「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(146ページ目)

「Testing」を含む例文一覧(14414)

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To enhance efficiency in manufacturing and testing a lens-attached optical fiber such as an optical fiber collimator.
光ファイバコリメータ等、レンズ付き光ファイバの製造効率、検査効率を向上させる。 - 特許庁
About 150,000 people took part in the poll conducted by the Japan Kanji Aptitude Testing Foundation.
日本漢字能力検定協会によって行われた投票に約15万人が参加した。 - 浜島書店 Catch a Wave
which was testing about 34 billion keys per second at its peak.
このコンテストに参加した全世界のコンピュータ群は、ピーク時に秒速340億鍵をためしていた。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
The shielding body 14 is curved to form a sector shape along a surface of the testing body 16, and the flaw detection coil is arranged sector-shapedly in the coil part 20 along the surface of the testing body 16.
遮蔽体１４は、試験体１６の表面に沿って扇形に湾曲しており、コイル部２０は、試験体１６の表面に沿って探傷コイルが扇形に配置されている。 - 特許庁
To enable a tester to arbitrarily change testing conditions except the fixed code transmitting-receiving condition specified by an exchange at the time of testing a multiple-frequency encoder used for the exchange.
交換機に使用される多周波符号器の試験を、交換機が規定している固定の符号送受信条件以外に、試験者が任意に条件を変動させて行えるようにする。 - 特許庁
To provide a friction testing machine capable of measuring easily rolling friction and sliding friction by the compact testing machine of a suppressed cost, and capable of obtaining a treading behavior of a tire close to actual one.
転がり摩擦と滑り摩擦を小型でコストを抑えた試験機で容易に測定でき、かつタイヤの実際の接地挙動に近づけることが可能な摩擦試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing waterproofness, which is compatible with testing the waterproofness in a liquid such as water and lightening the correction work at the time that the bad waterproofness is detected.
水等の液体中で防水性を試験することと、防水不良検出時の修正作業の軽減を図ることを両立することができる防水試験方法を提供する。 - 特許庁
To enhance a testing workability by easily mounting a testing device to a speed adjustment machine even in the case where a surrounding space of the speed adjustment machine is narrow.
本発明は、調速機の周囲のスペースが狭い場合でも、調速機への取付を容易に行えるようにし、試験の作業性を向上させることを目的とするものである。 - 特許庁
To provide a light irradiation device capable of setting the nature of light irradiating to an image sensor of a testing target without using a mechanical driving mechanism, and to provide an image sensor testing device.
機械的な駆動機構を用いることなく、試験対象の撮像素子に照射する光の性質を設定できる光照射装置および撮像素子の試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device and method for testing a model structure for testing, with a simple model, a physical phenomenon occurring when a mobile unit moves in the structure.
構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for testing a disk defect, capable of testing the surface undulation of a disk, and improving accuracy of determining acceptability of the disk.
ディスクの表面のうねりを検査することが可能で、ディスクの合否判定の精度を向上させることができるようなディスク欠陥検査方法および検査装置を提供することになる。 - 特許庁
To provide a method of testing a plasma reactor multi-frequency matching network capable of testing all active operation frequencies simultaneously, and provide a multi-frequency dynamic dummy load.
同時にアクティブな全ての動作周波数に対して試験可能なプラズマリアクタ多周波数整合回路網を試験する為の方法および多周波数ダイナミックダミー負荷を提供すること。 - 特許庁
To provide a PTC element hardly causing trouble such as a short circuit during on/off testing for testing overload use condition characteristics; and a method of manufacturing the same.
過負荷の使用状態特性を試験するためのオンオフ試験時に、短絡などの不具合が発生するおそれが少ないＰＴＣ素子およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a gene testing method capable of testing single nucleotide polymorphisms (SNPs) in a plurality of variation regions at a low cost by a simple operation and capable of realizing gene diagnosis on a clinical site.
安価かつ簡便な操作で複数変異領域（ＳＮＰ）の検査が可能な遺伝子検査方法を提供し、臨床現場における遺伝子診断を現実のものとすること。 - 特許庁
To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.
半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁
The short circuit testing device 1 evaluates safety of a battery 10 in forcibly generating internal short circuit by sticking and passing through the nail 4 into the battery 10 for testing.
短絡試験装置１は、試験用の電池１０に対して釘４を突き刺して貫通させ、強制的に内部短絡を発生させたときの電池１０の安全評価を行う。 - 特許庁
To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.
高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁
To provide a monitoring apparatus and a testing method that can structurally simply and easily identify an anomalous part in a testing system in which a plurality of apparatuses intercommunicate.
複数の装置間で通信を行なう試験システムにおいて、異常が発生した部分を簡易な構成で容易に特定することが可能なモニタ装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an ultraviolet flaw-detection light of a simple constitution capable of efficiently illuminating with ultraviolet light a test region of a flaw detection object to be subjected to penetrant testing or magnetic particle testing.
浸透探傷試験や磁粉探傷試験に供される被探傷体の検査領域を効率的に紫外線照明することのできる簡易な構成の紫外線探傷灯を提供する。 - 特許庁
To provide a subscriber line testing system, a subscriber line testing method and a program, for making it possible to perform a test reception board connection service (test reception, fault reception) in an IP network.
ＩＰ網において、試験受付台接続サービス（試験受付、故障受付）を行うことを可能にする、加入者線試験システム、加入者線試験方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a calender for testing which can individually execute a plurality of tests for developing a novel film product with the use of a novel resin material by using a small amount of a testing material.
新たな樹脂材料を用いて新しいフィルム製品を開発するための複数のテストを、小量の試験材料で、個別に実施することができるテスト用カレンダ装置を提供する。 - 特許庁
To provide the acceleration testing device and acceleration testing method of software for investigating the situations of a failure in the acceleration test of software including an application program in detail.
アプリケーションプログラムを含むソフトウェアの加速試験における不具合の状況を詳細に調査することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a corrosion testing method and a corrosion testing system suitable for evaluating corrosion resistance of electric wires with a terminal used under an environment in which corrosion relatively gradually advances.
腐食が比較的緩やかに進行する環境下で利用される端子付き電線の耐食性の評価に適した腐食試験方法、及び腐食試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a corrosion testing apparatus and a corrosion testing method that can generate a corrosion solely due to erosion-corrosion and that can accurately evaluate the corrosion by erosion-corrosion.
エロージョン−コロージョンによる腐食のみを発生させることができ、エロージョン-コロージョンによる腐食を精度よく評価できる腐食試験装置及び腐食試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a simulated wheel device and a vehicle testing device, capable of testing, in a more accurately simulated state, a state of an axle when an actual vehicle is travelling on a road.
実車両が道路を走行しているときの車軸の状態をより正確に模擬した状態で試験を行うことが可能な模擬車輪装置および車両試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a material testing machine that accurately measures a position of a bench mark using the entire area of a bench-mark profile, and a method for measuring a bench mark of a material testing machine.
標線のプロファイルの全域を利用して標線の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の標線測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a connector, capable of connecting a testing device, and to provide a printed circuit board at a comparatively low cost, and which is especially suitable for uniform basis for achieving a JTAG testing device.
比較的に低コストで試験装置とプリント回路板を接続することができ、特に、ＪＴＡＧ試験装置を実現するための統一基準に適合したコネクタを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of achieving self-diagnosis function in a state where a DUT is connected to the testing device, without greatly increasing a substrate surface or component cost.
基板面積や部品コストを大幅に増大させることなく、試験装置にＤＵＴを接続させたまま自己診断機能を実現することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test system, a tester and a testing method for performing the test of all sensors without designating each sensor for testing a plurality of sensors.
複数の感知器の試験を行なうのに、個々の感知器をその都度指定せずとも、全ての感知器の試験を行なうことの可能な試験システムおよび試験器および試験方法を提供する。 - 特許庁
The gene polymorphism relating to the metabolic ability of a drug metabolism enzyme, CYP2C8, can be detected by utilizing the primer set, probe, testing agents including the same and the testing method.
本発明に係る、プライマーセット、プローブ及びそれらを含む検査薬、並びに検査方法により、薬物代謝酵素ＣＹＰ２Ｃ８の代謝能に関連する遺伝子多型を検出できる。 - 特許庁
To provide a testing device and a type-switching method capable of shortening a type switching operation time of a device, in testing of the semiconductor device under a low-temperature environment.
低温環境下での半導体デバイスの試験における該デバイスの品種切替作業時間を短縮させることができる試験装置及び品種切替方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a testing system and a testing method for onboard electrical components, allowing precise tests for the operation of various onboard electrical components by running a simulation which precisely simulates the entire vehicle.
車両全体を正確に模擬したシミュレーションを行って、各種車載電装品の動作を正確に試験することが可能な車載電装品試験システム及び試験方法を提供する。 - 特許庁
In an equivalent load testing circuit for testing a thyristor module 1, a capacitor is divided into capacitors 21, 22 in series, and a diode 91 is connected in parallel with the capacitor 22.
サイリスタモジュール１の試験を行う等価負荷試験回路において、コンデンサが直列に２分割されてコンデンサ２１、２２とされ、コンデンサ２２にダイオード９１が並列接続されている。 - 特許庁
TESTING SYSTEM, CLIENT DEVICE AND RELAY DEVICE CONTAINED IN THE SYSTEM, TESTING METHOD FOR COMMUNICATIONS APPARATUS, AND PROGRAM PRODUCT FOR CAUSING COMPUTER TO FUNCTION AS CLIENT DEVICE OR RELAY DEVICE
テストシステム、そのシステムに含まれるクライアント装置および中継装置、通信機器のテスト方法、ならびに、コンピュータをクライアント装置または中継装置として機能させるためのプログラム - 特許庁
To provide a specimen testing vessel set and a specimen testing kit capable of using a test strip simply and safely, and capable of preventing a specimen extract from being diffused when stored and carried.
テストストリップを簡便且つ安全に使用することができ、保存および持ち運び時に検体抽出液の拡散を防止可能な検体試験容器セットおよび検体試験キットの提供。 - 特許庁
The planarity between the surface of a testing system (20) such as a bottom face of a chuck (16) (or substrate 17) and an interface (28) or an inspection head (22) is checked before testing a substrate.
チャック（１６）（または基板（１７））と、インターフェース（２８）または検査ヘッド（２２）の底面のような、試験システム（２０）の表面との間の平面性をチェックした後、基板を試験する。 - 特許庁
This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.
同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁
To provide a method for testing a semiconductor device capable of testing a semiconductor device outputting a reference clock DQS, used for data delivery, simultaneously to data reading, with high accuracy in a short period.
データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックＤＱＳを出力する半導体デバイスを短時間に高精度に試験する試験方法を提案する。 - 特許庁
To provide a fuse clip with a variable resistor, and a testing system and a testing method capable of attaining high work efficiency in an alarm output test or the like by a power company.
電力会社などにおける警報出力試験などの作業の効率化を図ることができる可変抵抗付きヒューズクリップ，それを用いた試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of shortening a total testing period by carrying out a determination processing at a side of measurement module rather than conventionally at a side of control device.
従来は制御装置側で行なっていた判定処理を計測モジュール側で行なえるようにして、トータルのテスト時間を短縮できるようにした半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide an acceleration testing method of an elastic paving material which enables the long-term evaluation of the durability or the like of the elastic paving material, and an acceleration testing machine therefor.
弾性舗装材の耐久性等の長期評価を短時間で出すことができる、弾性舗装材の促進試験方法およびそれに用いられる促進試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing apparatus testing the receiving performance of a communication terminal apparatus to be tested and judging whether the communication terminal apparatus is loaded with a selective combining function.
試験対象の通信端末装置の受信性能を試験することができるとともに、当該通信端末装置に選択合成機能が実装されているか否かを判断すること。 - 特許庁
A testing CPU 161 is a CPU for internally storing a ROM and a RAM, and makes a test signal to be supplied to a testing device connected to an external part of a game machine.
試験用ＣＰＵ１６１は、ＲＯＭおよびＲＡＭを内蔵したＣＰＵであって、遊技機外部に接続される試験装置等に供給するための試験信号を作成する。 - 特許庁
To provide a weather resistance testing apparatus capable of simultaneously testing at one side and other side of one test specimen under different weather conditions.
本発明は、１つの被試験体の一方側と他方側で異なる耐候条件で同時に試験を行うことが出来る耐候試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁
To provide a testing device of existence of cable disconnection and a test method of existence of the cable disconnection capable of testing with high reliability on a neutron detector and a test of existence of the cable disconnection.
中性子検出器とケーブルの断線有無の試験について信頼性の高い試験ができるケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a shaft for engine testing having low torsional rigidity with sufficient strength, and to provide a method for easily manufacturing the shaft for engine testing.
十分な強度を確保しつつ、ねじり剛性の小さいエンジン試験用シャフトを提供すること、および、そのエンジン試験用シャフトを容易に製造することのできる製造方法を提供する。 - 特許庁
Dummy sunlight emitted from the LED light source for the testing devices is applied to solar cells housed in a testing chamber to evaluate the output characteristics of the solar cells.
又、この試験装置用ＬＥＤ光源２３から出射される擬似太陽光を試験室内に収容された太陽電池に照射して太陽電池の出力特性を評価する。 - 特許庁
To provide an environment testing apparatus capable of sending out a work reaching a predetermined temperature to a testing position at a short interval without extending the pallet feed passage in a temperature tank.
温度槽内のパレット搬送路を長くすることなく、所定温度に到達しているワークを短い間隔で試験位置に送り出すことができる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.
本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.
光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

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日英対訳文対応付けデータ
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原題：”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ”

邦題：『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
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日本語版の著作権保持者は ©1999
山形浩生<hiyori13@alum.mit.edu>である。この翻訳は、全体、部分を問わず、使用料の支払いなしに複製が認められる。