「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 140 141 142 143 144 145 146 147 148 .... 288 289 次へ＞- This invention makes an improvement in the IC tester for testing an object to be tested.
本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - TESTER FOR TESTING MAGNETIC CHARACTERISTIC OF VENEER OF ELECTROMAGNETIC STEEL PLATE AND METHOD OF MEASURING MAGNETIC CHARACTERISTICS
電磁鋼板の単板磁気特性試験用試験器および磁気特性測定方法 - 特許庁 - To provide a highly reliable apparatus for electrical test and an electrical testing method.
信頼性の高い電気的試験用装置及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁 - A testing body 20 was heated with a gas burner 11 and its surface temperature reached 1,000°C after 6 minutes.
試験体２０はガスバーナ１１で加熱し、表面は６分後１０００℃を達した。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device for reducing power consumption at testing.
本発明は、テスト時における消費電力を小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To shorten the testing time of the wafer of a semiconductor device.
この発明は、半導体装置のウェハ・テスト時間の短縮を図ることを特徴とする。 - 特許庁 - VIBRATION TESTING APPARATUS FOR CABLE CONNECTING SECTION OF GROUND COIL FOR SUPERCONDUCTING MAGNETIC LEVITATION TYPE RAILWAY
超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのケーブル接続部振動試験装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY
リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁 - The TB testing must be completed thirty days before the start of the student’s program.
ＴＢテストは生徒のプログラム開始３０日前までに完了していなければならない。 - Weblio Email例文集 - PROGRAM, APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATIC SOFTWARE TESTING
ソフトウェアの自動試験プログラム、ソフトウェアの自動試験装置、およびソフトウェアの自動試験方法 - 特許庁 - The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.
トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。 - 特許庁 - TESTING SOCKET, MANUFACTURING METHOD OF CONTACT TERMINAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
テスト用ソケット、接触端子の製造方法、並びに、半導体装置およびその製造方法 - 特許庁 - CREATION AND VERIFICATION METHOD OF SEQUENCE FILE OF AUTOMATIC ENGINE TESTING DEVICE USING ENGINE MODEL
エンジンモデルを用いた自動エンジン試験装置のシーケンスファイルの作成および検証方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF MIXED LOADED MEMORY SITE LOCATED ON COMPUTER CHIP AND INTEGRATED CIRCUIT
コンピュータチップ上にある複数のメモリ混載サイトを試験する方法及び集積回路 - 特許庁 - To provide a crossmatch testing container with erythrocyte solid-phased stably and uniformly.
赤血球が安定かつ均一に固相されたクロスマッチ試験用容器を提供すること。 - 特許庁 - ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS CAPABLE OF CONTROLLING AMOUNT OF DEW CONDENSATION AND CONTROL METHOD OF AMOUNT OF DEW CONDENSATION
結露量の制御可能な環境試験装置およびその結露量制御方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TRAFFIC AND AUXILIARY CHANNEL IN WIRELESS DATA COMMUNICATION SYSTEM
無線データ通信システムにおいてトラヒックおよび補助チャネルをテストする方法および装置 - 特許庁 - SIGNAL PROCESSOR, FAULT TESTING DEVICE, SIGNAL PROCESSING SYSTEM, SIGNAL PROCESSING METHOD AND STORAGE MEDIUM
信号処理装置、欠陥検査装置、信号処理システム、信号処理方法、及び記憶媒体 - 特許庁 - The internal-combustion engine testing apparatus 1 includes: a radiator 2; and a cooling water supply unit 3.
内燃機関試験装置１は、ラジエータ２と、冷却水供給ユニット３と、を備えている。 - 特許庁 - There are provided methods, port units, and computer readable storage media for testing network connections.
ネットワーク接続を試験するための方法、ポートユニット、およびコンピュータ可読保存媒体。 - 特許庁 - WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM
無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of improving cost reduction and timing precision.
コスト削減及びタイミング精度の向上が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - To select a substituting substance of HFC-134a when performing a similitude testing.
相似試験を実施するにあたり、ＨＦＣ−１３４ａの代替物質を選択する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH PROCESS MONITOR CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
プロセスモニタ回路を備えた半導体装置、その試験方法、並びにその製造方法 - 特許庁 - A prescribed density of plasma 7 is generated between an electrode 13 on the display substrate 11 including the TFT array of a tested circuit and a testing electrode 16, and a testing signal is transmitted between the electrode 13 and the testing electrode 16.
被試験回路であるＴＦＴアレイを含むディスプレイ基板（１１）上の電極（１３）と試験電極（１６）との間に所定の密度を有するプラズマ（７）を生成し、このプラズマ（７）を介して電極（１３）と試験電極（１６）との間に試験信号を伝送させる。 - 特許庁 - This invention relates to a method for testing constitution elements of a semiconductor memory.
本発明は、半導体メモリー構成要素の試験のための方法に関するものである。 - 特許庁 - METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE
無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁 - METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM
プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁 - To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.
半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁 - AIRCRAFT LANDING DEVICE HAVING SEVERAL ELECTROMECHANICAL ACTUATORS, AND TESTING METHOD THEREOF
複数の電気機械式アクチュエータを含む飛行機用着陸装置およびその試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
半導体集積回路、半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING CAPABILITY OF IRREVERSIBLY INHIBITING ENZYME HAVING MEDICINE-METABOLIZING FUNCTION
薬物代謝能力を有する酵素を不可逆的に阻害する能力を検定する方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体試験装置、半導体試験方法、半導体製造方法、ならびに半導体メモリ - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD FOR THE SAME
半導体集積回路およびその検査方法、半導体集積回路の調整方法 - 特許庁 - SCALP TESTING METHOD USING MATRIX METALLOPROTEASE 11 AS INDEX AND HAIR RESTORER SCREENING METHOD
マトリックスメタロプロテアーゼ１１を指標とした頭皮検査方法及び育毛剤のスクリーニング方法 - 特許庁 - DISEASE MARKER, DNA MICRO-ARRAY, METHOD FOR SCREENING DRUG AND METHOD FOR TESTING UVEITIS
疾患マーカー、ＤＮＡマイクロアレイ、薬剤スクリーニング方法及びぶどう膜炎検査方法 - 特許庁 - SPECIES-SPECIFIC ANTIGEN OF TRICHINELLA AND METHOD FOR TESTING INFECTION OF TRICHINELLA UTILIZING THE ANTIGEN
旋毛虫の種特異的抗原、及び該抗原を利用した旋毛虫感染の検査法 - 特許庁 - To easily understand testing contents by searching a packet from vector patterns (long patterns).
ベクタ・パターン（ロジックパターン）からパケットを探してテスト内容を理解することを容易にする - 特許庁 - RADIO COMMUNICATION TERMINAL TESTING METHOD, RADIO COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, AND RADIO COMMUNICATION TERMINAL
無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末 - 特許庁 - Then, the overcurrent detection result of the semiconductor device is outputted to testing equipment.
そして、半導体装置に対する過電流検出結果をテスト装備に出力する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR SYSTEM, METHOD OF TESTING CONNECTION OF SEMICONDUCTOR SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SYSTEM
半導体システム、半導体システムの接続テスト方法及び半導体システムの製造方法 - 特許庁 - ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS
多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁 - To provide a method for testing the effectiveness of ion implantation in a semiconductor wafer.
半導体ウェハにおけるイオン注入の有効性をテストする方法を提供する。 - 特許庁 - CONTROL DEVICE OF GAS TURBINE ENGINE, AND TESTING METHOD OF OVER SPEED PREVENTIVE FUNCTION PART OF GAS TURBINE ENGINE
ガスタービンエンジンの制御装置およびガスタービンエンジンの過回転防止機能部の試験方法 - 特許庁 - ETHERNET (R) TRANSMISSION APPARATUS AND METHOD OF TESTING ITS LINE QUALITY MONITORING FUNCTION
イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法 - 特許庁 - To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface.
本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。 - 特許庁 - SATELLITE INFORMATION AUTONOMOUS DISTRIBUTION SATELLITE, SATELLITE INFORMATION GATHERING SYSTEM AND SATELLITE GROUND TESTING SYSTEM
衛星情報自律配信衛星、衛星情報収集システム、衛星地上試験システム - 特許庁 - MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP
テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁 - NONDEFECTIVE POLYSILICON MOLDING AND METHOD FOR TESTING POLYSILICON MOLDING WITHOUT CONTAMINATION NOR DESTRUCTION
ポリシリコン成形体の汚染および破壊のない試験法および欠陥のないポリシリコン成形体 - 特許庁
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