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charged substrateとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 荷電基質

JST科学技術用語日英対訳辞書での「charged substrate」の意味

charged substrate


「charged substrate」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 507



例文

EVALUATION SUBSTRATE OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビームの評価基板 - 特許庁

BUMP-FORMING APPARATUS FOR CHARGED SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, DESTATICIZING METHOD FOR CHARGED SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, DESTATICIZER FOR CHARGED SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, AND CHARGED SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

電荷発生半導体基板用バンプ形成装置、電荷発生半導体基板の除電方法、電荷発生半導体基板用除電装置、及び電荷発生半導体基板 - 特許庁

PRODUCTION METHOD FOR HARDLY CHARGED GLASS SUBSTRATE, AND HARDLY CHARGED GLASS SUBSTRATE OBTAINED THEREBY例文帳に追加

難帯電ガラス基板の製法およびそれによって得られた難帯電ガラス基板 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MASK MANUFACTURING SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING CHARGED PARTICLE MASK USING SUBSTRATE例文帳に追加

荷電粒子線マスク製造用基板及びこの基板を用いた荷電粒子線マスクの製造方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子線を用いた基板検査装置および基板検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE TREATMENT APPARATUS AND CHARGED PARTICLE EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

基板処理装置及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND METHOD OF ELECTRICALLY CHARGED PARTICLE LINE EXPOSURE例文帳に追加

半導体基板および荷電粒子線露光方法 - 特許庁

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「charged substrate」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 507



例文

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND METHOD FOR EXPOSURE BY CHARGED-PARTICLE BEAM例文帳に追加

半導体基板および荷電粒子線露光方法 - 特許庁

GROUNDING MECHANISM OF SUBSTRATE, AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS例文帳に追加

基板のアース機構及び荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

SUBSTRATE TRANSFER METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS, AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置の基板搬送方法および荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND THIN FILM TRANSISTOR SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、及びTFT基板検査装置 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING SUBSTRATE DISPLACEMENT IN CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置の基板ズレ評価方法および荷電粒子ビーム描画システム - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SUBSTRATE POSITION IN CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM, AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置の基板位置測定方法および荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR CIRCUIT PATTERN USING CHARGED PARTICLE BEAM AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線を用いた回路パターン用基板検査装置および基板検査方法 - 特許庁

例文

Liquid crystal is charged between the TFT substrate 10 and counter substrate 20 afterward.例文帳に追加

その後、TFT基板10と対向基板20との間に液晶を封入する。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る

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