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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > JST科学技術用語日英対訳辞書 > SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPEの意味・解説 

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPEとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 走査透過型電子顕微鏡、走査型透過電子顕微鏡


JST科学技術用語日英対訳辞書での「SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning transmission electron microscope


「SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 74



例文

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁

例文

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁

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ライフサイエンス辞書での「SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE」の意味

日英・英日専門用語辞書での「SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE」の意味

scanning transmission electron microscope


Weblio英和対訳辞書での「SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE」の意味

Scanning Transmission Electron Microscope

走査型透過電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡(Scanning Transmission Electron Microscope、STEM))とは透過型電子顕微鏡1つ

scanning transmission electron microscope

Weblio英和対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 74



例文

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION例文帳に追加

ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁

例文

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

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