電子顕微鏡検査法の英語

透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。例文帳に追加

To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope. - 特許庁

荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法例文帳に追加

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD - 特許庁

透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME - 特許庁

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法例文帳に追加

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF - 特許庁

電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method of a test piece in an electron microscope. - 特許庁

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法例文帳に追加

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME - 特許庁