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「secondary fixed beam」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 3件
Yield of a secondary Ga ion emitted from the sample 4 is measured by pre-radiating the fixed amount of Ga focused ion beam 3 to the sample 4 at every appropriate surface temperature of the sample 4 in advance to obtain a relation of the yield of the secondary Ga ion with the surface temperature of the sample 4.例文帳に追加
予め適当な試料4の表面温度毎にGa集束イオンビーム3を一定量試料4に前照射することにより試料4から放出された2次Gaイオンの収量を測定して、試料4の表面温度に対する2次Gaイオンの収量の関係を得る。 - 特許庁
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