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測定用および試験用装置の英語
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「測定用および試験用装置」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 105件
荷重測定用輪軸の試験方法および試験装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING WHEEL SET FOR LOAD MEASUREMENT - 特許庁
風洞試験装置の測定部およびこれを用いた風洞試験装置例文帳に追加
MEASURING PART OF WIND TUNNEL TEST DEVICE AND WIND TUNNEL TEST DEVICE USING THIS - 特許庁
作動試験用機械、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、温度試験装置及び遅動時間測定装置例文帳に追加
Operation testing machine, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, temperature testing device, and delay time measuring device発音を聞く - 日本法令外国語訳データベースシステム
免疫クロマト試験用具及び免疫クロマト試験片の測定装置例文帳に追加
IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TEST APPARATUS AND MEASURING DEVICE FOR IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TEST PIECE - 特許庁
およびこの試験装置を利用した測定方法。例文帳に追加
The measurement method comprises using the testing device. - 特許庁
測定装置および測定装置を使用しての被試験器の調整方法例文帳に追加
MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD FOR ADJUSTING DEVICE TO BE TESTED USING MEASUREMENT APPARATUS - 特許庁
デバイス試験方法及び装置並びに測定用カ—ド例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR TESTING DEVICE AND CARD FOR MEASUREMENT - 特許庁
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「測定用および試験用装置」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 105件
生体試料測定用試験片および生体試料測定装置例文帳に追加
TEST PIECE FOR BIOLOGICAL SPECIMEN MEASUREMENT AND BIOLOGICAL SPECIMEN MEASURING DEVICE - 特許庁
材料試験装置に用いる変位測定装置及び変位測定方法例文帳に追加
DISPLACEMENT MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD USED FOR MATERIAL TESTER - 特許庁
温度測定方法およびそれを用いた試験方法ならびに半導体試験装置と特性予測方法例文帳に追加
TEMPERATURE MEASURING METHOD, TESTING METHOD USING THE SAME, SEMICONDUCTOR TESTER AND SEMICONDUCTOR CHARACTERISTICS ESTIMATING METHOD - 特許庁
試験用セルおよびそれを使用する蛍光発光測定装置例文帳に追加
CELL FOR TEST AND FLUORESCENCE MEASURING INSTRUMENT USING SAME - 特許庁
電気的試験方法、その電気的試験に用いる電気的接続装置及び試験装置並びにその電気的接続装置に用いる測定治具例文帳に追加
ELECTRIC TEST METHOD, ELECTRIC CONNECTION DEVICE AND TEST DEVICE FOR USE IN ELECTRIC TEST, AND MEASURING TOOL FOR USE IN ELECTRIC CONNECTION DEVICE - 特許庁
静電気放電耐性特性の測定方法、静電気破壊試験方法、及び静電気破壊試験用装置例文帳に追加
ELECTROSTATIC DISCHARGE RESISTANCE CHARACTERISTIC MEASURING METHOD, ELECTROSTATIC DISCHARGE DESTRUCTION TEST METHOD, AND DEVICE FOR ELECTROSTATIC DISCHARGE DESTRUCTION TEST - 特許庁
電圧測定回路およびそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加
VOLTAGE MEASURING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS USING THE SAME - 特許庁
測定ポイント選択方法およびその方法を用いた試験装置例文帳に追加
METHOD FOR SELECTING MEASUREMENT POINT AND TESTER USING THE SAME - 特許庁
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