「Unit test」を含む例文一覧(1133)

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  • This test unit encourages communication with the IC module through a card module antenna by using a low watt RF wave, and tests the bonding part between the antenna and the IC module of the selected card module.
    テストユニットは、低ワットＲＦ波を用い、カードモジュールアンテナを介するＩＣモジュールとの通信を促すことにより、アンテナと選択されたカードモジュールのＩＣモジュールとのあいだのボンディング部分をテストする。 - 特許庁
  • Both of them are provided through a signal switch to permit simulation test to be selected by a mode selection means from an operation display unit.
    シミュレータ用アプリケーションをＡＶＲ装置の制御用アプリケーションに組み込む構造とし、双方が信号切換器を介して設けられ、シミュレーション試験が操作表示部からのモード選択手段によって選択可能とする。 - 特許庁
  • The equipment is provided with a data processing unit 11 having a net information extracting part 17 extracting information of nets, a moving type test probe controlling unit 12 which controls a inspection probe by using information outputted from the data processing unit 11, and an electric detecting device 13 detecting electric information from the inspection probe and judging electric continuity or discontinuity.
    ネットの情報を抽出するネット情報抽出部１７を備えたデータ処理装置１１と、データ処理装置１１からの出力情報により検査プローブを制御する移動式検査プローブ制御装置１２と、検査プローブからの電気情報を検出し導通・非導通を判定する電気検出装置１３とを有する。 - 特許庁
  • The electric test unit E receiving the electronic component from conveying means for conveying the electronic component W to the contact C which performs the electric test for the electronic component W includes attitude recognition means 2 that is arranged in the vicinity of the contact C and recognizes attitudes of the contact C and the electronic component W.
    この電子部品Ｗに対して電気テストを行うコンタクトＣに電子部品Ｗを搬送する搬送手段から電子部品の供給をうける電気テストユニットＥであって、コンタクトＣの近傍に配置され、コンタクトＣと電子部品Ｗの姿勢を認識する姿勢認識手段２とを有する。 - 特許庁
  • A test unit A of the accelerated deterioration test of the coating film is constituted of a first process 1 of acid immersion for immersing a specimen, in a solution with a PH of 1 and a temperature of 60°C for 1 hr and a second process 2 for applying light irradiation of a light irradiation quantity of 100 MJ/m^2 to the specimen from the light irradiation by high-energy xenon.
    塗膜の促進劣化試験の試験単位Ａは、ＰＨ１で、６０℃の溶液に、１時間にわたり被検体を酸浸漬する第１の工程１と、この第１の工程１を経た被検体に、強エネルギーキセノンによって光照射量１００ＭＪ／ｍ^2の光照射を施す第２の工程２とによって構成される。 - 特許庁
  • In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.
    複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁
  • To provide an electronic ground-fault interrupter having an overcurrent determination function and a ground fault determination function which are integrated into a CPU that can suppress a tripping operation based on ground fault determination during a test of overcurrent characteristics for each pole unit of the interrupter through unipolar energization, and conducting a correct test of the overcurrent characteristics.
    過電流判定機能と漏電判定機能とを一つのＣＰＵに集約した電子式漏電遮断器において、単極通電による遮断器各極単位での過電流特性試験時に漏電判定に基づくトリップ動作を抑制し、過電流特性試験を正しく行うことができる電子式漏電遮断器を得る。 - 特許庁
  • A multi probe card unit 100 is provided with a probe card 120 having probes on both surfaces and can simultaneously test a plurality of wafers by the contact between the pads of the wafers 300 respectively approaching one surface and the other surface of the probe card, and the probes, and the probe test device 500 is provided with the same.
    探針が両面に設けられるプローブカード１２０を備え、プローブカードの一面及び他面にそれぞれ接近するウェーハ３００のパッドと探針との接触により複数のウェーハを同時に検査できることを特徴とするマルチプローブカードユニット１００及びそれを備えたプローブ検査装置５００である。 - 特許庁
  • To make exactly performable recording/reproducing with a little data amount and late sampling time while temporally synchronizing a control unit and an automatic test device without deviation in the case of a long-time test and further to record/reproduce high frequency and low frequency signals with a little data amount.
    長時間テスト時の制御装置と自動テスト装置の間の時間の同期をずれなくとり、かつ少ないデータ量、遅いサンプリング時間で記録・再生を正確に行うことができ、さらに高周波信号、低周波信号を少ないデータ量で記録・再生することの可能な自動テスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.
    複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁
  • A button telephone main unit 1 is provided with a second control program memory 17 storing new control program data, and a switching time storage table 19 storing test start date information of low use frequency to be switched to the new control program data and test end date information to be switched old control program data.
    ボタン電話主装置１内に、新制御プログラムデータを格納した第２制御プログラムメモリ１７、及び新制御プログラムデータに切り替えるべき使用頻度の低い試験開始日時情報、及び旧制御プログラムデータに切り戻すべき試験終了日時情報をそれぞれ格納した切替時間記憶テーブル１９を備えておく。 - 特許庁
  • After color balance adjustment, color pixels 8a to 8d formed at four corners of a display area Z of a display unit 2, out of a plurality of color pixels 8 formed in the display area Z are caused to emit light with high luminance for a set test time, and average emission luminance of the color pixels 8a to 8d immediately after the set test time is measured.
    色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。 - 特許庁
  • The test piece 1 is composed in such a manner that, when the forcing amount of the regulation part 3 to the piece body part 2 is regulated, and a fluid under prescribed pressure is introduced from the gas introduction hole 23, a leak amount per unit time at which this fluid is leaked from a gap 43 between the regulation part 3 and the test hole 21 can be changed.
    テストピース１は、ピース本体部２に対する調整部３の締込量を調整して、気体導入穴２３から所定圧力の流体を導入したときにこの流体が調整部３とテスト穴２１との隙間４３から漏れ出す単位時間当たりの漏れ量を変更することができるよう構成してある。 - 特許庁
  • Subsequently, the substrate 1 is pressed against a test board 10 in an atmosphere of a specified temperature and the operation of an electronic device comprising a unit region 7 of the substrate 1 and the chip 2 is inspected by supplying a predetermined electric signal to the chip 2 from the test board 10 through an outer electrode 19 before the substrate 1 is cut along an imaginary line 9 to complete an electronic device.
    その後、所定の温度雰囲気中でテストボード１０に基板１を圧接し、テストボード１０から外部電極１９を介してチップ２に所定の電気信号を供給して基板１の単位領域７とチップ２とからなる電子部品の動作を検査し、仮想線９で切断して電子部品を完成させる。 - 特許庁
  • To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.
    マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • The optometry apparatus 1 includes a prism 23 which deflects a measurement beam projected to the fundus of the eye to measure the refraction of the test eye E objectively, an unit 2 constituted to include the prism 23 and a motor M1 which drives the unit 2 to rotate around an optical axis O'.
    検眼装置１は、被検眼Ｅの眼屈折力を他覚的に測定するために眼底に投影される測定用光束を偏向するプリズム２３と、このプリズム２３を含んで構成されたユニット２と、光軸Ｏ’を軸としてユニット２を回転駆動するモータＭ１とを備えている。 - 特許庁
  • To provide a computer controlled type rotary press equipped with a device which discriminates simply and surely a printing unit being used and a position where it is used and thereby minimizes test printing and which recognizes whether the printing unit is mounted surely on a machine base frame.
    どの印刷ユニットをどの位置に使用したかを簡単かつ確実に識別でき、それによりテスト印刷を最小限に抑えることができ、機台フレームに印刷ユニットが確実に取り付けられているか認識できる装置を備えたコンピュータ制御式輪転印刷機を提供する。 - 特許庁
  • Further, the imaging device includes a memory 109 which stores the position of a defect pixel of the imaging element 102 or the position of a test signal as an expected value, and a determination unit 106 which determines a suitable delay amount using the image signal input by the input unit 105 and the expected value stored in the memory 106.
    また、撮像素子１０２の欠陥画素の位置または試験信号の位置を期待値として格納するメモリ１０９と、取り込み部１０５により取り込まれただ画像信号と、メモリ１０９に格納された期待値とを用いて適正な遅延量を判定する判定部１０６とを備える。 - 特許庁
  • Furthermore, between the receiving signal processing units 102-104 (202-204), an RF signal demultiplexing/selecting unit 301 and an IF signal demultiplexing/selecting unit 302 are provided for demultiplexing a test signal and selecting an output of any one of the plurality of receiving signal processing units on a preceding stage side.
    また、各受信信号処理ユニット１０２〜１０４（２０２〜２０４）間に、テスト信号を分波し、かつ、前段側の複数系統の受信信号処理ユニットからの出力を選択するＲＦ信号分波・選択ユニット３０１とＩＦ信号分波・選択ユニット３０２を設ける。 - 特許庁
  • The biological information detector includes a first sensor unit for detecting composite information including biological information of a detection site of a test subject and first noise information originating in external light, and a second sensor unit for detecting second noise information originating in the external light.
    生体情報検出器は、被検査体の被検出部位における生体情報及び外光に起因する第１のノイズ情報を含む合成情報を検出する第１のセンサー部と、外光に起因する第２のノイズ情報を検出する第２のセンサー部と、を含む。 - 特許庁
  • The test print for evaluating eccentricity degree of the roller has many comparison dot lines 91 extending in a main scanning direction and formed with one-dot width by a first nozzle unit, and many evaluation dot lines 93 extending in the main scanning direction and formed with one-dot width by a second nozzle unit.
    ローラ偏芯度評価用テストプリントは、第1ノズルユニットによって１ドット幅で形成された主走査方向に延びる多数の比較用ドットライン９１と、第２ノズルユニットによって１ドット幅で形成された主走査方向に延びる多数の評価用ドットライン９３とを有する。 - 特許庁
  • A test light as a pulse signal outputted from an OTDR unit 12 is transmitted through an optical line 30 via a photocoupler 13, reaches an optical waveguide type diffraction grating 23, where the light is reflected, the reflected light returns to the optical line 30 and reaches the OTDR unit 12 via the photocoupler 13.
    ＯＴＤＲ装置１２からパルス出力された試験光は光カプラ１３を経て光線路３０を伝送され光導波路型回折格子２３に到達して反射され、その反射光は光線路３０を戻り光カプラ１３を経てＯＴＤＲ装置１２に到達する。 - 特許庁
  • To provide a numerical control device for correctly measuring a machine position during a test operation by using a measuring unit for measuring a machine position, obtaining a machine error from the measurement result, and correctly obtaining a parameter for correcting the machine error.
    試験動作時の機械位置を機械位置測定用計測器を用いて正確に測定し、測定結果から機械誤差を求め、機械誤差を補正するためのパラメータを正確に求める数値制御装置を得る。 - 特許庁
  • The filter calibration unit 100 calibrates the cutoff frequency of the anti-aliasing filter 40 based on an output from the AD converter 50 when a predetermined test image signal is inputted to the anti-aliasing filter 40.
    フィルタ校正処理部１００は、アンチエイリアスフィルタ４０に所定のテスト画像信号が入力された時のＡＤ変換器５０の出力に基づいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行う。 - 特許庁
  • Correcting a threshold value Th for detecting the wireless carrier to be greater than the amplitude of the noise B and to be equal to or less than the amplitude of the test wireless signal A_2 prevents the noise B from being misrecognized as the wireless carrier from the wireless master unit.
    無線キャリアを検出する閾値Th3を、ノイズＢの振幅より大きく、試験無線信号Ａ_2の振幅以下に補正することで、ノイズＢを無線親機からの無線キャリアと誤認する事態を防止する。 - 特許庁
  • An object acquisition request unit 21 transmits, to a server 100, a request for acquisition of plural objects showing characteristics of a hierarchy designated by a user among four hierarchies of a patient hierarchy, a test hierarchy, a series hierarchy and an object hierarchy.
    オブジェクト取得要求部２１は、患者階層、検査階層、シリーズ階層、オブジェクト階層の４階層のうちのユーザ指定の階層の特徴を示す複数のオブジェクトの取得要求をサーバ１００に送信する。 - 特許庁
  • To search and display the address of a fire alarm, which issues an alarm, concerning a required sensor line and further to enable the remote test of the fire sensor concerning a repeater for sensor for monitoring a fire for the unit of a line.
    回線単位に火災監視を行う感知器用中継器につき、必要な感知器回線については、発報した火災感知器のアドレスを検索して表示でき、更に火災感知器の遠隔試験も可能とする。 - 特許庁
  • A test unit 1 provided with a laser light source 3 and a reflection measurement module 4 incorporating a laser light source and a light receiver are connected with an optical switch 5 is connected with an incident side optical fiber 6a of an optical fiber device 6.
    レーザ光源３と、レーザ光源と受光器を内蔵した反射測定用モジュール４とが、光学スイッチ５に接続された構成の検査ユニット１を、光ファイバデバイス６の入射側光ファイバ６ａに接続する。 - 特許庁
  • Thus, the environmental test of the circuit board 20 is conducted by energizing the circuit board 20, using an energizing unit 9, while the temperature inside the testing chamber forming housing 25 is made to change in this manner by low dew-point air.
    このように低露点エアーによって試験室形成用ハウジング２５内の温度を変化させながら回路基板２０へ通電装置９を用いて通電することによって回路基板２０の環境試験を行う。 - 特許庁
  • Relating to the e.g., controller 10 of a tub water circulation device selecting a sequential mode such as a filter mode, a back wash mode and a cleaning mode, the test mode for individually operating the unit constitution parts can be executed.
    例えば、濾過モード、逆洗モード、洗浄モード等のシーケンシャルモードを選択実行する浴槽水循環装置のコントローラ１０において、単位構成部品を単独で動作させるためのテストモードを実行可能としている。 - 特許庁
  • An edge generation unit 12, on the basis of the waveform data DW, generates a set pulse and a reset pulse which are asserted with the timing of the positive edge and negative edge of the test pattern signal, respectively, and outputs them to an RS flip-flop 14.
    エッジ生成部１２は、波形データＤＷにもとづき、テストパターン信号のポジティブエッジ、ネガティブエッジそれぞれのタイミングでアサートされるセットパルス、リセットパルスを生成し、ＲＳフリップフロップ１４に出力する。 - 特許庁
  • To provide an experimental game board unit which achieves designing by trial and error procedures for executing a flow-down test of a game ball while diversely changing arrangement patterns or the like of game nails by using an experimental game board.
    一台の試作用遊技盤を用いて遊技釘の配置パターン等を種々変更しながら遊技球の流下試験を行う試行錯誤的な手順による設計を可能とする試作用遊技盤ユニットを提供する。 - 特許庁
  • A control unit 110 is configured to, in the low temperature/low humidity environment when the photosensitive drum 1 is new, measure a reference value as a peak voltage of a test electrostatic image 1s at 500 places on the surface of the photosensitive drum 1, and store the reference values.
    制御部１１０は、感光ドラム１の新品時の低温低湿環境で、感光ドラム１の表面の５００箇所につき、試験静電像１ｓのピーク電圧である基準値を測定し格納しておく。 - 特許庁
  • A photoconductive film 31 on a photoreceptor drum 30 is uniformly charged by a charger 40 and the photoconductive film 31 on the photoreceptor drum 30 is irradiated with test light from an exposure unit 50.
    帯電器４０によって、感光体ドラム３０上の光導電膜３１が一様に帯電された後、露光器５０から感光体ドラム３０上の光導電膜３１に対して試験光が照射される。 - 特許庁
  • A test operation for circulating a refrigerant in the refrigerant circuit 10 so that high pressure of the refrigerating cycle becomes higher than a critical pressure of the refrigerant, is performed in a noncondensable gas discharging step of a constructing process of this refrigerating unit 1.
    冷凍装置（1）の施工工程における非凝縮性ガス排出ステップの際に、冷凍サイクルの高圧が冷媒の臨界圧力よりも高くなるように冷媒回路（10）で冷媒を循環させる試運転を行う。 - 特許庁
  • In the method, when a print preview display operation or a test print operation common to text files to be created is received, a data reading unit 14 reads plural sets of information for each type of information.
    この方法は、作成される文書ファイルについて共通の印刷プレビュー表示又はテスト印刷を行う操作を受け付けた際に、データ読み取り部１４が複数セットについて種類毎に情報を読み出す。 - 特許庁
  • A wireless transmit/receive unit (WTRU) receives E-HICH (E-DCH H-ARQ indicator channel) transmissions (202) and detects an H-ARQ indicator transmitted via the E-HICH by performing a binary hypothesis test (204).
    無線送受信ユニット（Wireless Transmit/Receive Unit：ＷＴＲＵ）は、Ｅ−ＨＩＣＨ送信を受信し（２０２）、そしてバイナリ仮説テストを実行することによりＥ−ＨＩＣＨを介して送信されたＨ−ＡＲＱインジケータを検出する（２０４）。 - 特許庁
  • To provide a vehicular air-conditioner in compliance with the dielectric test specified in JIS Unit Cooler for Electric Car E6602 by reducing the length in the rail direction of the vehicular air-conditioner.
    車両用空気調和装置のレール方向長さを小さくし、ＪＩＳ規格の電車用ユニットクーラーＥ６６０２に定められている耐電圧試験に合格可能な車両用空気調和装置を得ることを目的とする。 - 特許庁
  • In this control unit 10 having a plurality of input terminals and output terminals, an ordinary control mode and a test mode having shorter signal output time than the ordinary control mode are set as the control mode.
    複数の入力端子及び出力端子を備えた制御ユニット１０に、その制御モードとして、通常制御モードと、この通常制御モードよりも信号出力時間などが短いテストモードとを設定する。 - 特許庁
  • The terminal device 20 has a display controller 22a which displays a shmoo plot about at least two of shmoo data sets obtained by the test apparatus main unit 10, on the display section 26 in their superimposed state.
    端末装置２０は、試験装置本体１０で得られたシュムデータのうちの少なくとも２つのシュムデータについてのシュムプロットを、重ね合わせた状態で表示部２６に表示する表示制御部２２ａを備える。 - 特許庁
  • A CPU 120 acquires an instruction of denoting an inspection mode corresponding to a correction condition to be applied to the density of the image via a UI section 11 to instruct an image forming unit 14 or the like to output a test image.
    ＣＰＵ１２０は、画像の濃度に対する補正条件に対応する検査モードを示す指示をＵＩ部１１を介して取得し、画像形成ユニット１４などに対してテスト画像を出力するように指示する。 - 特許庁
  • A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.
    ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁
  • A semiconductor chip judged rejectable through these visual inspection and electric characteristics inspection undergoes overlay processing at a test control unit 5, and a marker indicative of a rejectable product is put on the semiconductor chip by means of a concentration marker 6.
    これら外観検査と電気的特性検査とで不良と判別された半導体チップは、テスト制御部５において重ね合わせ処理され、集中マーカ６によって不良品を示すマーカが付けられる。 - 特許庁
  • An arithmetic unit 19 calculates the displacement X loaded on a sample 11 under test every time step according to the earth motion acceleration waveform from a waveform generator 18, measured outputs from a displacement sensor 15 and a load sensor 14.
    演算部１９は、波形発生部１８からの地動加速度波形、変位センサ１５および荷重センサ１４からの計測出力に応じて、試験体１１に負荷する変位Ｘを時間ステップ毎に算出する。 - 特許庁
  • While the preview button 9 is depressed, whether the built-in type flash unit 5 performs modeling light emission or test light emission for repeating light emission is determined by the custom setting operation of the electronic camera 1.
    プレビューボタン９が押圧されている間に、内蔵式閃光装置５のモデリング発光を行うか、または、リピーティング発光のテスト発光を行うかについては、電子カメラ１のカスタム設定操作によって決定される。 - 特許庁
  • Thus, a test signal outputted from the local oscillator VCO 1 passes through a reception circuit and quadrature baseband signals I,Q outputted from output terminals 15, 16 are given to a text inspection unit.
    これにより局部発振器ＶＣＯ１から出力されたテスト信号を受信回路に通し、出力端子１５・１６から出力されたＩとＱとの直交ベースバンド信号をテスト検査装置に入力する。 - 特許庁
  • To provide a probe unit and a continuity test method capable of raising contact pressure with electrodes of a specimen and accurately positioning the electrodes of the specimen to contact parts of conductors to be brought in contact with the electrodes.
    検体の電極との接触圧を大きくすることができ、検体の電極とその電極に接触する導線の接触部とを正確に位置合わせすることができるプローブユニット及び導通試験方法を提供する。 - 特許庁
  • Each is the de facto standard unit testing framework for its respective language.PyUnit supports test automation, sharing of setup and shutdown code for tests, aggregation of tests into collections, and independence of the tests from the reporting framework.
    PyUnitでは、テストの自動化・初期設定と終了処理の共有・テストの分類・テスト実行と結果レポートの分離などの機能を提供しており、unittestのクラスを使って簡単にたくさんのテストを開発できるようになっています。 - Python
  • As a result, when the conversion characteristic used by the image processing unit at printing is deviated from an optimum value, characters appear on the printed test chart 40, and the user can discriminate the propriety of the updated conversion characteristic at a glance.
    この結果、画像処理装置が印刷時に用いる変換特性が最適値からずれると、印刷したテストチャート上で文字が浮かび上がり、使用者は、変換特性の更新の要否を一目で判断できる。 - 特許庁
  • Furthermore, the substrate test-use jig unit is composed of: the substrate jig board 11; and a substrate holder having an aperture section which contacts with a portion area side to be tested this time in the substrate to be tested 101 and exposes it.
    また、基板検査用治具ユニットは、上記基板治具ボード１１と、被検査基板１０１における今回検査分の部分領域側と当接してこれを表出させる開口部を有する基板ホルダとで構成した。 - 特許庁
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