オーブン試験の英語

取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。例文帳に追加

To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device. - 特許庁

次に、その耐圧ステンレス容器をオーブンで加熱するだけで、試験管の破損もなく、微量のサンプルのメタノールによる超臨界抽出ができる。例文帳に追加

Then, the stainless steel vessel is heated in an oven to perform supercritical extraction of trace sample by methanol. - 特許庁

試験部品を部分的に冷却した後に、それを金型から取り出し、環境温度まで冷却して測定し、オーブン中でアニールする。例文帳に追加

The test component is partly cooled then it is taken up from the mold, cooled to an environmental temperature, measured and annealed in an oven. - 特許庁

オーブンを使用して高温・高湿度での環境条件下における耐久試験を行った時およびオーブンから取り出した後でも粘着剤層の白濁や被着体からの浮き及び剥がれがない粘着剤組成物及び粘着フィルムを提供する。例文帳に追加

To provide an adhesive composition which causes neither cloudiness of an adhesive layer nor lifting and peeling of the adhesive layer from an adherend when durability test is conducted with the use of an oven under environmental conditions at a high temperature and high humidity is conducted and even after taken out of the oven, and also to provide an adhesive film. - 特許庁

粘着剤層が被着体の段差に追従し貼合の際に空気の入り込みを防止でき、かつ、高温高湿度での耐久試験を行った時およびオーブンから取り出した後でも粘着剤層の白濁がない粘着剤組成物及び粘着フィルムを提供する。例文帳に追加

To provide an adhesive composition and adhesive film that can inhibit entering of air because the adhesive layer follows level difference of adherend when performing lamination, and does not become cloudy during an endurance test in an oven of high temperature and high humidity, and also after taking out of the test piece from the oven. - 特許庁

コンデンサに対して、直流電圧印加下での耐電圧試験を実施したとき、コンデンサに備える誘電体が分極状態となり、この分極状態を解放するため、コンデンサを加熱する必要があるが、この加熱のためにオーブンによるバッチ処理を行なうと、時間がかかるとともに、大掛かりな装置を必要とする。例文帳に追加

To solve the problem that a long time and a large-scale device are required in conducting batch processing using an oven to heat a capacitor and thus release the polarization of a dielectric of the capacitor, which has been caused by a withstand voltage test under the impression of DC voltage on the capacitor. - 特許庁