「Unit test」を含む例文一覧(1133)

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  • The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.
    試験回路１４は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット１２に送信する。 - 特許庁
  • The arithmetic circuit 30 is provided with a display unit 30b for displaying one or both of the weight of the wheel or axle of the test vehicle transmitted by radio and its average value.
    演算回路３０は、無線送信された試験車両の車輪または車軸の重量と、その平均値との一方または双方を、表示する表示器３０ｂを、備えている。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing system capable of managing unitarily information of a cooling device provided in each semiconductor test unit, from a host computer for managing the semiconductor testing system.
    半導体試験システムを管理するホストコンピュータから、各半導体試験ユニットが備える冷却装置の情報を一元的に管理することを可能とした半導体試験システムを実現する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test apparatus which can set sufficient waiting time for each unit and simplify the contents of a program and time and effort for creating it.
    各ユニットに対して十分な待ち時間を設定することが可能になるとともにプログラムの内容および作成の手間を簡略化することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • Thanks to unit tests, you can create a test suite for your class, and then reimplement your class with the security of knowing that as long as the new class passes the tests, applications that depend on the class will work.
    まずテストスイートを作成し、新しいクラスがテストにすべて合格するように保ったまま再実装を行っていけば、アプリケーションに不具合が起きる事はないでしょう。 - PEAR
  • A new event detecting unit 108 detects the introduction of a new gas tool from the unsteady behaviors of the gas flow rate caused by a test run of the new gas tool introduced.
    新しいガス器具の導入時において、当該ガス器具の試運転に起因するガス流量の非定常的挙動から、新事象検知部１０８は新しいガス器具の導入を検知する。 - 特許庁
  • A supply unit 10 has the strip film 40, is capable of supplying the strip film 40 to the test landing portion 7 and is arranged outside the body 1 of the apparatus.
    供給装置１０は、帯状フィルム４０を収蔵すると共に当該帯状フィルム４０をテスト着弾部７に供給することができ、かつ、装置本体１外に設けられている。 - 特許庁
  • According to the schedule function, the inspection efficiency is improved and the inspection time can be reduced, by changing the order of the test items, in response to the use condition of the measurement unit.
    スケジュール機能により、測定ユニットの使用状況に応じて試験項目の順番の変更を行うことで、検査効率を向上させ、検査時間を削減することが可能となる。 - 特許庁
  • When a mobile unit 1a attaches CC=1 to a segment 1 of the first session and transmits the resulting segment 1, since '0' is chached in a cache, a TAO (TCP accelerated open) test in the TCP router 4 is successful.
    移動機１ａが、初回のセッションのセグメント１にCC=1を付加して送信すると、キャッシュに「０」がキャッシュされていることからＴＣＰルータ４におけるＴＡＯテストは成功する。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.
    本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁
  • The coverage measurement unit acquires a control program, extracts execution paths of the control program, extracts an FSM from among the extracted execution paths, narrows down a test object when extracting the execution path or the FSM, acquires test execution log information, refers to the acquired test execution log information, and performs coverage measurement on the basis of the extracted FSM.
    カバレージ測定装置は、制御プログラムを取得し、制御プログラムの実行パスを抽出し、抽出した実行パスの中からＦＳＭを抽出し、上記実行パスの抽出時又はＦＳＭの抽出時にテスト対象の絞り込みを行い、テスト実行ログ情報を取得し、取得したテスト実行ログ情報を参照し、抽出したＦＳＭに基づいたカバレージ測定を行う。 - 特許庁
  • The failure block detection circuit 10 is activated in the initial stage of test control sequence when batch write test is performed in units of batch erase or write for unit erase of the memory cell array 1 and a control circuit 7 controls interruption of drive voltage supply to a failure memory cell based on the output from the failure block detection circuit 10 in the test sequence thereof.
    不良ブロック検出回路１０は、メモリセルアレイ１の消去単位での一括消去又は書き込み単位での一括書き込みのテストを行う際にそのテスト制御シーケンスの初期に活性化され、制御回路７はそのテストシーケンスにおいて、不良ブロック検出回路１０の検出出力に基づいて不良メモリセルへの駆動電圧供給の停止を制御する。 - 特許庁
  • An electron beam irradiating unit 3 has a first deflector 2a for deflecting an electron beam to scan a surface of a test piece, and an electron detecting optical system 4 has a second deflector 21a for deflecting a test piece image beam so as to display a desired test piece image on an image displaying means 12 in synchronization with an output signal of the first deflector.
    電子ビーム照射手段３には電子ビームを偏向させて試料面を走査させる第１の偏向器２ａが設けられ、電子検出光学系４には前記第１の偏向器の出力信号に同期させて試料画像ビームを画像表示手段１２において所望の試料画像を表示するように偏向させる第２の偏向器２１ａを備えた構成とした。 - 特許庁
  • The multifunctional fatigue testing apparatus 1 comprises a test piece holder 3 capable of holding the test piece T in any of a vertical direction and a horizontal direction, and a force applying unit 4 capable of selectively or simultaneously operating a mechanical load of the vertical direction or the horizontal direction to the held test piece T, assembled in a thermostat 2 capable of arbitrarily controlling internal temperature and humidity.
    本発明の疲労試験装置１は、試験体Ｔを垂直方向および水平方向のいずれにも保持しうる試験体保持部３と、保持された前記試験体Ｔに垂直方向または水平方向の力学的負荷を選択的に、または双方同時に作用させうる加力部４とが、内部の温湿度を任意に制御しうる恒温恒湿槽２内に組み込まれて構成される。 - 特許庁
  • In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.
    Ａｒガスを満たした釘刺し用容器２内でＬｉイオン電池ユニット３の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にＬｉイオン電池ユニット３から発生したガスが釘刺し用容器２内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器２から配管７０を通ってバッファタンク８０にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁
  • The first semiconductor device is provided with the first switching circuit for switching the signal input from the outside of the semiconductor unit so as to be input into the second semiconductor device, in a test mode, and the second switching circuit for switching the signal input from from the second semiconductor device into the first semiconductor device so as to be output to the outside of the semiconductor unit in the test mode.
    第１の半導体デバイスが、テストモード時に、半導体装置の外部から入力される信号が第２の半導体デバイスに入力されるように切り替える第１の切替回路と、テストモード時に、第２の半導体デバイスから第１の半導体デバイスに入力される信号が半導体装置の外部へ出力されるように切り替える第２の切替回路とを備える。 - 特許庁
  • To surely detect bonding failure, when the bonding failure is present between an electronic component and a wiring substrate, in a continuity test method and a continuity test device, in which the bonding failure between the electronic component and the wiring substrate in a wiring substrate unit is detected, by energizing an electric circuit formed in the wiring substrate unit that has electronic components mounted therein.
    配線基板に電子部品が実装されて成る配線基板ユニットに形成された電気回路に通電して、該配線基板ユニットにおける電子部品と配線基板との接合不良を検出する導通試験方法及び導通試験装置において、配線基板と電子部品とのはんだ接合部に接合不良が存在する場合に、確実にその接合不良を検出する。 - 特許庁
  • The infinitesimal substance guiding apparatus comprises: a first electrode 2; the second electrode 3 disposed at an interval to the first electrode 2; a test piece holder 4 for holding the test piece 5 having the examining surface capable of carrying the substance; an infinitesimal substance supply unit 6 for supplying the infinitesimal substance; and a voltage applying unit 7 for applying a voltage to the first electrode 2 and the second electrode 3.
    微小物質誘導装置は、第１電極２と、第１電極２に対して間隔を隔てて配置された第２電極３と、微小物質を担持可能な検査面をもつ試験片５を保持する試験片保持部４と、微小物質が供給される微小物質供給部６と、第１電極２及び第２電極３に電圧を印加する電圧印加部７とを具備している。 - 特許庁
  • The ingrdient measuring device 100 has a measuring means 900 which measures the quantity and /or quality of glucose detected by a test paper (a detection unit), a display 1,200 for indicating results measured by the measuring means 900, and a photogenesis information means 400 which reports by photogenesis that the humor has reached the test paper (the detection unit).
    成分測定装置１００は、試験紙（検出部）で検出されたブドウ糖の量および／または性質を測定する測定手段９００と、測定手段９００により測定された測定結果を表示する表示部１２００と、表示部１２００とは異なる箇所に設けられ、体液が試験紙（検出部）に到達したことを発光により報知する発光報知手段４００とを備えている。 - 特許庁
  • The adjacent first lead wiring 4 and the second lead wiring 5 of the laser unit 1 are arranged so that they are partially superposed and the direction of the optical axis of a laser chip 2 is differentiated, thereby an area required for contacting with test pins for test is secured and the compact laser unit 1 is provided without deteriorating mass productivity.
    レーザーユニット１の相隣接する第１リード配線４と第２リード線５とを、レーザーチップ２のレーザー光の光軸方向が異ならせるとともに、光軸方向に直交する面方向に一部を重畳させて配置させることで、検査用のテストピンがコンタクトする面積を確保し、量産性を悪化させることなく小型のレーザーユニット１を実現することが出来る。 - 特許庁
  • A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.
    導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁
  • The loss per unit length is acquired at the time point when the electronic test device is calibrated, the loss per unit length is acquired again at fixed time interval during an operation of the device, so as to determine the change by an environmental condition in the calibration of the device.
    電子テスト装置が校正される時点で単位長さあたりの損失を取得し、そしてこの装置の動作中に一定時間間隔でそれを再度取得することにより、その装置の校正の環境条件による変化を決定することが出来る。 - 特許庁
  • A print unit 35 which is arranged on the upstream side from an exposure unit 3 forms a test print for judging the tilt quantity and snaking quantity of a printing paper 11 at a time when the printing paper 11 passes a printing position on the reverse surface of the printing paper 11.
    露光ユニット３よりも上流側に配置された印字ユニット３５において、印画紙１１が印字位置を通過する時点における印画紙１１の傾き量および蛇行量を判断するためのテスト用印字を、印画紙１１の裏面に形成する。 - 特許庁
  • When receiving updating information inputted from the connection determination unit 224, the local updating unit 228 adds discrimination information for discriminating the information to be one newly added to the information on the test, and outputs the result to the local DB 230.
    また、ローカル更新部２２８は、接続判定部２２４から入力された更新情報を受け入れると、試験に関する情報に対して新たに追加された情報であることを識別するための識別情報を付加して、ローカルＤＢ２３０に対して出力する。 - 特許庁
  • To provide an electronic unit inspection device for accurately positioning a printed wiring board with respect to a test head even if potting is executed for the printed wiring board of an electronic unit.
    収納ケース５内にプリント配線板６を収納し、更にポッティングした電子ユニット４では、各コネクタ６１内の端子にプローブピン２１を上方から当接して電子ユニット４の検査をする際、テストヘッド２に対してコネクタ６１を正確に位置決めしなければならない。 - 特許庁
  • An accessor class can facilitate the execution-time binding to a special unit to be tested, and also facilitates that a test produced in the development environment 310 can use information according to context required for accessing the unit to be tested.
    アクセサクラスは特定のテスト対象ユニットへの実行時バインディングを容易にすることができ、開発環境３１０において制作されたテストがテスト対象ユニットにアクセスするために必要なコンテキストに応じた情報を使用できるようにすることも容易にする。 - 特許庁
  • A packet generation unit is provided in the repeating device, a packet becoming the limit band of transfer performance of a switch device in the repeating device is generated in the packet generation unit for the standby system periodically or at the time of switching, and then communication test is performed and the matching is checked.
    中継装置内にパケット生成部を持ち、待機系に定期的に、もしくは切替時にパケット生成部で中継装置内のスイッチデバイスの転送性能の限界帯域となるパケットを生成し、疎通テストを実施し、整合性の確認を行なう。 - 特許庁
  • A system developer (a user) A selects desired software components (S101-S104), generates unit parameters (S105) and application programs (S105), executes a linkage test for them, and transmits (orders) a system configuration if no problem is found (S107-S109).
    システム開発者（ユーザ）Ａは所望のソフトウェア部品を選定し(S101〜S104)、ユニットパラメータ(S105)、アプリケーションプログラムを作成し(S105)、連動テストを行い、問題がない場合にシステム構成情報を送信(発注)する(S107〜S109)。 - 特許庁
  • This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.
    本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
  • The input converting unit 2 is constituted of an outer box 3, inner boxes 4a and 4b capable of being taken in and out of the outer box 3, and test terminals 5a and 5b provided for the surfaces of the inner boxes 4a and 4b.
    入力変換ユニット２は、外箱３と、該外箱３に対して出し入れできる内箱４ａ、４ｂと、該内箱４ａ、４ｂの表面に設けられた試験端子５ａ、５ｂから構成されている。 - 特許庁
  • A fault-generating vector specifying unit 8 inputs data D2, regarding a comparison result from the comparator 11, and specifies a fault generating vector from a plurality of test vectors TB1 to TBn.
    異常発生ベクタ特定部８は、比較結果に関するデータＤ２を比較器１１から入力し、そのデータＤ２に基づいて、複数のテストベクタＴＢ１〜ＴＢｎの中から、異常発生ベクタを特定する。 - 特許庁
  • When the signal is received, the wireless base unit 6 turns on an indicator for reception confirmation or sounds a buzzer but does not send the test signal to a center 2 (step 32).
    無線親機６は、信号を受信すると、受信確認用の表示灯（図示せず）の点灯またはブザー（図示せず）を鳴動等行うが、センタ２に対して試験信号の移報は行わない（ステップ３２）。 - 特許庁
  • To provide a loading device capable of simulating a vehicle travel condition near to that of an actual vehicle by absorbing a driving output from a driving unit, in a performance test of the vehicle.
    車両の性能試験において、駆動装置の駆動出力を吸収することで車両走行状態を模擬する負荷装置が、より実車両に近い車両走行状態を提供する。 - 特許庁
  • To provide a tray transfer unit capable of preventing product damage by detecting double device failure to allow rapid measures when the double device failure occurs, and to provide an automatic test handler equipped therewith.
    ダブルディバイス不良が発生した場合、これを検出して迅速な対応措置が行われることによって、製品損傷の防止を可能にするトレイトランスファーユニットとそれを備える自動テストハンドラを提供する。 - 特許庁
  • To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.
    対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁
  • When the distribution of the contents with the high image quality is specified from an operation unit 27, transmission of test data for transfer speed confirmation is requested from a transfer rate confirmation part 22 to a video distribution device 10.
    操作部２７から高画質でのコンテンツの配信が指定されると、転送レート確認部２２から動画配信装置１０に対して転送速度確認用の試験データの送信を要求する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device of good yield having high degree of integration per unit area by stacking a plurality of highly reliable semiconductor chips that have cleared a final test after burn-in treatment.
    バーンイン処理後、ファイナルテストを完了した信頼性の高い複数の半導体チップを積層することにより、単位面積当たりの集積度が高く、歩留りが良好な半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a data processing system on an integrated circuit with a micro processor 1 and peripheral devices as well as an emulation unit capable of debugging and emulating the integrated circuit when an external test system is connected.
    外部テストシステムへの接続時に集積回路のデバッグとエミュレーションが行えるエミュレーションユニットと共に、マイクロプロセッサ１および周辺装置を備えた集積回路上のデータ処理システムを提供する。 - 特許庁
  • A main unit 400 diagnoses the ultrasonic probe 200 based on the situation in which the ultrasonic probe 200 receives the reflection ultrasonic waves from a test object disposed facing the ultrasonic probe 200.
    メインユニット４００は、超音波プローブ２００に対向配置されたテスト物体からの反射超音波を超音波プローブ２００が受信する状況に基づいて超音波プローブ２００を診断する。 - 特許庁
  • The test track upon which trial write is performed is reproduced while changing the reproducing power for the unit of a plurality of sections and based upon a jitter value detected by a jitter detector 112, a suitable reproducing power Pr is obtained.
    試し書きされたテストトラックを複数のセクション単位で再生パワーを変化させながら再生し、ジッタ検出器１１２により検出されるジッタ値に基いて適切な再生パワーＰｒを求める。 - 特許庁
  • This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52.
    試験中、検出腕５２に追従して測寸用投光器７１と受光器７２を移動制御して測寸装置７０の検出器７０Ｓを検出腕５２の移動に追従させる。 - 特許庁
  • The failure relief data prepared by the relief arithmetic unit 20 are transmitted to a failure relief device 30 where the failure relief is performed on the memory device determined as failure by the memory test devices 10a to 10n.
    救済演算装置２０で作成された不良救済データは、不良救済装置３０に送信され、メモリ試験装置１０ａ〜１０ｎで不良と判定されたメモリデバイスの不良救済が行われる。 - 特許庁
  • An inflection point determination unit 110 specifies an inflection point on the basis of capacity measurement data comprising a data group of a prescribed of number of battery capacity-cycle measurement values by a charging and discharging test of a lithium ion battery.
    リチウムイオン電池の充放電試験による所定個数の電池容量−サイクルの測定値のデータ群からなる容量測定データから変曲点決定部１１０が変曲点を特定する。 - 特許庁
  • This generation circuit has a VCID(VCD ID) storing part (11), a VCDU(Virtual Channel Data Unit) counter part (12) an APID(Applied Process ID) storing part (13), a sequence counter part (14) and a data buffer where test data are written independently and guarantees the continuity of counters.
    ＶＣＩＤ格納部（１１）、ＶＣＤＵカウンタ部（１２）、ＡＰＩＤ格納部（１３）、及びシーケンスカウンタ部（１４）と、試験データを書き込むデータバッファとを独立に持ち、カウンタの連続性を保証する。 - 特許庁
  • A satellite 1 interfaces with a ground test unit 2 via a stub cable 100 for the 1553 bus that is connected to a bus interface connector 10 and specified in MIL-STD-1553.
    人工衛星１はバスインタフェースコネクタ１０に接続されかつＭＩＬ−ＳＴＤ−１５５３に規定された１５５３バス用のスタブケーブル１００を用いて地上試験装置２との間のインタフェースをとっている。 - 特許庁
  • At receipt of raw material, a foodstuff hazard test is conducted for each incoming unit.
    食品危害検査結果とともに原材料の生産情報、製造流通の情報を保管、管理し、取引先販売店や消費者に開示することにより、製品が衛生的に優位であることを明示する。 - 特許庁
  • A rotation test of the hub 4a relative to an outer ring 1 is performed to investigate the rotational unbalance of the hub 4a after mutually assembling each member constituting the rolling bearing unit for supporting the wheel.
    車輪支持用転がり軸受ユニットを構成する各部材同士を互いに組み付けた後、外輪１に対する上記ハブ４ａの回転試験を行いブ４ａの回転アンバランスを調べる。 - 特許庁
  • An attenuation adjustment unit 530 adjusts the attenuation amount of the variable attenuator 310 such that the reception sensitivity for the test signal becomes the normal sensitivity when the reception circuit 330 performs reception processing of the combined signal.
    減衰調整部530は、受信回路330が合成信号を受信処理したときに前記テスト信号に対する受信感度が規定感度になるように可変減衰器310の減衰量を調整する。 - 特許庁
  • If printing of a precoat test pattern has been ordered (S103: YES), the ink waveform selecting unit selects a waveform pattern so that the discharge amount of ink may reach 0 by increasing the smallest threshold value (S104).
    プレコート検査パターンの印刷が指示されていれば（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、インク波形選択部が、最も小さい閾値を大きくしてインクの吐出量が０になるような波形パターンを選択する（Ｓ１０４）。 - 特許庁
  • The predetermined code amount is a value stored to a control unit of the digital camera beforehand and statistically determined from a plurality of test images for each kind of image processing (for gradation correction or edge enhancement).
    所定の符号量は、デジタルカメラの制御部にあらかじめ格納された値であり、画像処理の種類（階調補正やエッジ強調など）ごとに複数のテスト画像から統計的に定める値である。 - 特許庁
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