クロックピンの英語

共通バスに複数のＩ／Ｏ機能を接続し、各々のＩ／Ｏ機能のクロックピンを外部へ出す。例文帳に追加

A plurality of I/O functions are connected to a common bus, and the clock pin of each I/O function is projected to the outside. - 特許庁

パークロックピンが入る前に、モータ〜車輪間の捩れを除去することが出来るので、ピン当たり音や振動を抑制することが出来る。例文帳に追加

Since the twist between the motor and the wheel can be removed before the insertion of a park-lock pin, a pin-hitting sound and vibration can be suppressed. - 特許庁

入力クロックピン数を増加させることなく、任意の段数にＴＤＩ段数を切り替える機能を有したＴＤＩ方式のイメージセンサ、及びその駆動方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a TDI type image sensor having a function of switching the number of TDI stages to the optional number of stages without increasing the number of input clock pins, and also to provide a driving method therefor. - 特許庁

テストピンを別途に備えず、ＭＣＵの基本構成要素のリセットピン又はクロックピンのみを用いてテストモードを設定して、ピン数の少ないＭＣＵにも適用し得るＭＣＵのテストモード設定回路を提供すること。例文帳に追加

To provide a test mode setting circuit of MCU, which does not separately have a test pin, in which a test mode is set through the use of only the reset pin or the clock pin of the basic constitution element of MCU to be applied to MCU with the small number of pins. - 特許庁

クロック信号が入力されるクロックピン１０−３と、リセット信号が入力されるリセットピン１０−２と、前記クロック信号とリセット信号との論理値に従って、リセット信号をカウントしてテスト信号を発生するテスト信号発生回路５０と、を備えたＭＣＵのテストモード設定回路を構成する。例文帳に追加

The test mode setting circuit of MCU has a clock pin 10-3 to which a clock signal is inputted, a reset pin 10-2 to which a reset signal is inputted, and a test signal generation circuit 50 counting the reset signals and generating a test signal in accordance with the logical value of the clock signal and the reset signal. - 特許庁