METHOD OF TESTING SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT
テスト回路を有する自己同期型論理回路および自己同期型論理回路のテスト方法 - 特許庁 - CONTROL TIMING TEST SYSTEM FOR ENCODER, AND CONTROL TIMING TESTING METHOD OF THE ENCODER
エンコーダ装置の制御タイミング試験システム及びエンコーダ装置の制御タイミング試験方法 - 特許庁 - TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁 - METHOD FOR QUANTIFYING SUBSTANCE IN SOLUTION AND ALKALI/SILICA REACTIVITY TESTING METHOD OF AGGREGATE
溶液中の物質の定量方法及び骨材のアルカリシリカ反応性試験方法 - 特許庁 - To make efficient pursuing the causes of abnormalities generated in a testing unit and setting programs thereof.
試験ユニットやその設定用プログラムに発生した異常の原因追究を効率化する。 - 特許庁 - PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD
プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁 - GRINDING TOOL OF CONTACT PIN FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR IC
半導体ＩＣのテスト用コンタクトピンの研磨治具及び半導体ＩＣのテスト方法 - 特許庁 - To provide a browser test system and a method for it capable of efficiently testing various browsers.
種々のブラウザを効率的にテストできるブラウザテストシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁 - Major manufacturer of environmental testing equipment used to perform duration tests on products.
物の耐久テストを行うための、環境試験機とよばれる機械を生産する大手メーカー。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - (iv) methods for testing, analyzing, appraising, inspecting, assaying or measuring with regard to mineral or industrial products
四 鉱工業品に関する試験、分析、鑑定、検査、検定又は測定の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム - v) In case the person accredited has a laboratory in which he/she is personally to conduct product testing pertaining to the Certification, name and address of the laboratory and the division of testing method to be conducted in such laboratory (meaning the division of the testing method prescribed in Paragraph 1 of Article 57
五 登録を受けた者が自ら認証に係る製品試験を行う試験所を有する場合にあつては、その名称及び所在地並びに当該試験所で行う試験方法の区分（第五十七条第一項に規定する試験方法の区分をいう。） - 日本法令外国語訳データベースシステム - (i) When the testing laboratory no longer complies with the standards of Paragraph 2 of Article 57.
一 その試験所が第五十七条第二項の基準に適合しなくなつたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (xv) Equipment and devices used in the production or testing of military propellants, or parts thereof
（十五） 軍用火薬類の製造設備若しくは試験装置又はこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (xli) Goods listed below and usable for the detonation or testing of nuclear weapons
（四十一） 核兵器の起爆又はその試験に用いられる貨物であつて、次に掲げるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - SOCKET ASSEMBLY FOR TESTING IC CHIP, IC CHIP USING THE SAME, AND TESTER USING THE SOCKET ASSEMBLY
集積素子テスト用ソケット組立体、これを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタ - 特許庁 - DEVICE FOR TESTING SOIL BEARING WITH FIXED BEAM IN CAISSON WORK ROOM, AND SOIL BEARING TEST METHOD
ケーソン作業室における不動梁付き地耐力試験装置及び地耐力試験方法 - 特許庁 - DATA COMMUNICATION DEVICE, CENTRAL MANAGEMENT DEVICE, TESTING METHOD, REMOTE MANAGEMENT SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM
データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラム - 特許庁 - SUBSTRATE FOR MANUFACTURING PROBE CARD, TESTING DEVICE, DEVICE, AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MOLDING
プローブカード製造用基板、検査装置、３次元造形装置および３次元造形方法 - 特許庁 - Density value of a printed sample printed by means of a machine plate for testing is measured (Step 103).
試験用刷版で印刷した印刷サンプルの濃度値を測定する（ステップ１０３）。 - 特許庁 - To achieve testing of an active matrix array before the completion of a system or the like using the active matrix array.
アクティブマトリクスアレイを用いたシステム等の完成前にこのアレイのテストを可能とする。 - 特許庁 - HOLDING DEVICE FOR ELECTRONIC PART TEST, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE AND ELECTRONIC PART TEST METHOD
電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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