Built In Self Testとは 意味・読み方・使い方

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

メモリ回路用の組込み自己試験装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁

To execute built-in self test without using plural exclusive test terminals.例文帳に追加

複数の専用のテスト端子を用いず、組み込み自己検査を実行する。 - 特許庁

To provide a SOC with a built-in self-test circuit and a self-test method therefor.例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ及びそのセルフテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

To provide a semiconductor IC circuit which accomplishes a BIST(built in self test), whitout having to provide an exclusive test terminal.例文帳に追加

テスト専用端子を設けることなくＢＩＳＴ（Built In Self Test）を行うことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁