scan testingとは 意味・読み方・使い方

METHOD FOR FORMING SCAN CHAIN AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンチェーンの形成方法および集積回路の試験方法 - 特許庁

To provide a transparent latch circuit capable of scan testing with a GSD.例文帳に追加

ＧＳＤでスキャンテスト可能なトランスペアレントラッチ回路を提供する。 - 特許庁

To increase portions to be tested by a memory BIST and scan testing.例文帳に追加

メモリＢＩＳＴとスキャンテストとによりテスト可能な部分を増やす。 - 特許庁

LOW-POWER AND AREA-EFFICIENT SCAN CELL FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING例文帳に追加

集積回路テスト用の低電力で面積効率の良いスキャンセル - 特許庁

PROGRAM AND METHOD FOR SCAN CHAIN EXTRACTION AND TESTING SYSTEM例文帳に追加

スキャンチェーン抽出プログラム、スキャンチェーン抽出方法及び試験装置 - 特許庁

An integrated circuit comprises scan test circuitry and additional circuitry subject to testing utilizing the scan test circuitry.例文帳に追加

集積回路は、スキャンテスト回路と、スキャンテスト回路を使用してテストを受ける追加回路とを備える。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, METHOD OF TESTING THE SAME AND METHOD OF INITIALIZING FLIP-FLOP例文帳に追加

スキャンテスト回路とそのテスト方法、およびフリップフロップの初期設定方法 - 特許庁

To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加

集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁