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計測基準方法の英語
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「計測基準方法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 62件
計測方法、光学素子の製造方法、基準原器及び計測装置例文帳に追加
MEASUREMENT METHOD, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL ELEMENT, REFERENCE MASTER STANDARD, AND MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置例文帳に追加
SHAPE MEASUREMENT METHOD AND SHAPE MEASURING DEVICE USING A NUMBER OF REFERENCE PLANES - 特許庁
三次元形状計測装置の基準座標取込方法例文帳に追加
METHOD OF INCORPORATING REFERENCE COORDINATE FOR THREE DIMENSIONAL GEOMETRY MEASURING DEVICE - 特許庁
粉体流量計測の基準値の設定方法と装置例文帳に追加
METHOD OF SETTING REFERENCE VALUE FOR POWDER FLOW RATE MEASUREMENT AND DEVICE - 特許庁
計測機器の基準姿勢補正方法及び装置例文帳に追加
STANDARD ATTITUDE CORRECTION METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INSTRUMENT - 特許庁
基準位置計測装置及び方法、並びに描画装置例文帳に追加
REFERENCE POSITION MEASURING INSTRUMENT AND METHOD, AND DRAWING DEVICE - 特許庁
基準位置計測装置及び方法、並びに描画装置例文帳に追加
REFERENCE POSITION DETECTION APPARATUS AND METHOD, AND DRAWING APPARATUS - 特許庁
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「計測基準方法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 62件
三次元形状計測方法及びその為の基準部材例文帳に追加
THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASUREMENT METHOD AND REFERENCE MEMBER THEREFOR - 特許庁
基準パターン情報の作成方法、位置計測方法、位置計測装置、露光方法、及び露光装置例文帳に追加
CREATION METHOD OF REFERENCE PATTERN INFORMATION, POSITION MEASURING METHOD, POSITION MEASURING DEVICE, EXPOSURE METHOD, AND EXPOSURE DEVICE - 特許庁
投影露光装置、変位計測手段の計測基準の校正方法およびデバイス製造方法例文帳に追加
PROJECTION EXPOSURE DEVICE, CALIBRATION METHOD OF MEASUREMENT STANDARD IN DISPLACEMENT MEASURING MEANS, AND MANUFACTURING METHOD OF DEVICE - 特許庁
背景を基準とする画像処理による変位、位置、姿勢計測方法例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR DISPLACEMENT, POSITION, ATTITUDE BY IMAGE PROCESSING HAVING BACKGROUND AS REFERENCE - 特許庁
露光装置、基準反射板、反射率計測センサの校正方法及びマイクロデバイスの製造方法例文帳に追加
ALIGNER, REFERENCE REFLECTION PLATE, CALIBRATION METHOD OF REFLECTANCE MEASURING SENSOR, AND MANUFACTURING METHOD OF MICRO DEVICE - 特許庁
計測対象に写真計測用のターゲット等の基準位置特定部を設けることを要せずに多数の点について精度の良い写真計測を行うことができる写真計測方法及び写真計測プログラムの提供。例文帳に追加
To provide a photogrammetry for performing high-accuracy photogrammetry on a large number of points, without having to provide a reference position specification part, such as a target for photogrammetry on a measuring object, and to provide a photogrammetry program. - 特許庁
低コストの発信機を用いて高い計測精度を確保でき、かつ特定の基準発信機に計測精度が依存することなく、長期間安定して高い計測精度が得られる変位計測システム及び変位計測方法を得る。例文帳に追加
To provide a displacement measuring system and a displacement measuring method, capable of securing high measurement accuracy through the use of low-cost transmitters, preventing measurement accuracy from depending on a specific reference transmitter, and stably achieving high measurement accuracy over a long period. - 特許庁
レーザーポインター・水平儀・垂直儀などの冶具を用いて、計測基準位置と計測位置との偏差を計測して求め、指定された計測位置を特定するなどの立体計測を実行するための計測環境を設定する必要がない計測方法及びこれを適用したマウスを提供する。例文帳に追加
To provide a measuring method for measuring and determining a deviation between a measuring reference location and a measured location using a jig such as a laser pointer, a horizon indicator, a perpendicular indicator and eliminating a necessity for setting a measuring environment for implementing steric measurement such as an identification of the designated measured location, and a mouse to which the method is applied. - 特許庁
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