x-ray diffractometerとは 意味・読み方・使い方

To provide an X-ray diffractometer executing a wavelength modulation diffraction method by using an X-ray tube in stead of a radiation source as an X-ray source.例文帳に追加

Ｘ線源として放射光源ではなくＸ線管を用い、波長変調回折法を実施できるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING STRUCTURE FACTOR TENSOR ELEMENT, AND METHOD FOR USING X-RAY DIFFRACTOMETER THEREFOR例文帳に追加

構造因子テンソル要素決定法及びそのためのＸ線回折装置利用法 - 特許庁

The X-ray diffractometer 1 is equipped with a measuring instrument 2 for irradiating a sample with the X rays emitted from an X-ray source and detecting the X rays, which are diffracted by the sample, by an X-ray detector.例文帳に追加

Ｘ線源から発生したＸ線を試料に照射すると共にその試料で回折したＸ線をＸ線検出器によって検出する測定装置２を備えたＸ線回折装置１である。 - 特許庁

To provide an X-ray diffractometer that can effectively intercept scattered X rays caused by an external cylinder and a radiation shield.例文帳に追加

外筒およびラジェーションシールドによる散乱Ｘ線を効果的に阻止できるＸ線回折計測装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an X-ray spectrometer and an X-ray diffractometer which fit to analyze light elements, and heavy elements of a minute amount without losing a compactness as a portable type.例文帳に追加

可搬型としての小型性を損なうことなく、軽元素の分析や微量の重元素の分析に適したＸ線分光装置およびＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To enable an X-ray diffractometer to secure a sufficient X-ray intensity with high resolution by making a convergence method and a parallel beam method easily switchable to each other, and using a parabolic multilayered film mirror when the parallel beam method is used.例文帳に追加

集中法と平行ビーム法を簡単に切り換え可能にし，かつ，平行ビーム法において放物面多層膜ミラーを使うことで高分解能で十分なＸ線強度を確保する。 - 特許庁

In contrast to a conventional X-ray diffractometer which holds a sample itself or a capillary housing sample in a cantilever-like state, this X-ray diffractometer holds the sample itself or capillary housing the sample on the center line of the surface of a holder having an appropriate large surface.例文帳に追加

従来、試料自体あるいは試料を収納したキャピラリを片持ち梁の形で保持することが行われていたのに対して、ホルダを適当に大きな面を持つものとするとともに、試料自体あるいは試料を収納したキャピラリをそのホルダの面の中心線上に保持する。 - 特許庁

A novel basic principle different from known one is found in the present invention, and the precision for the X-ray diffractometer is calculated based thereon.例文帳に追加

本発明において、これまで知られていたものとは全く異なる、新しい基礎原理を発見し、Ｘ線回折装置の精度が計算された。 - 特許庁