「Unit test」を含む例文一覧(1133)
＜前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 次へ＞- To shorten a test time when blocks to be erased selected over a plurality of banks are serially selected by a block unit and data are erased in a flash memory in which write/erasure operations and read operation are simultaneously performed.
書き込み／消去動作と読み出し動作を同時実行可能なフラッシュメモリにおいて、複数のバンクにわたって選択された消去対象選択ブロックをブロック単位でシリアルに選択してデータ消去を行う際、テスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁 - To quickly, easily and precisely measure a unit water amount by setting a neutron moisture meter in a sample to detect the number of thermal neutrons, after measuring an air volume pursuant to an air volume test (JISA1128-1998) for ready-mixed concrete.
生コンクリートの空気量試験（ＪＩＳＡ１１２８−１９９８）により空気量を測定した後、その試料に中性子水分計をセットして熱中性子数を検知することにより、単位水量を迅速、容易に、かつ高い精度で求める。 - 特許庁 - The second sensor unit has a second light-receiving part for receiving the light including the second noise information obtained from the external light being transmitted through the test subject, and a second reflecting part for reflecting the light including the second noise information and leading the light to the second light-receiving part.
第２のセンサー部は、外光が被検査体内を透過した第２のノイズ情報を有する光を受ける第２の受光部と、第２のノイズ情報を有する光を反射させて第２の受光部に導く第２の反射部と、を有する。 - 特許庁 - To reduce the labor and time at the time of calibrating reference devices in respective sites without reducing precision in an IC test device capable of testing plural IC chips in parallel having the plural sites each including measurement units and measurement unit diagnostic reference devices.
測定ユニットと測定ユニット診断用の基準器とをそれぞれ有するサイトを複数備え、複数のＩＣチップを並列して試験可能なＩＣ試験装置において、精度を下げずに、各サイトの基準器を校正する際の手間と時間とを削減する。 - 特許庁 - The motion measurement result and a ball direction in test shot are confirmed, the weights of sub weights 45, 46 are changed, and the sensor unit 20 and the main weight 40 which have the same physical quantity are exchanged, to provide the golf club 10 with the good weight balance.
モーション測定結果と試打のときの打球方向を確認して、サブウェート４５，４６の重量を変更し、物理量が同じセンサーユニット２０とメーンウェート４０を交換して、重量バランスがとれたゴルフクラブ１０でプレーすることができる。 - 特許庁 - The I/O power supply control unit generates a voltage decrease signal if a response signal A indicates that the test signal A is received correctly, otherwise generates a voltage increase signal.
Ｉ／Ｏ電源制御部は、応答信号Ａがテスト信号Ａが正しく受信されたことを示す場合に電圧減少信号を生成し、応答信号Ａがテスト信号Ａが正しく受信されないことを示す場合に電圧増加信号を生成する。 - 特許庁 - A gain acquisition unit 200, in consideration of resonance gains due to the structural features and gains acquired through hearing test at the same time, reduces gain correction time periods and possible errors while optimizing individual performances.
利得獲得ユニット２００は、このような構造的特徴によって発生した共鳴利得と聴力検査を通じて獲得した利得とを同時に考慮することで、利得補正時間と生じ得る誤差とを減少させつつ、個人別性能を最適化する。 - 特許庁 - The controller 7 of a power plant, a substation, water supply and sewerage systems, steel or petrochemical plants or the like and a central processing unit 1 with a built-in inspection apparatus are connected by a network, and the static characteristic test of the controller 7 is performed only by an operation from the plant side.
発電所、変電所、上下水道、鉄鋼、石油化学プラント等の制御装置７と点検装置を内蔵する中央処理装置１をネットワークで結び、工場側からの操作のみで制御装置７の静特性試験を行う。 - 特許庁 - Furthermore, the measurement unit 36 includes counters 58a-58d, which count the clock signal ck by each of four time-segments; and a CPU 52 and a personal computer 32 which test the encoder on the basis of count values d1-d4 which are counted by the counters 58a-58d.
また計測ユニット３６は、前記４つの区間毎にクロックｃｋをカウンタ５８ａ〜５８ｄと、該カウンタ５８ａ〜５８ｄによってカウントされた計数値ｄ１〜ｄ４に基づいてエンコーダの検査を行うＣＰＵ５２及びパーソナルコンピュータ３２とを有する。 - 特許庁 - The disk device 1 writes test data with error detection data without consistency added therein, directly into a physical disk 110 not via a cache unit 105 in response to a direct write request to the physical disk 110 from a host 2 (procedure 5).
ディスク装置１は，ホスト２からの，物理ディスク１１０への直接ライトの要求に応じて，整合性がないエラー検出用データが付加された試験データを，キャッシュ部１０５を経由させないで，物理ディスク１１０に直接に書き込む（手順５）。 - 特許庁 - Software for IC test system 1 is classified into a plurality of groups/properties, and the software stored in a floppy disc 381 inserted into a floppy drive 38 is incorporated into a software directory inside a storage medium 36 for every group unit.
ＩＣテストシステム１用のソフトウェアを複数の群・属性に分類し、フロッピー（登録商標）ドライブ３８に挿入されたフロッピーディスク３８１に記憶されたソフトウェアを、群単位で記憶媒体３６内のソフトウェアディレクトリに組み込むようにした。 - 特許庁 - A remained air does not almost exist in the gas pipe in the multiple dwelling house by performing the air purge at the most upstream gas meter part and the ignition test regarding the dwelling unit having the gas meters other than the gas meters performed with the air purge is not required.
最上流のガスメータ部分で空気パージを実施することにより、集合住宅内のガス管内の残留空気がほとんどない状態となり、空気パージを実施したガスメータ以外のガスメータの住戸についての点火試験が不要となる。 - 特許庁 - A bit configuration of a test mat is reduced by enabling an access to a memory mat with the largest bit width unit in a valid bit width modifiable according to a designation from the outside by setting a data size alignment circuit in a direct peripheral circuit.
データサイズアライメント回路を直接周辺回路に設け、外部からの指定に応じて変更可能な有効ビット幅における最大のビット幅単位でメモリマットをアクセス可能とすることで、検査マットのビット構成の低減化を達成する。 - 特許庁 - To provide a disk drive quality monitor system reducing the load with respect to an OS (operating system), CPU (central processor unit) of a user's computer, unnecessitating a new storage area, and capable of reducing also a load caused by the execution of a test, and to provide a disk drive quality monitoring method and a program.
利用者コンピュータのＯＳ、ＣＰＵに対する負荷を軽減し、新たな記憶領域を不要とし、試験実施による負荷をも軽減することができるディスクドライブ品質監視システム、ディスクドライブ品質監視方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - After this adjustment, the image processing unit 15 adjusts R, G and B values of pixels of a color image based on color image data received from a transmission apparatus 2 formed on the projection device 14 for each pixel based on the color adjustment result of the test pattern.
この調整後、画像処理部１５は、投射デバイス１４上に形成する送信装置２から受信したカラー画像データに基づくカラー画像の各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を、テストパターンの色調整結果に基づいて画素毎に調整する。 - 特許庁 - The tester and the semiconductor device test apparatus having such a tester are characterized in that a leveling unit provided on the base of a tester head maintains the horizontality of a probe card by applying a load to a top surface of the probe card in a downward direction.
本発明は、テスター、及びこれを具備した半導体デバイス検査装置であって、テスターヘッドのベースに提供される水平維持ユニットがプローブカードの上部に下方向に荷重を加えてプローブカードを水平状態に維持させることを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an air conditioning device and a solenoid valve unit used for the same capable of improving airtightness while controlling generation of abnormal noise from electromagnetic open close valve and of preventing residual of gas used in an airtightness test.
電磁開閉弁からの異常音の発生を抑制しつつ、気密性の向上を図ることができ、気密試験に用いられるガスの残留を防止することができる空気調和装置及びこれに用いられる電磁弁ユニットを提供する。 - 特許庁 - To economically and simply conduct adjustment and inspection of an optical module without the need for using an expensive exclusive measure ment instrument such as a multi-channel generator by providing a clock generat ing section generating a test pattern in an optical subscriber line terminating unit (ONU).
光加入者線終端装置（ＯＮＵ）内にテストパターンを発生するクロック発生部を設けることで、マルチチャネルジェネレータ等の高価な専用測定器を用いることなく光モジュールの調整検査を経済的に、かつ簡易に行なう。 - 特許庁 - The test system gradually increases/decreases attenuation of a variable attenuator 43 corresponding to an antenna 10 in each sector 1 as time elapse so as to gradually select the sectors and uses a device 30 equivalent to a mobile communication unit without using an actual mobile communication unit to confirm the normality of a wireless system in a way close to an actual hand-over.
各セクタ１のアンテナ１０に対応する可変減衰器４３の減衰量を、時間とともに漸次に増大または減少させることにより、セクタ間を漸次に切り替え、実際の移動通信機を使用せずに、移動通信機相当装置３０を使用して、実際のハンドオーバに近い形で無線系の正常性の確認を行う。 - 特許庁 - To rapidly test a high-speed memory such as a DDR memory or the like by rapidly testing the memory by using a simply, low cost constitution memory-testing unit.
本発明はメモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体に関し、簡単、且つ、安価な構成のメモリ試験装置を用いてメモリの試験を高速に行うことができ、ＤＤＲ型のメモリ等の高速メモリの試験も高速に行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁 - A boundary-scan cell connected to a first circuit terminal 37 of a device 32 from a list containing boundary-scan compliant circuit terminals of boundary-scan compliant devices 32, 33, 34, 35 mounted on PCB 31 is operated as a driver by a processing unit of the test device 42.
ＰＣＢ３１に搭載されたバウンダリスキャン対応デバイス３２、３３、３４、３５のバウンダリスキャン対応回路端子を含むリストからデバイス３２の第１回路端子３７に接続されたバウンダリスキャンセルが、テスト装置４２の処理ユニットによってドライバとして作動される。 - 特許庁 - A single microcomputer 60 provided therein reads in test select items inputted from an input unit 67 and writes the ID code of the collocation room facility of the end user or the telegraph company, as a select item, in a VDSL ship set 61.
その中には１個のマイクロコンピュータ６０が設けられ、それによって入力ユニット６７で入力されたテスト選定項目を読み取り、選定項目としてのエンドユーザ又は電信業者のコロケーションルーム設備の識別コードをＶＤＳＬチップセット６１に書き込む。 - 特許庁 - Based on the image data inputted from the processor 31, the density uniformity deciding unit 33 calculates the mean values of image data of all pixels involved in a plurality of predetermined regions under test on the Munsell copy respectively over the individual regions.
濃度むら判定部３３は、シェーディング補正処理部３１から入力されるイメージデータに基づき、マンセル原稿上の予め設定された複数の測定対象領域について、個々の領域に含まれる全画素のイメージデータの平均値をそれぞれ算出する。 - 特許庁 - In this method, this conversion table is revised in response to the result of test print to correct a change in a gamma characteristic of the electrophotography unit.
ハーフトーン処理部における変換テーブルは、画素の階調値と画像形成情報との対応を示すが、本発明では、この変換テーブルをテスト印刷の結果に応じて変更設定することで、電子写真装置のガンマ特性の変化に対する補正を行うことができる。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.
テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - The apparatus is provided with: a color image display panel 2 for displaying a test pattern imaged by a camera to which adjustment and inspection is to be applied; a personal computer 1; and an inspection unit 4 for generating imaged image information to the personal computer 1 on the basis of an output signal from the camera.
調整検査を行なうべきカメラで撮像するテストパターンを表示するカラー画像表示パネル２と、パーソナルコンピュータ１と、前記カメラの出力信号に基づきパーソナルコンピュータ１に提供する撮像画像情報を生成する検査機４を備える。 - 特許庁 - Since the semiconductor chip 3 can be handled in the unit of the carrier board 1, long term continuity test and measurement of high frequency characteristics can be facilitated and the reliability can be enhanced because an IC can be protected against breakdown at the time of searching the cause of failure.
これにより、半導体チップ３がキャリヤ基板１単位で取り扱い可能となるため、長時間通電試験、高周波特性の測定を容易に行えるとともに、不良原因を探る際もＩＣ破壊を防止することができ、信頼性を向上できる。 - 特許庁 - Besides, the communication control unit is provided with a control means for stopping the prescribed base station device when a stop command is received from the terminal device or the like, and the prescribed base station device is stopped and started from the terminal device to perform a line test.
また、回線制御装置は、端末装置等から停止コマンドを受信したとき、所定の基地局装置を停止せしめる制御手段を備え、端末装置から、所定の基地局装置を停止、起動させ、回線試験を行えるように構成したものである。 - 特許庁 - The drive unit 50 is fixed to a body 7 (base housing) in a diagonal region A of a region C, including the test head 9 among four regions A-D demarcated by two cross planes La, Lb as extensions of two cross side planes 9a, 9b.
駆動ユニット５０は、２側平面９ａ、９ｂの夫々を延長した２つの交差平面Ｌａ、Ｌｂによって画定される４領域Ａ〜Ｄのうち、テストヘッド９を含む領域Ｃの対角領域Ａで本体７（基部筐体）に固定されている。 - 特許庁 - To provide a handling robot for a magnetic head assembly with which it is easy to ensure the electrical contact between a flexible cable and a contact unit when the magnetic head assembly is set on a head clamp table of a magnetic head tester, and to provide a magnetic head test method and a magnetic head tester.
磁気ヘッドアッセンブリを磁気ヘッド検査装置のヘッドクランプ台にセットしたときにフレキシブルケーブルとコンタクトユニットとの電気的な接触を確保することが容易な、磁気ヘッドアッセンブリのハンドリングロボット、磁気ヘッド検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - This packing concrete comprises cement, an expansive admixture, a drying shrinkage-reducing agent and a water reducing agent, and has fluidity exceeding 30 cm packed height according to U-type packing test method, and has further 270-900 kg/m^3 unit mass of cement.
セメント、膨張材、乾燥収縮低減剤、及び減水剤を含有してなり、Ｕ形充填試験方法における充填高さが30cmを超える流動性を有する充填コンクリート、さらに、セメントの単位量が 270〜900kg/m^３である該充填コンクリートを構成とする。 - 特許庁 - A test toner image is formed in a corresponding area between sheets on an intermediate transfer belt every time a prescribed number of prints is performed during a continuous image forming operation, and a toner adhesion amount per the unit area is detected by a toner adhesion amount sensor constituted by a reflection type optical sensor.
連続画像形成動作中に所定枚数のプリントを行う毎に、中間転写ベルトの紙間対応領域にテストトナー像を形成し、その単位面積あたりのトナー付着量を反射型光学センサからなるトナー付着量センサによって検知する。 - 特許庁 - To improve a reliability of a test and to securely prevent a damage of a semiconductor device in shipping package in relation to a packaging structure of a cover for semiconductor device, a semiconductor device unit, and the semiconductor device, and a method for protecting the semiconductor device.
半導体装置用カバー及び半導体装置ユニット及び半導体装置の梱包構造及び半導体装置の保護方法に係り、試験の信頼性を高めると共に出荷包装時における半導体装置の損傷を確実に防止すること。 - 特許庁 - The processed signal is output to the outside through the memory unit 8 when the radio signal transmitted by an introduction apparatus in a body of a subject is received and is output to the outside through the real-time output section 9 when the efficiency test of the antennas for receiving is performed.
被検体内導入装置から送信された無線信号を受信する際には記憶ユニット８を介して処理された信号が外部に出力され、受信用アンテナの性能検査時にはリアルタイム出力部９を介して外部に出力される。 - 特許庁 - A blood test instrument comprises a housing 12, a paracentesis opening portion 13 provided in the housing 12, a laser unit 14 provided face to face with the paracentesis opening portion 13, and a transparent member 15a interposed between the laser unit 14 and the paracentesis opening portion 13.
筐体１２と、この筐体１２に設けられた穿刺開口部１３と、この穿刺開口部１３に対向して設けられたレーザユニット１４と、このレーザユニット１４と穿刺開口部１３との間に設けられた透明部材１５ａとを備え、透明部材１５ａは、回転可能な円盤形状にするとともに穿刺回数に基づいて透明部材１５ａを予め定められた量回転させるものである。 - 特許庁 - The failure analyzing device 10 is constituted by a test information acquisition 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device, a layout information acquisition 12 for acquiring layout information, a failure analyzer 13 for analyzing a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control unit 14 for displaying information of an analysis result on a display unit 40.
半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、解析結果の情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁 - The failure analyzing device 10 is constituted of a test information acquisition part 11 for acquiring a failure observation image P2 of the semiconductor device, a layout information acquisition part 12 for acquiring layout information, a failure analyzer 13 for analyzing a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control unit 14 for displaying the information of an analysis result on a display unit 40.
半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、解析結果の情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁 - To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.
主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁 - The personal information of a user that is a purchaser of the contact lens, prescription information of the user prescribed by an ophthalmologist based on an eye test, and bioinformation of the user read by a bioinformation reading unit 310 are registered from a store terminal device 103 to a server 101 through a network 100.
コンタクトレンズ購入者であるユーザの個人情報と、眼科医の検眼により処方されたユーザの処方箋情報と、生体情報読み取りユニット３０１にて読み取ったユーザの生体情報と、を販売店端末装置１０３からネットワーク１００を介してサーバ１０１へ登録する。 - 特許庁 - When the main control unit generates authentication data having any one of the extracted first to third test values or generates expected value changing data, it generates authentication information having the authentication data or the expected value changing data and transmits the generated authentication information to a back stage part.
主制御部は抽出した第１〜３検査値の何れか１つを有する認証用データを生成する、また、期待値変更用データを生成すると、認証用データ又は期待値変更用データを有する認証情報を生成し、該生成した認証情報を後段部に送信する。 - 特許庁 - Since the heat shrinkage resin film and the upper face of the toilet bowl unit are in adhesion state, water used for a test at the time of installation remains without evaporation for a long period time, and thus, the smell from other houses or drainage pipes can be prevented.
前記加熱により、前記熱収縮性樹脂フィルムと便器装置の上面とは、密着した状態になっているため、長期間にわたって、設置の際に試験を行った水が蒸発することなく残り、他の家または排水管からの臭いを防止することができる。 - 特許庁 - When a fault is detected in the case of writing the image data to the hard disk 301 or of reading the data as a test after that, the use of an area of the hard disk in the unit of a prescribed size relating to fault detection is inhibited and the image data are written again to the hard disk 301.
前述のハードディスク３０４への画像データの書き込みの際、またはその後の試験的読み出しの際に、異常を検知した場合は、ハードディスクにおける、異常検知にかかる所定サイズ単位の領域を使用禁止として、再度ハードディスクーの画像データの書き込みを行う。 - 特許庁 - When a concave portion is observed in a hole inner wall in a preliminarily performed test processing, an adjustment increasing a laser strength is carried out until no concave portion becomes observed to obtain a nozzle unit 5 having a high hardness, which has a defect-free hole in the hole outlet, using the adjusted laser in laser strength.
予め行われたテスト加工で穴内壁に凹部が観察された場合に凹部が観察されなくなるまでレーザ強度を上げる調整を行い、調整されたレーザ強度のレーザを用いて、穴出口に欠陥のない穴を有する硬度の高いノズルユニット５を得る。 - 特許庁 - To provide a system and method for measuring wind tunnel internal phase pair distance, capable of quantitatively conducting proximity decision of a plurality of mutual testing bodies with high accuracy, while contactlessly measuring a relative distance of the testing bodies used for internal test of a wind tunnel measurement unit in a short time.
風洞測定部内試験に用いられる複数の試験体の相対距離を非接触かつ短時間で計測しつつ、試験体同士の近接判定を高精度かつ定量的に行うことができる風洞内相対距離計測システム及び風洞内相対距離計測方法を提供する。 - 特許庁 - The BIST unit generates (k) preliminary failure signals having failure information indicating whether the test data correspond with the expected data or not, and outputs the (k) preliminary failure signals for (m) cycles of a clock signal, by outputting k/m preliminary failure signals each cycle as first through k/m failure signals.
ＢＩＳＴ部はテストデータと予想データとが一致するか否かを表示する欠陥情報を有するｋ個の予備欠陥信号を発生させ、ｋ個の予備欠陥信号をクロック信号のｍサイクルの間、ｋ／ｍ個ずつ第１ないし第ｋ／ｍ欠陥信号として出力する。 - 特許庁 - The deodorizing device or the test tub 1 used for evaluating the deodorization performance of the deodorant includes: a deodorization tub 2 in which a deodorizing unit 10 or deodorant 11 is set for performing the deodorization process under a fixed deodorization environment; and an injection/discharge tub 3 for injecting or discharging an odor component.
脱臭装置、又は脱臭剤の脱臭性能評価に用いる試験槽１は、脱臭ユニット１０又は脱臭剤１１が設置され且つ一定の脱臭環境下で脱臭処理を行う脱臭槽２と、臭い成分が注入又は排出される注入・排出槽３とを備える。 - 特許庁 - To provide a method of evaluating corrosion resistance of a metal material and a corrosion acceleration testing device of a metal material for performing the method of evaluating corrosion resistance having high correlation to corrosion of a steel plate mating unit of an actual vehicle by using a plane test piece to which no steel plates are overlapped.
鋼板を重ね合わせていない平板試験片を用いて、実際の自動車の鋼板合わせ部の腐食に対して相関性が高い、金属材料の耐食性評価方法及び前記耐食性評価方法を行うための金属材料の腐食促進試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a temperature information output unit for defining an operating point so as to cope with any specification discussed in a test group (ODTS TG) of JEDEC in order to define an operating point of a temperature information output device (ODTS).
温度情報出力装置（ＯＤＴＳ）の動作時点を定義するため、ＪＥＤＥＣの温度情報出力装置テストグループ（ＯＤＴＳ ＴＧ）で議論されている全ての仕様に対応可能となるように動作時点を定義する温度情報出力装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electric simulator of a fuel cell in which in place of the fuel cell body, a proceeding system integrated monitoring is carried out, movable electric power output characteristics necessary for developing test of an electric power adjustment unit can be obtained, and cost necessary for developing a fuel cell system can be saved.
燃料電池本体の代りに、進行システム統合モニタを行い、電力調節ユニット開発テストに必要とする可動的な電力出力特性が得られ、燃料電池システム開発に必要とするコストを節約できる燃料電池の電気模擬装置を提供する。 - 特許庁 - A measuring beam RL including an image of pin-hole PH of a test reticle Rt is controlled to be incident to the wave-front aberration measuring unit 75 to measure the wave- front aberration information of the projected optical system PL and this measuring beam RL is developed to various elements including the defocus element using the polynomial of Zernike.
テストレチクルＲｔのピンホールＰＨの像を含む測定光ＲＬを波面収差測定ユニット７５に入射させ、投影光学系ＰＬの波面収差情報を測定するとともにツェルニケの多項式を用いてデフォーカス成分を含む種々の成分に展開する。 - 特許庁
- 特許庁
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