「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • A maintenance person uses a fixed phone 2 to utter a voice signal for testing the downlink voice channel.
    保守者は固定電話機2から、下り音声回線試験用の音声信号を発する。 - 特許庁
  • The specimen collecting, processing and analytical assembly is designed for testing small volumes of body fluids, substances and secretions.
    少量の体液、体物質及び体分泌物を試験可能なように形成される。 - 特許庁
  • To provide a method for testing a material defect in a polysilicon molding without any destruction.
    多結晶シリコン成形体の材料欠陥を破壊なしに試験する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the ability of visible-ray cytotoxicity expression of a tested substance, etc.
    被験物質の可視光細胞毒性発現能力の検定方法等を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device driver for a disk device for quickly testing a dual port disk device.
    デュアルポートディスク装置のテストを短時間で行えるディスク装置用デバイスドライバを、提供する。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR CREATING AND TESTING PRE-FORMULATION, AND SYSTEM THEREFOR
    事前処方物を作製および試験するための装置および方法ならびにそのためのシステム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT
    半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁
  • The testing structure is an intermediate product and electrically connects with at least two probe pads.
    試験構造は中間物で、少なくとも二個の探針パッドに電気的に結合される。 - 特許庁
  • This results that the testing cost of the semiconductor integrated circuit can be reduced and the chip cost can be reduced.
    この結果、半導体集積回路の試験コストを削減でき、チップコストを削減できる。 - 特許庁
  • To provide a telephone switchboard testing device of improved operability for speaking time setting.
    通話時間設定の操作性向上を図った電話交換機試験装置を提供する。 - 特許庁
  • WOUND MORBID STATE TESTING METHOD AND METHOD OF CONFIRMING CURING EFFECT OF WOUND REMEDY
    創傷の病態の検査方法および創傷治療剤の治療効果の確認方法 - 特許庁
  • To provide a means for testing a desired scan chain of a plurality of devices.
    複数の装置における所望のスキャンチェーンをテストするための手段を提供する。 - 特許庁
  • To provide an LSI testing device which can easily test an electronic device.
    電子デバイスについて、容易に試験を行うことのできるLSI試験装置を提供する。 - 特許庁
  • CUTTING PROPERTY EVALUATION METHOD, LIFETIME EVALUATION METHOD OF ROTARY BLADE, AND CUTTING PROPERTY TESTING MACHINE
    切断性評価方法及び回転刃の寿命評価方法並びに切断性試験機 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, USE THEREOF, AND METHOD OF TESTING THE SAME
    半導体装置および半導体装置の使用方法ならびに半導体装置の試験方法 - 特許庁
  • PORTABLE TWIST TESTER AND ELASTIC CONSTANT/TWISTING STRENGTH TESTING METHOD
    携帯型ねじり試験器及びねじりを利用した弾性定数、ねじり強度試験方法 - 特許庁
  • To provide a system capable of testing usability with high reliability at a low cost in a short time.
    低コストで短期間に信頼性の高いユーザビリティテストを行えるシステムの提供。 - 特許庁
  • (ii) Where a person intends to manufacture or import a new substance for testing and research purposes
    二 試験研究のため新規化学物質を製造し、又は輸入しようとするとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a device of testing the dynamic balance and/or uniformity of a tire with a wheel, which can conduct a test in substantially the same number of steps as that when testing a single kind of a tire, even when testing a plurality kinds of tires significantly different in terms of hub hole diameter.
    ハブ穴径が大幅に異なる複数種類のタイヤを試験する場合であっても、単一種類のタイヤを試験する場合とほとんど変わらない工数で試験を実施可能な、ホイール付きタイヤの動釣合および/またはユニフォーミティ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • For testing the measured pin Di, a test mode signal TST is inputted.
    被測定ピンDiのテストを実施する場合には、テストモード信号TSTを入力する。 - 特許庁
  • The quenching test apparatus 10 is provided with a testing member 20 and a box body 30.
    本発明の焼入れ試験装置10は、試験部材20および筐体30を有する。 - 特許庁
  • To provide a penetration testing machine, quickly and easily installed in a predetermined attitude.
    迅速かつ容易に所定の姿勢に設置することのできる貫入試験機の提供。 - 特許庁
  • To provide a method for testing an integrated circuit by using an automatic test device.
    自動テスト装置12を使用して、集積回路10をテストする方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a flip-chip semiconductor package for testing bumps, and to provide a mothod of manufacturing the same.
    バンプテストのためのフリップチップ半導体パッケージ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and equipment for testing a tire under a reproducible situation.
    再現可能な様態でタイヤを試験するための方法及び機器を提供すること。 - 特許庁
  • SPECIMEN SIMULATING REDUCTION IN THICKNESS OF PIPE INTERIOR, MANUFACTURING METHOD OF TEST SPECIMEN AND TESTING METHOD
    減肉の発生した配管を模した試験体、試験体の作成方法、試験方法 - 特許庁
  • Additionally, the testing device 82 is furnished with a filling container 84 in which gas for fuel is filled.
    また、試験装置82は、燃料用ガスが充填される充填容器84を備える。 - 特許庁
  • To provide a probe and a method for easily and accurately testing HLA genes.
    簡便かつ正確な、HLA遺伝子の検査のためのプローブおよび方法の提供。 - 特許庁
  • The light is received by a light receiving part 80 of the testing device 70, and the address information of the fire detector in the alarm-sounding state is specified by a control part 81 of the testing device 70, and simultaneously the address is displayed on a display part 82 of the testing device 70.
    そして、その光が試験装置70の受光部80で受光され、試験装置70の制御部81によって前記発報状態にある火災感知器のアドレス情報が特定されると共に、そのアドレスが試験装置70の表示部82に表示される。 - 特許庁
  • To test a base station, without providing an extra setting place for a base station testing apparatus.
    基地局試験装置の設置場所を別途設けることなく基地局試験を行う。 - 特許庁
  • To provide an automatic penetration testing machine capable of automatically carrying out hammering work of a penetration rod.
    貫入ロッドの打撃作業を自動的に行える自動貫入試験機の提供。 - 特許庁
  • To realize a network access management technique with high reliability and a minimized testing load.
    信頼性が高く設計やテストの負担の少ないネットワークアクセス管理技術を実現する。 - 特許庁
  • To obtain an inexpensive egg testing apparatus having no effect on the quality of an egg.
    卵の品質に影響を及ぼすことがない廉価な検卵装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing method increased in the correlation with the actual adhesion release strength of actual cardboard.
    実際の板紙の接着剥離強度と相関の高い、試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To fix an LSI to a testing device easily and surely without using an expensive IC socket.
    高価なICソケットを使用せず、LSIを容易かつ確実に試験装置に固定する。 - 特許庁
  • To provide an improved circuit and a method for testing deterioration of a ferroelectric memory cell.
    強誘電体メモリセルの劣化をテストする改良した回路及び方法を提供する。 - 特許庁
  • This game machine testing device is provided with a lower roller 61 and an upper roller 71.
    この遊技機検査装置は下側ローラ61及び上側ローラ71を備えている。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT IN COMPUTER SYSTEM USING FREQUENCY MARGIN
    周波数マージンを使用してコンピュータシステム内のコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁
  • This continuity testing device is provided with an auxiliary part U having an outline shape allowing fitting in the connector.
    検査器に、コネクタに嵌合できる外形形状を有する補助部Uを備えた。 - 特許庁
  • ADAPTIVE LEARNING OF SET OF ACTUAL TIME MEASUREMENT VALUE AND AUTOMATIC TESTING SYSTEM THEREOF
    実時間測定値の集合を適応学習するための方法及び自動試験システム - 特許庁
  • In each testing element, a measuring and computing circuit is arranged and connected to the semiconductor inspection device.
    各々の試験素子に測定・演算回路を設け、半導体検査装置に接続する。 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING AND TESTING POLARITY INVERTING ABILITY OF HIGH-VOLTAGE INSULATED EQUIPMENT FOR DC POWER TRANSMISSION
    直流送電用高電圧絶縁機器の極性反転性能評価試験方法 - 特許庁
  • The trimming codes for testing are different from the adequate trimming code and used only when a test is conducted.
    テスト用トリミングコードは、適正トリミングコードと異なっており、テスト時にのみ用いられる。 - 特許庁
  • To measure the output timing precisely more than the resolving power of the IC testing device.
    当該装置の具える分解能以上の細かさで出力タイミングを測定する。 - 特許庁
  • To provide a game machine testing device which facilitates its connection with a game machine.
    遊技機と遊技機試験装置との接続を容易にした遊技機試験装置を提供する。 - 特許庁
  • SURFACE-HOLDING MOVEMENT/GUIDING MECHANISM AND CONTINUITY TESTING DEVICE FOR WIRING BOARD AND THE LIKE BY USING THE MECHANISM
    面保持移動案内機構およびこれを用いた配線基板等の導通試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING VOLTAGE GENERATOR OF IC TESTING DEVICE
    IC試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置 - 特許庁
  • METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN
    半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁
  • To realize an apparatus for testing sealability which can surely text the sealability for a short time.
    短時間で確実に密封性の検査を行い得る密封性検査装置を実現する。 - 特許庁
  • TRAVEL CONDITION SIMULATION TESTING SYSTEM AND TRAVEL CONDITION SIMULATOR FOR VEHICLE MOUNTED WITH DRIVE MOTOR
    駆動モータを搭載した車両の走行模擬試験システムおよび走行状態模擬装置 - 特許庁
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