Measuring microscopesとは 意味・読み方・使い方

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

To provide a scanning type probe unit for measuring SPM in all microscopes, having an objective revolver.例文帳に追加

対物レボルバを有するすべての顕微鏡においてＳＰＭ測定を行なうことを可能にする走査型プローブユニットを提供する。 - 特許庁

The alternative technology for the device for measuring the remaining life is composed of the electron microscopes 1, 2 for imaging the polished surface of the reference life measurement subject and the computers 6, 8.例文帳に追加

基準寿命計測対象物体の研磨表面を撮影する電子顕微鏡１，２と、計算器６，８とから構成される。 - 特許庁

An optical system 15 for microscopes for detecting an index previously applied to the measuring surface d1 of the object to be inspected by the telecentric object lens 7 and performing projection to the light-receiving part 11 by the object lens 10 is formed.例文帳に追加

また被検体測定面ｄ１に予め施した指標をテレセントリック対物レンズ７で検出して対物レンズ１０で受光部１１に投影する顕微鏡用光学系１５を形成する。 - 特許庁