ぶんしけいろの英語

インターポーザ、プローブカード及び回路試験装置例文帳に追加

INTERPOSER, PROBE CARD AND CIRCUIT TESTER - 特許庁

集積回路、集積回路の試験方法、集積回路部品例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR THE SAME AND INTEGRATED-CIRCUIT COMPONENT - 特許庁

試験部）は、単独で試験可能な回路ブロックを複数備える半導体集積回路の指定された１または複数の回路ブロックを含む試験ブロックを並列に試験する。例文帳に追加

The test unit tests in parallel a test block including designated one or more circuit blocks of a semiconductor integrated circuit having a plurality of circuit blocks which can be tested singly. - 特許庁

キャリブレーション回路、ＩＣ試験装置及びタイミングキャリブレーション方法例文帳に追加

CALIBRATION CIRCUIT, IC-TESTING DEVICE, AND METHOD OF CALIBRATING TIMING - 特許庁

集積回路試験装置20は、集積回路試験制御部21と、集積回路試験制御部21に集積回路の試験を行わせる集積回路試験プログラムが記憶されている記憶部22を有している。例文帳に追加

The tester 20 has an integrated circuit test controller 21 and a memory 22 storing integrated circuit test programs for running the controller 21 to test integrated circuits. - 特許庁

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法例文帳に追加

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD - 特許庁

情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラム例文帳に追加

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING BRANCH PREDICTION CIRCUIT OF INFORMATION PROCESSOR - 特許庁

衝突試験用ダミーのためのフレキシブルプリント回路ケーブルシステム例文帳に追加

FLEXIBLE PRINTED CIRCUIT CABLE SYSTEM FOR CRASH TESTING DUMMY - 特許庁