例文 (999件) |
"かん-けん"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 6160件
欠陥検査方法、欠陥検査装置例文帳に追加
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE - 特許庁
【気象】 中間圏.例文帳に追加
mesosphere - 研究社 新英和中辞典
外観検査装置例文帳に追加
抜管検知装置例文帳に追加
DETECTOR FOR EXTUBATION - 特許庁
外観検査装置例文帳に追加
相関検出器例文帳に追加
CORRELATION DETECTOR - 特許庁
相関検出装置例文帳に追加
CORRELATION DETECTOR - 特許庁
配管検査方法例文帳に追加
PIPING INSPECTION METHOD - 特許庁
外観検査装置例文帳に追加
VISUAL INSPECTION APPARATUS - 特許庁
配管検査装置例文帳に追加
DEVICE FOR TESTING PIPING - 特許庁
欠陥検査装置例文帳に追加
FLAW INSPECTION APPARATUS - 特許庁
温感建材例文帳に追加
欠陥検査装置例文帳に追加
DEFECT-INSPECTION APPARATUS - 特許庁
欠陥検出装置例文帳に追加
FLAW DETECTOR - 特許庁
配管検査装置例文帳に追加
PIPE INSPECTION DEVICE - 特許庁
外観検査装置例文帳に追加
APPEARANCE INSPECTING APPARATUS - 特許庁
欠陥検査装置例文帳に追加
DEFECT INSPECTION APPARATUS - 特許庁
配管検査方法例文帳に追加
PIPING INSPECTING METHOD - 特許庁
配管検査装置例文帳に追加
PIPING INSPECTION DEVICE - 特許庁
可撓管研磨機例文帳に追加
欠陥検査装置例文帳に追加
DEFECT INSPECTING APPARATUS - 特許庁
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置例文帳に追加
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS - 特許庁
欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム例文帳に追加
DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTOR, AND DEFECT DETECTION PROGRAM - 特許庁
外観検査装置、外観検査プログラムおよび外観検査システム例文帳に追加
VISUAL INSPECTION DEVICE, VISUAL INSPECTION PROGRAM AND VISUAL INSPECTION SYSTEM - 特許庁
フィルムの欠陥検査装置、欠陥検査システムおよび欠陥検査方法例文帳に追加
APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF FILM - 特許庁
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置例文帳に追加
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE AND VISUAL INSPECTION DEVICE - 特許庁
欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出処理プログラム例文帳に追加
APPARATUS, METHOD AND PROCESSING PROGRAM FOR DETECTING DEFECT - 特許庁
画像欠陥検査装置、外観検査装置及び画像欠陥検査方法例文帳に追加
FLAW INSPECTION DEVICE OF IMAGE, VISUAL EXAMINATION DEVICE AND FLAW INSPECTION METHOD OF IMAGE - 特許庁
外観検査装置、外観検査方法および外観検査プログラム例文帳に追加
VISUAL EXAMINATION DEVICE, VISUAL EXAMINATION METHOD AND VISUAL EXAMINATION PROGRAM - 特許庁
欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラム例文帳に追加
DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION PROGRAM - 特許庁
欠陥検査方法,欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法例文帳に追加
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD - 特許庁
欠陥検査方法及び欠陥検査装置並びに欠陥検査システム例文帳に追加
FLAW INSPECTION METHOD, FLAW INSPECTION DEVICE AND FLAW INSPECTION SYSTEM - 特許庁
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置例文帳に追加
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND VISUAL INSPECTION DEVICE - 特許庁
欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム例文帳に追加
DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION PROGRAM - 特許庁
欠陥検査光学系、欠陥検査装置および欠陥検査方法例文帳に追加
OPTICAL SYSTEM FOR DEFECT INSPECTION, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF DEFECT INSPECTION - 特許庁
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置例文帳に追加
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE - 特許庁
欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム例文帳に追加
FLAW DETECTION METHOD, FLAW DETECTOR, AND FLAW DETECTION PROGRAM - 特許庁
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Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved. 「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編 |
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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