Ｘ線強度の英語

Further, in consideration of the error of the positional reproducibility of a goniometer, fluorescent X-ray analysis is performed by a method for performing the incidence of X rays from a direction becoming minimum in the incident X-ray azimuth dependence of the intensity of X rays scattered from the crystal part to the measurement of the intensity of fluorescent X rays enhanced in reproducibility from an actual aspect.例文帳に追加

また、ゴニオメータの位置再現性の誤差を考慮し、結晶部で散乱されるX線強度の入射X線方位依存性が最少になる方向からX線を入射する方法で分析することにより、実際上再現性を高めた蛍光X線強度測定を行うことを可能とした。 - 特許庁

To solve the large fluctuations in the intensity of the fluorescent X rays from an element to be measured and to perform the evaluation of the injection amount of ions, the evaluation of the concentration of an element in a thin film and the evaluation of the contamination quantity on the surface of a sample in-line with high precision.例文帳に追加

測定目的元素からの蛍光X線強度の大きな変動を解決するとともに、これまで困難であった、高精度な、イオン注入量評価、薄膜中の元素濃度評価、試料表面の汚染量評価をインラインで行なうことを可能とする。 - 特許庁

Diffraction X rays generated are recorded in a two-dimensional X-ray detector at a stroke in a short period of time, thereby visualizing the intensity of diffraction X rays from the ultrafine structure in a reciprocal lattice space to rapidly analyze its structure.例文帳に追加

基板結晶表面上に育成された超微細ナノワイヤ、基板結晶とその表面を覆うキャップ層の間に挟まれた、埋もれた超微細ナノワイヤ、あるいは、薄膜結晶などの超微細構造体に、0.1 nm以下の短波長X線を表面から数°以下の角度で入射させ、生じる回折X線を２次元X線検出器に短時間で一度に記録することにより、前記超微細構造体からの回折X線強度を逆格子空間において可視化し、その構造を迅速に解析する。 - 特許庁