温長の英語

半導体ウェハーＷの温度は長波長放射温度計１２０および短波長放射温度計１３０によって測定される。例文帳に追加

The temperature of the semiconductor wafer W is measured by a long-wavelength radiation thermometer 120 and a short-wavelength radiation thermometer 130. - 特許庁

好ましくはブロッキング層の成長開始時における成長温度が活性領域成長温度に１００℃を加えた温度以下である。例文帳に追加

Preferably, a growth temperature during a growth start of the blocking layer may be below a temperature obtained by adding 100°C to an active region growth temperature. - 特許庁

波長可変ダイオードレーザを用いたガスタービンの高温ガス温度測定例文帳に追加

HOT GAS TEMPERATURE MEASUREMENT IN GAS TURBINE USING TUNABLE DIODE LASER - 特許庁

本発明は、耳内温及び外気温を容易に長時間測定する。例文帳に追加

To easily measure a tympanic temperature and an outside air temperature for a long period of time. - 特許庁

成長温度を６２０℃〜５５０℃の比較的低い温度で成長させるようにしてもよい。例文帳に追加

A growth temperature may be set at a relatively low temperature from 620 to 550°C to grow the layers. - 特許庁

成長温度を６２０℃以下の比較的低い温度で成長させるようにしてもよい。例文帳に追加

A growth temperature may be grown at a comparatively low temperature of 620°C or lower. - 特許庁

気相成長装置および気相成長装置の温度検出方法ならびに温度制御方法例文帳に追加

VAPOR GROWTH DEVICE, METHOD FOR DETECTING TEMPERATURE OF VAPOR GROWTH DEVICE, AND METHOD FOR CONTROLLING TEMPERATURE OF VAPOR GROWTH DEVICE - 特許庁

結晶成長時の成長界面の面内温度分布における最大温度差が２℃以下とする。例文帳に追加

Where the maximum temperature difference in temperature distribution within the face of a growth interface when growing the crystal, is at most 2°C. - 特許庁