「Unit test」を含む例文一覧(1133)

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  • For shortening the waiting time from voltage impression to the measurement of a current, a function of detecting a current converging state is provided in a DC measurement unit, and consequently, a minimum test time in the machine number by means of the same kind of tester can be realized.
    電圧を印加してから電流測定までの待ち時間を電流の収束具合を検出する機能をDC測定ユニットに負荷し、同一機種のテスターのその号機における最短のテストタイムを実現する。 - 特許庁
  • A microphone unit 10 is installed within an airfield, and window areas Wa-Wc are specified individually for each zone that may become a noise generation source such as a parking area 20, a taxing path 30, an engine test operation area 60 or the like.
    飛行場内にマイクロホンユニット１０を設置し、駐機エリア２０やタクシング路３０、エンジン試運転エリア６０等の騒音発生源となる区域ごとに窓領域Ｗａ〜Ｗｃを個別に規定する。 - 特許庁
  • When the vehicle approaches the ETC gate A11 or B12, the in-vehicle unit 3 carries out a test related with an ETC card, or decides whether or not the traveling speed of the vehicle is higher than a predetermined traveling speed.
    車両がＥＴＣゲートＡ１１またはＢ１２に接近した際、車載器３は、ＥＴＣカードに関する検査を行ったり、車両の走行速度が所定の走行速度よりも大きいか否かの判定を行う。 - 特許庁
  • The test unit 3 comprises a heat-insulating case 31, a driver board 32 stored in the internal space of the heat-insulating case 31, and a motherboard 33 having a slot with a plurality of connectors for fitting a burn-in board 4.
    テストユニット３は、断熱ケース３１、断熱ケース３１の内部空間に収容されたドライバボード３２、バーンインボード４を装着するための複数のコネクタを備えたスロットを備えたマザーボード３３を備えている。 - 特許庁
  • Unit fuel addition quantity ΔQad is controlled to raise flow in exhaust gas temperature TE to the target flow in exhaust gas temperature TEt or the vehicle stop flow in exhaust gas temperature TEst (S111).
    そして、流入排気温度ＴＥが目標流入排気温度ＴＥｔ、或いは停車時目標流入排気温度ＴＥｓｔまで上昇するように単位燃料添加量ΔＱａｄを制御する（Ｓ１１１）。 - 特許庁
  • To provide a pipeline A/D converter, which can conduct operation tests by selection of only before and after a discontinuity point, which input/ output characteristics of a unit block have, and reduce an operation test time for improvement in productivity.
    単位ブロックの入出力特性が持つ不連続点の前後のみを選んで動作試験ができるようにし、動作試験時間を短縮して生産性の向上を図るようにしたパイプライン型Ａ／Ｄコンバータの提供。 - 特許庁
  • An image forming apparatus causes a density adjustment unit to form a cleaner toner image 61 so as to cover a whole area on which a test pattern may be formed, on the surface of an image carrier (for instance, an intermediate transfer belt 4).
    画像形成装置において、濃度補正部は、像担持体（例えば中間転写ベルト４）の表面のうち、試験パターンが担持され得る領域の全体を覆うように、清掃用トナー画像６１を担持させる。 - 特許庁
  • The test frame conversion part revises the transmission frame data received from the communication channel to convert the transmission frame data into frame data received by either of the first and second communication terminals in the case of carrying out the LAPD test and thereafter outputs the received frame data to either of the first and second communication terminals via the LAPD termination unit.
    試験フレーム変換部は、ＬＡＰＤ試験のとき、通信回線から入力される送信フレームデータを改編することによって、第１及び第２通信端末のいずれかの端末の受信フレームデータに変換し、しかる後ＬＡＰＤ終端部を介して、第１及び第２通信端末のいずれかに受信フレームデータを出力する。 - 特許庁
  • An environmental test device 1 includes: a partition wall 3 in which an upper hole 3a and a lower hole 3b are formed and which partitions a casing 2; a test chamber 5 and an air conditioning chamber 8 which are separated by the partition wall 3 and which communicate with each other through the upper hole 3a and the lower hole 3b; and a duct unit 10 attached to the partition wall 3.
    環境試験装置１は、上部孔３ａ及び下部孔３ｂが形成され、筐体２を仕切る仕切り壁３と、仕切り壁３によって分離され且つ上部孔３ａ及び下部孔３ｂを介して互いに連通した試験室５及び空調室８と、仕切り壁３に取り付けられたダクトユニット１０とを含んでいる。 - 特許庁
  • When an installation test mode is set under the control of the CPU 81, call origination procedures for the installation test are then automatically executed between a handy nurse call master unit 3 and mobile terminals 71-7m connected thereto, and the process of the execution and the executed result are displayed by a group of LEDs of a display part 87.
    そして、設置試験モードが設定された場合に、ＣＰＵ８１の制御の下、ハンディナースコール主装置３及びそれに接続される携帯端末７１〜７ｍとの間で設置試験のための発呼手順を自律的に実行し、その実行経過及び実行結果を表示部８７のＬＥＤ群により表示するようにしたものである。 - 特許庁
  • In this penetration tester, test data can be obtained in the process in which a rod 7 is forced to penetrate into a ground by giving a load to the rod 7, while regarding the torque T as a loss of the load, a net load is obtained, the tester is provided with a control unit 10 correcting the test data in accordance with the net load.
    本発明は、貫入ロッド７に荷重を負荷して地中に貫入する過程で試験データを得る貫入試験機であって、貫入ロッド７に作用する回転トルクＴを取得し、この回転トルクＴを荷重の損失値とみなして正味荷重を求め、この正味荷重に応じて試験データを補正する制御ユニット１０を備えている。 - 特許庁
  • Regarding each semiconductor device on a wafer, a contact check for checking the conductivity between probes and test pads of each semiconductor device is carried out; a wafer level burn-in test is performed; each semiconductor device on a wafer is discriminated as a completely good unit, a contact failure, or a product failure; and these are dealt with depending on each discriminated grade.
    ウエハ上の半導体装置について、プローブと半導体装置の検査パッド間の導通が得られているかどうか調べるコンタクトチェックを行い、、そしてウエハレベルでバーンイン検査を行って、ウェハ上の半導体装置の各々に対して、完全良品、コンタクト不良品、製品不良品、の判別を行い、それぞれの判別グレードに応じて取扱う。 - 特許庁
  • When predetermined time elapses after a test pattern detection means 30 detects a toner image 40 of a test pattern formed on an intermediate transfer belt 11 by an upstream-side toner image forming unit 20 adjacent thereto, an exposure part 231 starts to form an electrostatic latent image corresponding to a toner image 50 of a printed image on a surface of a photoreceptor drum 21.
    テストパターン検出手段３０が、隣接する上流側のトナー像形成ユニット２０が中間転写ベルト１１上に形成したテストパターントナー像４０を検出してから、所定時間経過後に露光部２３１が、感光体ドラム２１表面に対して印刷画像トナー像５０に対応する静電潜像形成を開始するように構成する。 - 特許庁
  • To enable the speedy maintenance work of an exchange while shortening time required for specifying a fault occurrence unit device by enabling return test diagnosis concerning the unit device (exchange element) of a speech path system in a short time through a simple processing sequence.
    交換機における折り返し試験診断方法及び装置に関し、通話路系のユニット装置（交換要素）についての折り返し試験診断を、簡素な処理手順により短時間でに行うことができるようにし、障害発生ユニット装置の特定に要する時間を短縮し、交換機の迅速な保守作業を可能にする。 - 特許庁
  • The arithmetic unit 16 selects the optical conditions of a focusing lens 8, variable multi-aperture 10, beam deflecting electrode 11, and objective lens 12 based on data inputted in the input unit 17, and calculates automatically processing scanning conditions of the focusing ion beam 4 on the test piece 2 corresponding to the optical conditions selected.
    演算装置１６は、入力装置１７に入力されたデータに基づいて、集束レンズ８、可変マルチアパーチャ１０、ビーム偏向電極１１及び対物レンズ１２の光学条件を選択し、かつ選択された光学条件に応じた集束イオンビーム４の試料２上での加工走査条件を自動的に算出する。 - 特許庁
  • This prober device includes a cleaning chamber 5 including a mechanism for cleaning a probe of a probe unit 4 of the prober device by dry processing using ion or the like in vacuum, and a measuring mechanism (a preparation chamber 3, a conveyance device 12, a test wafer 13, and a gate valve 6) for confirming electrical measurement of the probe of the probe unit 4 in vacuum.
    真空中内で、イオン等を用いたドライ処理で、プローバ装置の探針ユニット４の探針をクリーニングする機構を備えたクリーニング室５と、真空中内で、探針ユニット４の探針の電気的測定を確認する測定機構（仕込み室３、搬送装置１２、試験ウエハ１３、ゲート弁６）を備える。 - 特許庁
  • This prober device is equipped with a cleaning chamber 5 equipped with a mechanism for cleaning the explorer of a probe unit 4 of the prober device by dry treatment using ions or the like in vacuum, and a measuring mechanism (a preparation chamber 3, a conveyance device 12, a test wafer 13 and a gate valve 6) for confirming electric measurement of the probe of the probe unit 4 in vacuum.
    真空中内で、イオン等を用いたドライ処理で、プローバ装置の探針ユニット４の探針をクリーニングする機構を備えたクリーニング室５と、真空中内で、探針ユニット４の探針の電気的測定を確認する測定機構（仕込み室３、搬送装置１２、試験ウエハ１３、ゲート弁６）を備える。 - 特許庁
  • The transmission side slave unit A21 discriminates the electric field strength of the test signal in the return signal sender slave units A11 to A13 on the basis of delay information of the return signal and registers the two receiver side slave units A11, A12 in the order of, e.g. greater electric field strength as a reception destination slave unit.
    送信側子機Ａ２１は、返信信号の遅延情報から返信信号送信元子機Ａ１１〜Ａ１３における前記テスト信号の電界強度を判断し、例えば、その電界強度が大きいものから順に２つの受信側子機Ａ１１、Ａ１２を、受信相手先子機として登録する。 - 特許庁
  • To provide an air cleaning filter unit in which filter replacement work is simple with a low risk of contaminating an external and a simple structure, while the maintenance cost of the unit including the manufacturing cost and the discarding cost is low, and safety can be easily checked by carrying out the integrity inspection by a scan test.
    フィルタ交換作業が簡単で交換作業によって外部環境を汚染する危険性が低く、また、簡単な構造を有して製造コスト及び廃棄コストを含めた装置のメンテナンスコストが安く、更に、スキャンテストによる完全性検査が実施できることで安全性の確認が容易な空気清浄用フィルタユニットを提供する。 - 特許庁
  • A control unit 200 defines an impulse signal outputted from an impulse generating circuit 101 as a signal to be processed, in place of an input digital audio signal from the outside, in a test mode and the data path unit 100 applies only signal processing selected from among the plurality of kinds of signal processing to the signal to be processed in each sampling period.
    制御部２００は、テストモードでは、外部からの入力デジタル音声信号に代えて、インパルス発生回路１０１が出力するインパルス信号を処理対象信号とし、サンプリング周期毎に、データパス部１００により、複数種類の信号処理のうち選択された信号処理のみを処理対象信号に施す。 - 特許庁
  • In the intercom 1 connected with a housing information panel provided in a dwelling unit and having a call button 31, a storage part 2 is provided inside the call button 31, the call button 31 is formed to be openable/closable and the terminal 66 for the test which tests the fire sensor installed in the dwelling unit is provided in the storage part 3.
    住戸内に設けられた住宅情報盤と接続され、呼出しボタン３１を有するドアホン１において、呼出しボタン３１の内側に収納部２を設けると共に、呼出しボンタ３１を開閉可能に形成し、収納部３内に住戸内に設置された火災感知器を試験する試験用端子６６を設けた。 - 特許庁
  • Quickly create Ruby projects with logical structure, run Ruby files, configure other Ruby interpreters (such as JRuby or native Ruby), locate and install Ruby Gems through a graphical wizard, create and execute unit tests, run RSpec specification files, jump between a Ruby file and its corresponding unit test or spec file, and so on.
    Ruby プロジェクトを論理的な構造で簡単に作成したり、Ruby ファイルを実行したり、ほかの Ruby インタープリタを構成したり (JRuby やネイティブ Ruby など)、グラフィカルなウィザードを使用して Ruby Gems を探してインストールしたり、ユニットテストを作成して実行したり、RSpec 仕様ファイルを実行したり、Ruby ファイルと対応するユニットテストまたは仕様ファイル間を移動したりできます。 - NetBeans
  • When the learner makes an access to start learning of a new unit, the learning history database is referred to and review test problems including problems related to questions from the student on the unit previously learned are transmitted to a learner terminal 10.
    学習者から新単元の学習を始めるためのアクセスがあると、学習履歴データベースを参照して、前回学習した単元に関する質疑テスト問題を含む復習テスト問題を学習者端末１０へ送信し、学習者の解答により合格なら新単元の教材を学習者端末へ送信する。 - 特許庁
  • To provide an abnormality detection system in which an abnormality in the physical position of a product on a wafer or an unusual phenomenon can be detected even when an inspector has not looked map data actively or when the abnormality of a product in a unit of test, e.g. in a unit of lot, does not reach a specified abnormal reference level.
    検査者がマップデータを能動的に見なかった場合、またはロット単位等の試験単位における製品の異常が所定の異常基準値に達していない場合であっても、ウェーハ上における製品の物理位置的な異常または異常らしき現象を検出することができる異常検出システム等を提供する。 - 特許庁
  • Whereas, a mobile unit 22 receiving a transmission start signal transmits an incoming signal for test to a coarse coupling terminal of a coupler 11b, placed in the incoming system of the sector 1 via the high frequency relay 12b in the connection state.
    一方、発信開始信号を受信した移動機２２において、試験用の上り信号が送出され、接続状態の高周波リレー１２ｂを通過して、セクタ１の上り系に配設されたカプラ１１ｂの粗結合端子に供給される。 - 特許庁
  • The optical test signal has a property variably defined by a feedback loop formed between a reference image sensor 112 coupled to the probe card and a control unit 140 connected between the reference image sensor 112 and the illumination source.
    光学テスト信号はプローブカードと結合した基準イメージセンサ１１２と、基準イメージセンサ１１２と照明ソースとの間に連結された制御部１４０の間に形成されたフィードバックループによって多様に定義された性質を有する。 - 特許庁
  • To provide a temperature heightening/lowering unit and a temperature heightening/lowering test handler, that increase or decrease temperatures of a large amount of semiconductor devices at a time, and achieve a high-speed processing as the whole system.
    高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化ユニット及び高低温化テストハンドラを提供する。 - 特許庁
  • The test unit has both an electric switch 21 which mechanically senses the positioning of the analytical consumable means and an optical sensor 30 which optically senses the positioning of the analytical consumable means 10 on the conveyance pathway.
    検査ユニットは、搬送路に使い捨て分析手段が配置されていることを機械的に検知する電気スイッチ２１と、使い捨て分析手段１０が配置されていることを光学的に感知する光学センサ３０の両方を有する。 - 特許庁
  • To provide a novel aging board capable of supporting semiconductor lasers of various standards, having superior heat dissipation efficiencies during the testing time, and capable of obtaining an accurate test result, without producing variations in a reference level relative to a laser receiving unit.
    各種規格の半導体レーザに対応可能で、試験時の放熱効率にも優れ、レーザ受光ユニットに対する基準面にばらつきが生じることなく正確な試験結果が得られる新規なエージングボードを提供する。 - 特許庁
  • The test jig for a sensor 3 for attaching a smoke sensor 2 to a tester 1 comprises a connection unit 4 for connecting the smoke sensor 2 to the tester 1 by switching to any direction selected from two or more directions.
    煙感知器２を試験装置に設置するための感知器用試験治具３であって、煙感知器２を、２以上の方向から選択された任意の方向に切り替えて試験装置１に接続する接続部４を備える。 - 特許庁
  • To provide a system and a method for transmitting information between a device inside a housing and a device on the outside of the housing, such as a second device, preferably a test or monitoring unit on the outside of the housing.
    ハウジングの内部の装置とハウジングの外側の試験ユニット、又はモニタリングユニットであることが好ましい第２装置の間のようなハウジングの内部とハウジングの外部の間で情報を送信するためのシステムと方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a transmitter-receiver for a radio base station device that occurs no HALT state of a CPU (Central Processing Unit) when a personal computer being a high-speed high-end machine on the market is used as tools for an operation confirmation test and maintenance of the transmitter-receiver.
    送受信機の動作確認試験や保守点検用のツールとして、市販の高速ハイエンドマシンのパソコンを使用した場合に、ＣＰＵのＨＡＬＴ状態を生じさせない無線基地局装置の送受信機を提供する。 - 特許庁
  • A wafer transfer unit transfers first and second test wafers TW1 and TW2 in wafer cassettes 11 and 12 to the specified slots in a boat 30 unloaded from a reaction furnace of a semiconductor manufacturing apparatus, respectively, as instructed by a controller.
    ウェーハ移載器２０は、制御部４０の指示に従って、ウェーハカセット１１，１２の第１，第２のテストウェーハＴＷ１，ＴＷ２を半導体製造装置の反応炉から搬出されたボート３０の指示されたスロットにそれぞれ移載する。 - 特許庁
  • After a placement process of placing a wire assembly WH on a placement layer 33 having given elasticity, a connector 1 for the wire assembly WH is forced into the placement layer 33 for searching the arrangement of a continuity test unit.
    所定の弾性を有する載置層３３の上にワイヤアッセンブリＷＨを載置する載置工程の後、ワイヤアッセンブリＷＨのコネクタ１を上記載置層３３にめり込ませて導通検査ユニットの配置を探索することとした。 - 特許庁
  • To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.
    テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor storage device capable of performing normal detection even when adjacent word lines are short-circuited on a test mode and also capable of performing detection at a burst length unit and relieving an abnormality when it exists in the detection.
    テストモードにおいて、隣接するワード線がショートした場合においても、正常な検出ができ、しかも、バースト長単位での検出と、異常である場合には、その救済が可能である半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.
    パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁
  • An analysis unit 46 compares the test image 41 with the reference image 43, checks whether or not features in images are coincident to each other and makes such determination that the substrate 1 is a defective product in the case a discrepancy is found; otherwise, it is a good product.
    解析ユニット４６は、検査画像４１と基準画像４３を比較して、画像上の特徴が一致するかどうかを調べ、相違があれば、基板１を不良品であると判定し、そうでなければ、良品であると判定する。 - 特許庁
  • To provide a light transmission plate for a frontlight type illumination unit being excellent in an initial adhesion property and in an adhesion property after a durability test of a reflection preventing layer, in transferability of a fine projecting and recessing shape, in light ray transmittance and in heat resistance.
    光反射防止層の初期密着性、及び耐久試験後の密着性、微細凹凸形状の転写性、光線透過率、及び耐熱性にも優れたフロントライト型照明ユニット用の導光板を提供すること。 - 特許庁
  • The charts 102-108 are arrayed in the arrow B direction on the test print 100, and, when setting up a photograph processing device 10, the coloring densities of the patches P1-P18 on the charts 102-108 are measured respectively by a colorimetric unit 24.
    テストプリント１００にはチャート１０２〜１０８が矢印Ｂ方向に配列され、写真処理装置１０のセットアップの際には測色ユニット２４によってチャート１０２〜１０８のパッチＰ１〜Ｐ１８の発色濃度がそれぞれ測定される。 - 特許庁
  • When an SNMP unit 3 requests a loop back test to a station side media converter 2b per request from an SNMP manager 7, the station side media converter 2b prohibits transmission and reception of a signal from a TP 5a and transmits a request message to a user side media converter 8.
    SNMPマネージャ7からの要求により、SNMPユニット3が局側メディアコンバータ2bへループバック試験を要求すると、局側メディアコンバータ2bは、TP5aからの信号の送受信を禁止して利用者側メディアコンバータ8へリクエストメッセージを送信する。 - 特許庁
  • To provide an imaging apparatus in which a test pattern optimal for deciding whether an normal operation is carries out or not is selected automatically upon occurrence of a state change, e.g. replacement of an unit or elimination of trouble, at each section.
    ユニット交換やトラブル解消等のように各部に状態変化が生じた後に、正常動作を行うか否かの確認を行うための最適なテストパターンを自動的に選択して作成する画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an arithmetic test material effective for evaluating and analyzing whether a pupil masters already learned calculation required for mastering the calculation content in a new learning unit in a learning instruction of arithmetic in an elementary school.
    小学校の算数の学習指導において、新規学習単元での計算内容を習得するのに必要な既習の計算を児童が習得できているかどうかを評価・分析するのに有効な算数テスト教材を提供する。 - 特許庁
  • The positioning device 1 includes: a mounting section 2 for receiving and passing the device S carried by a handling unit of an unillustrated test handler; and guide mechanisms 3a to 3d which guide the device S from four directions to correct its position.
    位置決め装置１は、図示しないテストハンドラＨのハンドリングユニットにより、搬送されてくるデバイスＳを受け取り受け渡すための搭載部２と、デバイスＳを４方向からガイドし位置補正を行うガイド機構３ａ〜３ｄと、からなる。 - 特許庁
  • Program cells are combined by a program cell combination unit 130 by using random numbers generated by a random number generator 120 with program cell information 110 and cell weight information 111 being input, and a compiler test program 140 is automatically generated.
    プログラムセル情報１１０とセル重み情報１１１を入力として、乱数発生器１２０により発生させた乱数を用いて、プログラムセル組合せ器１３０でプログラムセルを組合せ、コンパイラのテストプログラム１４０を自動生成する。 - 特許庁
  • The measuring unit controls the laser tracker to measure three-dimensional coordinates of the high-frequency characteristic test object related to a propagation axis of a high-frequency signal (26) of the high-frequency characteristic test object and to measure three-dimensional coordinates of the one or plurality of reflectors related to a propagation axis of a high-frequency signal (28) of the one or plurality of reflectors.
    該計測ユニットは、前記レーザトラッカーを制御して、前記高周波特性試験対象物の高周波信号（２６）の伝播軸に関する前記高周波特性試験対象物の三次元座標の計測と、前記１つまたは複数のリフレクタの高周波信号（２８）の伝播軸に関する前記１つまたは複数のリフレクタの三次元座標の計測とを行わせるように構成されている。 - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit has an analog-digital conversion circuit which converts an analog signal into a digital signal, and includes a test circuit which performs evaluation processing of the analog-digital conversion circuit using an output signal of the analog-digital conversion circuit, wherein the test circuit includes a spectrum power calculation unit for calculating a spectrum power value of the output signal of the analog-digital conversion circuit.
    アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換回路を有する半導体集積回路であって、アナログ・デジタル変換回路の出力信号を使用してアナログ・デジタル変換回路の評価処理を実行するテスト回路を備え、テスト回路は、アナログ・デジタル変換回路の出力信号のスペクトルパワー値を算出するスペクトルパワー算出手段を含む、半導体集積回路である。 - 特許庁
  • An A-D conversion circuit 3 comprises an OR circuit 35 which supplies either an output (cyclic clock) of a delay unit DU on a final stage constituting a ring delay circuit 30 or a test clock CKT supplied from the outside to a counter 36 as an operating clock, and is configured to operate the counter 36 according to the test clock CKT without depending upon the ring delay circuit 30.
    Ａ／Ｄ変換回路３は、リング遅延回路３０を構成する最終段の遅延ユニットＤＵの出力（周回クロック）、又は外部から供給されるテストクロックＣＫＴのいずれかを、動作クロックとしてカウンタ３６に供給する論理和回路３５を備え、カウンタ３６を、テストクロックＣＫＴによってリング遅延回路３０に依存することなく動作できるように構成される。 - 特許庁
  • In the correction coefficient arithmetic unit 30, an optical measuring part 33 measures the brightness or the chromaticity of each domain when an image for a test is displayed on each domain acquired by classifying a display domain of the display device 10 into a plurality of domains.
    また、補正係数演算装置３０においては、光学測定部３３が、表示装置１０の表示領域を複数の領域に区分したこの各領域に、テスト用画像を表示させたときにおける各領域の輝度または色度を測定する。 - 特許庁
  • To provide a disk image acquiring method of acquiring an image of the result of the analysis or test of a disk by minimizing the difference between the position of a magnet of the disk and a position of a magnet of a transport unit, and to provide a disk driving device for performing the method.
    ディスクの磁石の位置と移送ユニットの磁石の位置との間の差を最小化することによって、ディスクの分析又はテスト結果物のイメージを獲得するディスクイメージ獲得方法及びその方法を行うディスク駆動装置を提供する。 - 特許庁
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